CN217386188U - 一种食品料理机的控制电路 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种食品料理机的控制电路，本申请的食品料理机的控制电路包括发热盘组件及物料检测电路；其中，发热盘组件连接电源，用于对食品料理机中的物料进行加热；物料检测电路的一端连接发热盘组件，物料检测电路的另一端连接电源；在发热盘组件和物料检测电路所在回路导通时，若发热盘组件开路，物料检测电路输出第一信号；若发热盘组件导通，物料检测电路输出第二信号。本申请中的食品料理机的控制电路，通过设置物料检测电路，实现对食品料理机进行物料检测，从而避免出现物料多放情况。

Description

一种食品料理机的控制电路

技术领域

本申请涉及家用电器技术领域，具体而言，涉及一种食品料理机的控制电路。

背景技术

随着人们生活水平的提高，兼具做豆浆、磨干粉、榨果汁、打肉馅及刨冰等功能于一身的食品料理机，在人们的生活中得到了广泛的应用。用户可以通过向食品料理机中加入需要加工的物料类型，并触发食品料理机执行相应的功能选项，实现相应的物料加工需求。

然而，现有技术中，用户使用食品料理机制作豆浆时，会出现物料多放情况，导致食品料理机在过载情况运行时会出现，制作豆浆过程中物料溢出、做好的豆浆中存在夹生的物料等制浆异常情况，极大地降低了用户的使用感受。

实用新型内容

本申请的目的在于提供一种食品料理机的控制电路，其能够进行物料检测，避免出现物料多放情况。

本申请的实施例是这样实现的：

本申请提供一种食品料理机的控制电路，包括发热盘组件及物料检测电路；其中，发热盘组件连接电源，用于对食品料理机中的物料进行加热；物料检测电路的一端连接发热盘组件，物料检测电路的另一端连接电源；在发热盘组件和物料检测电路所在回路导通时，若发热盘组件开路，物料检测电路输出第一信号；若发热盘组件导通，物料检测电路输出第二信号。

于一实施例中，发热盘组件包括温控器及发热元件；其中，温控器连接电源；发热元件的一端连接温控器，发热元件的另一端连接物料检测电路；温控器用于检测发热元件的温度，在温度达到预设阈值时，温控器开路，在温度小于预设阈值时，温控器导通。

于一实施例中，食品料理机的控制电路还包括电机、主控电路及开关电路；其中，电机连接电源；开关电路分别连接发热盘组件、电机和主控电路；当开关电路接收到主控电路发送的第一开关信号时，开关电路控制发热盘组件所在回路导通；当开关电路接收到主控电路发送的第二开关信号时，开关电路控制电机所在回路导通。

于一实施例中，食品料理机的控制电路还包括功率控制电路；其中，功率控制电路分别与电源、开关电路及主控电路连接；当开关电路接收到主控电路发送的第一开关信号时，开关电路控制发热盘组件和功率控制电路所在回路导通；当开关电路接收到主控电路发送的第二开关信号时，开关电路控制电机和功率控制电路所在回路导通。

于一实施例中，功率控制电路包括驱动元件及可控硅；其中，驱动元件与主控电路连接；可控硅分别与电源、开关电路及驱动元件连接；当发热盘组件和功率控制电路所在回路导通时，主控电路用于每间隔预设时长驱动驱动元件断开，使可控硅断电，使得发热盘组件和物料检测电路所在回路导通。

于一实施例中，驱动元件为三极管或光耦。

于一实施例中，物料检测电路包括第一分压电阻、第二分压电阻、三极管、稳压电容及第三分压电阻；其中，第一分压电阻与发热盘组件连接；第二分压电阻与第一分压电阻连接；三极管的基极与第二分压电阻连接，三极管的发射极接地，三极管的集电极用于输出第一信号及第二信号；稳压电容一端与三极管的集电极连接，稳压电容另一端接地；第三分压电阻一端与三极管的基极连接，第三分压电阻另一端接地。

于一实施例中，物料检测电路还包括二极管及限流电阻；其中，二极管的阴极与三极管的基极连接，二极管的阳极接地；限流电阻一端与三极管的集电极连接，限流电阻另一端与电源连接。

