CN214703880U - 一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，包括基测台和上密机构，所述基测台的左右两端中部均安装有台测座，且台测座的顶端穿设有连插销，所述上密机构安置于连插销的顶端，所述基测台的中部顶端固定有冲盘。本实用新型通过座弹簧的弹力，可弹动上密盖，使上密盖在密腔座端部可进行弹性活动，使用时，可上拉上密盖，将集成电路芯片塞入密腔座与上密盖内侧，此时松开上密盖，利用弹力，让上密盖下压，对芯片夹持压合，方便来固定芯片进行稳定的检测，同时连插销为橡胶材质，具有绝缘性能，可通过连插销卡合连接密腔座与台测座，让其组接使用，同时连接密腔座可与本体绝缘，方便芯片在通电检测时具有防护效果。

Description

一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路芯片技术领域，具体为一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置。

背景技术

集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中集成电路芯片在进行检测时需要使用检测装置。

现有的具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置存在的缺陷是：

1、现有的具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置不便于根据需求来对自身的端部进行快捷的上拉，导致其无法对芯片进行快速压合夹持，存在着检测时操控不够方便的情况；

2、现有的具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置无法来对芯片检测时的线缆进行缠绕收卷，导致其线束杂乱，存在着使用时不够安全的情况。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，包括基测台和上密机构，所述基测台的左右两端中部均安装有台测座，且台测座的顶端穿设有连插销，所述上密机构安置于连插销的顶端，所述基测台的中部顶端固定有冲盘，且冲盘的中部穿设有冲条杆，所述冲盘的底端安置有连轴，所述冲盘的侧端安装有前冲机构。

优选的，所述上密机构包括密腔座、座弹簧、上密盖、提手和座冲腔，且密腔座的内部穿设有座弹簧，所述密腔座的顶端安置有上密盖，且上密盖的顶端固定有提手，所述密腔座的内部穿设有座冲腔。

优选的，所述密腔座通过座弹簧与上密盖之间构成弹性结构，且密腔座通过连插销与台测座构成卡合结构。

优选的，所述上密盖、提手之间相互固定连接，且上密盖、提手以及座冲腔均关于上密盖的水平方向呈等距离分布。

优选的，所述前冲机构包括前冲盘、内轴、轴锥片和辅片，且前冲盘的内侧端安置有内轴，所述内轴的端部安装有轴锥片，且轴锥片的侧端安置有辅片。

优选的，所述前冲盘通过内轴与轴锥片之间构成旋转结构，且辅片关于轴锥片的中心对称分布。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过座弹簧的弹力，可弹动上密盖，使上密盖在密腔座端部可进行弹性活动，使用时，可上拉上密盖，将集成电路芯片塞入密腔座与上密盖内侧，此时松开上密盖，利用弹力，让上密盖下压，对芯片夹持压合，方便来固定芯片进行稳定的检测，同时连插销为橡胶材质，具有绝缘性能，可通过连插销卡合连接密腔座与台测座，让其组接使用，同时连接密腔座可与本体绝缘，方便芯片在通电检测时具有防护效果。

2、本实用新型通过握持提手，可上提提手，联动提手端部的上密盖同步上移，方便操控上密盖，而座冲腔内部可填充安置待检测芯片，方便利用本体进行存储。

3、本实用新型通过内轴的旋转，可转动轴锥片，改变轴锥片的朝向，而轴锥片侧端的辅片端部通孔，可穿设芯片连接电源线束或检测用万用表检测线束，方便来组接线束，辅片的灵活旋转功能也方便线束随之转向，让检测部分灵活的对接到检测芯片端部。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型的上密盖立体结构示意图；

图3为本实用新型的前冲盘立体结构示意图；

图4为本实用新型的图1中A处放大结构示意图。

图中：1、基测台；2、台测座；3、连插销；4、上密机构；5、密腔座；6、座弹簧；7、上密盖；8、提手；9、座冲腔；10、冲盘；11、冲条杆；12、连轴；13、前冲机构；14、前冲盘；15、内轴；16、轴锥片；17、辅片。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1-4，本实用新型提供的一种实施例：一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，包括基测台1、台测座2、连插销3、上密机构4、密腔座5、座弹簧6、上密盖7、提手8、座冲腔9、冲盘10、冲条杆11、连轴12、前冲机构13、前冲盘14、内轴15、轴锥片16和辅片17，基测台1的左右两端中部均安装有台测座2，且台测座2的顶端穿设有连插销3，上密机构4安置于连插销3的顶端，基测台1的中部顶端固定有冲盘10，且冲盘10的中部穿设有冲条杆11，冲盘10的底端安置有连轴12，冲盘10的侧端安装有前冲机构13。

