CN213302429U - 线材测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种线材测试装置。该线材测试装置包括:主控模块,所述主控模块用于对目标端口类型的待测试线材进行测试,所述目标端口类型为多种端口类型中的至少一种;与所述目标端口类型匹配的至少一种连接组件,所述连接组件用于可拆卸地连接所述主控模块和所述待测试线材。该线材测试装置可以减少线材测试装置的尺寸。
Description
技术领域
本发明涉及生产测试技术领域,特别是涉及一种线材测试装置。
背景技术
随着电子技术的高速发展,电子产品的功能越来越完善,产品端口越来越多,产品支持及配套的线材也随之增加,电子产品在制造过程中,对随机附带的成品线材都需要做测试。
目前的线材测试装置主要分为两种:一种为编程式的多功能线材测试仪,虽功能齐全,但整体价格及配件昂贵,需要技术人员进行设定后,操作人员才能进行作业。另外一种为普通的非编程式多端口线材测试装置。这种多端口测试装置将涉及到的多种线材端口集成在一个测试装置上,从而满足对不同端口类型的线材进行测试,不需要技术人员参与,普通操作人员可直接进行作业。
然而,对于多端口线材测试装置来说,端口类型越丰富,集成在测试装置的端口越多,测试装置的尺寸越大。
发明内容
基于此,有必要提供一种可以缩小尺寸的线材测试装置。
一种线材测试装置,包括:
主控模块,所述主控模块用于对目标端口类型的待测试线材进行测试,所述目标端口类型为多种端口类型中的至少一种;
与所述目标端口类型匹配的至少一种连接组件,所述连接组件用于可拆卸地连接所述主控模块和所述待测试线材。
在其中一个实施例中,所述待测试线材包括第一端和第二端;
所述连接组件包括第一连接器和第二连接器,所述第一连接器用于可拆卸地连接所述主控模块的输出端口和所述待测试线材的第一端,所述第二连接器用于可拆卸地连接所述主控模块的输入端口和所述待测试线材的第二端。
在其中一个实施例中,所述第一连接器包括:
第一端口,所述第一端口用于可拆卸地与所述主控模块的输出端口连接;
第二端口,所述第二端口用于可拆卸地与所述待测试线材的第一端连接,所述第二端口和所述第一端口相背设置;
所述第二连接器包括:
第三端口,所述第三端口用于可拆卸地与所述主控模块的输入端口连接;
第四端口,所述第四端口用于可拆卸地与所述待测试线材的第二端连接,所述第三端口和所述第四端口相背设置。
在其中一个实施例中,所述第一连接器的第一端口的线束排布与所述主控模块的输出端口的线束排布对应,所述第二连接器的第二端的线束排布与所述待测试线材的第一端的线束排布对应;
所述第二连接器的第三端口的线束排布与所述主控模块的输入端口的线束排布对应,所述第二连接器的第四端口的线束排布与所述待测试线材的第二端的线束排布对应。
在其中一个实施例中,所述主控模块包括:
触发单元,所述触发单元用于在检测到用户点击测试按钮时生成触发测试待测试线材的触发信号;
主控单元,所述主控单元的输入端与所述触发单元电连接,用于接收所述触发信号,并基于所述触发信号生成测试激活信号;
测试电路,所述测试电路与所述主控单元的输出端电连接,用于接收所述测试激活信号并基于所述测试激活信号生成测试信号,所述测试信号用于测试所述待测试线材,以得到映射所述待测试线材的规格参数的结果信号。
在其中一个实施例中,所述测试电路包括:
第一测试单元,所述第一测试单元的输入端与所述主控单元的输出端电连接,所述第一测试单元的输出端与所述连接组件的第一连接器连接,所述第一测试单元用于接收所述测试激活信号,并基于所述测试激活信号生成测试信号发送至所述第一连接器,以通过所述第一连接器将所述测试信号传输至所述待测试线材;
第二测试单元,所述第二测试单元的输入端与所述连接组件的第二连接器连接,所述第二测试单元的输出端与所述主控单元的输入端电连接,所述第二测试单元用于通过所述第二连接器接收所述待测试线材基于所述测试信号得到的所述结果信号,并将所述结果信号发送给所述主控单元。
在其中一个实施例中,所述待测试线材包括对比线材和参考线材的至少一个;
