CN215932023U - 一种新型高频头测试电路及测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种新型高频头测试电路及测试治具，测试治具包括外壳，外壳内安装有控制电路板；外壳外部安装有切换模式的外部导航开关、连接测试高频头的接头和连接测试设备的接头；控制电路板与连接测试高频头的接头、连接测试设备的接头和外部导航开关相连接；控制电路板上设置有测试电路；测试电路包括电源电路、开关稳压电路、主芯片控制电路和75欧姆转50欧姆电路；电源电路外接电源，电源电路内接开关稳压电路和主芯片控制电路；主芯片控制电路连接开关稳压电路和75欧姆转50欧姆电路，开关稳压电路外接待测高频头；75欧姆转50欧姆电路外接待测高频头和外界的测试设备；该测试电路及测试治具具有可实现多种测试模式的特点。
Description
技术领域
本实用新型涉及***接收技术，特别涉及一种新型高频头测试电路及测试治具。
背景技术
对高频头相关数据进行测试时需要借助测试治具。现有的测试治具无法集多种测试功能于一体，因此在进行测试时，需要借助多种不同的测试治具，较为麻烦。
鉴于上述问题，本实用新型设计出一种新型高频头测试电路及测试治具，本案由此产生。
实用新型内容
本实用新型提供一种新型高频头测试电路及测试治具，该测试电路及测试治具具有可实现多种测试模式的特点；具体地，本实用新型是通过以下技术方案实现：
一种新型高频头测试电路，其特征在于：测试电路包括电源电路、开关稳压电路、主芯片控制电路和75欧姆转50欧姆电路；电源电路外接电源，电源电路内接开关稳压电路和主芯片控制电路；主芯片控制电路连接开关稳压电路，开关稳压电路外接待测高频头，开关稳压电路根据主芯片控制电路的指令输出电压到待测高频头，提供给待测高频头工作电压；主芯片控制电路连接75欧姆转50欧姆电路，75欧姆转50欧姆电路外接待测高频头和外界的测试设备。
通过操控主芯片控制电路，实现多种测试模式的切换，主芯片控制电路通过75欧姆转50欧姆电路给到待测高频头22K信号和Diseqc命令；同时通过主芯片控制电路输出指令控制开关稳压电路与待测高频头的连通状态，两路电路输出命令，从而实现测试电路的不同测试模式的切换，测试模式包括有高频头极化和高低频率的选择，以及激活水平或垂直上所有独立用户UB，发送Diseqc重置命令，DCSS Broadcom数据库更改，DCSS MXL数据库更改，卫星A、卫星B和卫星C切换。
一种新型高频头测试治具，包括外壳，外壳内安装有控制电路板；外壳外部安装有切换模式的外部导航开关、连接测试高频头的接头和连接测试设备的接头；控制电路板与连接测试高频头的接头、连接测试设备的接头和外部导航开关相连接；控制电路板上设置有一种新型高频头测试电路。
外部导航开关可以切换测试治具的多种测试模式。
进一步，外壳上还设置有显示灯组合，显示灯组合与主芯片控制电路连接，显示测试治具的所处模式。
显示灯组合可现实测试治具所处的测试模式。
进一步，外部导航开关为拨杆，有三种动作模式，分别是向上拨动、向下拨动和向内按压；向上拨动和向下拨动起到选择的作用，向内按压起到确定的作用。
进一步，外界的测试设备与测试电路通过连接测试设备的接头相连接；外界的待测高频头与测试电路通过连接测试高频头的接头相连接。
进一步，连接测试高频头的接头选择为75欧姆接头；连接测试设备的接头选择50欧姆接头。
附图说明
图1为本实用新型提供的一种新型高频头测试治具实施例的示意图；
图2为本实用新型提供的一种测试电路实施例的示意图。
其中：1.外壳；2.外部导航开关；3.连接测试高频头的接头；4.连接测试设备的接头；5.显示灯组合；6.电源电路；7.开关稳压电路；8.主芯片控制电路；9.75欧姆转50欧姆电路；10.测试设备；11.待测高频头；12.测试电路。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步说明。
如图1所示，一种新型高频头测试治具，包括金属外壳1，金属外壳1内安装有控制电路板；金属外壳1外部安装有切换测试模式的外部导航开关2和连接测试高频头的接头3、连接测试设备的接头4；其中连接测试高频头的接头3选择为75欧姆接头；连接测试设备的接头4选择50欧姆接头。
金属外壳1外还安装有显示灯组合5，通过显示灯组合5可以判断测试治具所处的模式状态。
控制电路板与连接测试高频头的接头3、连接测试设备的接头4、外部导航开关2、显示灯组合5相连接。
