CN214707830U - 抗电磁干扰的图像监视装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种抗电磁干扰的图像监视装置,用于获取置于电波暗室内的被测样品的图像信息,其特征在于,包括光学成像***、传像光纤束和图像解析主机。本实用新型的光学成像***为非金属材质,其被置于电波暗室内把被测样品成像并高效耦合进传像光纤束,并传输到电波暗室外的图像解析主机,最后在电子显示屏幕上显示经过图像解析后的被测样品真实图像信息;该装置在电波暗室内的部分为非金属材质光学传像结构,不受电磁干扰,且对试验均匀电磁场扰动小,可以进一步提高电磁兼容辐射抗扰度试验的数据准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及电磁兼容试验技术领域,特别涉及一种抗电磁干扰的图像监视装置。
背景技术
电磁兼容试验的目的是考核***、设备与外部***、设备或电磁环境协调工作,而不互相干扰的能力。其中,辐射抗扰度试验是电磁兼容试验中非常关键的试验项目,其通过宽带天线发射场强较高的射频电磁场对被测样品(DUT)进行电磁干扰试验,试验中的射频电磁场强度可达几千V/m,例如,汽车零部件或整车的试验场强通常为200V/m,最高达到1200V/m,航空、航天等领域设备的试验瞬态场强最高达到7200V/m。在如此高的电磁场试验场强条件下,对试验中DUT进行实时工作状态监视的摄像头需要具备高抗电磁干扰性能。
目前,电磁兼容试验专用的视频监视摄像头通常需要金属电磁屏蔽外壳,及其内部电路滤波等多重电磁兼容性设计,故其体积大、造价高。同时,金属摄像头易对试验电磁场的均匀性产生扰动影响,故难以实现对DUT进行近距离、多角度监视。并且,在一些条件下的高强度试验场强中,电磁兼容试验专用的视频监视摄像头同样会受电磁干扰而产生水波浪纹的异常视频显示界面,这对试验结果的准确判断产生较大影响。
发明内容
本实用新型的目的是:提供一种对试验电磁场的均匀性影响小,且具有极强的抗电磁干扰性能的图像监视装置。
为了达到上述目的,本实用新型的技术方案是提供了一种抗电磁干扰的图像监视装置,用于获取置于电波暗室内的被测样品的图像信息,其特征在于,包括由整体为非金属材质的光学成像***、传像光纤束和图像解析主机,其中:
光学成像***位于电波暗室内,包括塑料材质的外壳以及设于外壳内的玻璃材质的成像透镜,光学成像***将被测样品成像后高效耦合进传像光纤束的成像端;
光学成像***通过传像光纤束和图像解析主机相连,传像光纤束为玻璃材质或透明塑料材质的商用光纤束,传像光纤具有非金属材质的保护层;传像光纤束的一端为成像端,且位于电波暗室内,传像光纤束的另一端贯穿至电波暗室外并与图像解析主机相连,其中:通过光学成像***耦合进传像光纤束的成像端的光斑小于传像光纤束的端面的边界;通过光学成像***耦合进传像光纤束的光线与轴向的夹角小于传像光纤束的临界角;
用于接收传像光纤束传递过来的图像的图像解析主机位于电波暗室外,图像解析主机通过视频通信线与电子显示屏幕相连。
优选地,通过使光束在所述传像光纤束的所述成像端汇聚或者通过采用较大端面的光线束,使得耦合进传像光纤束的成像端的光斑小于传像光纤束的端面的边界。
优选地,所述传像光纤束的另一端通过设于所述电波暗室上的电波暗室波导管贯穿至所述电波暗室外部。
优选地,所述图像解析主机包括相互连接的图像探测器和图像解析电路。
本实用新型的光学成像***为非金属材质,其被置于电波暗室内把被测样品成像并高效耦合进传像光纤束,并传输到电波暗室外的图像解析主机,最后在电子显示屏幕上显示经过图像解析后的被测样品真实图像信息;该装置在电波暗室内的部分为非金属材质光学传像结构,不受电磁干扰,且对试验均匀电磁场扰动小,可以进一步提高电磁兼容辐射抗扰度试验的数据准确性。
本实用新型提供的抗电磁干扰的图像监视装置,通过电波暗室内的非金属光学成像***把被测样品成像并高效耦合进传像光纤束,并传输到电波暗室外的图像解析主机,最后在电子显示屏幕上显示经过图像解析后的被测样品真实图像信息。本实用新型提供的装置在电波暗室内的部分为非金属材质光学传像结构,不受电磁干扰,且对试验均匀电磁场扰动小,可以进一步提高电磁兼容辐射抗扰度试验的数据准确性。
附图说明
图1是本实用新型的抗电磁干扰的图像监视装置一实施例的结构示意图;
图2是本实用新型的光学成像***一实施例的结构示意图;
图3是本实用新型的图像解析主机一实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例,进一步阐述本实用新型。应理解,这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。此外应理解,在阅读了本实用新型讲授的内容之后,本领域技术人员可以对本实用新型作各种改动或修改,这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。
实施例一
本实施例公开的一种抗电磁干扰的图像监视装置,如图1所示,包含光学成像***1、传像光纤束2和图像解析主机3;
所述光学成像***1,内含成像透镜,用于把被测样品成像后高效耦合进传像光纤束2的成像端;
所述光学成像***1为整体非金属材质,其内部主要为玻璃材质的部件,其外壳为塑料材质,目的是避免对试验中均匀电磁场产生扰动,且避免受到强电磁干扰的影响;
所述传像光纤束2,为商用光纤束,用于把成像端面上亮度不等的像元传输入图像解析主机。
较佳的,通过所述光学成像***1耦合进传像光纤束2的成像端的光斑必须小于传像光纤束2的端面的边界,因此可以通过使光束汇聚或者采用较大端面的传像光纤束2。
较佳的,通过所述光学成像***1耦合进所述传像光纤束2的光线与轴向的夹角小于传像光纤束2的临界角,可以通过优化光学成像***1使入射光线夹角变小.
