CN215524415U - 花岗石测量用深度尺的检校装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及检校装置技术领域，尤其是一种花岗石测量用深度尺的检校装置。该种花岗石测量用深度尺的检校装置，包括底座和左右对称设置于底座上端面上的测量块，底座上端面开设有前后贯通的滑槽，滑槽的形状与深度尺零刻线以下部分的形状相配合，滑槽位于左右两块测量块之间；测量块上设置有若干个直角平台，每一测量块上的直角平台形成阶梯形状，左右两块测量块上位置相对应的平台的高度相同。本实用新型装置集成化设计，通过同一装置迅速获取多组深度测试数据，进而迅速完成深度尺检校，确定深度尺测量数值准确可靠，进而提高花岗石测量底座、花岗石量具、花岗石构建等产品的测量精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及检校装置技术领域，尤其是一种花岗石测量用深度尺的检校装置。
背景技术
深度游标卡尺用于测量凹槽或孔的深度、梯形工件的梯层高度、长度等尺寸，平常被简称为“深度尺”。深度尺是花岗石测量底座、花岗石量具、花岗石构建等产品常用的量具。深度尺主要由如下几部分组成：尺身、套设在尺身上的游标尺、设置于游标尺靠近零刻线一端的尺框和设置于游标尺上的紧固螺丝。
在对深度游标卡尺进行检校时，需要通过多组不同高度的测试块进行检校，每组测试块为两块高度相同的块体，摆好块体后通过深度尺测量两块测试块之间的深度，测好一组数据后换另一高度的测试块进行测试，测试效率较慢。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种花岗石测量用深度尺的检校装置，克服前述现有技术的不足，集成化设计，通过同一装置迅速获取多组深度测试数据，进而迅速完成深度尺检校，确定深度尺测量数值准确可靠，提高花岗石测量底座、花岗石量具、花岗石构建等产品的测量精度。
本实用新型解决其技术问题所采取的技术方案是：
一种花岗石测量用深度尺的检校装置，包括底座和左右对称设置于底座上端面上的测量块，所述底座上端面开设有前后贯通的滑槽，滑槽的形状与深度尺零刻线以下部分的形状相配合，滑槽位于左右两块测量块之间；所述测量块上设置有若干个直角平台，每一测量块上的直角平台形成阶梯形状，左右两块测量块上位置相对应的直角平台的高度相同，使用时，深度尺的零刻线以下部分垂直***滑槽中，深度尺的游标尺贴在第一个直角平台的前端面上，上提游标尺，使得深度尺的尺框下端面与第一个直角平台的上端面平齐，后推深度尺，使得深度尺的尺框下端面抵住在第一个直角平台的上端面，读取第一个直角平台到底座上端面的深度，对比该数据与实际的深度数据是否相符，完成第一组测试，同样的方法继续依次测量后续几个直角平台到底座上端面的深度，对比这些数据与实际的深度数据是否相符，即可完成该深度尺的检校。
进一步的，所述左右两块测量块之间的间距大于深度尺的游标尺的宽度，左右两测量块之间的间距小于深度尺的尺框的宽度。
进一步的，所述滑槽位于左右两块测量块的中间。
进一步的，位置最高的直角平台的上端面到底座上端面的距离小于深度尺的测量深度。
进一步的，所述底座和测量块均为花岗石材质，表面打磨光滑，使得底座和测量块具备一定的配重，不易磨损，便于推动深度尺。
本实用新型的有益效果是：与现有技术相比，本实用新型的一种花岗石测量用深度尺的检校装置具有以下优点：深度尺的零刻线以下部分垂直***滑槽中，深度尺的游标尺贴在第一个直角平台的前端面上，上提游标尺，使得深度尺的尺框下端面与第一个直角平台的上端面平齐，后推深度尺，使得深度尺的尺框下端面抵住在第一个直角平台的上端面，读取第一个直角平台到底座上端面的深度，对比该数据与实际的深度数据是否相符，完成第一组测试，同样的方法继续依次测量后续几个直角平台到底座上端面的深度，对比这些数据与实际的深度数据是否相符，即可完成该深度尺的检校，装置集成化设计，通过同一装置迅速获取多组深度测试数据，进而迅速完成深度尺检校，确定深度尺测量数值准确可靠，进而提高花岗石测量底座、花岗石量具、花岗石构建等产品的测量精度。
附图说明
图1为本实用新型总体结构立体示意图；
图2为本实用新型总体结构主视示意图；
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
