CN213688427U - 一种光学测试平台试件位置调节装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及光学测试技术领域，具体是一种光学测试平台试件位置调节装置，包括底座，所述底座上端左右两侧均连接有支撑板，支撑板中部内侧开设有光学检测主机，支撑板上端连接有顶板，顶板上端右侧设置有正反电机,正反电机上端连接有转轴，转轴上端连接有齿轮，底座上端中部滑动连接有支撑台,支撑台内侧上端设置有第一套筒,第一套筒中部转动连接有第一转杆，第一转杆下侧开设有外螺纹，第一转杆上端开设有齿槽，齿槽位于顶板上端，齿槽与齿轮相配合，该装置可以使被测物件多方位进行对焦，在测试过程中方便调节。

Description

一种光学测试平台试件位置调节装置

技术领域

本实用新型涉及光学测试技术领域，具体是一种光学测试平台试件位置调节装置。

背景技术

光学检测平台是安装光学检测主机及试件的关键性基础承载装置，其主要作用是实现检测过程中的重心稳定与姿态平衡，现有的光学检测平台通常包括位于底部的支撑框架，在检测过程中，试件和光学检测主机分别固定于支撑框架的上、下两端，并通过安装在其上的驱动***、传动***、传感***等附属装置实现检测过程中试件位置的精密对焦调整，以完成整个光学检测操作。

现有的光学测试平台大多数都是固定的，在测试过程中难以进行多角度调节位置。

本实用新型旨在解决现有技术中存在的技术问题，为此，提出一种光学测试平台试件位置调节装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种光学测试平台试件位置调节装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种光学测试平台试件位置调节装置，包括底座，所述底座上端左右两侧均连接有支撑板，支撑板中部内侧开设有光学检测主机，支撑板上端连接有顶板，顶板上端中部开设有第二滑槽，顶板上端右侧设置有正反电机,正反电机下端连接有第二滑块，正反电机上端连接有转轴，转轴上端连接有齿轮，底座上端中部滑动连接有支撑台,支撑台内侧上端设置有第一套筒,第一套筒中部转动连接有第一转杆，第一转杆穿过第二滑槽，第一转杆下侧开设有外螺纹，第一转杆上端开设有齿槽，第一转杆上端连接有第二连接块，第二连接块位于齿槽下侧，第二连接块左侧开设有第二套筒，第一转杆位于第二套筒之中，第二连接块右端与正反电机相连接，齿槽位于顶板上端，齿槽与齿轮相配合。

作为本实用新型进一步的方案：所述第一转杆中部连接有支撑块，支撑块中部开设有第一内螺纹，第一内螺纹与外螺纹相配合。

作为本实用新型进一步的方案：所述第一内螺纹前端连接有连杆,连杆前端连接有第一连接块,第一连接块前端连接有夹爪，夹爪与光学检测主机相对应。

作为本实用新型进一步的方案：所述夹爪上端设置有螺栓,夹爪下端设置有第二转杆,第二转杆上端连接有转板。

作为本实用新型进一步的方案：所述底座上端开设有滑槽,支撑台下端连接有第一滑块,第一滑块位于滑槽之中。

作为本实用新型进一步的方案：所述第一滑块内侧开设有第二内螺纹,第二内螺纹转动连接有螺纹杆,螺纹杆左端连接有转柄，转柄位于底座左侧。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：当该装置工作时，将被测物件放入夹爪之中,转动螺栓，将物件夹紧，然后正反电机启动，正反电机控制转轴转动，转轴带动齿轮转动，通过齿轮与齿槽配合，带动第一转杆转动，即外螺纹转动，通过外螺纹与第一内螺纹配合，使支撑块下降至与光学检测主机对应的位置，然后转动第二转杆，调节被测物件的角度或者更换被测物件的方位，然后转动转柄,转柄带动螺纹杆转动，通过螺纹杆与第二内螺纹配合，使第一滑块左右移动，第一滑块通过支撑台带动支撑块左右移动，即被测物件左右移动进行对焦，该装置可以使被测物件多方位进行对焦，在测试过程中方便调节。

附图说明

图1为一种光学测试平台试件位置调节装置的结构示意图。

图2为一种光学测试平台试件位置调节装置中正视剖视图的结构示意图。

图3为一种光学测试平台试件位置调节装置中俯视剖视图的结构示意图。

1-底座、2-转柄、3-支撑板、4-夹爪、5-顶板、6-第一转杆、7-齿槽、8-齿轮、9-转轴、10-正反电机、11-螺栓、12-转板、13-第二转杆、14-外螺纹、15-支撑台、16-螺纹杆、17-支撑块、18-第一内螺纹、19-第一套筒、20-滑槽、21-光学检测主机、22-第一连接块、23-连杆、24-第一滑块、25-第二内螺纹，26-第二滑槽、27-第二滑块、28-第二连接块、29-第二套筒。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本实用新型。此外，本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。

