CN218240298U - 模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构。涉及测试电路技术领域。包括电源、电压采集模块、功率模块、控制器；其中，所述电源的第一输出端及第二输出端并联在所述功率模块的两端，所述电压采集模块的采样端与所述功率模块中每个功率管的输出端分别连接；所述电压采集装置的受控端与所述控制器的控制端连接；所述控制器的驱动端与所述功率模块的受控端连接；所述功率模块包括上桥臂IGBT和下桥臂IGBT，所述上桥臂IGBT和下桥臂IGBT均反向并联有二极管。本实用新型结构简单，成本低，测量过程快捷，提高了测试效率。

Description

模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构

技术领域

本实用新型涉及测试电路技术领域，更具体的说是涉及一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构。

背景技术

IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor，绝缘栅双极型晶体管)是由双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件。随着工业领域中电力电子器件应用的进一步扩展，耐大电流、耐高压、高速和低饱和压降的IGBT器件的应用日益广泛。这对IGBT器件的可靠性提出了更高的要求。目前，检测IGBT好坏的方法主要有两种：第一种是利用万用表测量，万用表只能检测IGBT的部分功能，如果IGBT的内部续流二极管损坏一般可以测出，但是如果IGBT内的CMOS管部分损坏，则无法判定，测量不全面；第二种是用利用晶体管图示仪测试IGBT的好坏，需要对单只IGBT进行离线单独测试，对于已安装使用的IGBT而言，需要拆卸IGBT及其驱动电路，不仅操作繁琐、效率低下，而且可能在拆卸过程中对IGBT造成伤害。因此，对本领域技术人员来说，如何提高所述IGBT双脉冲测试的测试效率，成为亟待解决的技术问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供了一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，以解决背景技术中的问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，包括电源、电压采集模块、功率模块、控制器；其中，所述电源的第一输出端及第二输出端并联在所述功率模块的两端，所述电压采集模块的采样端与所述功率模块中每个功率管的输出端分别连接；所述电压采集装置的受控端与所述控制器的控制端连接；所述控制器的驱动端与所述功率模块的受控端连接；

所述功率模块包括上桥臂IGBT和下桥臂IGBT，所述上桥臂IGBT和下桥臂 IGBT均反向并联有二极管。

可选的，还包括母线电容，所述母线电容与所述电源并联。

可选的，所述控制器为单片机，用于接收所述电压采集模块的电压以对所述功率模块进行测试。

可选的，所述电压采集装置用于采集测试过程中上桥臂IGBT栅源两端及下桥臂IGBT栅源两端的电压。

可选的，还包括限流电阻，所述限流电阻与所述电源串联。

可选的，还包括光耦隔离电路，与所述单片机通信连接，用于接收所述单片机的第二控制信号，并根据上、下桥检测通道的通断和所述第二控制信号，将上、下桥检测通道在高、低压电平间切换。

可选的，还包括485调试电路，与所述单片机通信连接，用于对所述单片机进行调试和校准；指示灯电路，与所述单片机通信连接，用于根据所述单片机测试的结果通过灯光发出指示。

经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本实用新型公开提供了一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，具有以下有益的技术效果：通过高平电平代替PWM波来检测IGBT驱动电路的输出，简化了电路；使用单片机检测IGBT驱动电路输出电压进行智能判断，能快速得出检测结果结构简单，成本较低，测量过程简单快捷，提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的功率模块示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型实施例公开了一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，如图1所示，包括电源、电压采集模块、功率模块、控制器；其中，电源的第一输出端及第二输出端并联在功率模块的两端，电压采集模块的采样端与功率模块中每个功率管的输出端分别连接；电压采集装置的受控端与控制器的控制端连接；控制器的驱动端与功率模块的受控端连接。

进一步的，电源采用直流电源，用于为功率模块提供测试所需的电压。

在本实施例中，控制器为单片机，用于接收电压采集模块的电压以对功率模块进行测试。单片机中安装有相应的测试软件，以控制测试过程按照预设的步骤进行。

如图2所示，功率模块包括上桥臂IGBTQ1和下桥臂IGBTQ2，上桥臂 IGBT和下桥臂IGBT均反向并联有二极管。在上桥驱动电路中，Q1和Q2组成推挽输出电路，在二极管D1的作用下，IGBT开通门极电阻大于IGBT关断门极电阻，能够显著降低导通损耗和恢复损耗，有助于降低变频器的损耗和噪声。

还包括母线电容，母线电容与电源并联。

电压采集装置用于采集测试过程中上桥臂IGBT栅源两端及下桥臂IGBT 栅源两端的电压。

还包括限流电阻，限流电阻与电源串联。

还包括光耦隔离电路，与单片机通信连接，用于接收单片机的第二控制信号，并根据上、下桥检测通道的通断和第二控制信号，将上、下桥检测通道在高、低压电平间切换。

还包括485调试电路，与单片机通信连接，用于对单片机进行调试和校准；指示灯电路，与单片机通信连接，用于根据单片机测试的结果通过灯光发出指示。

在本实用新型的实施例中，接通Q1和Q2，同时对电源施加预设电流，通过电压采集模块实时记录上桥臂和下桥臂的电压，保持一段时间后关断这2 个IGBT，通过采集的电压生成对应IGBT的结温变化曲线，根据结温变化曲线判断IGBT是否正常工作，若IGBT正常，则继续进行其他组测试，直到有 IGBT损坏位为止；若IGBT损坏，则测试结束，生成的结温曲线、实时上桥臂及下桥臂的电压等参数或曲线图形均显示于上位机中，测试者可通过上位机400下发测试指令，观测测试结果。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (7)

1.一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，其特征在于，包括电源、电压采集模块、功率模块、控制器；其中，所述电源的第一输出端及第二输出端并联在所述功率模块的两端，所述电压采集模块的采样端与所述功率模块中每个功率管的输出端分别连接；所述电压采集模块的受控端与所述控制器的控制端连接；所述控制器的驱动端与所述功率模块的受控端连接；所述功率模块包括上桥臂IGBT和下桥臂IGBT，所述上桥臂IGBT和下桥臂IGBT均反向并联有二极管。

2.根据权利要求1所述的一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，其特征在于，还包括母线电容，所述母线电容与所述电源并联。

3.根据权利要求1所述的一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，其特征在于，所述控制器为单片机，用于接收所述电压采集模块的电压以对所述功率模块进行测试。

4.根据权利要求1所述的一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，其特征在于，所述电压采集装置用于采集测试过程中上桥臂IGBT栅源两端及下桥臂IGBT栅源两端的电压。

5.根据权利要求1所述的一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，其特征在于，还包括限流电阻，所述限流电阻与所述电源串联。

6.根据权利要求3所述的一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，其特征在于，还包括光耦隔离电路，与所述单片机通信连接，用于接收所述单片机的第二控制信号，并根据上、下桥检测通道的通断和所述第二控制信号，将上、下桥检测通道在高、低压电平间切换。

7.根据权利要求3所述的一种模块设备同时上下桥加电测试电路控制结构，其特征在于，还包括485调试电路，与所述单片机通信连接，用于对所述单片机进行调试和校准；指示灯电路，与所述单片机通信连接，用于根据所述单片机测试的结果通过灯光发出指示。

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