如图2所示，其中控制电路板上设置有测试电路12，该测试电路12包括电源电路6、开关稳压电路7、主芯片控制电路8和75欧姆转50欧姆电路9；其中测试治具外接一个外界10V电源，外接电源连接测试电路12中的电源电路6；电源电路6连接开关稳压电路7和主芯片控制电路8，提供给开关稳压电路7和主芯片控制电路8所需要的工作电压；主芯片控制电路8连接开关稳压电路7，开关稳压电路7连接外界的待测高频头11，开关稳压电路7根据主芯片控制电路8的指令输出电压到待测高频头11，提供给待测高频头11工作电压；主芯片控制电路8连接75欧姆转50欧姆电路9，75欧姆转50欧姆电路9连接外界的待测高频头11和外界的测试设备10，主芯片控制电路8通过75欧姆转50欧姆电路9给到待测高频头11一个22K信号和Diseqc命令；主芯片控制电路8与外部导航开关2和显示灯组合5相连接，通过对外部导航开关2进行上下左右机械操作，控制主芯片控制电路8的输出状态，从而切换出不同的模式，给出相关指令到外界的待测高频头11；主芯片控制电路8通过显示灯组合5显示出测试治具所处的测试模式情况。
外界的测试设备10与测试电路12通过连接测试设备的接头4相连接；外界的待测高频头11与测试电路12通过连接测试高频头的接头3相连接。
外部导航开关2为拨杆，其有三种动作模式，分别是向上拨动、向下拨动、向内按压；其中向上拨动和向下拨动起到选择的作用，向内按压起到确定的作用。
测试电路12可以完成高频头极化和高低频率选择，在此基础上还可实现以下模式功能。
通用模式：在此模式下可以更改切换频率。
开关模式：在此模式下可触发开关稳压电路7与待测高频头11连通与否。
DCSS模式：在此模式下激活水平或垂直上所有独立用户UB，主芯片控制电路8发送Diseqc重置命令，同时触发开关稳压电路7与待测高频头11连通与否。
DCSS噪声模式MXL模式：主芯片控制电路8发送噪声指数1到8命令，同时触发开关稳压电路7与待测高频头11连通与否。
DCSS噪声模式BCM模式：主芯片控制电路8发送噪声指数1到8命令，同时触发开关稳压电路7与待测高频头11连通与否。
卫星A、卫星B和卫星C Toneburst短纯音模式：主芯片控制电路8控制卫星A、卫星B、卫星C之间切换。
固定模式：频闪DC电源20次，间隔50ms，同时触发开关稳压电路7与待测高频头11连通与否，即通过主芯片去控制开关稳压电路7去完成对产品通断电控制。
DCSS Broadcom数据库更改模式：主芯片控制电路8发送Diseqc命令清单，同时触发开关稳压电路7与待测高频头11连通与否。
DCSS MXL数据库更改模式：主芯片控制电路8发送所选Diseqc命令，同时触发开关稳压电路7与待测高频头11连通与否。
以上是本实用新型优选实施方式，在本实用新型构思前提下所做出若干其他简单替换和改动，都应当视为属于本实用新型的保护范畴。
Claims (6)
1.一种新型高频头测试电路，其特征在于：测试电路包括电源电路、开关稳压电路、主芯片控制电路和75欧姆转50欧姆电路；电源电路外接电源，电源电路内接开关稳压电路和主芯片控制电路；主芯片控制电路连接开关稳压电路，开关稳压电路外接待测高频头，开关稳压电路根据主芯片控制电路的指令输出电压到待测高频头，提供给待测高频头工作电压；主芯片控制电路连接75欧姆转50欧姆电路，75欧姆转50欧姆电路外接待测高频头和外界的测试设备。
2.一种新型高频头测试治具，其特征在于：包括外壳，外壳内安装有控制电路板；外壳外部安装有切换模式的外部导航开关、连接测试高频头的接头和连接测试设备的接头；控制电路板与连接测试高频头的接头、连接测试设备的接头以及外部导航开关相连接；控制电路板上设置有如权利要求1所述的一种新型高频头测试电路。
3.根据权利要求2所述的一种新型高频头测试治具，其特征在于：外壳上还设置有显示灯组合，显示灯组合与主芯片控制电路连接，显示测试治具的所处模式。
4.根据权利要求2所述的一种新型高频头测试治具，其特征在于：外部导航开关为拨杆，有三种动作模式，分别是向上拨动、向下拨动和向内按压；向上拨动和向下拨动起到选择的作用，向内按压起到确定的作用。
5.根据权利要求2所述的一种新型高频头测试治具，其特征在于：外界的测试设备与测试电路通过连接测试设备的接头相连接；外界的待测高频头与测试电路通过连接测试高频头的接头相连接。
6.根据权利要求2或5所述的一种新型高频头测试治具，其特征在于：连接测试高频头的接头选择为75欧姆接头；连接测试设备的接头选择50欧姆接头。
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| CN202121550228.XU CN215932023U (zh) | 2021-07-08 | 2021-07-08 | 一种新型高频头测试电路及测试治具 |
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Publications (1)
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113645461A (zh) * | 2021-07-08 | 2021-11-12 | 浙江盛洋科技股份有限公司 | 一种新型高频头测试电路及测试治具 |
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