CN215173820U - 一种基于bim的测绘放样装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种基于BIM的测绘放样装置,包括主支撑架、测绘仪,所述主支撑架的底端设置有高度调节脚,所述主支撑架的顶部固定连接有伸缩调节杆,所述测绘仪设置在伸缩调节杆的顶端;所述主支撑架的侧面活动连接有横梁,所述横梁的另一端可拆卸连接有副支撑架,所述副支撑架包括两个支撑杆,两个支撑杆与主支撑架之间形成三角形。本实用新型,通过采用主副支撑架结构,中间设置有横梁,副支撑架与横梁为活动连接,而且副支撑架本身能够与横梁进行转动,主支撑架的底端设置有高度调节脚结构,能够方便调节主支撑架的竖直,也就是调节横梁的水平,能够快速的将水平仪调节水平,使用非常的方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及测绘放样技术领域,尤其涉及一种基于BIM的测绘放样装置。
背景技术
测绘就是通过各种仪器进行探测和测量周围,对周围的地理信息进行详细的描述,制作成专业的图纸,现有的测绘仪器主要依靠各种测量仪器,光学传感器、声波探测器、以及金属探测等。
申请人在申请本发明时,经过检索,发现中国专利公开了“一种基于BIM的测绘放样装置”,其申请号为“202022094601.7”,该专利主要通过在测绘过程中,手持终端可以直接手持使用,也可以将手持终端放在卡套内,根据使用者的需要改变手持终端的倾斜方向,但是支架结构没有设置有专用的调平结构,测绘仪无法进行水平校准,影响测量的结果。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种基于BIM的测绘放样装置。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:一种基于 BIM的测绘放样装置,包括主支撑架、测绘仪,所述主支撑架的底端设置有高度调节脚,所述主支撑架的顶部固定连接有伸缩调节杆,所述测绘仪设置在伸缩调节杆的顶端;
所述主支撑架的侧面活动连接有横梁,所述横梁的另一端可拆卸连接有副支撑架,所述副支撑架包括两个支撑杆,两个支撑杆与主支撑架之间形成三角形。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述主支撑架的底端设置有螺纹孔,所述高度调节脚的顶端设置有螺纹柱,所述螺纹柱与螺纹孔之间螺纹配合。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述高度调节脚的底端设置有锥角,所述支撑杆的底端设置有弧形脚。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述横梁的底部开设有弧形口,所述横梁的一端开设有连接口,所述连接口卡在主支撑架的侧面并通过转轴活动连接,所述横梁的另一端且位于顶部固定连接有固定座。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述横梁的顶部设置有水平仪。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述副支撑架的顶端设置有连接头,所述连接头水平设置,所述连接头可以插进固定座的内孔。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述伸缩调节杆的底端且位于主支撑架的外侧设置有弹性垫环。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述伸缩调节杆的顶端活动连接有框型座,所述框型座的侧面设置有框型口,所述测绘仪位于框型口的内侧并通过销钉活动连接。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述销钉的侧面且位于测绘仪的两侧均设置有金属圈,所述金属圈靠近测绘仪的一侧面设置有凸块。
本实用新型具有如下有益效果:
1、与现有技术相比,该一种基于BIM的测绘放样装置,通过采用伸缩调节杆结构,能够进行调节整个主支撑架位置的高度,侧面设置有活动连接的横梁,横梁的另一端可拆卸连接有副支撑架,使用的时候能够快速的展开,不使用的时候能够快速的将副支撑架取下来,并把横梁收回依靠在支撑架的侧面,使用非常的方便,而且便于进行携带使用。
2、与现有技术相比,该一种基于BIM的测绘放样装置,通过采用主副支撑架结构,中间设置有横梁,副支撑架与横梁为活动连接,而且副支撑架本身能够与横梁进行转动,主支撑架的底端设置有高度调节脚结构,能够方便调节主支撑架的竖直,也就是调节横梁的水平,能够快速的将水平仪调节水平,使用非常的方便。
3、与现有技术相比,该一种基于BIM的测绘放样装置,通过设置有金属圈与凸块结构,能够方便在测绘仪转动到一定角度的时候进行卡住,使用非常的方便。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种基于BIM的测绘放样装置的立体结构示意图;
图2为本实用新型提出的图1中A处放大图;
图3为本实用新型提出的一种基于BIM的测绘放样装置的正面图;
图4为本实用新型提出的一种基于BIM的测绘放样装置的侧面图;
图5为本实用新型提出的一种基于BIM的测绘放样装置的俯视图;
图6为本实用新型提出的图4中B处放大图。
图例说明:
1、主支撑架;2、高度调节脚;21、锥角;3、伸缩调节杆;4、弹性垫环;5、框型座;501、框型口;6、测绘仪;7、金属圈;701、凸块;8、横梁;801、连接口;802、转轴;803、弧形口;9、水平仪;10、固定座;11、副支撑架;111、连接头。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制;术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性,此外,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
