CN215297568U - 一种可调节adc采集装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种可调节ADC采集装置,其中,信号检测电路用于检测待测电路的信号类型,并将检测数据传输至MCU;MCU根据信号检测电路传输的数据控制通道选择电路的输出通道,通道选择电路的第一输出端将接收的信号依次通过滤波电路、信号放大电路进行滤除放大处理后传输至ADC模块;ADC模块将接收的信号进行转换并输出至MCU;隔离模块将ADC模块与MCU之间进行光电隔离;通道选择电路的第二输出端将接收的信号传输至隔离模块的输入端。本实用新型通过设置信号检测电路、通道选择电路和MCU配合实现了对待测电路信号的检测以及分道输出,可以快速判定信号类型,并选择不同的输出通道,提高信号采集速度,提高采集效率。
Description
技术领域
本实用新型属于电子电路技术领域,特别是涉及一种可调节ADC采集装置。
背景技术
在电子产品生产领域,通常要对电子产品成品或半产品进行测试,以进行对电子产品的质检。测试过程所要采集的量是电子产品的相关电流和电压,测试过程是使用测量板卡连接到电子产品的相应端口,然后采集电流和电压,通过测量板卡的ADC转换功能而将模拟量转换成数字信号,然后将数字信号上传到上位机,利用上位机来对采集到的电流和电压数据进行分析。
而ADC采集***需要一个稳定的电源环境,以保证ADC采集***不受电路中其它部分的影响。另外ADC采集***与外部信号直接相连,容易将外部干扰带到MCU控制***,影响***的稳定。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种可调节ADC采集装置,通过设置信号检测电路、通道选择电路和MCU配合实现了对待测电路信号的检测以及分道输出;可以快速判定信号类型,并选择不同的输出通道,提高信号采集速度,提高采集效率。
为解决上述技术问题,本实用新型是通过以下技术方案实现的:
本实用新型为一种可调节ADC采集装置,包括信号检测电路、ADC模块、隔离模块和MCU;所述信号检测电路的输入端与待测电路电性连接;所述信号检测电路一端与MCU电性连接;所述MCU与一通道选择电路电性连接;所述信号检测电路用于检测待测电路的信号类型,并将检测数据传输至MCU;所述待测电路的信号通过信号检测电路传输至通道选择电路的输入端;所述信号类型包括数字信号和模拟信号;所述MCU根据信号检测电路传输的数据控制通道选择电路的输出通道,所述输出通道包括第一输出端和第二输出端;所述通道选择电路的第一输出端将接收的信号依次通过滤波电路、信号放大电路进行滤除放大处理后传输至ADC模块;所述ADC模块将接收的信号进行转换并输出至MCU;所述隔离模块接入到ADC模块和MCU之间,所述隔离模块将ADC模块与MCU之间进行光电隔离;所述通道选择电路的第二输出端将接收的信号传输至隔离模块的输入端;所述ADC模块还与一时钟芯片电性连接,所述时钟芯片用于向ADC模块提供时钟信号;所述MCU与一通信模块电性连接,所述MCU通过通信模块与上位机进行信息交互。
进一步地,所述滤波电路均采用低通滤波器;所述滤波电路将接收的电流信号进行滤波处理。
进一步地,所述信号放大电路对滤波的电流信号进行放大处理。
进一步地,所述ADC模块根据时钟芯片提供的时钟信号进行数据采集;所述时钟芯片产生的时钟信号的均方根抖动小于400fs。
进一步地,所述通信模块为RS485通信模块。
进一步地,所述隔离模块采用光耦。
本实用新型具有以下有益效果:
本实用新型通过设置信号检测电路、通道选择电路和MCU配合,实现了对待测电路信号的检测以及分道输出,可以快速判定信号类型,并选择不同的输出通道,提高信号采集速度,提高采集效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一种可调节ADC采集装置的***框图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“开孔”、“上”、“下”、“厚度”、“顶”、“中”、“长度”、“内”、“四周”等指示方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位,以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
