CN215493968U - 一种射频低噪声放大器芯片测试*** - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种射频低噪声放大器芯片测试***，包括：第一射频开关模组，所述第一射频开关模组的第一侧与噪声源、信号发生器和网络分析仪的第一端口连接，所述第一射频开关模组的第二侧和第二射频开关模组的第二侧连接；所述第二射频开关模组的第一侧与频谱仪和网络分析仪的第二端口连接；所述第一射频开关模组和第二开关模组均包括两个相连的射频开关。有益效果：本测试***能够在S参数、OIP3、P1db以及噪声系数(NF)测试中任意切换，通过一个测试***完成多个测试，将测试人员从仪器连接和仪器校验中解放出来，提高测试效率，降低测试成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种射频低噪声放大器芯片测试***。
背景技术
在射频低噪声放大器芯片的测试过程中，需要检测的主要射频性能指标是S参数、OIP3、P1db以及噪声系数(NF)。
1：S参数最常见的是使用网络分析仪进行测量。
2：P1db可用信号发生器+频谱仪测量，或通过网络分析仪测量。
3：OIP3通过信号源产生双音信号，通过频谱仪读出主音信号功率和三阶交调信号的功率，进而计算出OIP3值。
4：噪声系数测试方法通常有两种方法：冷源法与Y因子法，均需要频谱仪测试，但Y因子法比冷源法多需要一台噪声源，通常噪声系数比较低的情况下，多数采用Y因子法。
对于待测件来说，如上述4种参数测试，需要用到网络分析仪、信号发生器、频谱仪和噪声源仪器，完成一组测试需要多次线路的连接和仪器校准，***搭建比较繁琐，需要耗费大量的人力和时间。如果进行批量测试，则会对测试人员带来巨大的负担，将时间和精力消耗在反复的仪器连接和校验中，批量测试效率极低。
因此需要一种射频低噪声放大器芯片测试***，能够实现方便快捷的S参数、OIP3、P1db以及噪声系数(NF)的测试，将测试人员从仪器连接和仪器校验中解放出来，提高测试效率，降低测试成本。
实用新型内容
本实用新型的目的是：本申请提出了一种射频低噪声放大器芯片自动化测试***，能够兼容多种参数的测试，将测试人员从仪器连接和仪器校验中解放出来，提高测试效率，降低测试成本。
为了实现上述目的，本实用新型提供了一种射频低噪声放大器芯片测试***，包括：
第一射频开关模组，所述第一射频开关模组的第一侧与噪声源、信号发生器和网络分析仪的第一端口连接，所述第一射频开关模组的第二侧和第二射频开关模组的第二侧连接。
所述第二射频开关模组的第一侧与频谱仪和网络分析仪的第二端口连接。
所述第一射频开关模组和第二开关模组均包括两个相连的射频开关。
进一步的，所述第一射频开关模组包括第一射频开关和第二射频开关，第一射频开关的公共端口和第二射频开关的公共端口连接，所述第一射频开关的若干个可选端口分别和噪声源、信号发生器和网络分析仪的第一端口连接，所述第二射频开关的可选端口和第二射频开关模组的第二侧连接。
进一步的，所述第一射频开关包括第一可选端口、第二可选端口和第三可选端口，所述第一可选端口和噪声源连接，所述第二可选端口与信号发生器连接，所述第三可选端口和网络分析仪的第一端口连接。
进一步的，所述第二射频开关包括第五可选端口和第六可选端口，所述第五可选端口和待测件连接，所述第六可选端口和第二射频开关模组的第二侧连接。
进一步的，所述第二射频开关模组包括第三射频开关和第四射频开关，第三射频开关的公共端和第四射频开关的公共端连接，所述第三射频开关的可选端口和第一射频开关模组的第二侧连接，所述第四射频开关的多个可选端口分别与频谱仪和网络分析仪的第二端口连接。
进一步的，所述第三射频开关包括第七可选端口和第八可选端口，所述第七可选端口和待测件连接，所述第八可选端口和第一射频开关模组的第二侧连接。
进一步的，所述第四射频开关包括第九可选端口和第十可选端口，所述第九可选端口和频谱仪连接，所述第十可选端口和网络分析仪的第二端口连接。
进一步的，所述射频开关的型号为PXIE－2543。
本实用新型实施例公开的一种射频低噪声放大器芯片测试***与现有技术相比，其有益效果在于：本测试***包括第一射频开关模组和第二射频开关模组，当进行参数测试时，只需要调节第一射频开关模组和第二射频开关模组中的射频开关状态，即可进入不同的参数测试。本测试***能够在S参数、OIP3、P1db以及噪声系数(NF)测试中方便快捷的进行切换，通过一个测试***完成多个测试，将测试人员从仪器连接和仪器校验中解放出来，提高测试效率，降低测试成本。
附图说明
图1是本实用新型一种射频低噪声放大器芯片测试***的整体结构示意图。
图中，1、第一射频开关模组；2、第二射频开关模组；3、噪声源；4、信号发生器；5、网络分析仪；6、频谱仪；7、第一射频开关；8、第二射频开关；9、第三射频开关；10、第四射频开关。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
如图1所示，本发明公开了一种射频低噪声放大器芯片测试***，包括：
