CN214252038U - 片状物体检测装置 - Google Patents

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张凯
田欢欢
巨占岳
苏明光
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Abstract

本申请提供了一种片状物体检测装置,该检测装置包括:检测单元,包括多个检测芯片,检测芯片至少沿第二方向依次排列;公共单元,与检测单元在第一方向上相对且间隔设置,第二方向分别与第一方向以及待测物体的移动方向垂直;基准标识,设置在公共单元上,用于区分公共单元的旋转周期。该片状物体检测装置通过基准标识将采集原始图像数据按照旋转周期进行划分,进而通过空扫图像数据对划分后的原始图像数据一一对应地进行校正,去除了间隙不均匀引起的周期性噪声,提高了检测的准确性,解决了现有技术中薄膜检测装置中检测单元与公共单元之间的间隙不均匀导致检测结果不准确的问题。

Description

片状物体检测装置
技术领域
本申请涉及本申请涉及片状物体检测技术领域,具体而言,涉及一种片状物体检测装置。
背景技术
薄片状物品,如票据、纸张、塑料薄膜、纺织物品、绝缘隔膜等在线连续电学特性测量、厚度测量、边界检测、残损检测及异物检测等领域,在对应产品的生产制造、检测鉴别、处理、回收等过程中处于越来越重要的地位。近年来,通过电极间的静电感应进行薄膜厚度的检测技术在不断研究探索之中。对于该类连续检测的静电感应领域,多采用可转动的圆辊作为产品载体或传递动力辅助辊轮,同时将圆辊作为为静电检测的静电激发的公共单元也处于不断研究之中。
如图1所示,目前公开的一种片状物体检测装置部件,这种检测装置部件通常分为检测单元10和公共单元20两部分,检测单元10与公共单元20在第一方向上相对设置且间隔一定距离形成间隙均一待测物体的通道,其中,检测单元由框体11,检测基板12和盖板15组成,检测基板上在第二方向上设有检测芯片13,检测基板下方设有检测控制部14。公共单元20由导电圆柱体构成,这种导电圆柱体至少由金属圆柱体构成,也可包括表面覆盖有橡胶等其他材料的圆柱体。在公共单元20的导电圆柱体上施加脉冲信号,导电圆柱体施加电场到检测芯片上,当公共单元与检测芯片之间的间隙中介质的厚度、材质等有变化时,检测芯片13感应出的电压就会有变化,从而检测出片状物体的厚度、残损、边界及异物等数据。
上述现有的检测装置存在如下问题:公共单元圆柱体由于受到工艺精度限制或安装结构尺寸精度限制,其圆形公共单元本身直线性等尺寸会存在一定的微小公差,安装后与检测单元第一盖板间的间隙也会不均匀,如此,当产品工作时公共单元转动后,在公共单元与检测单元之间的间隙会有周期性变化,进而会对检测结果产生了周期性的影响,会严重影响检测结果。
在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解,因此,背景技术中可能包含某些信息,这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。
实用新型内容
本申请的主要目的在于提供一种片状物体检测装置,以解决现有技术中薄膜检测装置中检测单元与公共单元之间的间隙不均匀导致检测结果不准确的问题。
为了实现上述目的,根据本申请的一个方面,提供了一种片状物体检测装置,包括:检测单元,包括多个检测芯片,所述检测芯片至少沿第二方向依次排列;公共单元,与所述检测单元在第一方向上相对且间隔设置,所述第二方向分别与所述第一方向以及待测物体的移动方向垂直;基准标识,设置在所述公共单元上,用于区分所述公共单元的旋转周期。
可选地,所述基准标识设置在所述公共单元的第一表面上,所述第一表面为所述公共单元靠近所述检测单元的表面,所述第一表面的所述基准标识对应的区域为第一区域,所述第一表面的其他区域为第二区域,所述第一区域的各位置与所述检测单元之间的最小距离为第一距离,所述第二区域的各位置与所述检测单元之间的最小距离为第二距离,所述第一距离不等于所述第二距离。
可选地,所述第一表面包括无效区域,所述无效区域在所述第二方向上的长度大于等于预定距离,所述无效区域为所述第一表面上靠近所述基准标识的部分区域。
可选地,所述基准标识贴附在所述第一表面上或者所述基准标识为所述第一表面上的凸起。
可选地,所述基准标识为凹槽,所述凹槽为刻蚀部分所述第一表面形成的。
可选地,所述凹槽为圆形凹槽、方形凹槽和环形凹槽。
可选地,所述基准标识有两个,且两个所述基准标识不同。
可选地,所述基准标识为编码器,所述编码器设置在所述公共单元的一端,所述编码器随所述公共单元旋转生成数字,所述数字与所述公共单元的旋转位置一一对应。
可选地,所述数字与行数据一一对应,所述行数据为所述检测芯片采集的图像输数据。
可选地,所述数字周期性重复。
