CN218006258U

CN218006258U - 一种芯片适配板

Info

Publication number: CN218006258U
Application number: CN202222151384.XU
Authority: CN
Inventors: 母金辉
Original assignee: Yuanliuhongyuan Chengdu Electronic Technology Co ltd; Chengdu Honglixin Semiconductor Co ltd
Current assignee: Yuanliuhongyuan Chengdu Electronic Technology Co ltd; Chengdu Honglixin Semiconductor Co ltd
Priority date: 2022-08-16
Filing date: 2022-08-16
Publication date: 2022-12-09
Anticipated expiration: 2032-08-16

Abstract

本实用新型公开了一种芯片适配板，包括：老化测试座，用于放置被测试芯片；电路稳压保护模块，与老化测试座相连；电路保护控制单元，与老化测试座相连，包括若干个串联的电路保护控制模块，各电路保护控制模块分别与老化测试座的上对应的输入端口相连；适配板接口电路，与电路稳压保护模块、老化测试座分别相连。本实用新型一种芯片适配板中老化测试座上对应的输入端口处设置电路控制保护模块控制输入信号，通过本实用新型的引接测试机台资源到芯片测试座，搭建测试所需求的***电路，由此满足MAX3490收发器功能测试需求。

Description

一种芯片适配板

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体涉及一种芯片适配板。

背景技术

MAX3490收发器是一款用于RS-485和RS-422的低功耗收发器，在应用之前需要通过测试子板对其功能进行测试。现有的MAX3490收发器在测试过程中，由于对应的测试子板无法配置所有测试资源，导致测试的数据无法接近上述收发器各项功能测试的典型值，无法满足MAX3490收发器功能测试需求。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供了一种芯片适配板，以解决现有技术中测试子板无法满足满足MAX3490收发器功能测试需求的技术问题。

本实用新型一种芯片适配板，包括：

老化测试座，用于放置被测试芯片；

电路稳压保护模块，与老化测试座相连；

电路保护控制单元，与老化测试座相连，包括若干个串联的电路保护控制模块，各电路保护控制模块分别与老化测试座上对应的输入端口相连；

适配板接口电路，与电路稳压保护模块、老化测试座分别相连。

本实用新型一种芯片适配板中老化测试座上对应的输入端口处设置电路控制保护模块，由此控制输入信号，通过本实用新型的引接测试机台资源到芯片测试座，搭建测试所需求的***电路，由此满足MAX3490收发器功能测试需求。

进一步地，所述电路保护控制模块包括单稳继电器、与单稳继电器相连的双向整流稳压二极管。

进一步地，电路保护控制单元包括依次串联的A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块、B1电路保护控制模块、B2电路保护控制模块、B3电路保护控制模块、C1电路保护控制模块、C2电路保护控制模块、C3电路保护控制模块；

其中所有电路保护控制模块的端口的正极用于与机台的正极电源连接，所有电路保护控制模块的控制端口用于与机台的控制检测信号端口连接；

A1电路保护控制模块的控制端口连接老化测试座的检测端口2、检测端口3、适配板接口电路的控制端口3；A2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；A3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联；

B1电路保护控制模块的控制端口连接老化测试座的检测端口5、检测端口6、适配板接口电路的控制端口3；B2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；B3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口，其中B1电路保护控制模块、B2电路保护控制模块、B3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联；

C1电路保护控制模块控制端口连接老化测试座的检测端口7、检测端口8、适配板接口电路的控制端口；C2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；C3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；其中C1电路保护控制模块、C2电路保护控制模块、C3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联。

进一步地，所述电路稳压保护模块包括第一储能滤波电容器、第一滤波电容、核心电源模块、第二储能滤波电容器、第二滤波电容，其中第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极连接，第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极分别与电源模块阳极连接，所述第一储能滤波电容器的负极、第一滤波电容的负极、核心电源模块的阴极均接地；核心电源模块的正极分别连接第二滤波电容的正极、第二储能滤波电容器的正极、B3电路保护控制模块的端口8的正极，核心电源模块的阴极分别连接第二滤波电容的负极、第二储能滤波电容器的负极、B3电路保护控制模块的端口6的负极。

本实用新型一种芯片适配板中老化测试座上对应的输入端口处设置电路控制保护模块控制输入信号，通过本实用新型的引接测试机台资源到芯片测试座，搭建测试所需求的***电路，由此满足MAX3490收发器功能测试需求。

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步的说明。本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来辅助对本发明的理解，附图中所提供的内容及其在本实用新型中有关的说明可用于解释本实用新型，但不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型中老化测试座的电路图。

图2为本实用新型中A1电路保护控制模块的电路图。

图3为本实用新型中A2电路保护控制模块的电路图。

图4为本实用新型中A3电路保护控制模块的电路图。

图5为本实用新型中B1电路保护控制模块的电路图。

图6为本实用新型中B2电路保护控制模块的电路图。

图7为本实用新型中B3电路保护控制模块的电路图。

图8为本实用新型中C1电路保护控制模块的电路图。

图9为本实用新型中C2电路保护控制模块的电路图。

图10为本实用新型中C3电路保护控制模块的电路图。

图11为本实用新型中电路稳压保护模块的电路图。

图12为本实用新型中适配板接口电路的电路图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型进行清楚、完整的说明。本领域普通技术人员在基于这些说明的情况下将能够实现本实用新型。在结合附图对本实用新型进行说明前，需要特别指出的是：

本实用新型中在包括下述说明在内的各部分中所提供的技术方案和技术特征，在不冲突的情况下，这些技术方案和技术特征可以相互组合。

此外，下述说明中涉及到的本实用新型的实施例通常仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。因此，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