实施例一

请参阅图1-3，本实用新型实施例中，一种光学测试平台试件位置调节装置，包括底座1，所述底座1上端左右两侧均连接有支撑板3，支撑板3中部内侧开设有光学检测主机21，支撑板3上端连接有顶板5，顶板5上端中部开设有第二滑槽26，顶板5上端右侧设置有正反电机10,正反电机10下端连接有第二滑块27，正反电机10上端连接有转轴9，转轴9上端连接有齿轮8，底座1上端中部滑动连接有支撑台15,支撑台15内侧上端设置有第一套筒19,第一套筒19中部转动连接有第一转杆6，第一转杆6穿过第二滑槽26，第一转杆6下侧开设有外螺纹14，第一转杆6上端开设有齿槽7，第一转杆6上端连接有第二连接块28，第二连接块28位于齿槽7下侧，第二连接块28左侧开设有第二套筒29，第一转杆6位于第二套筒29之中，第二连接块28右端与正反电机10相连接，第二连接块28使正反电机10随着第一转杆移动而移动，避免齿槽7与齿轮8分开，齿槽7位于顶板5上端，齿槽7与齿轮8相配合。

实施例二

请参阅图1-3，在实施例一的基础上，所述第一转杆6中部连接有支撑块17,支撑块17中部开设有第一内螺纹18，第一内螺纹18与外螺纹14相配合。

所述第一内螺纹18前端连接有连杆23,连杆23前端连接有第一连接块22,第一连接块22前端连接有夹爪4，夹爪4与光学检测主机21相对应。

所述夹爪4上端设置有螺栓11,夹爪4下端设置有第二转杆13,第二转杆13上端连接有转板12，转动第二转杆13，调节被测物件的角度或者更换被测物件的方位。

所述底座1上端开设有滑槽20,支撑台15下端连接有第一滑块24,第一滑块24位于滑槽20之中。

所述第一滑块24内侧开设有第二内螺纹25,第二内螺纹25转动连接有螺纹杆16,螺纹杆16与第二内螺纹25配合，使第一滑块24左右移动，螺纹杆16左端连接有转柄2，转柄2位于底座1左侧。

本实用新型的工作原理是：当该装置工作时，将被测物件放入夹爪4之中,转动螺栓11，将物件夹紧，然后正反电机10启动，正反电机10控制转轴9转动，转轴9带动齿轮8转动，通过齿轮8与齿槽7配合，带动第一转杆6转动，即外螺纹14转动，通过外螺纹14与第一内螺纹18配合，使支撑块17下降至与光学检测主机21对应的位置，然后转动第二转杆13，调节被测物件的角度或者更换被测物件的方位，然后转动转柄2,转柄2带动螺纹杆16转动，通过螺纹杆16与第二内螺纹25配合，使第一滑块24左右移动，第一滑块24通过支撑台15带动支撑块17左右移动，即被测物件左右移动进行对焦，该装置可以使被测物件多方位进行对焦，在测试过程中方便调节。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种光学测试平台试件位置调节装置，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）上端左右两侧均连接有支撑板（3），支撑板（3）中部内侧开设有光学检测主机（21），支撑板（3）上端连接有顶板（5），顶板（5）上端中部开设有第二滑槽（26），顶板（5）上端右侧设置有正反电机（10）,正反电机（10）下端连接有第二滑块（27），正反电机（10）上端连接有转轴（9），转轴（9）上端连接有齿轮（8），底座（1）上端中部滑动连接有支撑台（15）,支撑台（15）内侧上端设置有第一套筒（19）,第一套筒（19）中部转动连接有第一转杆（6），第一转杆（6）穿过第二滑槽（26），第一转杆（6）下侧开设有外螺纹（14），第一转杆（6）上端开设有齿槽（7），第一转杆（6）上端连接有第二连接块（28），第二连接块（28）位于齿槽（7）下侧，第二连接块（28）左侧开设有第二套筒（29），第一转杆（6）位于第二套筒（29）之中，第二连接块（28）右端与正反电机（10）相连接，齿槽（7）位于顶板（5）上端，齿槽（7）与齿轮（8）相配合。

2.根据权利要求1所述的一种光学测试平台试件位置调节装置，其特征在于，所述第一转杆（6）中部连接有支撑块（17）,支撑块（17）中部开设有第一内螺纹（18），第一内螺纹（18）与外螺纹（14）相配合。

3.根据权利要求2所述的一种光学测试平台试件位置调节装置，其特征在于，所述第一内螺纹（18）前端连接有连杆（23）,连杆（23）前端连接有第一连接块（22）,第一连接块（22）前端连接有夹爪（4），夹爪（4）与光学检测主机（21）相对应。

4.根据权利要求3所述的一种光学测试平台试件位置调节装置，其特征在于，所述夹爪（4）上端设置有螺栓（11）,夹爪（4）下端设置有第二转杆（13）,第二转杆（13）上端连接有转板（12）。

5.根据权利要求1所述的一种光学测试平台试件位置调节装置，其特征在于，所述底座（1）上端开设有滑槽（20）,支撑台（15）下端连接有第一滑块（24）,第一滑块（24）位于滑槽（20）之中。

6.根据权利要求5所述的一种光学测试平台试件位置调节装置，其特征在于，所述第一滑块（24）内侧开设有第二内螺纹（25）,第二内螺纹（25）转动连接有螺纹杆（16）,螺纹杆（16）左端连接有转柄（2），转柄（2）位于底座（1）左侧。

Images