参照图1-6,本实用新型提供的一种基于BIM的测绘放样装置:包括主支撑架1、测绘仪6,主支撑架1的底端设置有高度调节脚2,用于调节主支撑架1的高度,主支撑架1的顶部固定连接有伸缩调节杆3,测绘仪6设置在伸缩调节杆3的顶端,伸缩调节杆3是为了使用方便进行调节测绘仪6的高度位置;
主支撑架1的侧面活动连接有横梁8,横梁8的另一端可拆卸连接有副支撑架11,副支撑架11能够拆卸来,使装置收起来,便于进行携带,副支撑架11包括两个支撑杆,两个支撑杆与主支撑架1之间形成三角形,横梁8与两个支撑杆活动连接,处于自然状态的时候横梁8会与副支撑架11垂直,只需要调节横梁8的另一端高度,就能够调节横梁8的水平,也就能够调节主支撑架1的竖直。
主支撑架1的底端设置有螺纹孔,高度调节脚2的顶端设置有螺纹柱,螺纹柱与螺纹孔之间螺纹配合。
高度调节脚2的底端设置有锥角21,支撑杆的底端设置有弧形脚。
横梁8的底部开设有弧形口803,横梁8的一端开设有连接口801,连接口801卡在主支撑架1的侧面并通过转轴802活动连接,横梁8 的另一端且位于顶部固定连接有固定座10。
横梁8的顶部设置有水平仪9。
副支撑架11的顶端设置有连接头111,连接头111水平设置,连接头111可以插进固定座10的内孔。
伸缩调节杆3的底端且位于主支撑架1的外侧设置有弹性垫环4。
伸缩调节杆3的顶端活动连接有框型座5,框型座5的侧面设置有框型口501,测绘仪6位于框型口501的内侧并通过销钉活动连接。
销钉的侧面且位于测绘仪6的两侧均设置有金属圈7,金属圈7 靠近测绘仪6的一侧面设置有凸块701。
工作原理:使用的时候,向如图1形式进行连接起来,通过转动高度调节脚2,进行调节横梁8一端的高度,使横梁8能够处于水平状态,也就是将主支撑架1调节竖直状态,使顶部的测绘仪6能够方便进行测绘操作。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种基于BIM的测绘放样装置,包括主支撑架(1)、测绘仪(6),其特征在于:所述主支撑架(1)的底端设置有高度调节脚(2),所述主支撑架(1)的顶部固定连接有伸缩调节杆(3),所述测绘仪(6)设置在伸缩调节杆(3)的顶端;
所述主支撑架(1)的侧面活动连接有横梁(8),所述横梁(8)的另一端可拆卸连接有副支撑架(11),所述副支撑架(11)包括两个支撑杆,两个支撑杆与主支撑架(1)之间形成三角形。
2.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样装置,其特征在于:所述主支撑架(1)的底端设置有螺纹孔,所述高度调节脚(2)的顶端设置有螺纹柱,所述螺纹柱与螺纹孔之间螺纹配合。
3.根据权利要求2所述的一种基于BIM的测绘放样装置,其特征在于:所述高度调节脚(2)的底端设置有锥角(21),所述支撑杆的底端设置有弧形脚。
4.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样装置,其特征在于:所述横梁(8)的底部开设有弧形口(803),所述横梁(8)的一端开设有连接口(801),所述连接口(801)卡在主支撑架(1)的侧面并通过转轴(802)活动连接,所述横梁(8)的另一端且位于顶部固定连接有固定座(10)。
5.根据权利要求4所述的一种基于BIM的测绘放样装置,其特征在于:所述横梁(8)的顶部设置有水平仪(9)。
6.根据权利要求4所述的一种基于BIM的测绘放样装置,其特征在于:所述副支撑架(11)的顶端设置有连接头(111),所述连接头(111)水平设置,所述连接头(111)可以插进固定座(10)的内孔。
7.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样装置,其特征在于:所述伸缩调节杆(3)的底端且位于主支撑架(1)的外侧设置有弹性垫环(4)。
8.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样装置,其特征在于:所述伸缩调节杆(3)的顶端活动连接有框型座(5),所述框型座(5)的侧面设置有框型口(501),所述测绘仪(6)位于框型口(501)的内侧并通过销钉活动连接。
9.根据权利要求8所述的一种基于BIM的测绘放样装置,其特征在于:所述销钉的侧面且位于测绘仪(6)的两侧均设置有金属圈(7),所述金属圈(7)靠近测绘仪(6)的一侧面设置有凸块(701)。
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CN202121398284.6U CN215173820U (zh) | 2021-06-23 | 2021-06-23 | 一种基于bim的测绘放样装置 |
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CN202121398284.6U Active CN215173820U (zh) | 2021-06-23 | 2021-06-23 | 一种基于bim的测绘放样装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN117028785A (zh) * | 2023-09-12 | 2023-11-10 | 南通光傲电子科技有限公司 | 一种自校准式激光水平仪 |
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2021
- 2021-06-23 CN CN202121398284.6U patent/CN215173820U/zh active Active
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CN117028785A (zh) * | 2023-09-12 | 2023-11-10 | 南通光傲电子科技有限公司 | 一种自校准式激光水平仪 |
CN117028785B (zh) * | 2023-09-12 | 2023-12-26 | 南通光傲电子科技有限公司 | 一种自校准式激光水平仪 |
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