应用本申请的技术方案,上述片状物体检测装置中,控制上述片状物体检测装置空扫,通过检测芯片采集得到空扫图像数据,将待测物体放在上述公共单元和检测单元之间的间隔中,控制上述待测物体移动,且上述待测物体的移动方向与上述第二方向垂直,通过检测芯片采集得到上述待测物体的原始图像数据,从而通过基准标识将原始图像数据按照旋转周期进行划分,进而通过空扫图像数据对划分后的原始图像数据一一对应地进行校正,去除了间隙不均匀引起的周期性噪声,提高了检测的准确性,解决了现有技术中薄膜检测装置中检测单元与公共单元之间的间隙不均匀导致检测结果不准确的问题。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1示出了现有技术的一种片状物体检测装置的结构示意图;
图2示出了本申请的一种实施例的片状物体检测装置的示意图;
图3示出了本申请的另一种实施例的片状物体检测装置的示意图;
图4示出了本申请的另一种实施例的片状物体检测装置的示意图;
图5示出了本申请的另一种实施例的片状物体检测装置的示意图;
图6示出了本申请的另一种实施例的片状物体检测装置的示意图;
图7示出了本申请的另一种实施例的片状物体检测装置的示意图。
其中,上述附图包括以下附图标记:
10、检测单元;11、框体;12、检测基板;13、检测芯片;14、检测控制部;15、盖板;20、公共单元;30、基准标识。
具体实施方式
应该指出,以下详细说明都是例示性的,旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明,本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
需要注意的是,这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式,而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的,除非上下文另外明确指出,否则单数形式也意图包括复数形式,此外,还应当理解的是,当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时,其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
应该理解的是,当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时,该元件可直接在该另一元件上,或者也可存在中间元件。而且,在说明书以及权利要求书中,当描述有元件“连接”至另一元件时,该元件可“直接连接”至该另一元件,或者通过第三元件“连接”至该另一元件。
正如背景技术所介绍的,现有技术中薄膜检测装置中检测单元与公共单元之间的间隙不均匀导致检测结果不准确,为了解决如上,本申请提出了一种片状物体检测装置,如图2至图7所示,上述片状物体检测装置包括:
检测单元10,包括多个检测芯片13,上述检测芯片13至少沿第二方向依次排列;
公共单元20,与上述检测单元10在第一方向上相对且间隔设置,上述第二方向分别与上述第一方向以及待测物体的移动方向垂直;
基准标识30,设置在上述公共单元20上,用于区分上述公共单元20的旋转周期。
上述片状物体检测装置中,控制上述片状物体检测装置空扫,通过检测芯片采集得到空扫图像数据,将待测物体放在上述公共单元和检测单元之间的间隔中,控制上述待测物体移动,且上述待测物体的移动方向与上述第二方向垂直,通过检测芯片采集得到上述待测物体的原始图像数据,从而通过基准标识将原始图像数据按照旋转周期进行划分,进而通过空扫图像数据对划分后的原始图像数据一一对应地进行校正,去除了间隙不均匀引起的周期性噪声,提高了检测的准确性,解决了现有技术中薄膜检测装置中检测单元与公共单元之间的间隙不均匀导致检测结果不准确的问题。
本申请的一种实施例中,上述基准标识设置在上述公共单元的第一表面上,上述第一表面为上述公共单元靠近上述检测单元的表面,上述第一表面的上述基准标识对应的区域为第一区域,上述第一表面的其他区域为第二区域,上述第一区域的各位置与上述检测单元之间的最小距离为第一距离,上述第二区域的各位置与上述检测单元之间的最小距离为第二距离,上述第一距离不等于上述第二距离。具体地,上述第一距离不等于上述第二距离,由于基准标识所在第一区域对应的间隙与其他区域对应的间隙不同,使得采集的图像数据中基准标识对应的图像数据容易识别,即特征点容易识别,进一步通过特征点将原始图像数据按照旋转周期进行划分。
本申请的一种实施例中,上述第一表面包括无效区域,上述无效区域在上述第二方向上的长度大于等于预定距离,上述无效区域为上述第一表面上靠近上述基准标识的部分区域。具体地,如图2至图7所示,上述无效区域即为在上述第二方向上的长度为x的区域,在上述第二方向上的长度为d的区域为允许通过区域,待测物体进行检测时,控制待测物体沿允许通过区域对应的间隙通过,上述无效区域在上述第二方向上的长度大于等于预定距离,保证无效区域可以采集预定数量的图像数据,这些图像数据没有受到待测物体的干扰,便于原始图像数据进行归一化处理,以降低随机噪声的影响,进一步提高图像数据的准确性。本领域技术人员可以根据实际情况选择合适的预定距离,例如,2mm。