进一步，上密机构4包括密腔座5、座弹簧6、上密盖7、提手8和座冲腔9，且密腔座5的内部穿设有座弹簧6，密腔座5的顶端安置有上密盖7，且上密盖7的顶端固定有提手8，密腔座5的内部穿设有座冲腔9，密腔座5通过座弹簧6与上密盖7之间构成弹性结构，且密腔座5通过连插销3与台测座2构成卡合结构，通过座弹簧6的弹力，可弹动上密盖7，使上密盖7在密腔座5端部可进行弹性活动，使用时，可上拉上密盖7，将集成电路芯片塞入密腔座5与上密盖7内侧，此时松开上密盖7，利用弹力，让上密盖7下压，对芯片夹持压合，方便来固定芯片进行稳定的检测，同时连插销3为橡胶材质，具有绝缘性能，可通过连插销3卡合连接密腔座5与台测座2，让其组接使用，同时连接密腔座5可与本体绝缘，方便芯片在通电检测时具有防护效果；

进一步，上密盖7、提手8之间相互固定连接，且上密盖7、提手8以及座冲腔9均关于上密盖7的水平方向呈等距离分布，通过握持提手8，可上提提手8，联动提手8端部的上密盖7同步上移，方便操控上密盖7，而座冲腔9内部可填充安置待检测芯片，方便利用本体进行存储；

进一步，前冲机构13包括前冲盘14、内轴15、轴锥片16和辅片17，且前冲盘14的内侧端安置有内轴15，内轴15的端部安装有轴锥片16，且轴锥片16的侧端安置有辅片17，前冲盘14通过内轴15与轴锥片16之间构成旋转结构，且辅片17关于轴锥片16的中心对称分布，通过内轴15的旋转，可转动轴锥片16，改变轴锥片16的朝向，而轴锥片16侧端的辅片17端部通孔，可穿设芯片连接电源线束或检测用万用表检测线束，方便来组接线束，辅片17的灵活旋转功能也方便线束随之转向，让检测部分灵活的对接到检测芯片端部。

工作原理：通过座弹簧6的弹力，可弹动上密盖7，使上密盖7在密腔座5端部可进行弹性活动，使用时，可上拉上密盖7，将集成电路芯片塞入密腔座5与上密盖7内侧，此时松开上密盖7，利用弹力，让上密盖7下压，对芯片夹持压合，方便来固定芯片进行稳定的检测，同时连插销3为橡胶材质，具有绝缘性能，可通过连插销3卡合连接密腔座5与台测座2，让其组接使用，同时连接密腔座5可与本体绝缘，方便芯片在通电检测时具有防护效果，通过握持提手8，可上提提手8，联动提手8端部的上密盖7同步上移，方便操控上密盖7，而座冲腔9内部可填充安置待检测芯片，方便利用本体进行存储，通过内轴15的旋转，可转动轴锥片16，改变轴锥片16的朝向，而轴锥片16侧端的辅片17端部通孔，可穿设芯片连接电源线束或检测用万用表检测线束，方便来组接线束，辅片17的灵活旋转功能也方便线束随之转向，让检测部分灵活的对接到检测芯片端部。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (6)

1.一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，包括基测台(1)和上密机构(4)，其特征在于：所述基测台(1)的左右两端中部均安装有台测座(2)，且台测座(2)的顶端穿设有连插销(3)，所述上密机构(4)安置于连插销(3)的顶端，所述基测台(1)的中部顶端固定有冲盘(10)，且冲盘(10)的中部穿设有冲条杆(11)，所述冲盘(10)的底端安置有连轴(12)，所述冲盘(10)的侧端安装有前冲机构(13)。

2.根据权利要求1所述的一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述上密机构(4)包括密腔座(5)、座弹簧(6)、上密盖(7)、提手(8)和座冲腔(9)，且密腔座(5)的内部穿设有座弹簧(6)，所述密腔座(5)的顶端安置有上密盖(7)，且上密盖(7)的顶端固定有提手(8)，所述密腔座(5)的内部穿设有座冲腔(9)。

3.根据权利要求2所述的一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述密腔座(5)通过座弹簧(6)与上密盖(7)之间构成弹性结构，且密腔座(5)通过连插销(3)与台测座(2)构成卡合结构。

4.根据权利要求2所述的一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述上密盖(7)、提手(8)之间相互固定连接，且上密盖(7)、提手(8)以及座冲腔(9)均关于上密盖(7)的水平方向呈等距离分布。

5.根据权利要求1所述的一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述前冲机构(13)包括前冲盘(14)、内轴(15)、轴锥片(16)和辅片(17)，且前冲盘(14)的内侧端安置有内轴(15)，所述内轴(15)的端部安装有轴锥片(16)，且轴锥片(16)的侧端安置有辅片(17)。

6.根据权利要求5所述的一种具有安全防护功能的集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述前冲盘(14)通过内轴(15)与轴锥片(16)之间构成旋转结构，且辅片(17)关于轴锥片(16)的中心对称分布。

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