当所述待测试线材包括对比线材时,所述连接组件包括对比连接组件,所述对比连接组件用于连接所述对比线材和所述主控模块,所述测试电路包括对比测试电路,所述对比测试电路用于将所述测试信号发送给所述对比线材,并接收所述对比线材基于所述测试信号得到的对比结果信号;
当所述待测试线材包括参考线材时,所述参考线材包括参考连接组件,所述参考连接组件用于连接所述参考线材和所述主控模块,所述测试电路包括参考测试电路,所述参考测试电路用于将所述测试信号发送给所述参考线材,并接收所述参考线材基于所述测试信号得到的参考结果信号,所述参考结果信号作为确定所述对比线材的规格参数是否合格的基准。
在其中一个实施例中,所述规格参数包括所述对比线材的线束排布状态。
在其中一个实施例中,所述参考线材为确定合格或不合格的线材。
在其中一个实施例中,当所述待测试线材包括对比线材和参考线材时,所述主控单元用于接收所述对比结果信号和参考结果信号,以确定所述对比线材的规格参数是否合格。
上述线材测试装置,由于连接主控模块和待测试线材的连接组件是可拆卸的,则在需要从第一端口类型的待测试线材切换至第二端口类型的待测试线材进行测试时,只需要将与第一端口类型匹配的连接组件拆卸下来,安装上与第二端口类型匹配的连接组件,就可以测试第二端口类型的待测试线材,不需要在测试装置上集成所有端口类型的端口,实现减少线材测试装置的尺寸。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案,下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一实施例提供的一种线材测试装置的结构示意图;
图2为一实施例提供的另一种线材测试装置的结构示意图;
图3为一实施例提供的另一种线材测试装置的结构示意图;
图4为一实施例提供的另一种线材测试装置的结构示意图。
附图标记说明:主控模块110,触发单元111,主控单元112,测试电路113,第一测试单元1131,第二测试单元1132,第一对比测试单元1131A,第二比对测试单元1132A,第一参考测试单元1131B,第二参考测试单元1132B,连接组件120,对比连接组件120A,第一对比连接器121A,第二对比连接器122A,第一参考连接器121B,第二参考连接器122B,参考连接组件120B,待测试线材 130,第一端131,第二端132,对比线材130A,参考线材130B。
具体实施方式
为了便于理解本申请,下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的实施例。但是,本申请可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请。
可以理解,本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件,但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说,在不脱离本申请的范围的情况下,可以将第一电阻称为第二电阻,且类似地,可将第二电阻称为第一电阻。第一电阻和第二电阻两者都是电阻,但其不是同一电阻。
可以理解,以下实施例中的“连接”,如果被连接的电路、模块、单元等相互之间具有电信号或数据的传递,则应理解为“电连接”、“通信连接”等。
在此使用时,单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式,除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是,术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在,但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。同时,在本说明书中使用的术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。
参考图1,图1是一实施例提供的一种线材测试装置的结构示意图。如图1 所示,一实施例的线材测试装置包括主控模块110和连接组件120。主控模块 110用于对目标端口类型的待测试线材130进行测试,所述目标端口类型为多种端口类型中的至少一种。其中,连接组件120为与所述目标端口类型匹配的至少一种连接组件120。