于一实施例中，第一分压电阻及第二分压电阻的阻值均大于5KΩ，第三分压电阻的阻值大于100Ω，稳压电容的电容值为10pf～100μf。

于一实施例中，物料检测电路包括第一限流电阻、第二限流电阻及第三限流电阻；其中，第一限流电阻与发热盘组件连接；第二限流电阻与第一限流电阻连接；光耦的第一输入端与第二限流电阻连接，光耦的第二输入端接地，光耦的第一输出端用于输出第一信号及第二信号，光耦的第二输出端接地；第三限流电阻的一端与电源连接，第三限流电阻的另一端与光耦的第一输出端连接。

本申请与现有技术相比的有益效果是：本申请中通过在发热盘组件的控制回路中设置物料检测电路，实现对食品料理机进行物料检测，避免出现物料多放情况，进一步的，避免出现制浆异常情况，实现提升浆液口感，提升用户的使用感受。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请一实施例示出的食品料理机的控制电路的结构示意图；

图2为本申请一实施例示出的食品料理机的控制电路的结构示意图；

图3为本申请一实施例示出的食品料理机的控制电路的结构示意图；

图4为本申请一实施例示出的食品料理机的控制电路的结构示意图；

图5为本申请一实施例示出的食品料理机的控制电路的结构示意图。

图标：

1-食品料理机的控制电路；100-功率控制电路；110-驱动元件；120-可控硅；200-物料检测电路；300-发热盘组件；301-温控器；302-发热元件；400-电机；500-开关电路；600-主控电路。

具体实施方式

术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，并不表示排列序号，也不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“内”、“外”、“左”、“右”、“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。

下面将结合附图对本申请的技术方案进行清楚、完整地描述。

请参照图1，其为本申请一实施例示出的食品料理机的控制电路1的结构示意图。本申请中的食品料理机的控制电路1，可以应用于具有打豆浆、榨果汁及刨冰等功能的食品料理机中。如图1所示，食品料理机的控制电路1包括发热盘组件300及物料检测电路200。其中，发热盘组件300连接电源，用于对食品料理机中的物料进行加热；具体的，发热盘组件300的一端与电源的火线连接，发热盘组件300的另一端与电源的零线连接。物料检测电路200的一端连接发热盘组件300，物料检测电路200的另一端连接电源；具体的，物料检测电路200可以与电源的零线连接(图中未示出连接关系)。

其中，发热盘组件300在对物料进行加热的过程中，会根据其对物料的加热情况，呈现导通或开路状态。因此，若发热盘组件300和物料检测电路200所在回路导通，且发热盘组件300导通或开路时，物料检测电路200会输出不同的检测信号。则此时，通过物料检测电路200所输出的检测信号，即可确定发热盘组件300的断开次数。最终，基于发热盘组件300的断开次数，即可实现对食品料理机进行物料检测。其中，使发热盘组件300呈现断开或导通状态，使得物料能够受热均匀，避免出现物料溢出及物料粘连杯底等异常情况，并及时对发热盘组件300进行保护。

具体的，能够通过发热盘组件300的断开次数，对食品料理机进行物料检测的原理为：若物料较多时，需要发热盘组件300花费更多的加热时间对物料进行加热，从而使物料能够充分被软化，以保证良好的制浆效果。则此时，发热盘组件300为避免异常情况，其断开次数也会有所增加。因此，通过发热盘组件300的断开次数，即可实现对食品料理机进行物料检测。

于一操作过程中，在发热盘组件300对物料加热时，若发热盘组件300和物料检测电路200所在回路导通，且发热盘组件300开路时，物料检测电路200输出第一信号；若发热盘组件300和物料检测电路200所在回路导通，且发热盘组件300导通时，物料检测电路200输出第二信号。则此时，通过累计第一信号出现的次数，即可确定发热盘组件300的断开次数，从而实现对食品料理机进行物料检测。其中，当发热盘组件300的断开次数达到第一设定阈值N₁时，则可以认为物料过多，此时可以控制食品料理机进行报警操作，从而便于用户能够根据上述报警提醒，调整食品料理机中的物料数量，进而保证浆液口感。

本申请中，通过在发热盘组件300的控制回路中设置物料检测电路200，实现对食品料理机进行物料检测，从而避免出现物料多放情况，进一步的，避免出现制浆异常情况，以实现提升浆液口感，极大地提升了用户的使用感受。

