CN213715382U - 光电性能测试*** - Google Patents

Abstract

本实用新型公开光电性能测试***，包括测试箱，以及依次同轴安装的测试组件，测试箱具有多个光源入口和至少一个光线出口，所述测试箱包括至少一个光源组件、复眼透镜，测试组件能够拆卸的安装在测试箱的光线出口处，所述光源组件能够拆卸的安装在光源入口处，所述复眼透镜安装在光线出口处，光线依次通过复眼透镜、被测件、测试组件。本实用新型的有益效果：光源组件能够拆卸的连接在测试箱上，以及分辨率测试组件也能够拆卸的安装，可以根据不同需求更换光源和测试组件，且利用复眼透镜的特点，其光能利用率高、结构简单等优势，将其与大功率光源搭配使用，具有结构简单、尺寸小、光斑面积大的优势。

Description

光电性能测试***

技术领域

本实用新型涉及一种性能测试***，尤其涉及的是一种光电性能测试***。

背景技术

现有的微光像增强器/低照度CMOS动态光电性能测试***专门用于对微光像增强器、ICCD、ICMOS、低照度CMOS和低照度CCD成像***进行静态和动态的光电性能测试和分析；

微光像增强器是微光夜视仪的核心部件，它由输入窗、光电阴极、微通道板、荧光屏、输出窗等组成。主要工作原理：在夜间，当微弱光线透过输入窗被光电阴极吸收，光电阴极发射出光电子，光电子在电场作用下进入微通道板，经过微通道板后光电子得到倍增，微通道板输出的光电子最后轰击荧光屏发光，并通过输出窗输出，这样输出的光通量与输入的光通量相比放大了数万倍，即输出亮度达到人眼观察目标的亮度，实现人眼在黑暗中观察目标的目的。

测试***对光源的要求如下：(1)灯泡较大功率，所以需要设计良好的散热；(2)灯泡需要注意设计安装方向，因为灯泡各向发光的不均匀，要保证对准光阑1的为最大亮度；(3)测试***光源匀光处理；(4)滤光片框右侧应能安装可在x、y方向移动的分辨率卡，同时需要考虑与积分球，共轭镜的接口问题；(5)窄带滤光片要求，中心波长800±3nm、850±3nm，透过率10％为限带宽为12.5±1.5nm，最小峰值透过率40％；(6)滤光片框内可放置的滤光片数需符合各种测试的要求；(7)灯泡距离像管的距离应小于190mm。

如申请号：201610700230.8，低照度CMOS芯片性能测试***，一种低照度CMOS芯片性能测试***，其特征在于，包括卤钨灯光源(1)、电动狭缝(2)、第一积分球(3)、可变孔径光阑(4)、第二积分球(5)、暗箱(6)、待测低照度CMOS芯片、光照度计(7)和计算机(8)；所述电动狭缝(2)设置在卤钨灯光源(1)和第一积分球(3)入光面之间，所述可变孔径光阑(4)设置在第一积分球(3)出光面与第二积分球(5)入光面之间，第二积分球(5)的出光面连接暗箱(6)入口，暗箱(6)内置待测低照度CMOS芯片，低照度CMOS芯片输出端连接计算机(8)，第二积分球(5)出光面所在球壁上设有两个窗孔，用于连接光照度计(7)上的硅光电池和倍增管，所述光照度计(7)用于读取入射到低照度CMOS芯片光敏面的光照度；卤钨灯光源(1)发出的光线经过电动狭缝(2)对光照度进行衰减，狭缝大小由计算机(8)控制，衰减后的光入射到第一积分球(3)内，第一积分球(3)出射光再次经过可变孔径光阑(4)进行二次衰减，经过二次衰减的光入射到第二积分球(5)内，通过第二积分球(5)使光均匀入射到暗箱(6)内低照度CMOS芯片的光敏面上，低照度CMOS芯片后端连接计算机(8)，所述计算机(8)用于对低照度CMOS芯片输出信号进行视频采集。

目前使用积分球作为匀光，积分球均匀光源经常用于生物、微光成像及定量测量校准，但是利用率低损耗较大，***靶面背景照度范围设置范围1×10-6lx～2×10+5lx连续可调，对灯泡的功率需求过大。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本实用新型的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于：如何解决现有的光源模块利用率低损耗大的问题。

本实用新型通过以下技术手段实现解决上述技术问题的：

光电性能测试***，包括测试箱，以及依次同轴安装的测试组件，测试箱具有多个光源入口和至少一个光线出口，所述测试箱包括至少一个光源组件、复眼透镜，测试组件能够拆卸的安装在测试箱的光线出口处，所述光源组件能够拆卸的安装在光源入口处，所述复眼透镜安装在光线出口处，光线依次通过复眼透镜、测试组件。

本实用新型中的光源组件能够拆卸的连接在测试箱上，以及分辨率测试组件也能够拆卸的安装，可以根据不同需求更换光源和测试组件，本实用新型利用复眼透镜的特点，其光能利用率高、结构简单等优势，将其与大功率光源搭配使用，具有结构简单、尺寸小、光斑面积大的优势。

优选的，所述测试箱为矩形箱，所述测试箱包括两个光源入口，所述光源组件为两个，两个光源组件分别安装在两个光源入口处，并位于测试箱外部，其中一个光源组件的中心轴线与所述测试组件的中心轴线同轴，另一个光源组件的轴线与所述测试组件的中心轴线垂直相交。

优选的，所述测试箱内包括分光镜组件、滤光片组件，所述分光镜组件安装在测试箱的底面，且分光镜组件与光源组件的中心轴线呈45度角安装，所述滤光片组件安装在光源入口处和光线出口处，所述滤光片组件安装在所述测试箱内。

两个不同的光源组件可以通过分光镜以及滤光片组件获得不同的光源要求。

优选的，所述光源组件包括灯、灯安装板、光源物镜筒、准直透镜、接口压环，所述灯安装在灯安装板上，灯安装板的一端为筒状结构，筒状结构与光源物镜筒的一端螺纹连接，光源物镜筒的另一端与接口压环连接，所述准直透镜安装在光源物镜筒内部，灯发出的光经过准直透镜进入测试箱。光源组件提供光源，并将光进行校直，形成平行光。

优选的，还包括散热器，所述散热器安装在灯安装板上。散热器用于灯的散热，避免温度过高，影响寿命。

优选的，所述复眼透镜安装在所述测试箱的箱壁上，并位于滤光片组件一侧，光线依次滤光片组件后经过复眼透镜。

优选的，还包括测试座组件，所述测试座组件包括底座、至少两个安装座、像管座、显微镜卡接座，所述测试组件包括依次连接的分辨率组件、像管、显微镜，所述安装座能够滑动的连接在底座上，所述像管座的底部与其中一个安装座顶部连接，所述显微镜卡接座与其中一个安装座的顶部连接，所述测试箱安装在底座上，所述像管安装在像管座内，所述显微镜卡接在显微镜卡接座内。

优选的，所述安装座包括水平滑动组件、升降组件，所述升降组件连接在水平滑动组件的顶端，所述像管座、所述显微镜卡接座分别连接安装座顶端。

通过安装座可以实现测试组件的水平方向横移和纵移，以及竖直方向的升降，调节更加灵活。

优选的，所述升降组件包括第一套筒、第二套筒、V型旋转件、推杆、限位螺母、限位板，第一套筒内为空，所述V型旋转件能够转动的连接在第一套筒内壁上，第二套筒套接在第一套筒外部，所述推杆穿过第一套筒后与V型旋转件接触连接，所述限位板的一侧连接在第二套筒上，限位板上具有腰型孔，限位螺母穿过腰型孔后拧入第二套筒内。

优选的，所述水平滑动组件包括第一滑块、第二滑块、第三滑块、两个推动组件，所述第二滑块能够水平横向滑动的连接在第一滑块的顶部，所述第三滑块能够水平竖向滑动的连接在第二滑块的顶部，其中一个推动组件连接第一滑块与第二滑块，另一个推动组件连接第二滑块与第三滑块，所述推动组件包括第一固定块、第二固定块、推动螺栓，其中一个推动组件的第一固定块固定在第一滑块上，第二固定块固定在第二滑块上，另一个推动组件的第一固定块固定在第二滑块上，第二固定块固定在第三滑块上，推动螺栓穿过第一固定块后与第二固定块连接。

本实用新型的优点在于：

(1)本实用新型中的光源组件能够拆卸的连接在测试箱上，以及分辨率测试组件也能够拆卸的安装，可以根据不同需求更换光源和测试组件，本实用新型利用复眼透镜的特点，其光能利用率高、结构简单等优势，将其与大功率光源搭配使用，具有结构简单、尺寸小、光斑面积大的优势；

(2)两个不同的光源组件可以通过分光镜以及滤光片组件获得不同的光源要求；

(3)散热器用于灯的散热，避免温度过高，影响寿命；

(4)通过安装座可以实现测试组件的水平方向横移和纵移，以及竖直方向的升降，调节更加灵活。

(5)本***专门用于对微光像增强器、ICCD、ICMOS、低照度CMOS和低照度CCD成像***进行静态和动态的光电性能测试和分析；本***可以用于上述探测器在靶面照度10-6lx～10+5lx条件下输出屏幕亮度或输出信号的静态响应和动态响应的测试和分析；本***可用于上述探测器在靶面照度10-6lx～10+5lx条件下的输出图像分辨率测试和分析；本***可用于上述探测器在靶面照度从某一照度(10-6lx～10+5lx之间任意值)到另一照度(10-6lx～10+5lx之间任意值)切换条件下的光照度冲击响应和光照度阶跃输出特性的测试和分析。

附图说明

图1是本实用新型实施例光电性能测试***的结构示意图；

图2是光电性能测试***的立体图；

图3是光电性能测试***俯视图；

图4是光电性能测试***的剖视图；

图5是光源组件的立体图；

图6是光源组件的剖视图；

图7是分辨率组件的结构示意图；

图8是分辨率组件的剖视图；

图9是像管的结构示意图；

图10是像管的剖视图；

图11是测试座组件的结构示意图；

图12是安装座的示意图；

图13是水平滑动组件的结构示意图；

图14是水平滑动组件的***图；

图15是升降组件的***示意图；

图16是升降组件的剖视图；

图中标号：1、测试箱；11、分光镜组件；12、滤光片组件；2、分辨率组件；21、分辨率组件接口压环；22、负分辨率测试接口；23、显微镜筒；24、保护筒；25、可见光带通；26、负分辨率靶板；27、遮光组件；28、显微物镜；3、像管；31、像管本体；32、像管套筒；33、亮度探头；4、显微镜；5、光源组件；51、灯；52、灯安装板；53、光源物镜筒；54、准直透镜；55、接口压环；56、散热器；57、锁紧环；58、透镜压环；6、底座；61、连接轴；62、燕尾型滑轨；63、燕尾型滑槽；7、安装座；71、水平滑动组件；711、第一滑块；712、第二滑块；713、第三滑块；714、推动组件；7141、第一固定块；7142、第二固定块；7143、推动螺栓；715、限位件；7151、压片；7152、滑块锁紧螺栓；72、升降组件；721、第一套筒；722、第二套筒；723、V型旋转件；724、推杆；725、限位螺母；726、限位板；8、像管座；9、显微镜卡接座；

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一：

如图1、图4所示，光电性能测试***，包括测试箱1，以及依次同轴安装的测试组件，测试组件包括依次连接的分辨率组件2、像管3、显微镜4，测试箱1具有两个光源入口和一个光线出口，所述测试箱1包括两个光源组件5、复眼透镜8，分辨率组件2能够拆卸的安装在测试箱1的光线出口处，所述光源组件5能够拆卸的安装在光源入口处，所述复眼透镜8安装在光线出口处，光线依次通过复眼透镜8、分辨率组件2、像管3、显微镜4。

如图2所示，所述测试箱1为矩形箱，分别由前侧板、后侧板、两个侧板、顶板、和底板组成，安装分辨率组件的为前侧板，与前侧板相对的为后侧板，所述测试箱1包括两个光源入口，所述光源组件5为两个，两个光源组件5分别安装在两个光源入口处，并位于测试箱1外部，其中一个光源组件5的中心轴线与所述分辨率测试组件2的中心轴线同轴，另一个光源组件5的轴线与所述分辨率测试组件2的中心轴线垂直相交，两个光源组件5呈90度安装，本实施中，两个光源组件2两个光源均可编程设置为脉冲或阶跃或恒定输出光源，根据具体情况设定即可；其中一个光源组件5安装在后侧板上，另一个光源组件5安装在侧板上。

如图2、图3所示，所述测试箱1内包括分光镜组件11、滤光片组件12，所述分光镜组件11安装在测试箱1的底面，且分光镜组件11与光源组件5的中心轴线呈45度角安装，所述滤光片组件12安装在光源入口处和光线出口处。滤光片组件12为8个，4个为一组，其中一组滤光片组件12安装在靠近前侧板处，另一组滤光片组件12安装在靠近后侧板处，与测试组件同轴的光源组件5发出的光经过一组滤光片组件12后经过分光镜组件11，一部分光穿过分光镜组件11进入下一组滤光片组件12后通过复眼透镜8，后进入测试组件，另一个光源组件5发出的光经过分光镜组件11，一部分光被反射进入下一组滤光片组件12后通过复眼透镜8，复眼透镜8可拆卸的安装在测试箱1的箱壁上。

分光镜组件11包括分光镜支架和分光镜，分光镜支架固定安装在底板顶面，分光镜压接在分光镜支架上；所述滤光片组件12包括滤光片支架和滤光片，滤光片支架能够通过伸缩结构水平移动，滤光片压接在滤光片支架上，该部分根据需要选用分光镜以及滤光片的性能及个数即可。

两个不同的光源组件5可以通过分光镜以及滤光片组件获得不同的光源要求。

如图5、图6所示，所述光源组件5包括灯51、灯安装板52、光源物镜筒53、准直透镜54、接口压环55、散热器56、锁紧环57、透镜压环58，所述灯51粘接在散热器56的中心处，所述灯安装板52右侧为板状结构，左侧为筒状结构，所述散热器56通过螺丝安装在灯安装板52的板上，筒状结构套入光源物镜筒53的右端内部，并由锁紧环57将光源物镜筒53与灯安装板52锁紧，准直透镜54卡接在光源物镜筒53内，并由透镜压环58对准直透镜54压紧，接口压环55连接在光源物镜筒53的左端，用于连接光源组件5与测试箱1，灯51发出的光经过准直透镜54形成平行光后进入测试箱1，光源组件提供光源，并将光进行校直，散热器56用于灯51的散热，避免温度过高，影响寿命。

如图7、图8所示，分辨率组件2选用现有技术中的即可，本实施例中给出一种分辨率组件2，分辨率组件2外部筒件包括依次连接的分辨率组件接口压环21、负分辨率测试接口22、显微镜筒23(包括内筒和外筒)、保护筒24；分辨率组件接口压环21用于连接分辨率组件2与测试箱1，负分辨率测试接口22内包括间隔安装的可见光带通25、负分辨率靶板26，显微镜筒23外部安装遮光组件27，显微镜筒23的右端安装显微物镜28，显微物镜28位于保护筒24内。其中，负分辨率靶板26为USAF1951负靶板。

如图9、图10所示，本实施例中像管3也可以根据需要选用现有技术中的即可，本实施例中给出一种像管3，包括像管本体31、像管套筒32、亮度探头33，像管本体31固定在像管套筒32内，亮度探头33安装在像管套筒32远离分辨率组件2的一端(图中为右端)；像管套筒32用于卡接像管本体31和连接作用，根据需要进行适应性设计。待测件可以与像管3能够拆卸的连接，便于对不同待测件进行更换。经过复眼透镜8的光进入分辨率组件2后进入待测件、后经像管3呈现在显微镜4中。

显微镜4也可以根据需要选用现有技术中的即可，显微镜4的后端可以连接摄像机。初上述零部件以外，还需要电源等必要部件，根据实际需要添加即可。

采用上述分辨率组件2、像管3、显微镜4通过以下操作，对分辨率进行测试，操作过程：(1)物镜放大倍率0.1；(2)前后目标分别位于其焦面；(3)可以在z方向的精确调节对焦；(4)给予像管阴极面大于200Lx的照度；(5)传像镜头组放大倍率为1.00±0.05；(6)显微镜对准像管中心，从显微镜观察，按照分辨率从低到高的顺序，将分辨率卡上各线对依次移动到视野中心，直至某一线对无法识别，记录下前一线对的分辨率；(7)显微镜对准距像管中心7mm位置，从显微镜观察，按照分辨率从低到高的顺序，将分辨率卡上各线对依次移动到视野中心，直至某一线对无法识别，记录下前一线对的分辨率；(8)像管旋转90度，从显微镜观察，按照分辨率从低到高的顺序，将分辨率卡上各线对依次移动到视野中心，直至某一线对无法识别，记录下前一线对的分辨率。

本实施例中的光源组件5能够拆卸的连接在测试箱上，以及分辨率测试组件2也能够拆卸的安装，可以根据不同需求更换光源，本实用新型利用复眼透镜的特点，其光能利用率高、结构简单等优势，将其与大功率光源搭配使用，具有结构简单、尺寸小、光斑面积大的优势。

实施例二：

如图1结合图11所示，在上述实施例一的基础上，光电性能测试***还包括测试座组件，所述测试座组件包括底座6、两个安装座7、像管座8、显微镜卡接座9，所述安装座7能够滑动的连接在底座6上，所述像管座8的底部与其中一个安装座7顶部连接，所述显微镜卡接座9与另一个安装座7的顶部连接，所述测试箱1安装在底座6上，所述像管3安装在像管座8内，所述显微镜4卡接在显微镜卡接座9内。

底座6的一端通过支板抬高后，用于连接测试箱1，底座6包括导轨座、支撑板组件，所述支撑板组件固定在所述导轨座左端，所述滑动组件安装在所述导轨座的右端，所述支撑板组件包括两个侧板、一个顶板，两个侧板分别固定在导轨座两侧，顶板固定在两个侧板顶部，支撑板组件用于连接测试箱；所述滑动组件包括燕尾型滑轨62和燕尾型滑槽63，燕尾型滑轨62固定在导轨座上，安装座7的底部具有燕尾型滑槽63，安装座7通过燕尾型滑槽63与燕尾型滑轨62滑动连接，并通过侧面的锁紧螺栓进行锁紧；两个安装座7之间通过一根连接轴61连接，安装座7的侧部具有滑动支架，滑动支架中部具有贯穿的孔，连接轴61依次穿过两个滑动支架，因此两个安装座7能够沿连接轴61轴线滑动，并在滑动支架的通孔的径向方向设置锁紧孔，锁紧螺栓穿过锁紧孔后抵接在连接轴61上，安装座7与连接轴61通过锁紧螺栓进行锁紧，来固定两个安装座7之间的距离。

结合图12所示，所述安装座7包括水平滑动组件71、升降组件72，所述升降组件72连接在水平滑动组件71的顶端，所述像管座8、所述显微镜卡接座9分别连接升降组件72的顶端。

通过安装座可以实现测试组件的水平方向横移和纵移，以及竖直方向的升降，调节更加灵活。

如图13所示，所述水平滑动组件71包括第一滑块711、第二滑块712、第三滑块713、两个推动组件714、两个限位件715，第一滑块711整体形状为矩形，顶部具体凸起的矩形滑轨，第二滑块712的底面有与之对应的矩形滑槽，第二滑块712的顶面具有凸起的矩形滑轨，第三滑块的底部有与之对应的矩形滑槽，因此，所述第二滑块712能够水平横向滑动的连接在第一滑块711的顶部，所述第三滑块713能够水平竖向滑动的连接在第二滑块712的顶部，第一滑块711、第二滑块712、第三滑块713实现能够在水平面内沿X轴和Y轴滑动。

如图13、图14所示，两个所述推动组件714相同，均包括第一固定块7141、第二固定块7142、推动螺栓7143，其中一个推动组件714连接第一滑块711与第二滑块712，另一个推动组件714连接第二滑块712与第三滑块713；位于下方的推动组件714的第一固定块7141固定在第一滑块711上，第二固定块7142固定在第二滑块712上，推动螺栓7143穿过第一固定块7141后与第二固定块7142接触连接，位于上方的推动组件714的第一固定块7141固定在第二滑块712上，第二固定块7142固定在第三滑块713上，推动螺栓7143穿过第一固定块7141后与第二固定块7142接触连接；可以在第二固定块7142上设置一个与推动螺栓轴向对应的短轴；

可以通过旋拧推动螺栓7143，将第一固定块7141与第二固定块7142逐渐推开，合并时，将推动螺栓7143推出一段，手动将第一固定块7141与第二固定块7142靠近即可。

两个所述限位件715相同，均包括压片7151、滑块锁紧螺栓7152，其中一个限位件715连接第一滑块711与第二滑块712，该限位件715的压片7151固定在第一滑块711的侧面，压片7151上具有与滑动方向相同的腰型槽，滑块锁紧螺栓7152穿过腰型槽拧入第二滑块712；在滑动过程中，因腰型槽的限位，保证滑块之间行程固定，不致于滑出。另一个限位件715连接第二滑块712与第三滑块713，该限位件715的压片7151固定在第二滑块712的侧面，压片7151上具有与滑动方向相同的腰型槽，滑块锁紧螺栓7152穿过腰型槽拧入第三滑块713。

如图15、16所示，所述升降组件72包括第一套筒721、第二套筒722、V型旋转件723、推杆724、限位螺母725、限位板726，第一套筒721内为空，顶面开口，所述V型旋转件723的交叉点处能够转动的连接在第一套筒721内壁上，第二套筒722底部开口，侧面开口，第二套筒722的内部顶面具有能够与V型旋转件723接触的短轴，第二套筒722套接在第一套筒721外部，第一套筒721的外部具有圆柱形筒，与第一套筒721内部连通，所述推杆724通过该圆柱形筒穿过第一套筒721后与V型旋转件723接触连接，推杆724的水平运动能够推动V型旋转件723转动，V型旋转件723的转动能够推动第二套筒722上移，并在推杆724推出后，依靠重力V型旋转件723恢复原样，第二套筒722下移，所述限位板726的一侧连接在第二套筒722的外表面上，限位板726上具有腰型孔，限位螺母725穿过腰型孔拧入第二套筒722的外壁上，限位板726与限位螺母725用于限制第一套筒721与第二套筒722上下移动的极限位置。

像管座8，为内部具有环形空间的结构，顶部具有开口，开口处具有卡条，像管3能够置于环形空间内，通过卡条卡接。

显微镜卡接座9，为内部为环形空间，直接将显微镜4穿过环形空间即可。

本实施例能够实现测试组件沿X、Y、Z三个方向自由移动，灵活度高，z方向为沿着光路、导轨的方向，y方向为垂直于z方向的水平方向，x方向为垂直于z、y方向的竖直方向。

以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.光电性能测试***，其特征在于，包括测试箱，以及依次同轴安装的测试组件，测试箱具有多个光源入口和至少一个光线出口，所述测试箱包括至少一个光源组件、复眼透镜，测试组件能够拆卸的安装在测试箱的光线出口处，所述光源组件能够拆卸的安装在光源入口处，所述复眼透镜安装在光线出口处，光线依次通过复眼透镜、测试组件。

2.根据权利要求1所述的光电性能测试***，其特征在于，所述测试箱为矩形箱，所述测试箱包括两个光源入口，所述光源组件为两个，两个光源组件分别安装在两个光源入口处，并位于测试箱外部，其中一个光源组件的中心轴线与所述测试组件的中心轴线同轴，另一个光源组件的轴线与所述测试组件的中心轴线垂直相交。

3.根据权利要求1所述的光电性能测试***，其特征在于，所述测试箱内包括分光镜组件、滤光片组件，所述分光镜组件安装在测试箱的底面，且分光镜组件与光源组件的中心轴线呈45度角安装，所述滤光片组件安装在光源入口处和光线出口处，所述滤光片组件安装在所述测试箱内。

4.根据权利要求1所述的光电性能测试***，其特征在于，所述光源组件包括灯、灯安装板、光源物镜筒、准直透镜、接口压环，所述灯安装在灯安装板上，灯安装板的一端为筒状结构，筒状结构与光源物镜筒的一端螺纹连接，光源物镜筒的另一端与接口压环连接，所述准直透镜安装在光源物镜筒内部，灯发出的光经过准直透镜进入测试箱。

5.根据权利要求4所述的光电性能测试***，其特征在于，还包括散热器，所述散热器安装在灯安装板上。

6.根据权利要求3所述的光电性能测试***，其特征在于，所述复眼透镜安装在所述测试箱的箱壁上，并位于滤光片组件一侧，光线依次滤光片组件后经过复眼透镜。

7.根据权利要求1所述的光电性能测试***，其特征在于，还包括测试座组件，所述测试座组件包括底座、至少两个安装座、像管座、显微镜卡接座，所述测试组件包括依次连接的分辨率组件、像管、显微镜，所述安装座能够滑动的连接在底座上，所述像管座的底部与其中一个安装座顶部连接，所述显微镜卡接座与其中一个安装座的顶部连接，所述测试箱安装在底座上，所述像管安装在像管座内，所述显微镜卡接在显微镜卡接座内。

8.根据权利要求7所述的光电性能测试***，其特征在于，所述安装座包括水平滑动组件、升降组件，所述升降组件连接在水平滑动组件的顶端，所述像管座、所述显微镜卡接座分别连接安装座顶端。

9.根据权利要求8所述的光电性能测试***，其特征在于，所述升降组件包括第一套筒、第二套筒、V型旋转件、推杆、限位螺母、限位板，第一套筒内为空，所述V型旋转件能够转动的连接在第一套筒内壁上，第二套筒套接在第一套筒外部，所述推杆穿过第一套筒后与V型旋转件接触连接，所述限位板的一侧连接在第二套筒上，限位板上具有腰型孔，限位螺母穿过腰型孔后拧入第二套筒内。

10.根据权利要求8所述的光电性能测试***，其特征在于，所述水平滑动组件包括第一滑块、第二滑块、第三滑块、两个推动组件，所述第二滑块能够水平横向滑动的连接在第一滑块的顶部，所述第三滑块能够水平竖向滑动的连接在第二滑块的顶部，其中一个推动组件连接第一滑块与第二滑块，另一个推动组件连接第二滑块与第三滑块，所述推动组件包括第一固定块、第二固定块、推动螺栓，其中一个推动组件的第一固定块固定在第一滑块上，第二固定块固定在第二滑块上，另一个推动组件的第一固定块固定在第二滑块上，第二固定块固定在第三滑块上，推动螺栓穿过第一固定块后与第二固定块连接。

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