CN216433470U - 一种显微设备校准装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及显微设备相关领域，具体为一种显微设备校准装置，校准装置上设有固定底座和固定架，固定架的底端插接至固定底座上；固定架上固定加上设有第一校准机构和第二校准机构，第一校准机构位于第二校准机构的上方，第一校准机构与第二校准机构均在固定架上移动，使用×十字分划目镜和标准玻璃线纹尺进行测量，通过×十字分划目镜上读得标准玻璃线纹尺所用间距像的示值，标准玻璃线纹尺所用间距与×十字分划目镜上读得标准玻璃线纹尺所用间距像的实际值计算物镜放大倍数，对于具有线纹的显微设备，可使用工具显微镜的放大功能与测量功能对该线纹进行检测，该方法操作简单，保证量值准确。

Description

一种显微设备校准装置

技术领域

本实用新型涉及显微设备相关领域，具体为一种显微设备校准装置。

背景技术

显微设备是一种精密的光学仪器，已有300多年的发展史。自从有了显微镜，人们看到了过去看不到的许多微小生物和构成生物的基本单元--细胞。不仅有能放大千余倍的显微设备，而且有放大几十万倍的电子显微镜，使我们对生物体的生命活动规律有了更进一步的认识。在普通中学生物教学大纲中规定的实验中，大部分要通过显微设备来完成，因此，显微设备性能的好坏是做好观察实验的关键。

由于显微设备一直未发布适合的国家检定规程和计量技术规范，对其量值溯源产生了很大的不便，无法显微设备量值准确可靠，直接影响了检测结果的可信度。

为解决上述问题，克服现有技术的不足，提供一种适用于显微设备的校准装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种显微设备校准装置，使得显微设备量值的准确性更加可靠。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种显微设备校准装置，包括校准装置，所述校准装置上设有固定底座和固定架，所述固定架的底端插接至所述固定底座上；所述固定架上所述固定加上设有第一校准机构和第二校准机构，所述第一校准机构位于所述第二校准机构的上方，且对应设置，所述第一校准机构与第二校准机构均与所述固定架滑动连接。

在进一步的实施例中，所述第一校准机构包括第一轴套、第一连接杆、第一伸缩杆、固定块和竖直设置的10×十字分划目镜，所述第一连接杆的右端与所述第一轴套的左侧连接，所述第一伸缩杆的底部插接至所述第一连接杆左端的内部，所述固定块的外侧壁与所述第一伸缩杆的左端连接，所述×十字分划目镜设置在所述固定块上；所述第一轴套与所述固定架滑动连接，所述第一轴套与所述第一连接杆的相连处设有第一旋转机构。

在进一步的实施例中，所述第二校准机构包括第二轴套、第二连接杆、第二伸缩杆、第三轴套和标准玻璃线纹尺，所述第二连接杆的右端与所述第二轴套的左侧连接，所述第二伸缩杆的右端插接至所述第二连接杆左端的内部，所述第三轴套套接在第二伸缩杆上，所述标准玻璃线纹尺设置在所述第三轴套的顶端；所述第二轴套与所述固定架滑动连接，所述第二轴套与所述第二连接杆的相连处设有第二旋转机构。

在进一步的实施例中，所述第一旋转机构包括竖直设置的第一直齿轮和第二直齿轮，所述第一直齿轮与所述第二直齿轮啮合，所述第一直齿轮设置在所述第一连接杆的右端；所述第一直齿轮、所述第二直齿轮和所述固定架依次设置，所述第二直齿轮与所述固定架之间有间隙。

在进一步的实施例中，所述第二旋转机构包括水平设置的第一斜齿轮和第二斜齿轮，所述第一斜齿轮与所述第二斜齿轮啮合，所述第一斜齿轮设置在所述第二连接杆的右端；所述第一斜齿轮、第二斜齿轮和所述固定架依次设置，所述第二斜齿轮与所述固定架之间有间隙。

在进一步的实施例中，所述第一轴套上开设有第一空槽，所述第一连接杆穿过所述第一空槽且所述第一连接杆的右端与所述第一直齿轮固定连接，所述第二轴套上开设有第二空槽，所述第二连接杆穿过所述第二空槽且所述第二连接杆的右端与所述第一斜齿轮固定连接。

在进一步的实施例中，所述第一伸缩杆和所述第二伸缩杆的形状均为圆柱形。

在进一步的实施例中，所述第一连接杆和所述第二连接杆的形状均为方形。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、该实用新型中，使用10×十字分划目镜和标准玻璃线纹尺进行测量，首先将显微镜目镜视度调节至0位置，标准玻璃线纹尺通过第二校准机构的移动置于被测显微设备的载物台上，调节物镜的像面距离，使标准玻璃线纹尺在目镜分划尺上成清晰像，取下显微设备的目镜，通过第一校准机构将10×十字分划目镜装上，在该10×十字分划目镜上读得标准玻璃线纹尺所用间距像的示值，标准玻璃线纹尺所用间距与10×十字分划目镜上读得标准玻璃线纹尺所用间距像的实际值计算物镜放大倍数，对于具有线纹的显微设备，可使用工具显微镜的放大功能与测量功能对该线纹进行检测，该方法操作简单，保证量值准确。