第一射频开关模组1，所述第一射频开关模组1的第一侧与噪声源3、信号发生器4和网络分析仪5的第一端口连接，所述第一射频开关模组1的第二侧和第二射频开关模组2的第二侧连接。
所述第二射频开关模组2的第一侧与频谱仪6和网络分析仪5的第二端口连接。
所述第一射频开关模组1和第二开关模组2均包括两个相连的射频开关。
在本实施例中，当用本实用新型的测试***进行参数测试时，可以根据进行的参数测试调整第一开关模组和第二开关模组中射频开关的连接状态，使噪声源3、信号发生器4、网络分析仪5、频谱仪6中的一种或多种接入到测试***中，从而实现参数测试。
在本实施例中，所述第一射频开关模组1包括第一射频开关7和第二射频开关8，第一射频开关7的公共端口和第二射频开关8的公共端口连接，所述第一射频开关7的若干个可选端口分别和噪声源3、信号发生器4和网络分析仪5的第一端口连接，所述第二射频开关8的可选端口和第二射频开关模组2的第二侧连接。
在本实施例中，所述第一射频开关7包括第一可选端口、第二可选端口和第三可选端口，所述第一可选端口和噪声源3连接，所述第二可选端口与信号发生器4连接，所述第三可选端口和网络分析仪5的第一端口连接。
参照附图1，所述第一可选端口为第一射频开关7的a端口；所述第二可选端口为第一射频开关7的b端口；所述第三可选端口为第一射频开关7的c端口。
在本实施例中，所述第二射频开关8包括第五可选端口和第六可选端口，所述第五可选端口和待测件连接，所述第六可选端口和第二射频开关模组2的第二侧连接。
参照附图1，所述第五可选端口为第二射频开关8的a端口；所述第六可选端口为第二射频开关8的b端口。
在本实施例中，根据所进行的参数测试类型将调整第一射频开关7和第二射频开关8中开关所连接的端口。
在本实施例中，所述第二射频开关模组2包括第三射频开关9和第四射频开关10，第三射频开关9的公共端和第四射频开关10的公共端连接，所述第三射频开关9的可选端口和第一射频开关模组1的第二侧连接，所述第四射频开关10的多个可选端口分别与频谱仪6和网络分析仪5的第二端口连接。
在本实施例中，所述第三射频开关9包括第七可选端口和第八可选端口，所述第七可选端口和待测件连接，所述第八可选端口和第一射频开关模组1的第二侧连接。
参照附图1，所述第七可选端口为第三射频开关9的a端口；所述第八可选端口为第三射频开关9的b端口。
在本实施例中，所述第四射频开关10包括第九可选端口和第十可选端口，所述第九可选端口和频谱仪6连接，所述第十可选端口和网络分析仪5的第二端口连接。
参照附图1，所述第九可选端口为第四射频开关10的a端口；所述第十可选端口为第四射频开关10的b端口。
在本实施例中，根据所进行的参数测试类型将调整第三射频开关9和第四射频开关10中开关所连接的端口。
在本实施例中，所述射频开关的型号为PXIE－2543。本领域技术人员可以根据需要选择不同型号的射频开关，同时根据本实用新型的实施例选取适当可选端口数量的射频开关。在本实施例中一种可选的实施方式为第一射频开关7有三个可选端口，第二射频开关8、第三射频开关9和第四射频开关10有两个可选端口。
在本实施中，射频开关的频率到6.6GHz，所有通道使用50Ohm匹配。
应用本实用新型的射频低噪声放大器芯片自动化测试***进行参数测试的测试方法如下：
1：测试S参数：
step1：第一射频开关7切到第三可选端口，使第一射频开关7接到网络分析仪5的第一端口；
step2：第二射频开关8接到其第五可选端口，接待测件的第一端口；
step3：第三射频开关9接到第七可选端口；
step4：第四射频开关10接到其第十可选端口，使第四射频开关10接到网络分析仪5的第二端口；即可对待测件进行S参数的测试。
当对网络分析仪5校准时：
step1：第一射频开关7切到第三可选端口，使第一射频开关7接到网络分析仪5的第一端口；
step2：第二射频开关8接到其第六可选端口；
step3：第三射频开关9接到其第八可选端口；
step4：第四射频开关10接到其第十可选端口，使第四射频开关10接网络分析仪5的第二端口；
在第二射频开关8的第六可选端口与第三射频开关9第八可选端口之间连接电子校准件或者其他校准件对网络分析仪5和信号链路进行校准。
2：测试O1P3和P1db参数：
step1：第一射频开关7切到第二可选端口，使第一射频开关7和信号发生器4连接；
step2：第二射频开关8接到其第五可选端口，使第二射频开关8和待测件连接；
step3：第三射频开关9接到其第七可选端口，使第三射频开关9和待测件连接；
step4：第四射频开关10接到其第九可选端口，使第四射频开关10连接频谱仪6的接收端。
OIP3测试通过信号源产生双音信号，经过待测件，频谱仪6进行主音和三阶交调信号功率采样，进而计算得到。
P1db通过信号源推不同信号功率，找到增益压缩的1db的点。
当对信号源和频谱仪6校准时：
step1：第一射频开关7切到第二可选端口，使第一开关连接到信号发生器4；
step2：第二射频开关8接到其第六可选端口；
step3：第三射频开关9接到其第八可选端口；
step4：第四射频开关10接到其第十可选端口，使第四射频开关10连接网络分析仪5的第二端口；
