CN216310135U - 一种多波束反射面天线测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种多波束反射面天线测试装置,包括阵列天线、反射面天线、阵列天线固定架、反射面天线固定架,所述的反射面天线固定架通过反射面天线支撑座固定在底座上,且反射面天线固定架可沿反射面天线支撑座实现纵向位移;所述的阵列天线固定架通过阵列天线位姿调整装置固定在底座上,所述的阵列天线位姿调整装置可实现阵列天线固定架的X向和Y向的位移以及阵列天线固定架俯仰角度及轴向的旋转调整,所述的阵列天线固定架与反射面天线固定架上分别设有锥窝靶标。由上述技术方案可知,本实用新型可实现阵列天线多自由度的姿态调整以及反射面天线的Y向调整,由此解决了多波束反射面天线测试所需姿态的调整问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种多波束反射面天线测试装置。
背景技术
多波束反射面天线地面测试时,精确的天线方位关系是获得准确测试数据的有效保证。这就需要测试装置既能方便的调整姿态又可准确的获得实时空间坐标系位置。目前多波束反射面天线测试时,大多数采用两名测试人员,由一名测试人员手持罗盘进行坐标确定,另一名测试人员调整天线的姿态,并且调整设备笨重且自由度少,难以操控;同时手持罗盘的测量结果有较大的差异,导致天线测试结果误差较大。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种多波束反射面天线测试装置,该测试装置解决了多波束反射面天线测试所需姿态调整问题,同时辅以锥窝靶标实现空间坐标的标定,操作简单便捷,测试精度高,减少了操作人员和操控时间,极大的方便了天线的测试工作。
为实现上述目的,本实用新型采用了以下技术方案:包括阵列天线、反射面天线、用于固定阵列天线的阵列天线固定架、用于固定反射面天线的反射面天线固定架,所述的反射面天线固定架通过反射面天线支撑座固定在底座上,且反射面天线固定架可沿反射面天线支撑座实现纵向位移;所述的阵列天线固定架通过阵列天线位姿调整装置固定在底座上,所述的阵列天线位姿调整装置可实现阵列天线固定架的X向和Y向的位移以及阵列天线固定架俯仰角度及轴向的旋转调整,所述的阵列天线固定架与反射面天线固定架上分别设有锥窝靶标。
所述的反射面天线支撑座整体呈竖直方向布置,所述的反射面天线固定架与反射面天线支撑座之间通过连接组件相连,所述的连接组件包括沿竖直方向固定在反射面天线支撑座上的第一连接板、沿竖直方向固定在反射面天线固定架上的第二连接板,所述的第一连接板与第二连接板上分别设有多个纵向布置的螺栓孔,且第一连接板与第二连接板通过螺栓连接,所述第二连接板在第一连接板上的固定位置可调。
所述的阵列天线位姿调整装置包括姿态底座、X向调整组件、Y向调整组件以及俯仰转动调整组件,所述的X向调整组件包括X向滑座、固定在X向滑座上的第一滑块、沿X向固定在姿态底座上且与第一滑块相配合的第一滑轨、驱动X向滑座沿第一滑轨限定方向位移的第一丝杆螺母机构。
所述的Y向调整组件包括Y向滑座、固定在Y向滑座上的第二滑块、沿Y向固定在X向滑座上且与第二滑块相配合的第二滑轨、驱动Y向滑座沿第二滑轨限定方向位移的第二丝杆螺母机构。
所述的俯仰转动调整组件包括与Y向滑座相连的转台座、与转台座通过俯仰旋转轴连接的俯仰转台、与俯仰转台的中心点通过旋转轴连接的旋转台,所述的旋转台与阵列天线固定架相连,所述的Y向滑座与转台座相连的端面为一倾斜面,所述的俯仰转台可实现俯仰角度的调整,所述的旋转台可实现轴向旋转调整。
所述的第一丝杆螺母机构包括第一丝杆以及与第一丝杆相配合的第一螺母座,所述的第一丝杆固定在姿态底座上,且第一丝杆的一侧端部设有第一摇杆,所述的第一螺母座与X向滑座固连。
所述的第二丝杆螺母机构包括第二丝杆以及与第二丝杆相配合的第二螺母座,所述的第二丝杆固定在X向滑座上,且第二丝杆的一侧端部设有第二摇杆,所述的第二螺母座与Y向滑座固连。
所述的底座上设有调整支脚及滚轮。
所述阵列天线固定架与反射面天线固定架的四周及中间位置均分别安装有多个锥窝靶标。
由上述技术方案可知,本实用新型可实现阵列天线多自由度的姿态调整以及反射面天线的Y向调整,解决了多波束反射面天线测试所需姿态的调整问题,同时辅以锥窝靶标实现空间坐标的标定,两者结合可根据空间坐标***的实时反馈调整天线姿态。整个测试装置只需要一名测试人员操作姿态调整设备即可,操作简单便捷,测试精度高,天线姿态实时可控,并且减少了操作人员和操控时间,极大的方便了天线的测试工作。
附图说明
图1是本实用新型的立体结构示意图。
图2是图1的A部放大图。