在本实施例中,多种端口类型是指待测试线材130用于与其他设备连接的端口的类型不同。本实施的待测试线材130是指用来连接两个或更多有元器件的线材,传输电流或者信号,用于各种家电、测试仪器、设备、电脑及网络设备的内部连接。多种端口类型是指至少有两个不同端口类型。具体的,多种端口类型可以是形状不同的端口,例如“圆形”、“方形”“凸字形”等,则多种端口类型的待测试线材130是指不同端口形状的待测试线材130。目标端口类型为多种端口类型中的至少一种,本实施例的目标端口类型不作具体限定,由实际需要测试的线材决定。连接组件120与目标端口类型匹配,从而与目标端口类型的待测试线材130连接。具体的,连接组件120设置在主控模块110和待测试线材130之间,用于连接主控模块110和待测试线材130形成测试回路,以对待测试线材130进行测试。需要说明的是,不同的连接组件120与主控模块 110连接的一端可以设计为与主控模块110的端口匹配的固定形状,不同连接组件120的另一端可以根据需要设计为与待测试线材130的端口类型匹配的形状,则操作员可以根据待测试线材130的端口类型选择匹配的连接组件120进行连接。需要说明的是,本实施例的待测试线材130可以是对比线材和参考线材的其中至少一个。
其中,对比线材是指未知规格参数是否合格的线材。参考线材是指确定规格参数是否合格的线材,例如参考线材可以是确定规格参数合格的线材,或者是确定规格参数不合格的线材,本实施例不作具体限定。具体的,对对比线材进行测试,可以得到对比线材的判断参数,从而与参考线材的标准参数比对,以确定该对比线材的规格参数是否合格。对参考线材进行测试时,则可以得到参考线材的标准参数,从而作为对比线材判断是否合格的基准。
具体的,操作员在需要对A端口类型的待测试线材130进行测试时,则选择与A端口类型匹配的A连接组件120连接待测试线材130和主控模块110,从而对A端口类型的待测试线材130进行测试。当需要对B端口类型的待测试线材130进行测试时,则将A连接组件120拆卸下来,选择与B端口类型匹配的B 连接组件120装配,从而连接待测试线材130和主控模块110,可以对B端口类型的待测试线材130进行测试。需要说明的是,可拆卸地连接可以是可插拔式的连接,也可以是通过螺纹连接等。可以理解,上述可拆卸的方式还可以采用其他形式,而不限于上述实施例已经提到的形式,只要其能够达到完成配合拆卸的功能即可。
本实施例的线材测试装置通过设置连接组件120可拆卸地连接主控模块110 和待测试线材130进行测试,不需要集成与所有端口类型都匹配的端口,只需要在线材测试装置上集成N个端口,其中1≤N≤M,其中M为所有端口类型的数量,操作员只需要拆卸连接与目标端口类型匹配的连接组件120,以连接主控模块110和与目标端口类型对应的待测试线材130,可以满足对所有端口类型的待测试线材130进行测试。由于本实施例的线材测试装置需要集成的端口数量更少,可以减少线材测试装置的尺寸。此外,随着技术的快速发展,新的端口类型也随之出现。而本实施例的线材测试装置,由于连接组件120可拆卸地连接主控模块110和待测试线材130,则在有新的端口类型出现时,只需要设计与新的端口类型匹配的连接组件120,不需要对线材测试装置进行修改或更新,即可对新的端口类型的待测试线材130进行测试,大大提高了线材测试装置的兼容性。
参考图2,图2是一实施例提供的另一种线材测试装置的结构示意图。如图 2所示,待测试线材130包括第一端131和第二端132,连接组件120包括第一连接器121和第二连接器122。其中,所述第一连接器121用于可拆卸地连接所述主控模块110的输出端口和所述待测试线材130的第一端131,所述第二连接器122用于可拆卸地连接所述主控模块110的输入端口和所述待测试线材130 的第二端132。
在本实施例中,测试的是一整条线材,例如网线等。
