CN218003570U - 电子元件测试座 - Google Patents
电子元件测试座 Download PDFInfo
- Publication number
- CN218003570U CN218003570U CN202221408241.6U CN202221408241U CN218003570U CN 218003570 U CN218003570 U CN 218003570U CN 202221408241 U CN202221408241 U CN 202221408241U CN 218003570 U CN218003570 U CN 218003570U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- probe
- tested
- electronic component
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
一种电子元件测试座,其用于测试待测电子元件,该待测电子元件上的设置待测点,其包括:测试底座,其内装设测试主板,该测试主板上设置有测试触点,该测试触点与该待测点在测试方向上不在一条直线上;及探针固定体,其用于插接于该测试底座内且与该测试底座电性连接,该探针固定体包含探针夹座以及转接座,该探针夹座用于对应该待测电子元件的待测点的位置夹持固定探针,该探针的一端用于导电接触该待测点,该转接座固定于该探针夹座的下方,该转接座对应该探针的另一端设置导电触点,该转接座还对应该测试底座的测试触点向下凸伸导电针,该导电针电性连接该导电触点,当该探针固定体插接于该测试底座,该导电针将导电触接该测试底座的测试触点。
Description
【技术领域】
本实用新型是一测试装置,特别是一种电子元件测试座。
【背景技术】
如图1所示,为现有的测试座的简单结构示意图,该测试座1包括:探针10,可以在检验方向上伸缩;探针固定体11,用于夹持固定该探针10;以及测试底座12,其内装设测试主板120,该测试主板120上布设有测试触点1200。该探针固定体11上的探针10根据待测电子元件上的待测点的位置进行客制化设置。而当要更换测试电子元件8,由于电子元件的待测点位置发生了变化,而现有的测试座1的探针10的位置固定,则整套测试座1都将无法使用,不得不更换整套测试座,因此大大地增加了测试成本。
实际测试中,因为待测物为模块化包装,待测点位多,且分布的形式不统一,所以在测试座的设计上会造成多样化的测试座产出。
【实用新型内容】
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种电子元件测试座,其可在测试不同电子元件时,无需更换测试底座,仅更换成本较低的探针固定装置即可,大大节约了测试成本。
为解决上述技术问题,本实用新型一种电子元件测试座,其用于测试待测电子元件,该待测电子元件上的设置待测点,其包括:
测试底座,其内装设测试主板,该测试主板上设置有测试触点,该测试触点与该待测点在测试方向上不在一条直线上;及
探针固定体,其用于插接于该测试底座内且与该测试底座电性连接,该探针固定体包含探针夹座以及转接座,该探针夹座用于对应该待测电子元件的待测点的位置夹持固定探针,该探针的一端用于导电接触该待测点,该转接座固定于该探针夹座的下方,该转接座对应该探针的另一端设置导电触点,该转接座还对应该测试底座的测试触点向下凸伸导电针,该导电针电性连接该导电触点,当该探针固定体插接于该测试底座,该导电针将导电触接该测试底座的测试触点。
优选地,该电子元件为BQFP元件。
优选地,该电子元件为BGA封装元件。
与现有技术相比较,本实用新型的电子元件测试座,根据不同的待测电子元件设置可更换的探针固定体,该探针固定体一端匹配待测电子元件,一端匹配共用的测试底座,达到不更换测试底座可测试测试点部分不同电子元件的目的,相对于现有技术不得不更换整套测试座的方式而言,大大节约了测试成本。
【附图说明】
图1为现有电子元件测试座简单示意图。
图2为本实用新型电子元件测试座的组装示意图。。
【具体实施方式】
请参阅图2所示,本实用新型一种电子元件测试座,其用于测试待测电子元件3,该待测电子元件3上的设置待测点30,本实用新型的电子元件测试座包括测试底座12及探针固定体21。
该测试底座12,其内装设测试主板120,该测试主板120上设置有测试触点1200,该测试触点1200与该待测点30在测试方向上不在一条直线上。
该探针固定体21,其用于插接于该测试底座12内且与该测试底座12电性连接,该探针固定体21包含探针夹座210以及转接座211,该探针夹座210用于对应该待测电子元件3的待测点30的位置夹持固定探针10,该探针10的一端用于导电接触该待测点30,该转接座211固定于该探针夹座210的下方,该转接座211对应该探针10的另一端设置导电触点2110,该转接座211还对应该测试底座12的测试触点1200向下凸伸导电针2111,该导电针2111电性连接该导电触点2110,当该探针固定体21插接于该测试底座12,该导电针2111将导电触接该测试底座12的测试触点1200。
当要测试待测电子元件3,可直接将待测电子元件3置于本实用新型的测试底座12的上方,让待测电子元件3的待测点30接触该探针固定体21中固定的探针10,该探针10将通过该转接座211传输电信号至该测试底座12的测试触点1200,以便进行功能测试,而当要测试不同的电子元件,可开发对应的探针固定体21即可,无需更换制作成本极高的测试底座12,大大节约了测试成本。