2、该实用新型中，通过第一校准机构的设置，使得10×十字分划目镜能够通过第一伸缩杆拉出，并通过第一旋转机构对10×十字分划目镜进行竖直旋转，通过第二校准机构的设置，使得标准玻璃线纹尺能够通过第二伸缩杆拉出，并通过第二旋转机构对标准玻璃线纹尺进行水平转动，通过第一校准机构和第二校准机构的设置，提高本装置便捷性。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型第一校准机构侧视结构示意图；

图3为本实用新型第二校准机构侧视结构示意图。

图中：1、固定底座；2、固定架；3、第一轴套；4、第二直齿轮；5、第一直齿轮；6、第一连接杆；7、第一伸缩杆；8、固定块；9、10×十字分划目镜；10、第二轴套；11、第二连接杆；12、第三轴套；13、第二伸缩杆；14、标准玻璃线纹尺；15、第一空槽；16、第二空槽；17、第二斜齿轮。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本实用新型一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型中，除非另有明确规定和限定，对于方位词，如有术语“上方”、“下方”、“上端”、“下端”、“下表面”、“顺时针”、“逆时针”、“左”、“右”等指示方位和位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于叙述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定方位构造和操作，不能理解为限制本实用新型的具体保护范围。

在本实用新型中，除非另有明确规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“之下”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅是表示第一特征水平高度高于第二特征的高度。第一特征在第二特征“上”、“下”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。

在本实用新型中，除非另有明确规定和限定，如有术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”特征可以明示或者隐含包括一个或者多个该特征。

在本实用新型中，除非另有明确规定和限定，如有术语“连接”术语应作广义去理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；也可以是机械连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部相连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述的术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1、图2和图3，本实用新型提供的一种实施例：一种显微设备校准装置，包括校准装置，校准装置上设有固定底座1和固定架2，固定架2的底端插接至固定底座1上；固定架2上固定加上设有第一校准机构和第二校准机构，第一校准机构位于第二校准机构的上方，且对应设置，第一校准机构与第二校准机构均与固定架2滑动连接，使用10×十字分划目镜9和标准玻璃线纹尺14进行测量，首先将显微镜目镜视度调节至0位置，标准玻璃线纹尺14通过第二校准机构的移动置于被测显微设备的载物台上，调节物镜的像面距离，使标准玻璃线纹尺14在目镜分划尺上成清晰像，取下显微设备的目镜，通过第一校准机构将10×十字分划目镜9装上，在该10×十字分划目镜9上读得标准玻璃线纹尺14所用间距像的示值，标准玻璃线纹尺14所用间距与10×十字分划目镜9上读得标准玻璃线纹尺14所用间距像的实际值计算物镜放大倍数，对于具有线纹的显微设备，可使用工具显微镜的放大功能与测量功能对该线纹进行检测，该方法操作简单，保证量值准确。

为了安装10×十字分划目镜9，第一校准机构包括第一轴套3、第一连接杆6、第一伸缩杆7、固定块8和竖直设置的10×十字分划目镜9，第一连接杆6的右端与第一轴套3的左侧连接，第一伸缩杆7的底部插接至第一连接杆6左端的内部，固定块8的外侧壁与第一伸缩杆7的左端连接，10×十字分划目镜9设置在固定块8上；第一轴套3与固定架2滑动连接，第一轴套3与第一连接杆6的相连处设有第一旋转机构。

为了安装标准玻璃线纹尺14，第二校准机构包括第二轴套10、第二连接杆11、第二伸缩杆13、第三轴套12和标准玻璃线纹尺14，第二连接杆11的右端与第二轴套10的左侧连接，第二伸缩杆13的右端插接至第二连接杆11左端的内部，第三轴套12套接在第二伸缩杆13上，标准玻璃线纹尺14设置在第三轴套12的顶端；第二轴套10与固定架2滑动连接，第二轴套10与第二连接杆11的相连处设有第二旋转机构。

为了便于调节10×十字分划目镜9，第一旋转机构包括竖直设置的第一直齿轮5和第二直齿轮4，第一直齿轮5与第二直齿轮4啮合，第一直齿轮5设置在第一连接杆6的右端，第一直齿轮5、第二直齿轮4和固定架2依次设置，第二直齿轮4与固定架2之间有间隙。