图3是本实用新型阵列天线位姿调整装置的分解结构示意图。
图4是本实用新型X向调整组件与Y向调整组件的结构示意图。
图5是本实用新型俯仰转动调整组件的结构示意图。
图6是本实用新型阵列天线固定架上的锥窝靶标安装示意图。
图7是本实用新型反射面天线固定架上的锥窝靶标安装示意图。
上述附图中的标记为:阵列天线1、反射面天线2、阵列天线固定架3、反射面天线固定架4、第二连接板41、反射面天线支撑座5、第一连接板51、底座6、调整支脚61、滚轮62、阵列天线位姿调整装置7、姿态底座71、X向调整组件72、X向滑座721、第一滑块722、第一滑轨723、第一丝杆724、第一螺母座725、第一摇杆726、Y向调整组件73、Y向滑座731、第二滑块732、第二滑轨733、第二丝杆734、第二摇杆735、俯仰转动调整组件74、转台座741、俯仰旋转轴742、俯仰转台743、旋转轴744、旋转台745、锥窝靶标8。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步说明:
如图1所示的一种多波束反射面天线测试装置,包括阵列天线1、反射面天线2、用于固定阵列天线1的阵列天线固定架3、用于固定反射面天线2的反射面天线固定架4,反射面天线固定架4通过反射面天线支撑座5固定在底座6上,且反射面天线固定架4可沿反射面天线支撑座5实现纵向位移;阵列天线固定架3通过阵列天线位姿调整装置7固定在底座6上,阵列天线位姿调整装置7可实现阵列天线固定架3的X向和Y向的位移以及阵列天线固定架3俯仰角度及轴向的旋转调整,阵列天线固定架3与反射面天线固定架4上分别设有锥窝靶标8。阵列天线固定架3与反射面天线固定架4上的锥窝靶标8组成了空间坐标标定***,阵列天线1、反射面天线2为被测物多波束反射面天线的两大***。空间坐标标定***可实现多波束反射面天线空间坐标系的确定,用于反馈***姿态调整时的实时位置。
进一步的,反射面天线支撑座5整体呈竖直方向布置,反射面天线固定架4与反射面天线支撑座5之间通过连接组件相连,如图2所示,连接组件包括沿竖直方向固定在反射面天线支撑座5上的第一连接板51、沿竖直方向固定在反射面天线固定架4上的第二连接板41,第一连接板51与第二连接板41上分别设有多个纵向布置的螺栓孔,且第一连接板51与第二连接板41通过螺栓连接,第二连接板41在第一连接板51上的固定位置可调。即通过第二连接板41在第一连接板51上安装接口位置的上下调整来实现反射面天线2在Y向上的位置调整。
进一步的,如图3、图4所示,阵列天线位姿调整装置7包括姿态底座71、X向调整组件72、Y向调整组件73以及俯仰转动调整组件74,X向调整组件72包括X向滑座721、固定在X向滑座721上的第一滑块722、沿X向固定在姿态底座71上且与第一滑块722相配合的第一滑轨723、驱动X向滑座721沿第一滑轨723限定方向位移的第一丝杆螺母机构。具体的,第一丝杆螺母机构包括第一丝杆724以及与第一丝杆724相配合的第一螺母座725,第一丝杆724固定在姿态底座71上,且第一丝杆724的一侧端部设有第一摇杆726,第一螺母座725与X向滑座721固连,调整时只需转动第一摇杆726即可实现X向滑座721的位移。
如图3、图5所示,Y向调整组件73包括Y向滑座731、固定在Y向滑座731上的第二滑块732、沿Y向固定在X向滑座721上且与第二滑块732相配合的第二滑轨733、驱动Y向滑座731沿第二滑轨733限定方向位移的第二丝杆螺母机构。具体的,第二丝杆螺母机构包括第二丝杆734以及与第二丝杆734相配合的第二螺母座,第二丝杆734固定在X向滑座721上,且第二丝杆734的一侧端部设有第二摇杆735,第二螺母座与Y向滑座731固连。
如图3、图4所示,俯仰转动调整组件74包括与Y向滑座731相连的转台座741、与转台座741通过俯仰旋转轴742连接的俯仰转台743、与俯仰转台743的中心点通过旋转轴744连接的旋转台745,旋转台745与阵列天线固定架3相连,Y向滑座731与转台座741相连的端面为一倾斜面,俯仰转台743可实现俯仰角度的调整,旋转台745可实现轴向旋转调整。
进一步的,底座6上设有调整支脚61及滚轮62。
进一步的,如图6、图7所示,阵列天线固定架3与反射面天线固定架4的四周及中间位置均分别安装有多个锥窝靶标8。本实用新型中的空间标定***包括但不限于采用锥窝靶标8,也可以采用镜面、靶球等一切可用于定标的仪器。锥窝靶标8的位置及数量也不是唯一确定的,可根据实际天线大小及测试情况而定。