在一个实施例中,第一连接器121包括第一端口和第二端口。第一端口用于可拆卸地与所述主控模块110的输出端口连接,第二端口用于可拆卸地与所述待测试线材130的第一端131连接,所述第二端口和所述第一端口相背设置。第二连接器122包括第三端口和第四端口。第三端口用于可拆卸地与所述主控模块110的输入端口连接;第四端口用于可拆卸地与所述待测试线材130的第二端132连接,所述第三端口和所述第四端口相背设置。
可以理解的是,为了能够更好的实现可拆卸,第一端口和主控模块110的输出端口匹配可以通过间隙连接。同理,第二端口、第三端口和第四端口与其连接的端口都可以通过间隙连接,不作过多赘述。
在一个实施例中,第一连接器121的第一端口的线束排布与所述主控模块 110的输出端口的线束排布对应,所述第二连接器122的第二端132的线束排布与所述待测试线材130的第一端131的线束排布对应;所述第二连接器122的第三端口的线束排布与所述主控模块110的输入端口的线束排布对应,所述第二连接器122的第四端口的线束排布与所述待测试线材130的第二端132的线束排布对应。
可以理解的是,通过线束排布的相互对应,则对应的测试电位点能够正常连接,因此可以正确测试待测试线材130的规格参数。
参考图3,图3是一实施例提供的另一种线材测试装置的结构示意图。如图 3所示,本实施例的主控模块110包括主控模块110、主控单元112和测试电路 113。触发单元111用于在检测到用户点击测试按钮时生成用于触发测试待测试线材130的触发信号;主控单元112的输入端与所述触发单元111电连接,用于接收所述触发信号,并基于所述触发信号生成测试激活信号;测试电路113 与所述主控单元112的输出端电连接,用于接收所述测试激活信号并基于所述测试激活信号生成测试信号,所述测试信号用于测试所述待测试线材130,以得到映射所述待测试线材130的规格参数的结果信号。
具体的,当操作员使用连接组件120将主控模块110和待测试线材130后,点击触发单元111时,触发单元111检测到被点击后生成触发信号,并将触发信号发送至主控单元112。主控单元112接收到触发信号后,生成测试激活信号,并将测试激活信号发送给测试电路113。测试电路113接收到测试激活信号后,生成一个测试信号(低电平0),并通过第一连接器121将测试信号发送给待测试线材130,测试信号经过待测试线材130后得到一个可以与参考信号比对以确定待测试线材130的规格参数的结果信号。
在一个实施例中,测试电路113包括第一测试单元1131和第二测试单元 1132。所述第一测试单元1131的输入端与所述主控单元112的输出端电连接,所述第一测试单元1131的输出端与所述连接组件120的第一连接器121连接,所述第一测试单元1131用于接收所述测试激活信号,并基于所述测试激活信号生成测试信号发送至所述第一连接器121,以通过所述第一连接器121将所述测试信号传输至所述待测试线材130。所述第二测试单元1132的输入端与所述连接组件120的第二连接器122连接,所述第二测试单元1132的输出端与所述主控单元112的输入端电连接,所述第二测试单元1132用于通过所述第二连接器122接收所述待测试线材130基于所述测试信号得到的所述结果信号,并将所述结果信号发送给所述主控单元112。
具体的,测试电路113在接收到测试激活信号后,第一测试单元1131生成测试信号,测试信号经过第一连接器121传输至待测试线材130。待测试线材 130接收到测试信号后,输出一个结果信号,通过第二连接器122返回至第二测试单元1132,第二测试单元1132将结果信号发送给主控单元112,则主控单元 112可以直接进行比对或者在现实界面上显示,供操作员操作,此处不作限定。在本实施例中,可选的,第一测试单元1131和第二测试单元1132为PCA9535PW 芯片。PCA9535PW芯片是24引脚CMOS器件,为I2 C总线/SMBus应用提供16位通用并行输入/输出(GPIO)扩展,是为增强NXP Semiconductors的I2 C总线I/O 扩展器系列而开发的。