为了便于调节标准玻璃线纹尺14，第二旋转机构包括水平设置的第一斜齿轮和第二斜齿轮17，第一斜齿轮与第二斜齿轮17啮合，第一斜齿轮设置在第二连接杆11的右端；第一斜齿轮、第二斜齿轮17和固定架2依次设置，第二斜齿轮17与固定架2之间有间隙。

为了提高本装置的便捷性，第一轴套3上开设有第一空槽15，第一连接杆6穿过第一空槽15且第一连接杆6的右端与第一直齿轮5固定连接，第二轴套10上开设有第二空槽16，第二连接杆11穿过第二空槽16且第二连接杆11的右端与第一斜齿轮固定连接。

工作原理：使用10×十字分划目镜9和标准玻璃线纹尺14进行测量，首先将显微镜目镜视度调节至0位置，标准玻璃线纹尺14通过第二校准机构的移动置于被测显微设备的载物台上，调节物镜的像面距离，使标准玻璃线纹尺14在目镜分划尺上成清晰像，取下显微设备的目镜，通过第一校准机构将10×十字分划目镜9装上，在该10×十字分划目镜9上读得标准玻璃线纹尺14所用间距像的示值，标准玻璃线纹尺14所用间距与10×十字分划目镜9上读得标准玻璃线纹尺14所用间距像的实际值计算物镜放大倍数，对于具有线纹的显微设备，可使用工具显微镜的放大功能与测量功能对该线纹进行检测，该方法操作简单，保证量值准确。

本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本实用新型，而并非用作为对本实用新型的限定，只要在本实用新型的实质精神范围之内，对以上实施例所作的适当改变和变化都落在本实用新型求保护的范围之内。

Claims (6)

1.一种显微设备校准装置，包括校准装置，所述校准装置上设有固定底座（1）和固定架（2），所述固定架（2）的底端插接至所述固定底座（1）上；其特征在于：所述固定架（2）上所述固定加上设有第一校准机构和第二校准机构，所述第一校准机构位于所述第二校准机构的上方，且对应设置，所述第一校准机构与第二校准机构均与所述固定架（2）滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种显微设备校准装置，其特征在于：所述第一校准机构包括第一轴套（3）、第一连接杆（6）、第一伸缩杆（7）、固定块（8）和竖直设置的10×十字分划目镜（9），所述第一连接杆（6）的右端与所述第一轴套（3）的左侧连接，所述第一伸缩杆（7）的底部插接至所述第一连接杆（6）左端的内部，所述固定块（8）的外侧壁与所述第一伸缩杆（7）的左端连接，所述10×十字分划目镜（9）设置在所述固定块（8）上；所述第一轴套（3）与所述固定架（2）滑动连接，所述第一轴套（3）与所述第一连接杆（6）的相连处设有第一旋转机构。

3.根据权利要求2所述的一种显微设备校准装置，其特征在于：所述第二校准机构包括第二轴套（10）、第二连接杆（11）、第二伸缩杆（13）、第三轴套（12）和标准玻璃线纹尺（14），所述第二连接杆（11）的右端与所述第二轴套（10）的左侧连接，所述第二伸缩杆（13）的右端插接至所述第二连接杆（11）左端的内部，所述第三轴套（12）套接在第二伸缩杆（13）上，所述标准玻璃线纹尺（14）设置在所述第三轴套（12）的顶端；所述第二轴套（10）与所述固定架（2）滑动连接，所述第二轴套（10）与所述第二连接杆（11）的相连处设有第二旋转机构。

4.根据权利要求3所述的一种显微设备校准装置，其特征在于：所述第一旋转机构包括竖直设置的第一直齿轮（5）和第二直齿轮（4），所述第一直齿轮（5）与所述第二直齿轮（4）啮合，所述第一直齿轮（5）设置在所述第一连接杆（6）的右端；所述第一直齿轮（5）、所述第二直齿轮（4）和所述固定架（2）依次设置，所述第二直齿轮（4）与所述固定架（2）之间有间隙。

5.根据权利要求4所述的一种显微设备校准装置，其特征在于：所述第二旋转机构包括水平设置的第一斜齿轮和第二斜齿轮（17），所述第一斜齿轮与所述第二斜齿轮（17）啮合，所述第一斜齿轮设置在所述第二连接杆（11）的右端；所述第一斜齿轮、第二斜齿轮（17）和所述固定架（2）依次设置，所述第二斜齿轮（17）与所述固定架（2）之间有间隙。

6.根据权利要求5所述的一种显微设备校准装置，其特征在于：所述第一轴套（3）上开设有第一空槽（15），所述第一连接杆（6）穿过所述第一空槽（15）且所述第一连接杆（6）的右端与所述第一直齿轮（5）固定连接，所述第二轴套（10）上开设有第二空槽（16），所述第二连接杆（11）穿过所述第二空槽（16）且所述第二连接杆（11）的右端与所述第一斜齿轮固定连接。

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