第二射频开关8的第六可选端口与第三射频开关9第八可选端口之间接有一根射频线，来校准信号源与频谱仪6，对实际测量结果进行一个补偿，使测量结果更准确。
3：测试噪声系数参数：
测量频谱仪6噪声系数：
step1：第一射频开关7切到第一可选端口，使第一射频开关7连接噪声源3；
step2：第二射频开关8接到其第六可选端口；
step3：第三射频开关9接到其第八可选端口；
step4：第四射频开关10接到其第九可选端口，使第四射频开关10连接频谱仪6。
第二射频开关8的第六可选端口与第三射频开关9第八可选端口接直通射频线。
测量加入待测件后整个***噪声系数：
step1：第一射频开关7切到第一可选端口，使第一射频开关7连接到噪声源3；
step2：第二射频开关8接到其第五可选端口，使第二射频开关8连接待测件；
step3：第三射频开关9接到其第七可选端口，使第三射频开关9连接待测件；
step4：第四射频开关10接到其第九可选端口，使第四射频开关10连接频谱仪6。
通过噪声系数级联公式，代入频谱仪6和加入待测件后整个***噪声系数，计算出待测自身的待测系数。
综上，本实用新型实施例提供一种射频低噪声放大器芯片测试***，其有益效果在于：本测试***包括第一射频开关模组和第二射频开关模组，当进行参数测试时，只需要调节第一射频开关模组和第二射频开关模组中的射频开关状态，即可进入不同的参数测试。本测试***能够在S参数、OIP3、P1db以及噪声系数(NF)测试中方便快捷的进行切换，通过一个测试***完成多个测试，将测试人员从仪器连接和仪器校验中解放出来，提高测试效率，降低测试成本。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (8)
1.一种射频低噪声放大器芯片测试***，其特征在于，包括：
第一射频开关模组，所述第一射频开关模组的第一侧与噪声源、信号发生器和网络分析仪的第一端口连接，所述第一射频开关模组的第二侧和第二射频开关模组的第二侧连接；
所述第二射频开关模组的第一侧与频谱仪和网络分析仪的第二端口连接；
所述第一射频开关模组和第二开关模组均包括两个相连的射频开关。
2.根据权利要求1所述的一种射频低噪声放大器芯片测试***，其特征在于，所述第一射频开关模组包括第一射频开关和第二射频开关，第一射频开关的公共端口和第二射频开关的公共端口连接，所述第一射频开关的若干个可选端口分别和噪声源、信号发生器和网络分析仪的第一端口连接，所述第二射频开关的可选端口和第二射频开关模组的第二侧连接。
3.根据权利要求2所述的一种射频低噪声放大器芯片测试***，其特征在于，所述第一射频开关包括第一可选端口、第二可选端口和第三可选端口，所述第一可选端口和噪声源连接，所述第二可选端口与信号发生器连接，所述第三可选端口和网络分析仪的第一端口连接。
4.根据权利要求2所述的一种射频低噪声放大器芯片测试***，其特征在于，所述第二射频开关包括第五可选端口和第六可选端口，所述第五可选端口和待测件连接，所述第六可选端口和第二射频开关模组的第二侧连接。
5.根据权利要求1所述的一种射频低噪声放大器芯片测试***，其特征在于，所述第二射频开关模组包括第三射频开关和第四射频开关，第三射频开关的公共端和第四射频开关的公共端连接，所述第三射频开关的可选端口和第一射频开关模组的第二侧连接，所述第四射频开关的多个可选端口分别与频谱仪和网络分析仪的第二端口连接。
6.根据权利要求5所述的一种射频低噪声放大器芯片测试***，其特征在于，所述第三射频开关包括第七可选端口和第八可选端口，所述第七可选端口和待测件连接，所述第八可选端口和第一射频开关模组的第二侧连接。
7.根据权利要求5所述的一种射频低噪声放大器芯片测试***，其特征在于，所述第四射频开关包括第九可选端口和第十可选端口，所述第九可选端口和频谱仪连接，所述第十可选端口和网络分析仪的第二端口连接。
8.根据权利要求1－7任一所述的一种射频低噪声放大器芯片测试***，其特征在于，所述射频开关的型号为PXIE－2543。
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|---|---|---|---|---|
| CN114814442A (zh) * | 2022-06-28 | 2022-07-29 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 | 一种低噪声放大器测试***及测试方法 |
| CN116593874A (zh) * | 2023-07-17 | 2023-08-15 | 宁波吉品科技有限公司 | 芯片测试方法 |
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| CN114814442B (zh) * | 2022-06-28 | 2022-09-13 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 | 一种低噪声放大器测试***及测试方法 |
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