如图1和图2所示实施例中，一种花岗石测量用深度尺4的检校装置，包括底座1和左右对称设置于底座1上端面上的测量块2，所述底座1上端面开设有前后贯通的滑槽3，滑槽3的形状与深度尺4零刻线以下部分的形状相配合，滑槽3位于左右两块测量块2的中部；所述测量块2上设置有若干个直角平台5，每一测量块2上的直角平台5形成阶梯形状，左右两块测量块2上位置相对应的直角平台5的高度相同，使用时，深度尺4的零刻线以下部分垂直***滑槽3中，深度尺4的游标尺6贴在第一个直角平台5的前端面上，上提游标尺6，使得深度尺4的尺框7下端面与第一个直角平台5的上端面平齐，后推深度尺4，使得深度尺4的尺框7下端面抵住在第一个直角平台5的上端面，读取第一个直角平台5到底座1上端面的深度，对比该数据与实际的深度数据是否相符，完成第一组测试，同样的方法继续依次测量后续几个直角平台5到底座1上端面的深度，对比这些数据与实际的深度数据是否相符，即可完成该深度尺4的检校。
本实施例中，所述左右两块测量块2之间的间距大于深度尺4的游标尺6的宽度，左右两测量块2之间的间距小于深度尺4的尺框7的宽度。位置最高的直角平台5的上端面到底座1上端面的距离小于深度尺4的测量深度。
本实施例中，所述底座1和测量块2均为花岗石材质，表面打磨光滑，使得底座1和测量块2具备一定的配重，不易磨损，便于推动深度尺4。
上述具体实施方式仅是本实用新型的具体个案，本实用新型的专利保护范围包括但不限于上述具体实施方式的产品形态和式样，任何符合本实用新型权利要求书且任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应落入本实用新型的专利保护范围。
Claims (5)
1.一种花岗石测量用深度尺的检校装置，其特征在于：包括底座和左右对称设置于底座上端面上的测量块，所述底座上端面开设有前后贯通的滑槽，滑槽的形状与深度尺零刻线以下部分的形状相配合，滑槽位于左右两块测量块之间；所述测量块上设置有若干个直角平台，每一测量块上的直角平台形成阶梯形状，左右两块测量块上位置相对应的平台的高度相同。
2.根据权利要求1所述的一种花岗石测量用深度尺的检校装置，其特征在于：所述左右两块测量块之间的间距大于深度尺的游标尺的宽度，左右两测量块之间的间距小于深度尺的尺框的宽度。
3.根据权利要求1所述的一种花岗石测量用深度尺的检校装置，其特征在于：所述滑槽位于左右两块测量块的中间。
4.根据权利要求1所述的一种花岗石测量用深度尺的检校装置，其特征在于：位置最高的直角平台的上端面到底座上端面的距离小于深度尺的测量深度。
5.根据权利要求1所述的一种花岗石测量用深度尺的检校装置，其特征在于：所述底座和测量块均为花岗石材质。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202121914534.7U CN215524415U (zh) | 2021-08-16 | 2021-08-16 | 花岗石测量用深度尺的检校装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN202121914534.7U CN215524415U (zh) | 2021-08-16 | 2021-08-16 | 花岗石测量用深度尺的检校装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN215524415U true CN215524415U (zh) | 2022-01-14 |
Family
ID=79791287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202121914534.7U Active CN215524415U (zh) | 2021-08-16 | 2021-08-16 | 花岗石测量用深度尺的检校装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN215524415U (zh) |
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2021
- 2021-08-16 CN CN202121914534.7U patent/CN215524415U/zh active Active
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