本申请的一种实施例中,如图2所示,上述基准标识30贴附在上述第一表面上或者上述基准标识30为上述第一表面上的凸起。具体地,如将导电体作为基准标识贴附在上述第一表面上,或者上述基准标识与公共单元一体成型,在上述第一表面上形成凸起,使得基准标识所在表面区域对应的间隙与其他表面区域对应的间隙不同,本领域技术人员可以根据实际情况选择合适形状的基准标识,例如,方形、圆形、环形。
本申请的一种实施例中,如图3至图6所示,上述基准标识30为凹槽,上述凹槽为刻蚀部分上述第一表面形成的。具体地,采用刻蚀公共单元形成凹槽作为上述基准标识,工艺简单且节省导电材料。
本申请的一种实施例中,上述凹槽为圆形凹槽、方形凹槽和环形凹槽。具体地,如图3所示,上述凹槽为方形凹槽,如图4所示,上述凹槽为圆形凹槽,如图5所示,上述凹槽为环形凹槽。当然,上述凹槽不限于此,本领域技术人员可以根据实际情况选择合适形状的凹槽,例如,形状不规则的凹槽。
本申请的一种实施例中,如图6所示,上述基准标识30有两个,且两个上述基准标识30不同。具体地,设置两个基准标识可以提高特征点的识别率,增加了校正的可靠性,降低对单元基准标识的依赖。
本申请的一种实施例中,如图7所示,上述基准标识30为编码器,上述编码器设置在上述公共单元20的一端,上述编码器随上述公共单元20旋转生成数字,上述数字与上述公共单元20的旋转位置一一对应。具体地,上述编码器随上述公共单元旋转,上述编码器可以每隔预定角度生成一个数字,360°为一个周期,即可使得上述数字与上述公共单元的旋转位置一一对应。
本申请的一种实施例中,上述数字与行数据一一对应,上述行数据为上述检测芯片采集的图像输数据。具体地,上述公共单元旋转预定角度,上述检测芯片采集一个行数据,上述编码器可以每隔预定角度生成一个数字,360°为一个周期,即可使得上述数字与行数据一一对应。
本申请的一种实施例中,上述数字周期性重复。具体地,上述数字周期性重复,以便于通过数字将原始图像数据按照旋转周期进行划分。
从以上的描述中,可以看出,本申请上述的实施例实现了如下技术效果:
本申请的片状物体检测装置中,控制上述片状物体检测装置空扫,通过检测芯片采集得到空扫图像数据,将待测物体放在上述公共单元和检测单元之间的间隔中,控制上述待测物体移动,且上述待测物体的移动方向与上述第二方向垂直,通过检测芯片采集得到上述待测物体的原始图像数据,从而通过基准标识将原始图像数据按照旋转周期进行划分,进而通过空扫图像数据对划分后的原始图像数据一一对应地进行校正,去除了间隙不均匀引起的周期性噪声,提高了检测的准确性,解决了现有技术中薄膜检测装置中检测单元与公共单元之间的间隙不均匀导致检测结果不准确的问题。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已,并不用于限制本申请,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种片状物体检测装置,其特征在于,包括:
检测单元,包括多个检测芯片,所述检测芯片至少沿第二方向依次排列;
公共单元,与所述检测单元在第一方向上相对且间隔设置,所述第二方向分别与所述第一方向以及待测物体的移动方向垂直;
基准标识,设置在所述公共单元上,用于区分所述公共单元的旋转周期。
2.根据权利要求1所述的片状物体检测装置,其特征在于,所述基准标识设置在所述公共单元的第一表面上,所述第一表面为所述公共单元靠近所述检测单元的表面,所述第一表面的所述基准标识对应的区域为第一区域,所述第一表面的其他区域为第二区域,所述第一区域的各位置与所述检测单元之间的最小距离为第一距离,所述第二区域的各位置与所述检测单元之间的最小距离为第二距离,所述第一距离不等于所述第二距离。
3.根据权利要求2所述的片状物体检测装置,其特征在于,所述第一表面包括无效区域,所述无效区域在所述第二方向上的长度大于等于预定距离,所述无效区域为所述第一表面上靠近所述基准标识的部分区域。
4.根据权利要求2所述的片状物体检测装置,其特征在于,所述基准标识贴附在所述第一表面上或者所述基准标识为所述第一表面上的凸起。
5.根据权利要求2所述的片状物体检测装置,其特征在于,所述基准标识为凹槽,所述凹槽为刻蚀部分所述第一表面形成的。
6.根据权利要求5所述的片状物体检测装置,其特征在于,所述凹槽为圆形凹槽、方形凹槽和环形凹槽。
7.根据权利要求2所述的片状物体检测装置,其特征在于,所述基准标识有两个,且两个所述基准标识不同。
8.根据权利要求1所述的片状物体检测装置,其特征在于,所述基准标识为编码器,所述编码器设置在所述公共单元的一端,所述编码器随所述公共单元旋转生成数字,所述数字与所述公共单元的旋转位置一一对应。
9.根据权利要求8所述的片状物体检测装置,其特征在于,所述数字与行数据一一对应,所述行数据为所述检测芯片采集的图像输数据。
10.根据权利要求8所述的片状物体检测装置,其特征在于,所述数字周期性重复。
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