CN219224910U - 介电常数测试*** - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种介电常数测试***,用于测量被测件的介电常数,包括:第一天线组件、第二天线组件、矢量网络分析仪、以及温度调节部;第一天线组件和第二天线组件均与矢量网络分析仪通过电信号连接;温度调节部设置于第一天线组件和第二天线组件之间;被测件与温度调节部连接,温度调节部用于控制被测件的温度。基于本实用新型,能够消除测试温度与使用温度不同所带来的介电常数测试结果不可靠的问题,提高介电常数的测试精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及雷达性能测试技术领域,尤其涉及一种介电常数测试***。
背景技术
在现有技术中,在测量材料的介电常数和损耗角正切时,一般是在某个特定的温度下进行的,并不考虑环境温度的变化对测试的影响,但不同的材料在不同的应用中所处的温度很可能并不相同,在测试精度要求较高的情况下,对被测件DUT的测试结果产生影响。
实用新型内容
本实用新型旨在提出一种介电常数测试***,基于本实用新型的介电常数测试***,能够尽可能消除测试温度与使用温度不同所带来的介电常数测试结果不可靠的问题。
本实用新型介电常数测试***,用于测量被测件的介电常数,包括:第一天线组件、第二天线组件、矢量网络分析仪、以及温度调节部;所述第一天线组件和所述第二天线组件均与所述矢量网络分析仪通过电信号连接;所述温度调节部设置于所述第一天线组件和所述第二天线组件之间;所述被测件与所述温度调节部连接,所述温度调节部用于控制所述被测件的温度。
进一步地,上述介电常数测试***中,所述温度调节部包括温箱、装夹组件和温度调节组件;所述装夹组件和所述温度调节组件设置于所述温箱内;所述被测件通过所述装夹组件固定于所述温箱腔体内。
进一步地,上述介电常数测试***中,所述温箱为矩形框架;所述温箱的材质为透波材质,所述透波材质的介电常数为:ε=1.08~1.09。
进一步地,上述介电常数测试***中,所述温箱内还设置有温度补偿装置。
进一步地,上述介电常数测试***中,所述温度调节部为传导部;所述被测件通过装夹组件固定于所述传导部表面,通过传导的方式控制所述被测件的温度。
进一步地,上述介电常数测试***中,所述第一天线组件为第一矢量网络分析仪的喇叭天线;所述第二天线组件为第二矢量网络分析仪的喇叭天线。
进一步地,上述介电常数测试***中,所述第一天线组件包括电连接的第一扩频组件和第一喇叭天线;所述第二天线组件包括电连接的第二扩频组件和第二喇叭天线。
本实用新型一种介电常数测试***中,被测件DUT在温度调节部的作用下,通过热传导的方式,在预定的时间区间内,使得整个DUT的温度趋于温度调节部的温度,通过这种方式,可实现温度调节范围在(-70℃至175℃)的温度调节,在预定温度下,借助第一天线组件、第二天线组件和矢量网络分析仪,进行介电常数的测量,能够尽消除测试温度与使用温度不同所带来的介电常数测试结果不可靠的问题,提高节点常数的测试精度。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本实用新型的实施例,并与说明书一起用于解释本实用新型的原理。
图1为本实用新型介电常数测试***第一实施例的原理图;
图2为本实用新型介电常数测试***第一实施例中,被测件的装夹方式结构示意图;
图3为本实用新型介电常数测试***第二实施例的原理图
图4为实用新型介电常数测试***第二实施例中,被测件的装夹方式结构示意图;
图5为基于本实用新型介电常数测试***的测试总成示意图。
附图标记如下:
1第一天线组件
2第二天线组件
3矢量网络分析仪
4温度调节部
5被测件
6温箱
7装夹组件
8传导部
9测试人员
10介电常数测试装置
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
真空的介电常数是理想值1,不同的物质的介电常数是不同的,例如水的介电常约为6,但电磁波在不同介电常数的物质中传输特性是不同的,介电常数越大,电磁波功率损耗越大,同时会产生角度偏转。而雷达产品中必然会有雷达天线罩,天线罩的介电常数必然>1,必然产生功率损耗衰减和角度偏转,而雷达测试就是通过增加发射功率来提升目标探测距离,角度偏转会导致雷达探测目标角度方位的偏差。因此实际定量测试天线罩所产生的衰减和角度偏转,即相对应的介电常数以及损耗角正切数据就非常重要。
参照图1和图2,示出了本实用新型介电常数测试***第一实施例的原理图以及被测件的装夹方式结构示意图。
本实施例介电常数测试***用于测量被测件的介电常数,包括:第一天线组件1、第二天线组件2、矢量网络分析仪3、以及温度调节部4。
进一步地,第一天线组件1为第一矢量网络分析仪的喇叭天线;第二天线组件2为第二矢量网络分析仪的喇叭天线。当然,第一天线组件1也可以为电连接的第一扩频组件和第一喇叭天线;第二天线组件2也可以为电连接的第二扩频组件和第二喇叭天线。
并且,第一天线组件1和第二天线组件2均与矢量网络分析仪3通过电信号连接。