请参阅图1所示,本实用新型为一种可调节ADC采集装置,包括信号检测电路、ADC模块、隔离模块和MCU;信号检测电路的输入端与待测电路电性连接;信号检测电路一端与MCU电性连接;所述MCU与一通道选择电路电性连接;
信号检测电路用于检测待测电路的信号类型,并将检测数据传输至MCU;
待测电路的信号通过信号检测电路传输至通道选择电路的输入端;信号类型包括数字信号和模拟信号;
MCU根据信号检测电路传输的数据控制通道选择电路的输出通道,输出通道包括第一输出端和第二输出端;第一输出端输出模拟信号,第二输出端输出数字信号;
通道选择电路的第一输出端将接收的信号依次通过滤波电路、信号放大电路进行滤除放大处理后传输至ADC模块;ADC模块将接收的信号进行转换并输出至MCU;滤波电路均采用低通滤波器;滤波电路将接收的电流信号进行滤波处理;信号放大电路对滤波的电流信号进行放大处理;
隔离模块接入到ADC模块和MCU之间,隔离模块将ADC模块与MCU之间进行光电隔离;其中,隔离模块采用光耦;
通道选择电路的第二输出端将接收的信号传输至隔离模块的输入端;
ADC模块还与一时钟芯片电性连接,时钟芯片用于向ADC模块提供时钟信号;ADC模块根据时钟芯片提供的时钟信号进行数据采集;时钟芯片产生的时钟信号的均方根抖动小于400fs;
MCU与一通信模块电性连接,MCU通过通信模块与上位机进行信息交互;通信模块为RS485通信模块。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然,根据本说明书的内容,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (6)
1.一种可调节ADC采集装置,其特征在于,包括信号检测电路、ADC模块、隔离模块和MCU;所述信号检测电路的输入端与待测电路电性连接;所述信号检测电路一端与MCU电性连接;所述MCU与一通道选择电路电性连接;
所述信号检测电路用于检测待测电路的信号类型,并将检测数据传输至MCU;
所述待测电路的信号通过信号检测电路传输至通道选择电路的输入端;所述信号类型包括数字信号和模拟信号;
所述MCU根据信号检测电路传输的数据控制通道选择电路的输出通道,所述输出通道包括第一输出端和第二输出端;
所述通道选择电路的第一输出端将接收的信号依次通过滤波电路、信号放大电路进行滤除放大处理后传输至ADC模块;所述ADC模块将接收的信号进行转换并输出至MCU;
所述隔离模块接入到ADC模块和MCU之间,所述隔离模块将ADC模块与MCU之间进行光电隔离;
所述通道选择电路的第二输出端将接收的信号传输至隔离模块的输入端;
所述ADC模块还与一时钟芯片电性连接,所述时钟芯片用于向ADC模块提供时钟信号;
所述MCU与一通信模块电性连接,所述MCU通过通信模块与上位机进行信息交互。
2.根据权利要求1所述的一种可调节ADC采集装置,其特征在于,所述滤波电路均采用低通滤波器;所述滤波电路将接收的电流信号进行滤波处理。
3.根据权利要求1所述的一种可调节ADC采集装置,其特征在于,所述信号放大电路对滤波的电流信号进行放大处理。
4.根据权利要求1所述的一种可调节ADC采集装置,其特征在于,所述ADC模块根据时钟芯片提供的时钟信号进行数据采集;所述时钟芯片产生的时钟信号的均方根抖动小于400fs。
5.根据权利要求1所述的一种可调节ADC采集装置,其特征在于,所述通信模块为RS485通信模块。
6.根据权利要求1所述的一种可调节ADC采集装置,其特征在于,所述隔离模块采用光耦。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
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2021
- 2021-03-09 CN CN202120499479.3U patent/CN215297568U/zh active Active
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