请参照图2，其为本申请一实施例提供的食品料理机的控制电路1的结构示意图。请参照图3，其为本申请一实施例提供的食品料理机的控制电路1的结构示意图。如图2所示，发热盘组件300包括温控器301及发热元件302。温控器301与电源连接；具体的，温控器301与电源火线连接；发热元件302的一端与温控器301连接，发热元件302的另一端与物料检测电路200连接。其中，温控器301用于检测发热元件302的温度，当发热元件302的温度达到预设阈值时，温控器301开路，发热盘组件300开路；当发热元件302的温度小于预设阈值时，温控器301导通，发热盘组件300导通。

在一实施例中，如图2及如图3所示，食品料理机的物料检测电路200还包括电机400、开关电路500及主控电路600。电机400与电源连接，具体的，电机400与电源的火线连接。开关电路500与发热盘组件300、电机400及主控电路600连接，具体的，开关电路500通过发热元件302与发热盘组件300连接。其中，电机400用于带动食品料理机的刀具组件，使刀具组件对物料进行粉碎或搅拌处理；开关电路500用于控制发热盘组件300或电机400工作，使发热盘组件300或电机400处于工作回路，从而实现对物料进行加热、搅打操作。

具体方式为，如图2所示，当开关电路500接收到主控电路600发送的第一开关信号时，开关电路500控制发热盘组件300所在回路导通，以控制发热盘组件300对物料进行加热处理；如图3所示，当开关电路500接收到主控电路600发送的第二开关信号时，开关电路500控制电机400所在回路导通，控制电机400对物料进行搅打处理。

于一操作过程中，当开关电路500控制发热盘组件300处于工作回路，且发热盘组件300与物料检测电路200所在回路导通时，物料检测电路200输出检测信号，当发热盘组件300的断开次数达到第二设定阈值N₂(第二设定阈值N₂小于第一设定阈值N₁)时，物料量虽已超过标准物料量，但食品料理机能够完成正常的制浆流程，然而，此时可能会产生电气危险(即出现电机400冒烟及起火等情况)。因此，此时为保证用户的安全，可以减少电机400对物料的搅打时间，增加电机400对物料的搅打停止时间。

通过上述措施，通过物料检测结果，控制电机400对物料的搅打流程，实现有效避免食品料理机出现电气危险，以充分保证用户的使用安全。

在一实施例中，食品料理机中设有一温度检测模块，温度检测模块用于检测物料温度。

其中，食品料理机的制浆流程包括加热阶段及粉碎阶段；加热阶段对物料进行软化，粉碎阶段用于对物料进行搅打。则此时，可以在加热阶段检测物料温度，当物料温度小于设定的温度阈值T₁，且物料检测电路200与发热盘组件300所在回路导通时，可以根据发热盘组件300的断开次数对食品料理机进行物料检测；当物料温度大于设定的温度阈值T₁时，根据物料检测结果控制电路的工作流程或进行报警处理。示例性的，T₁为一接近于海拔温度(不同海拔水的沸点温度)的温度阈值。

通过上述措施，在电机400对物料搅打前，对食品料理机进行物料检测，能够有效调整电机400后续的搅打流程，避免出现电气危险；同时，能够保证物料完整，当确定物料较多时，便于用户对物料进行调整，从而避免物料浪费。

在一实施例中，如图2及如图3所示，食品料理机的控制电路1还包括功率控制电路100。功率控制电路100与电源、开关电路500及主控电路600连接，具体的，功率控制电路100与电源的零线连接。其中，功率控制电路100用于控制发热盘组件300或电机400的工作功率。

于一操作过程中，当开关电路500接收到主控电路600发送的第一开关信号时，开关电路500控制发热盘组件300和功率控制电路100所在回路导通，以使得功率控制电路100对发热盘组件300的工作功率进行控制；当开关电路500接收到主控电路600发送的第二开关信号时，开关电路500控制电机400和功率控制电路100所在回路导通，以使得功率控制电路100对电机400的工作功率进行控制。

如图2及图3所示，功率控制电路100还包括驱动元件110及可控硅120。其中，驱动元件110的一端与主控电路600连接，驱动元件110的另一端与可控硅120连接；可控硅120一端与电源连接，可控硅120的另一端与开关电路500连接，具体的，可控硅120可以与电源零线连接。其中，如图2所示，当可控硅120断电时，发热盘组件300和物料检测电路200所在回路导通，物料检测电路200输出检测信号。因此，当发热盘组件300和功率控制电路100所在回路导通时，主控电路600还用于每间隔预设时长驱动驱动元件110断开，使可控硅120断电，使得发热盘组件300和物料检测电路200所在回路导通。示例性的，预设时长可以为5s～300s。由此看出，可以通过控制可控硅120的断开频率，控制对食品料理机的物料检测频率。