在本实施例中,该电子元件3为BGA封装元件,该电子元件3为BGA封装元件或BQFP(quad flat package with bumper)元件。
以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (3)
1.一种电子元件测试座,其用于测试待测电子元件,该待测电子元件上的设置待测点,其特征在于,包括:
测试底座,其内装设测试主板,该测试主板上设置有测试触点,该测试触点与该待测点在测试方向上不在一条直线上;及
探针固定体,其用于插接于该测试底座内且与该测试底座电性连接,该探针固定体包含探针夹座以及转接座,该探针夹座用于对应该待测电子元件的待测点的位置夹持固定探针,该探针的一端用于导电接触该待测点,该转接座固定于该探针夹座的下方,该转接座对应该探针的另一端设置导电触点,该转接座还对应该测试底座的测试触点向下凸伸导电针,该导电针电性连接该导电触点,当该探针固定体插接于该测试底座,该导电针将导电触接该测试底座的测试触点。
2.根据权利要求1所述的电子元件测试座,其特征在于,该电子元件为BQFP元件。
3.根据权利要求1所述的电子元件测试座,其特征在于,该电子元件为BGA封装元件。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202221408241.6U CN218003570U (zh) | 2022-06-07 | 2022-06-07 | 电子元件测试座 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202221408241.6U CN218003570U (zh) | 2022-06-07 | 2022-06-07 | 电子元件测试座 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN218003570U true CN218003570U (zh) | 2022-12-09 |
Family
ID=84298495
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202221408241.6U Active CN218003570U (zh) | 2022-06-07 | 2022-06-07 | 电子元件测试座 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN218003570U (zh) |
-
2022
- 2022-06-07 CN CN202221408241.6U patent/CN218003570U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9354251B2 (en) | Integrated circuit (IC) test socket using Kelvin bridge | |
KR20120002264A (ko) | 프로브 | |
US20200300890A1 (en) | Interposer, socket, socket assembly, and wiring board assembly | |
KR20080112365A (ko) | 기판검사용 지그 및 이 지그에 있어서의 접속전극부의 전극구조 | |
JP2002228682A (ja) | プローブ | |
JPH08114623A (ja) | 電気試験プローブ用位置決め装置 | |
US9182424B2 (en) | Multiple rigid contact solution for IC testing | |
CN209690357U (zh) | 多功能芯片固定装置 | |
US8106671B2 (en) | Socketless integrated circuit contact connector | |
CN218003570U (zh) | 电子元件测试座 | |
CN207280371U (zh) | 一种蓄电池端子锥度检测装置 | |
JPH10142291A (ja) | Ic試験装置 | |
CN208782077U (zh) | 一种芯片测试座 | |
CN108448279A (zh) | 一种s型连接器及应用该连接器的芯片测试座 | |
CN112630539B (zh) | 一种用于fpc性能测试的测试针模以及测试装置 | |
JPH0346462Y2 (zh) | ||
US6288555B1 (en) | Fixture for use in measuring an electrical characteristic of a pogo pin | |
CN209432955U (zh) | 一种桥式模块测试装置及测试*** | |
CN207780168U (zh) | 一种绝缘耐压测试工装 | |
CN206505106U (zh) | 一种通用型微细探针测试治具 | |
CN221303459U (zh) | 非标封装dc-dc转换器的电参数测试电路及测试夹具 | |
CN201126442Y (zh) | 多芯式表笔 | |
CN100582798C (zh) | 包含各向异性导电膜的用于测试功率模块的测试装置 | |
CN216117701U (zh) | 弹簧片电连接夹具 | |
JPH0725722Y2 (ja) | 電子部品用ソケット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |