CN213933570U - 一种吸光度检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种吸光度检测装置，包括脉冲光源、样品支架、光测量装置，所述的样品支架的光入射口与脉冲光源的出射光路相配合，所述的样品支架包含一个比色皿支架及安装于比色皿支架两侧的全反射棱镜组，该全反射棱镜组包含一个或多个全反射棱镜，所述的全反射棱镜固定在棱镜座上，所述的光测量装置位于样品支架的出射光路上，本实用新型通过设置参考光探测装置，可实时检测光源状态及光谱的波动变化并记录，以此对测试结果进行修正，提高测试精度；并且通过在探测光光路上增加配置反射棱镜的结构，构成多次平行反射光路，增加探测光光程，增强样品对光的吸收，提高对比度，从而提高检测精度，尤其对于样品是吸收较弱的情况，会明显改善测试精度。
Description
技术领域
本实用新型属于测量仪器领域，具体是一种吸光度检测装置。
背景技术
吸光度的测量仪器一般采用光路对比形式，根据加入样品前后光谱变化获得测量结果。目前的吸光度测量仪器存在的问题是：1.测量吸光度的时候要先测试没有样品时候的光强，再测试有样品时候的光强，两次测量过程中如果光源发光不稳定对测试结果会有影响；2.由于部分待测样品对探测光的吸收率低或待测样品本身比较稀少所用的样品池较小等情况下，加之探测光电传感器存在背景噪声，经过样品池后光强变化较小，影响检测精度。
实用新型内容
为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种吸光度检测装置。
本实用新型的技术方案如下：
一种吸光度检测装置，包括脉冲光源、样品支架、光测量装置，所述的样品支架的光入射口与脉冲光源的出射光路相配合，所述的样品支架包含一个比色皿支架及安装于比色皿支架两侧的全反射棱镜组，该全反射棱镜组包含一个或多个全反射棱镜，所述的全反射棱镜固定在棱镜座上，所述的光测量装置位于样品支架的出射光路上，所述的光测量装置包含一个透射光探测装置及参考光探测装置，所述的透射光探测装置的光接收口位于脉冲光源发射的光透过样品支架后的透射光路上，所述的参考光探测装置的光接收口位于脉冲光源发出的光未透过样品支架的监测光路上，所述的透射光探测装置和参考光探测装置是相同种类的光测量装置，所述的透射光探测装置和参考光探测装置共同安装在同一个恒温控制台上。
所述脉冲光源是一种可以发射占空比可调、周期性重复脉冲光的光源。
所述透射光探测装置和参考光探测装置的光接收口分别设置有一个光接收装置和一根光纤，所述透射光探测装置和参考光探测装置分别通过光纤导光。
所述光测量装置是光谱仪。
所述脉冲光源由一个卤钨灯和一个氘灯光源组合而成。
所述脉冲光源为一个氙灯光源。
所述透射光探测装置和参考光探测装置设置有一个同步测量触发接口。
所述样品支架设置在一个恒温腔中。
所述光测量装置是光电传感器和光学滤光元件的组合。
所述样品支架的入光口和出光口处分别设置有一个准直镜，所述样品支架的底部设置有底座，所述比色皿支架和棱镜座设置在底座上。
本实用新型的一种吸光度检测装置，通过设置参考光探测装置，可实时检测光源状态及光谱的波动变化并记录，以此对测试结果进行修正，提高测试精度；并且通过在探测光光路上增加配置反射棱镜的结构，构成多次平行反射光路，增加探测光光程，增强样品对光的吸收，提高对比度，从而提高检测精度，尤其对于样品是吸收较弱的情况，会明显改善测试精度。另外引入参考光可以消除光源波动影响提高测试精度。
附图说明
图1是本实用新型的整体结构示意图；
图2是本实用新型的样品支架的一种结构示意图；
图3是本实用新型的样品支架的另一种结构示意图；
图中，1—脉冲光源；2—光纤；3—样品支架；4—比色皿支架；5—棱镜座；6—透射光探测装置；7—参考光探测装置；8—恒温控制台；9—准直镜；10—全反射棱镜组；11—底座；12—恒温腔。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型进行详细说明。
如图1至图3所示，本实用新型的一种吸光度检测装置，包括脉冲光源1、样品支架3、光测量装置，样品支架3的光入射口与脉冲光源的出射光路相配合，样品支架3包含一个比色皿支架4及安装于比色皿支架4两侧的全反射棱镜组10，该全反射棱镜组10包含一个或多个全反射棱镜，全反射棱镜固定在棱镜座5上，通过在探测光光路上增加配置反射棱镜的结构，构成多次平行反射光路，增加探测光光程，增强样品对光的吸收，提高对比度，从而提高检测精度，尤其对于样品是吸收较弱的情况，会明显改善测试精度。光测量装置位于样品支架3的出射光路上，光测量装置包含一个透射光探测装置6及参考光探测装置7，透射光探测装置6的光接收口位于脉冲光源1发射的光透过样品支架3后的透射光路上，参考光探测装置7的光接收口位于脉冲光源发出的光未透过样品支架3的监测光路上，透射光探测装置6和参考光探测装置7是相同种类的光测量装置，透射光探测装置6和参考光探测装置7共同安装在同一个恒温控制台8上。通过设置参考光探测装置，可实时检测光源状态及光谱的波动变化并记录，以此对测试结果进行修正，提高测试精度。样品支架3的入光口和出光口处分别设置有一个准直镜9，样品支架3的底部设置有底座11，比色皿支架4和棱镜座5设置在底座11上。
本实用新型的脉冲光源1是一种可以发射占空比可调、周期性重复脉冲光的光源，脉冲发光可以控制样品受光时间，避免过度曝光改变样品温度，影响测量结果。在本实用新型的一个实施例中，脉冲光源1由一个卤钨灯和一个氘灯光源组合而成，采用两个灯组合可以扩展光源的波长范围。在本实用新型的另一个实施例中，脉冲光源1为一个氙灯光源，氙灯光源波长范围广，使用方便。
在本实用新型的一个实施例中，透射光探测装置6和参考光探测装置7的光接收口分别设置有一个光接收装置和一根光纤2，透射光探测装置6和参考光探测装置7分别通过光纤2导光，脉冲光源1与参考光探测装置7之间、脉冲光源1与样品支架3的入光口之间以及样品支架3的出光口与透射光探测装置6之间分别设置光纤2，通过光纤2导光，使用光纤导光可以方便布局，
在本实用新型的一个实施例中，光测量装置是光谱仪，光谱仪可以测量不同波长的光谱曲线，测量精度高。在本实用新型的另一个实施例中，光测量装置是光电传感器和光学滤光元件的组合，这种装置使用简便，成本低。
在本实用新型的一个实施例中，透射光探测装置6和参考光探测装置7设置有一个同步测量触发接口，使用中，同步测量触发接口可以使透射光探测装置和参考光探测装置同时进行测量，避免时间上的前后差异引入测量误差。
如图3所示，在本实用新型的一个实施例中，样品支架3设置在一个恒温腔12中，可以控制样品温度，测量精度更高。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种吸光度检测装置，包括脉冲光源(1)、样品支架(3)、光测量装置，其特征在于所述的样品支架(3)的光入射口与脉冲光源(1)的出射光路相配合，所述的样品支架(3)包含一个比色皿支架(4)及安装于比色皿支架(4)两侧的全反射棱镜组(10)，该全反射棱镜组(10)包含一个或多个全反射棱镜，所述的全反射棱镜固定在棱镜座(5)上，所述的光测量装置位于样品支架(3)的出射光路上，所述的光测量装置包含一个透射光探测装置(6)及参考光探测装置(7)，所述的透射光探测装置(6)的光接收口位于脉冲光源(1)发射的光透过样品支架(3)后的透射光路上，所述的参考光探测装置(7)的光接收口位于脉冲光源发出的光未透过样品支架(3)的监测光路上，所述的透射光探测装置(6)和参考光探测装置(7)是相同种类的光测量装置，所述的透射光探测装置(6)和参考光探测装置(7)共同安装在同一个恒温控制台(8)上。
2.如权利要求1所述的一种吸光度检测装置，其特征在于所述脉冲光源(1)是一种可以发射占空比可调、周期性重复脉冲光的光源。
3.如权利要求1所述的一种吸光度检测装置，其特征在于所述透射光探测装置(6)和参考光探测装置(7)的光接收口分别设置有一个光接收装置和一根光纤(2)，所述透射光探测装置(6)和参考光探测装置(7)分别通过光纤(2)导光。
4.如权利要求1所述的一种吸光度检测装置，其特征在于所述光测量装置是光谱仪。
5.如权利要求1所述的一种吸光度检测装置，其特征在于所述脉冲光源(1)由一个卤钨灯和一个氘灯光源组合而成。
6.如权利要求1所述的一种吸光度检测装置，其特征在于所述脉冲光源(1)为一个氙灯光源。
7.如权利要求1所述的一种吸光度检测装置，其特征在于所述透射光探测装置(6)和参考光探测装置(7)设置有一个同步测量触发接口。
8.如权利要求1所述的一种吸光度检测装置，其特征在于所述样品支架(3)设置在一个恒温腔(12)中。
9.如权利要求1所述的一种吸光度检测装置，其特征在于所述光测量装置是光电传感器和光学滤光元件的组合。
10.如权利要求1所述的一种吸光度检测装置，其特征在于所述样品支架(3)的入光口和出光口处分别设置有一个准直镜(9)，所述样品支架(3)的底部设置有底座(11)，所述比色皿支架(4)和棱镜座(5)设置在底座(11)上。
Priority Applications (1)
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Publications (1)
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Family Applications (1)
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| CN202022395401.5U Active CN213933570U (zh) | 2020-10-26 | 2020-10-26 | 一种吸光度检测装置 |
Country Status (1)
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2020
- 2020-10-26 CN CN202022395401.5U patent/CN213933570U/zh active Active
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