参考图4,图4是一实施例提供的一种线材测试装置的结构示意图。本实施例的线材测试装置同时测试对比线材130A和参考线材130B。其中,连接组件 120包括对比连接组件120A和参考连接组件120B,对比连接组件120A包括第一对比连接器121A和第二对比连接器122A,参考连接组件120B包括第一参考连接器121B和第二参考连接器122B,测试电路113包括对比测试电路113和参考测试电路113。对比测试电路113包括第一对比测试单元1131A和第二对比测试单元1132A。参考测试电路113包括第一参考测试单元1131B和第二参考测试单元1132B。其中,对比连接组件120A用于连接所述对比线材130A和所述主控模块110,对比测试电路113用于将所述测试信号发送给所述对比线材130A,并接收所述对比线材130A基于所述测试信号得到的对比结果信号。参考连接组件120B用于连接所述参考线材130B和所述主控模块110,参考测试电路113用于将所述测试信号发送给所述参考线材130B,并接收所述参考线材130B基于所述测试信号得到的参考结果信号,所述参考结果信号作为确定所述对比线材 130A的规格参数是否合格的基准。
具体的,操作员在分别安装好对比线材130A和参考线材130B后,点击测试按钮,则触发单元111生成一个触发信号给主控单元112。主控单元112在接收到触发信号后,生成测试激活信号分别发送给对比测试电路113和参考测试电路113。此时对比测试电路113的第一对比测试单元1131A和参考测试电路 113的第一参考测试单元1131B均生成测试信号,并分别通过第一对比连接器 121A传输至对比线材130A和通过第一参考连接器121B传输至参考线材130B。测试信号经过对比线材130A后得到对比结果信号,对比结果信号通过第二对比连接器122A返回至对比测试电路113的第二对比测试单元1132A,第二对比测试单元1132A则将对比结果信号返回至主控单元112。同理,测试信号发送通过第一参考连接器121B传输至参考线材130B后,得到参考结果信号,参考结果信号经过第二参考连接器122B和第二参考测试单元1132B返回至主控单元112。可选的,主控单元112可以将对比结果信号和参考结果信号在显示界面进行显示,以供操作员判断该对比线材130A的规格参数是否合格;还可以是主控单元 112接收对比结果信号和参考结果信号,并直接比对对比结果信号和参考结果信号,从而直接确定对比线材130A的规格参数是否合格,若合格,则通过与主控单元112连接的提示灯进行提示。可选的,可以在主控单元112上集成一个比较器,用来比较对比结果信号和参考结果信号的大小。对比结果信号和参考结果信号的差值小于预设阈值时,生成提示信号并发送至提示灯进行提示。
其中,比较器电路具有进行比较正相输入端Vin(+)和反相输入端Vin(-) 的电压的功能。当正相输入端Vin(+)的电压大于反相输入端Vin(-)的电压时,输出端Vout输出高电平。当反相输入端Vin(-)的电压大于正相输入端 Vin(+)的电压时,输出端Vout输出低电平。
具体的,本实施例中的规格参数包括对比线材130A的线束排布状态。当线材的规格参数不合格时,则对比线材130A的线束排布状态不正常,即对比线材 130A在生产过程中因为某些原因导致线束缺漏、排布错误等导致对比线材130A 不合格,无法实现既定的功能。
需要说明的是,参考线材130B可以是确定合格的线材,也可以是确定为不合格的线材。具体的,当参考线材130B为确定合格的线材,则对比结果信号和参考结果信号一致时,对比线材130A为合格品;不一致时,对比线材130A为非合格品。当参考线材130B为确定不合格的线材时,则对比结果信号和参考结果信号不一致时,对比线材130A为合格品。可以理解的是,为了提高判断的准确度,参考线材130B为确定合格的线材。
在本说明书的描述中,参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种线材测试装置,其特征在于,包括:
主控模块,用于对目标端口类型的待测试线材进行测试,所述目标端口类型为多种端口类型中的至少一种;
至少一连接组件,所述连接组件用于可拆卸地连接所述主控模块和所述待测试线材,其中,所述连接组件与所述目标端口类型匹配。
2.如权利要求1所述的线材测试装置,其特征在于,所述待测试线材包括第一端和第二端;
所述连接组件包括第一连接器和第二连接器,所述第一连接器用于可拆卸地连接所述主控模块的输出端口和所述待测试线材的第一端,所述第二连接器用于可拆卸地连接所述主控模块的输入端口和所述待测试线材的第二端。