请参照图4，其为本申请一实施例提供的食品料理机的控制电路1的结构示意图。其中，为便于描述，图4中并未示意出主控电路600。

如图4所示，本实施例中，驱动元件110为三极管，三极管的基极与主控电路600连接；三极管的集电极与可控硅120连接；三极管的发射极接地。如图4所示，本实施例中，物料检测电路200包括第一分压电阻201、第二分压电阻202、三极管205、稳压电容207、第三分压电阻203、二极管204及限流电阻206。其中，第一分压电阻201与发热盘组件300连接；第二分压电阻202与第一分压电阻201连接；三极管205的基极与第二分压电阻202连接，三极管205的发射极接地，三极管205的集电极用于输出第一信号及第二信号；稳压电容207的一端与三极管205的集电极连接，稳压电容的207另一端接地；第三分压电阻203的一端与三极管205的基极连接，第三分压电阻203的另一端接地；二极管204的阴极与三极管205的基极连接，二极管204的阳极接地；限流电阻206的一端与三极管205的集电极连接，限流电阻206的另一端与电源连接。

在一实施例中，第一分压电阻201及第二分压电阻202的阻值均大于5KΩ，第三分压电阻203的阻值大于100Ω，稳压电容207的电容值为10pf～100uf。

请参照图5，其为本申请一实施例示出的食品料理机的控制电路1的结构示意图。其中，为便于描述，图5中并未示意出主控电路600。

如图5所示，本实施例中，驱动元件110为光耦，光耦的第一输入端与主控电路600连接，光耦的第二输入端接地，光耦的第一输出端与可控硅120连接，光耦的第二输出端接地。如图5所示，本实施例中，物料检测电路200包括第一限流电阻211、第二限流电阻212、光耦213、第三限流电阻214及稳压电容215。其中，第一限流电阻211与发热盘组件300连接；第二限流电阻212与第一限流电阻211连接；光耦213的第一输入端与第二限流电阻212连接，光耦213的第二输入端接地，光耦213的第一输出端用于输出第一信号及第二信号，光耦213的第二输出端接地；第三限流电阻214的一端与电源连接，第三限流电阻214的另一端与光耦213的第一输出端连接；稳压电容215的一端与光耦的第一输出端连接，稳压电容215的另一端接地。

于一操作过程中，如图4或图5所示，当开关电路500接收到主控电路600发送的低电平信号(即第一开关信号)时，发热盘组件300和功率控制电路100所在回路导通，发热盘组件300对物料进行加热处理。当开关电路500接收到主控电路600发送的高电平信号(即第二开关信号)时，电机400和功率控制电路100所在回路导通，电机400对物料进行搅打处理。

下面以图4或图5所示的食品料理机的控制电路1的结构示意图为例，详细描述对食品料理机进行物料检测的工作流程：

于一操作过程中，当食品料理机接收到用户发送的制浆功能指令后，开始执行制浆流程。若开关电路500接收到主控电路600发送的低电平信号(即第一开关信号)，可以控制发热盘组件300和功率控制电路100所在回路导通(低电平信号使图中继电器的A、B触点连通，从而使得发热盘组件300和功率控制电路100所在回路导通)，使发热盘组件300对物料进行加热处理。在发热盘组件300处于工作回路后，功率控制电路100可以每间隔预设时长接收主控电路600发送的低电平信号，从而控制驱动元件110断开，可控硅120断电，使得发热盘组件300和物料检测电路200所在回路导通，从而使得物料检测电路200能够输出物料检测信号。具体的，当发热盘组件300开路时，三极管或光耦断开，物料检测电路200输出高电平信号(即第一信号)；当发热盘组件300导通时，三极管或光耦不停开合，物料检测电路200输出与电源线同频的方波信号(即第二信号)。其中，在上述物料检测过程中，温度检测模块会实时检测物料的温度。当物料的温度达到设定的温度阈值T₁时，停止对食品料理机进行物料检测，同时，根据物料检测电路200的信号输出情况，确定发热盘组件300的断开次数，从而获得食品料理机的物料检测结果。最后，可以根据物料检测结果，控制食品料理机执行相应操作。具体的，当确定发热盘组件300的断开次数N小于第二设定阈值N₂时，控制食品料理机继续执行制浆流程；当确定发热盘组件300的断开次数大于第二设定阈值N₂，且小于第一设定阈值N₁时，减少电机400对物料的搅打时间，增加电机400对物料的搅打停止时间；当确定发热盘组件300的断开次数大于第一设定阈值N₁时，物料过量，控制食品料理机进行报警处理。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种食品料理机的控制电路，其特征在于，包括：