在该实施例中,温度调节部4为传导部8,设置于第一天线组件1和第二天线组件2之间,被测件5与传导部8的上表面接触连接,当然,也可以伸入传导部8的内部。通过传导的方式控制被测件5的温度。被测件5通过装夹组件7固定。
被测件5下端与传导部8连接,通过传导的方式,改变被测件5的温度,使之在一个时间区间内趋于目标温度。这个目标温度的温度调节范围(-70℃至175℃),然后,在目标温度下,借助第一天线组件1、第二天线组件2和矢量网络分析仪3,进行介电常数的测量,能够尽消除测试温度与使用温度不同所带来的介电常数测试结果不可靠的问题,提高节点常数的测试精度,此外,还可以进行被测件损耗角正切值的测量。
参照图3和图4,示出了本实用新型介电常数测试***第二实施例的原理图以及被测件的装夹方式结构示意图。
本实施例介电常数测试***用于测量被测件的介电常数,包括:第一天线组件1、第二天线组件2、矢量网络分析仪3、以及温度调节部4。
进一步地,第一天线组件1为第一矢量网络分析仪的喇叭天线;第二天线组件2为第二矢量网络分析仪的喇叭天线。当然,第一天线组件1也可以为电连接的第一扩频组件和第一喇叭天线;第二天线组件2也可以为电连接的第二扩频组件和第二喇叭天线。并且,第一天线组件1和第二天线组件2均与矢量网络分析仪3通过电信号连接。
在本实施例中,温度调节部4包括温箱6、装夹组件7和温度调节组件(未示出);装夹组件7和温度调节组件设置于温箱6内;被测件5通过装夹组件7固定于温箱6的腔体内。
在一个优选的实施例中,温箱6为矩形框体;温箱6的材质为透波材质,透波材质的介电常数为:ε=1.08~1.09。
温箱6内还设置有温度补偿装置(未示出),通过温度补偿进一步优化测试准确度。基本原理为:通过校准,将透波材料对测试结果的影响补偿掉,具体方式为:先直接测温箱6的介电常数,再将DUT装入温箱6,测介电常数,基于温度补偿装置,依据二者的差异,对测试结果进行校准。
被测件5下设置于温箱6内,控制温箱6内的温度,通过对流的方式,改变被测件5的温度,使被测件5在一个时间区间内,趋于目标温度。这个目标温度的温度调节范围(-70℃至175℃),然后,在目标温度下,借助第一天线组件1、第二天线组件2和矢量网络分析仪3,进行介电常数的测量,能够尽消除测试温度与使用温度不同所带来的介电常数测试结果不可靠的问题,提高节点常数的测试精度,此外,还可以进行被测件损耗角正切值的测量。
参照图5,图5为基于本实用新型介电常数测试***的测试总成示意图,测试人员9基于图5中包括的介电常数测试装置10进行测试。
综上所述:通过上述两种方案,能够方便的测得在-70℃至175℃范围内,材料在不同温度下的介电常数和损耗角正切。
尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本实用新型的限制,本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (7)
1.一种介电常数测试***,用于测量被测件的介电常数,其特征在于,包括:
第一天线组件、第二天线组件、矢量网络分析仪、以及温度调节部;
所述第一天线组件和所述第二天线组件均与所述矢量网络分析仪通过电信号连接;
所述温度调节部设置于所述第一天线组件和所述第二天线组件之间;
所述被测件与所述温度调节部连接,所述温度调节部用于控制所述被测件的温度。
2.根据权利要求1所述的介电常数测试***,其特征在于,
所述温度调节部包括温箱、装夹组件和温度调节组件;
所述装夹组件和所述温度调节组件设置于所述温箱内;
所述被测件通过所述装夹组件固定于所述温箱的腔体内。
3.根据权利要求2所述的介电常数测试***,其特征在于,
所述温箱为矩形框架;
所述温箱的材质为透波材质,所述透波材质的介电常数为:ε=1.08~1.09。
4.根据权利要求2所述的介电常数测试***,其特征在于,
所述温箱内还设置有控制温度补偿装置。
5.根据权利要求1所述的介电常数测试***,其特征在于,
所述温度调节部为传导部;
所述被测件通过装夹组件固定于所述传导部表面,通过传导的方式控制所述被测件的温度。
6.根据权利要求1所述的介电常数测试***,其特征在于,
所述第一天线组件为第一矢量网络分析仪的喇叭天线;
所述第二天线组件为第二矢量网络分析仪的喇叭天线。
7.根据权利要求1所述的介电常数测试***,其特征在于,
所述第一天线组件包括电连接的第一扩频组件和第一喇叭天线;
所述第二天线组件包括电连接的第二扩频组件和第二喇叭天线。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202223400414.2U CN219224910U (zh) | 2022-12-16 | 2022-12-16 | 介电常数测试*** |
Publications (1)
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Family
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
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