CN216116654U - 一种显示模组测试设备和*** - Google Patents
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Abstract
本实用新型的一个实施例公开了一种显示模组测试设备和***，所述测试设备包括主控基板、转接基板、测试基板和显示基板，所述测试基板包括电源芯片；所述主控基板，用于响应于显示测试信号，分别向显示基板输出第一控制信号及通过所述转接基板向所述电源芯片输出第二控制信号；所述显示基板，用于响应于所述第一控制信号，通过所述转接基板向所述测试基板输出测试图像数据信号；所述测试基板，用于向待测OLED显示模组输出测试图像数据信号；所述电源芯片，用于响应于所述第二控制信号，为待测OLED显示模组提供显示供电。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测设备技术领域，具体涉及一种显示模组测试设备和***。
背景技术
OLED在检测时，一般是将产品放置于载具上，通过载具放置在测试机台上进行检测，测试机台上包含主控基板、显示基板和转接基板，载具上包含测试基板，通过测试基板和转接基板的连接实现信号输出至产品。现有的技术利用主控基板设置的电源模块为待测显示模组进行整体供电，因电源模块不仅要为待测显示模组提供工作电压还要为整个测试机台供电，因此电源模块为待测显示模组提供的工作电压和其他电压一起被输出再经由转接基板输出至测试基板，最后给到待测显示模组，这种方式因转接多次，导致输出电压精度不够，无法实现精确的给OLED模组供电。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种显示模组测试设备和***，通过将电源芯片移到测试基板，并通过单片机控制电源芯片给待测OLED显示模组进行显示供电，减少了损耗，提高了工作效率和电压输出的精度。
为达到上述目的，本实用新型采用下述技术方案：
本实用新型一方面提供一种显示模组测试设备，包括主控基板、转接基板、测试基板和显示基板，所述测试基板包括电源芯片；
所述主控基板，用于响应于显示测试信号，分别向显示基板输出第一控制信号及通过所述转接基板向所述电源芯片输出第二控制信号；
所述显示基板，用于响应于所述第一控制信号，通过所述转接基板向所述测试基板输出测试图像数据信号；
所述测试基板，用于向待测OLED显示模组输出测试图像数据信号；
所述电源芯片，用于响应于所述第二控制信号，为待测OLED显示模组提供显示供电。
在一个具体实施例中，所述主控基板还包括控制模块；
所述控制模块，用于响应于显示测试信号，向显示基板输出第一控制信号。
在一个具体实施例中，
所述控制模块，还用于响应于触控测试信号，通过转接基板和测试基板向待测OLED显示模组输出触控信号。
在一个具体实施例中，所述主控基板还包括单片机；
所述单片机，用于响应于显示测试信号，通过所述转接基板向所述电源芯片输出第二控制信号。
在一个具体实施例中，所述主控基板还包括电源模块；
所述电源模块，用于响应于所述触控测试信号，为待测OLED显示模组提供触控供电。
在一个具体实施例中，所述主控基板还包括检测模块；
所述检测模块用于检测所述第一控制信号、第二控制信号和触控信号。
在一个具体实施例中，所述测试基板还包括高速信号增强模块；
所述高速信号增强模块，用于增强测试图像数据信号并输出给待测OLED显示模组。
在一个具体实施例中，所述测试基板还包括检测电阻器和输入输出控制模块；
所述输入输出控制模块，用于通过检测电阻器检测电源芯片输出的显示供电。
在一个具体实施例中，
所述显示基板和主控基板通过对插的形式连接；
所述测试基板和待测OLED显示模组通过对插的形式连接；
所述主控基板和转接基板通过柔性扁平电缆连接；
所述显示基板和转接基板通过柔性扁平电缆连接；
所述转接基板和测试基板通过柔性电路板连接。
本实用新型另一方面提供一种显示模组测试***，所述***包括：
上位机；
上述的测试设备；
所述上位机向所述测试设备发送显示测试信号。
本实用新型的有益效果如下：
本实用新型所提供的一种显示模组测试设备和***通过将电源芯片移到测试基板，并通过单片机控制电源芯片给待测显示模组进行显示供电，减少了损耗，实现了节能减排，提高了工作效率和电压输出的精度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有的技术方案，下面将对具体实施方式或现有的技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见的，下面描述中的附图是本申请的一种实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出根据本实用新型一个实施例的一种显示模组测试***的组成结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的技术方案更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。以下通过具体实施例对本实用新型进行了详细的说明，但这些并非构成对本实用新型的限制。在不脱离本实用新型原理的情况下，本领域的技术人员可以做出变形与改进，也应视为本实用新型的保护范围。
本实施例提供一种显示模组测试***，如图1所示，所述***包括：上位机和显示模组测试设备。
其中，所述显示模组测试设备包括：主控基板、转接基板、测试基板和显示基板。
所述主控基板进一步包括：电源模块、控制模块、检测模块和单片机。
所述测试基板进一步包括：电源芯片、高速信号增强模块、输入输出控制模块和检测电阻器。在一个具体实施例中，所述电源芯片为PMIC(PowerManagementIC，电源管理集成电路)电源芯片。
所述上位机通过USB接口与所述主控基板相连，主控基板通过柔性扁平电缆(FFC)和转接基板相连，所述显示基板和主控基板通过对插(B2B)的形式连接，所述显示基板和转接基板通过柔性扁平电缆连接，所述转接基板和测试基板通过柔性电路板(FPC)连接，所述测试基板和待测OLED显示模组通过对插的形式连接。