关于本实用新型中术语和单位。本发明的说明书和权利要求书及有关的部分中的术语“包括”、“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

本实用新型一种芯片适配板，包括：

老化测试座，用于放置被测试芯片；

电路稳压保护模块，与老化测试座相连；

所述电路保护控制模块包括单稳继电器、与单稳继电器相连的双向整流稳压二极管。

电路保护控制单元包括依次串联的A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块、B1电路保护控制模块、B2电路保护控制模块、B3电路保护控制模块、C1电路保护控制模块、C2电路保护控制模块、C3电路保护控制模块；

所述电路稳压保护模块包括第一储能滤波电容器、第一滤波电容、核心电源模块、第二储能滤波电容器、第二滤波电容，其中第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极连接，第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极分别与电源模块阳极连接，所述第一储能滤波电容器的负极、第一滤波电容的负极、核心电源模块的阴极均接地；核心电源模块的正极分别连接第二滤波电容的正极、第二储能滤波电容器的正极、B3电路保护控制模块的端口8的正极，核心电源模块的阴极分别连接第二滤波电容的负极、第二储能滤波电容器的负极、B3电路保护控制模块的端口6的负极。

结合图1-12本实用新型一种芯片适配板，包括：老化测试座，用于放置被测试芯片；电路稳压保护模块，与老化测试座相连；电路保护控制单元，与老化测试座相连，包括若干个串联的电路保护控制模块，各电路保护控制模块分别与老化测试座上对应的输入端口相连；适配板接口电路，与电路稳压保护模块、老化测试座分别相连。其中老化测试座中放置器件测试芯片，如图12所示，适配板接口电路为适配板提供合理正向稳压电源，以及控制信号。

结合图1-10所示为老化测试座的电路图，老化测试座上的A，B，Z，Y，RO,DI输入端口每一路端口都有电路控制保护模块控制输入信号，其输入信号，采取差分线走法同时满足网络走线等长，保持输入信号端口的控制信号一致,减少机台检测输入信号的差异。具体地，电路保护控制单元包括依次串联的A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块、B1电路保护控制模块、B2电路保护控制模块、B3电路保护控制模块、C1电路保护控制模块、C2电路保护控制模块、C3电路保护控制模块；其中所有电路保护控制模块的端口的正极用于与机台的正极电源连接，所有电路保护控制模块的控制端口用于与机台的控制检测信号端口连接；A1电路保护控制模块的控制端口连接老化测试座的检测端口2、检测端口3、适配板接口电路的控制端口3；A2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；A3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联；B1电路保护控制模块的控制端口连接老化测试座的检测端口5、检测端口6、适配板接口电路的控制端口3；B2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；B3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口，其中B1电路保护控制模块、B2电路保护控制模块、B3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联；C1电路保护控制模块控制端口连接老化测试座的检测端口7、检测端口8、适配板接口电路的控制端口；C2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；C3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；其中C1电路保护控制模块、C2电路保护控制模块、C3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联。其中所述电路保护控制模块包括单稳继电器、与单稳继电器相连的双向整流稳压二极管。

如图11所示，所述电路稳压保护模块包括第一储能滤波电容器、第一滤波电容、核心电源模块、第二储能滤波电容器、第二滤波电容，其中第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极连接，第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极分别与电源模块阳极连接，所述第一储能滤波电容器的负极、第一滤波电容的负极、核心电源模块的阴极均接地；核心电源模块的正极分别连接第二滤波电容的正极、第二储能滤波电容器的正极、B3电路保护控制模块的端口8的正极，核心电源模块的阴极分别连接第二滤波电容的负极、第二储能滤波电容器的负极、B3电路保护控制模块的端口6的负极。

本实用新型一种芯片适配板中老化测试座上对应的输入端口处设置电路控制保护模块控制输入信号，通过本实用新型的引接测试机台资源到芯片测试座，搭建测试所需求的***电路，由此满足MAX3490收发器功能测试需求，利用本实用新型所得的测试数据相比于现有子板测试数据更加接近典型值。

以上对本实用新型的有关内容进行了说明。本领域普通技术人员在基于这些说明的情况下将能够实现本实用新型。基于本实用新型的上述内容，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

Claims

1.一种芯片适配板，其特征在于，包括：

老化测试座，用于放置被测试芯片；

电路稳压保护模块，与老化测试座相连；

电路保护控制单元，与老化测试座相连，包括若干个串联的电路保护控制模块，各电路保护控制模块分别均与老化测试座上对应的输入端口相连；

2.如权利要求1所述的一种芯片适配板，其特征在于，所述电路保护控制模块包括单稳继电器、与单稳继电器相连的双向整流稳压二极管。

3.如权利要求1所述的一种芯片适配板，其特征在于，电路保护控制单元包括依次串联的A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块、B1电路保护控制模块、B2电路保护控制模块、B3电路保护控制模块、C1电路保护控制模块、C2电路保护控制模块、C3电路保护控制模块；

4.如权利要求3所述的一种芯片适配板，其特征在于，所述电路稳压保护模块包括第一储能滤波电容器、第一滤波电容、核心电源模块、第二储能滤波电容器、第二滤波电容，其中第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极连接，第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极分别与电源模块阳极连接，所述第一储能滤波电容器的负极、第一滤波电容的负极、核心电源模块的阴极均接地；核心电源模块的正极分别连接第二滤波电容的正极、第二储能滤波电容器的正极、B3电路保护控制模块的端口8的正极，核心电源模块的阴极分别连接第二滤波电容的负极、第二储能滤波电容器的负极、B3电路保护控制模块的端口6的负极。