发热盘组件，连接电源，用于对食品料理机中的物料进行加热；

物料检测电路，一端连接所述发热盘组件，另一端连接所述电源；

其中，在所述发热盘组件和所述物料检测电路所在回路导通时，若所述发热盘组件开路，所述物料检测电路输出第一信号；

若所述发热盘组件导通，所述物料检测电路输出第二信号。

2.根据权利要求1所述的食品料理机的控制电路，其特征在于，所述发热盘组件包括：

温控器，连接所述电源；

发热元件，一端连接所述温控器，另一端连接所述物料检测电路；

所述温控器用于检测所述发热元件的温度，在所述温度达到预设阈值时，所述温控器开路，在所述温度小于所述预设阈值时，所述温控器导通。

3.根据权利要求1所述的食品料理机的控制电路，其特征在于，所述食品料理机的控制电路还包括：

电机，连接所述电源；

主控电路；

开关电路，分别连接所述发热盘组件、所述电机和所述主控电路，当所述开关电路接收到所述主控电路发送的第一开关信号时，所述开关电路控制所述发热盘组件所在回路导通；

当所述开关电路接收到所述主控电路发送的第二开关信号时，所述开关电路控制所述电机所在回路导通。

4.根据权利要求3所述的食品料理机的控制电路，其特征在于，所述食品料理机的控制电路还包括：

功率控制电路，分别与所述电源、所述开关电路及所述主控电路连接；

当所述开关电路接收到所述主控电路发送的第一开关信号时，所述开关电路控制所述发热盘组件和所述功率控制电路所在回路导通；

当所述开关电路接收到所述主控电路发送的第二开关信号时，所述开关电路控制所述电机和所述功率控制电路所在回路导通。

5.根据权利要求4所述的食品料理机的控制电路，其特征在于，所述功率控制电路包括：

驱动元件，与所述主控电路连接；

可控硅，分别与所述电源、所述开关电路及所述驱动元件连接；

当所述发热盘组件和所述功率控制电路所在回路导通时，所述主控电路用于每间隔预设时长驱动所述驱动元件断开，使所述可控硅断电，使得所述发热盘组件和所述物料检测电路所在回路导通。

6.根据权利要求5所述的食品料理机的控制电路，其特征在于，所述驱动元件为三极管或光耦。

7.根据权利要求1所述的食品料理机的控制电路，其特征在于，所述物料检测电路包括：

第一分压电阻，与所述发热盘组件连接；

第二分压电阻，与所述第一分压电阻连接；

三极管，基极与所述第二分压电阻连接，发射极接地，集电极用于输出所述第一信号及所述第二信号；

稳压电容，一端与所述三极管的集电极连接，另一端接地；

第三分压电阻，一端与所述三极管的基极连接，另一端接地。

8.根据权利要求7所述的食品料理机的控制电路，其特征在于，所述物料检测电路还包括：

二极管，阴极与所述三极管的基极连接，阳极接地；

限流电阻，一端与所述三极管的集电极连接，另一端与所述电源连接。

9.根据权利要求7所述的食品料理机的控制电路，其特征在于，所述第一分压电阻及所述第二分压电阻的阻值均大于5KΩ，所述第三分压电阻的阻值大于100Ω，所述稳压电容的电容值为10pf～100μf。

10.根据权利要求1所述的食品料理机的控制电路，其特征在于，所述物料检测电路包括：

第一限流电阻，与所述发热盘组件连接；

第二限流电阻，与所述第一限流电阻连接；

光耦，第一输入端与所述第二限流电阻连接，第二输入端接地，第一输出端用于输出所述第一信号及所述第二信号，第二输出端接地；

第三限流电阻，一端与所述电源连接，另一端与所述光耦的第一输出端连接。

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