在对待测OLED显示模组进行显示测试时，所述上位机通过USB接口向所述测试设备发送显示测试信号；所述主控基板响应于所述显示测试信号，并由电源模块为所述测试设备供电，由控制模块向显示基板输出第一控制信号，由单片机通过所述转接基板向所述电源芯片输出第二控制信号；所述显示基板响应于所述第一控制信号，通过所述转接基板向所述测试基板输出测试图像数据信号；所述测试基板的电源芯片响应于所述第二控制信号，为待测OLED显示模组提供显示供电，例如电源芯片为待测OLED显示模组的显示驱动芯片供电，所述测试基板的高速信号增强模块将接收到的测试图像数据信号进行增强，实现对走线产生的损耗进行补偿，并输出增强后的测试图像数据信号给待测OLED显示模组对其进行显示测试，所述输入输出控制模块用于通过检测电阻器检测电源芯片输出的显示供电，并将电源芯片输出的显示供电的信息通过转接基板、主控基板和USB接口发送给上位机进行分析。
其中，单片机通过GPIO(General-purpose input/output，通用型之输入输出)控制所述电源芯片。
在对待测OLED显示模组进行触控测试时，所述上位机通过USB接口向所述测试设备发送触控测试信号；所述主控基板响应于所述触控测试信号，并由电源模块为所述测试设备供电并为待测OLED显示模组提供触控供电，由控制模块通过转接基板和测试基板向待测OLED显示模组输出触控信号；所述测试基板对待测OLED显示模组进行触控测试。
所述检测模块用于检测主控基板电源模块的显示供电和触控供电以及所述第一控制信号、第二控制信号和触控信号是否正常，若否，则发送检测异常信号到上位机，上位机接收到所述检测异常信号后控制所述测试设备停止对待测OLED显示模组的测试。例如，当显示供电或触控供电的电压高于或低于预设的电压阈值时，视为显示供电或触控供电不正常，否则视为正常。当所述第一控制信号、第二控制信号或触控信号有逻辑错误等异常情况时视为信号不正常，否则视为正常。
本实施例所提供的一种显示模组测试设备和***，主控基板上有单片机和电源模块，电源模块为所述测试设备供电并为待测OLED显示模组提供触控供电，单片机通过GPIO控制测试基板上的电源芯片为待测OLED显示模组提供显示供电。电压输出精度高，控制简单，可以实现显示和触控测试的电源独立。
显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本实用新型的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之列。
Claims (10)
1.一种显示模组测试设备，其特征在于，包括主控基板、转接基板、测试基板和显示基板，所述测试基板包括电源芯片；
所述主控基板，用于响应于显示测试信号，分别向显示基板输出第一控制信号及通过所述转接基板向所述电源芯片输出第二控制信号；
所述显示基板，用于响应于所述第一控制信号，通过所述转接基板向所述测试基板输出测试图像数据信号；
所述测试基板，用于向待测OLED显示模组输出测试图像数据信号；
所述电源芯片，用于响应于所述第二控制信号，为待测OLED显示模组提供显示供电。
2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述主控基板还包括控制模块；
所述控制模块，用于响应于显示测试信号，向显示基板输出第一控制信号。
3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，
所述控制模块，还用于响应于触控测试信号，通过转接基板和测试基板向待测OLED显示模组输出触控信号。
4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述主控基板还包括单片机；
所述单片机，用于响应于显示测试信号，通过所述转接基板向所述电源芯片输出第二控制信号。
5.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述主控基板还包括电源模块；
所述电源模块，用于响应于所述触控测试信号，为待测OLED显示模组提供触控供电。
6.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述主控基板还包括检测模块；
所述检测模块用于检测所述第一控制信号、第二控制信号和触控信号。
7.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试基板还包括高速信号增强模块；
所述高速信号增强模块，用于增强测试图像数据信号并输出给待测OLED显示模组。
8.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试基板还包括检测电阻器和输入输出控制模块；
所述输入输出控制模块，用于通过检测电阻器检测电源芯片输出的显示供电。
9.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，
所述显示基板和主控基板通过对插的形式连接；
所述测试基板和待测OLED显示模组通过对插的形式连接；
所述主控基板和转接基板通过柔性扁平电缆连接；
所述显示基板和转接基板通过柔性扁平电缆连接；
所述转接基板和测试基板通过柔性电路板连接。
10.一种显示模组测试***，其特征在于，所述***包括：
上位机；
权利要求1-9任一项所述的测试设备；
所述上位机向所述测试设备发送显示测试信号。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202121863371.4U CN216116654U (zh) | 2021-08-10 | 2021-08-10 | 一种显示模组测试设备和*** |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202121863371.4U CN216116654U (zh) | 2021-08-10 | 2021-08-10 | 一种显示模组测试设备和*** |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN216116654U true CN216116654U (zh) | 2022-03-22 |
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Family Applications (1)
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| CN202121863371.4U Active CN216116654U (zh) | 2021-08-10 | 2021-08-10 | 一种显示模组测试设备和*** |
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2021
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