较佳的,传像光纤束2为玻璃材质光纤束,也可以采用透明塑料材质光纤束,以降低成本。
较佳的,传像光纤束2的保护层为非金属材质,目的是避免对试验中均匀电磁场产生扰动,且避免把电波暗室内的电磁波耦合到电波暗室外部。
所述图像解析主机3,内含图像探测器和图像解析电路,用于接收传像光纤束2传递过来的图像,进而通过视频通信线4输出到电子显示屏幕5上进行显示。
较佳的,图像解析主机3在软件上对解析得到的像元进行光学信息补偿,还原真实的物镜图像信息。
所述光学成像***1安装在电波暗室内部场地,具有对试验均匀电磁场扰动小且具有强抗电磁干扰的特性。
所述图像解析主机3安装在电波暗室外部场地,以避免受到电磁干扰的影响。
所述传像光纤束2通过电波暗室波导管贯穿至电波暗室外部,用于把所述光学成像***1和所述图像解析主机3连接。
实施例一公开的抗电磁干扰的图像监视装置,通过电波暗室内的非金属光学成像***1把被测样品成像并高效耦合进传像光纤束2,并传输到电波暗室外的图像解析主机3,最后在电子显示屏幕5上显示经过图像解析后的被测样品真实图像信息。本实用新型提供的装置在电波暗室内的部分为非金属材质光学传像结构,不受电磁干扰,且对试验均匀电磁场扰动小,可以进一步提高电磁兼容辐射抗扰度试验的数据准确性,并可以拓展应用在其它电磁环境恶劣的场合,具有较高的经济效益和社会效益。
实施例二
基于实施例一的抗电磁干扰的图像监视装置,如图2所示为光学成像***1一实施例的结构示意图,其主要包含光学成像透镜6和光栏7。
所述光学成像透镜6把被测样品8成像到传像光纤束2的成像端面9。
所述光栏7为传统光栏结构,能张开或缩小,用于提高图像的质量。
实施例三
基于实施例一的抗电磁干扰的图像监视装置,如图3所示为图像解析主机3一实施例的结构示意图,其主要包含光纤束接口10、聚焦透镜11、图像探测器12、照明光源13、分光镜14和光阱15。
所述光纤束接口10的尺寸应与传像光纤束2的尺寸相匹配,以确保良好的光学耦合特性。
所述聚焦透镜11为光学透镜组结构,用于解决镜头轴外像差校正与像面照度均匀性问题,提高成像质量。
所述图像探测器12为CCD图像探测器,用于接收图像。
所述照明光源13通过分光镜14和光阱15把发射的光束耦合进传像光纤束2的接口10,传输到传像光纤束2的成像端并经光学成像***1射出,起到照明作用,提高了图像采集的质量。
Claims (4)
1.一种抗电磁干扰的图像监视装置,用于获取置于电波暗室内的被测样品的图像信息,其特征在于,包括由整体为非金属材质的光学成像***、传像光纤束和图像解析主机,其中:
光学成像***位于电波暗室内,包括塑料材质的外壳以及设于外壳内的玻璃材质的成像透镜,光学成像***将被测样品成像后高效耦合进传像光纤束的成像端;
光学成像***通过传像光纤束和图像解析主机相连,传像光纤束为玻璃材质或透明塑料材质的商用光纤束,传像光纤具有非金属材质的保护层;传像光纤束的一端为成像端,且位于电波暗室内,传像光纤束的另一端贯穿至电波暗室外并与图像解析主机相连,其中:通过光学成像***耦合进传像光纤束的成像端的光斑小于传像光纤束的端面的边界;通过光学成像***耦合进传像光纤束的光线与轴向的夹角小于传像光纤束的临界角;
用于接收传像光纤束传递过来的图像的图像解析主机位于电波暗室外,图像解析主机通过视频通信线与电子显示屏幕相连。
2.如权利要求1所述的一种抗电磁干扰的图像监视装置,其特征在于,通过使光束在所述传像光纤束的所述成像端汇聚或者通过采用较大端面的光线束,使得耦合进传像光纤束的成像端的光斑小于传像光纤束的端面的边界。
3.如权利要求1所述的一种抗电磁干扰的图像监视装置,其特征在于,所述传像光纤束的另一端通过设于所述电波暗室上的电波暗室波导管贯穿至所述电波暗室外部。
4.如权利要求1所述的一种抗电磁干扰的图像监视装置,其特征在于,所述图像解析主机包括相互连接的图像探测器和图像解析电路。
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