本实用新型的有益效果在于:1)本实用新型操作简单便捷,调控自由度高,测试精度高,天线姿态实时可控,并且减少了操作人员和操控时间,极大的方便了天线的测试工作。2)本实用新型结构***简洁,设计合理,安装维修方便,经济效益高。为后续大型天线地面测试***提供了一种切实可行的结构方案,具有极高的工程应用意义。
以上所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述,并非对本实用新型的范围进行限定,在不脱离本实用新型设计精神的前提下,本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案作出的各种变形和改进,均应落入本实用新型权利要求书确定的保护范围内。
Claims (9)
1.一种多波束反射面天线测试装置,其特征在于:包括阵列天线(1)、反射面天线(2)、用于固定阵列天线(1)的阵列天线固定架(3)、用于固定反射面天线(2)的反射面天线固定架(4),所述的反射面天线固定架(4)通过反射面天线支撑座(5)固定在底座(6)上,且反射面天线固定架(4)可沿反射面天线支撑座(5)实现纵向位移;所述的阵列天线固定架(3)通过阵列天线位姿调整装置(7)固定在底座(6)上,所述的阵列天线位姿调整装置(7)可实现阵列天线固定架(3)的X向和Y向的位移以及阵列天线固定架(3)俯仰角度及轴向的旋转调整,所述的阵列天线固定架(3)与反射面天线固定架(4)上分别设有锥窝靶标(8)。
2.根据权利要求1所述的多波束反射面天线测试装置,其特征在于:所述的反射面天线支撑座(5)整体呈竖直方向布置,所述的反射面天线固定架(4)与反射面天线支撑座(5)之间通过连接组件相连,所述的连接组件包括沿竖直方向固定在反射面天线支撑座(5)上的第一连接板(51)、沿竖直方向固定在反射面天线固定架(4)上的第二连接板(41),所述的第一连接板(51)与第二连接板(41)上分别设有多个纵向布置的螺栓孔,且第一连接板(51)与第二连接板(41)通过螺栓连接,所述第二连接板(41)在第一连接板(51)上的固定位置可调。
3.根据权利要求1所述的多波束反射面天线测试装置,其特征在于:所述的阵列天线位姿调整装置(7)包括姿态底座(71)、X向调整组件(72)、Y向调整组件(73)以及俯仰转动调整组件(74),所述的X向调整组件(72)包括X向滑座(721)、固定在X向滑座(721)上的第一滑块(722)、沿X向固定在姿态底座(71)上且与第一滑块(722)相配合的第一滑轨(723)、驱动X向滑座(721)沿第一滑轨(723)限定方向位移的第一丝杆螺母机构。
4.根据权利要求3所述的多波束反射面天线测试装置,其特征在于:所述的Y向调整组件(73)包括Y向滑座(731)、固定在Y向滑座(731)上的第二滑块(732)、沿Y向固定在X向滑座(721)上且与第二滑块(732)相配合的第二滑轨(733)、驱动Y向滑座(731)沿第二滑轨(733)限定方向位移的第二丝杆螺母机构。
5.根据权利要求4所述的多波束反射面天线测试装置,其特征在于:所述的俯仰转动调整组件(74)包括与Y向滑座(731)相连的转台座(741)、与转台座(741)通过俯仰旋转轴(742)连接的俯仰转台(743)、与俯仰转台(743)的中心点通过旋转轴(744)连接的旋转台(745),所述的旋转台(745)与阵列天线固定架(3)相连,所述的Y向滑座(731)与转台座(741)相连的端面为一倾斜面,所述的俯仰转台(743)可实现俯仰角度的调整,所述的旋转台(745)可实现轴向旋转调整。
6.根据权利要求3所述的多波束反射面天线测试装置,其特征在于:所述的第一丝杆螺母机构包括第一丝杆(724)以及与第一丝杆(724)相配合的第一螺母座(725),所述的第一丝杆(724)固定在姿态底座(71)上,且第一丝杆(724)的一侧端部设有第一摇杆(726),所述的第一螺母座(725)与X向滑座(721)固连。
7.根据权利要求4所述的多波束反射面天线测试装置,其特征在于:所述的第二丝杆螺母机构包括第二丝杆(734)以及与第二丝杆(734)相配合的第二螺母座,所述的第二丝杆(734)固定在X向滑座(721)上,且第二丝杆(734)的一侧端部设有第二摇杆(735),所述的第二螺母座与Y向滑座(731)固连。
8.根据权利要求1所述的多波束反射面天线测试装置,其特征在于:所述的底座(6)上设有调整支脚(61)及滚轮(62)。
9.根据权利要求1所述的多波束反射面天线测试装置,其特征在于:所述阵列天线固定架(3)与反射面天线固定架(4)的四周及中间位置均分别安装有多个锥窝靶标(8)。
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