3.如权利要求2所述的线材测试装置,其特征在于,所述第一连接器包括:
第一端口,用于可拆卸地与所述主控模块的输出端口连接;
第二端口,用于可拆卸地与所述待测试线材的第一端连接,所述第二端口和所述第一端口相背设置;
所述第二连接器包括:
第三端口,用于可拆卸地与所述主控模块的输入端口连接;
第四端口,用于可拆卸地与所述待测试线材的第二端连接,所述第三端口和所述第四端口相背设置。
4.如权利要求3所述的线材测试装置,其特征在于,所述第一连接器的第一端口的线束排布与所述主控模块的输出端口的线束排布对应,所述第二连接器的第二端的线束排布与所述待测试线材的第一端的线束排布对应;
所述第二连接器的第三端口的线束排布与所述主控模块的输入端口的线束排布对应,所述第二连接器的第四端口的线束排布与所述待测试线材的第二端的线束排布对应。
5.如权利要求2-4任一项所述的线材测试装置,其特征在于,所述主控模块包括:
触发单元,用于在检测到用户的触发操作时生成触发测试待测试线材的触发信号;
主控单元,所述主控单元的输入端与所述触发单元电连接,用于接收所述触发信号,并基于所述触发信号生成测试激活信号;
测试电路,所述测试电路与所述主控单元的输出端电连接,用于接收所述测试激活信号并基于所述测试激活信号生成测试信号,所述测试信号用于测试所述待测试线材,以得到映射所述待测试线材的规格参数的结果信号。
6.如权利要求5所述的线材测试装置,其特征在于,所述测试电路包括:
第一测试单元,所述第一测试单元的输入端与所述主控单元的输出端电连接,所述第一测试单元的输出端与所述连接组件的第一连接器连接,所述第一测试单元用于接收所述测试激活信号,并基于所述测试激活信号生成测试信号发送至所述第一连接器,以通过所述第一连接器将所述测试信号传输至所述待测试线材;
第二测试单元,所述第二测试单元的输入端与所述连接组件的第二连接器连接,所述第二测试单元的输出端与所述主控单元的输入端电连接,所述第二测试单元用于通过所述第二连接器接收所述待测试线材基于所述测试信号得到的所述结果信号,并将所述结果信号发送给所述主控单元。
7.如权利要求5所述的线材测试装置,其特征在于,所述待测试线材包括对比线材和参考线材的至少一个;
当所述待测试线材包括对比线材时,所述连接组件包括对比连接组件,所述对比连接组件用于连接所述对比线材和所述主控模块,所述测试电路包括对比测试电路,所述对比测试电路用于将所述测试信号发送给所述对比线材,并接收所述对比线材基于所述测试信号得到的对比结果信号;
当所述待测试线材包括参考线材时,所述连接组件包括参考连接组件,所述参考连接组件用于连接所述参考线材和所述主控模块,所述测试电路包括参考测试电路,所述参考测试电路用于将所述测试信号发送给所述参考线材,并接收所述参考线材基于所述测试信号得到的参考结果信号,所述参考结果信号作为确定所述对比线材的规格参数是否合格的基准。
8.如权利要求7所述的线材测试装置,其特征在于,所述规格参数包括所述对比线材的线束排布状态。
9.如权利要求7所述的线材测试装置,其特征在于,所述参考线材为确定合格或不合格的线材。
10.如权利要求7所述的线材测试装置,其特征在于,当所述待测试线材包括对比线材和参考线材时,所述连接组件包括对比连接组件和参考连接组件;所述主控模块还用于接收所述对比结果信号和参考结果信号,以确定所述对比线材的规格参数是否合格。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113484735A (zh) * | 2021-07-30 | 2021-10-08 | 锐石创芯(深圳)科技有限公司 | 芯片测试选通模块及芯片测试*** |
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2020
- 2020-08-04 CN CN202021601029.2U patent/CN213302429U/zh active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113484735A (zh) * | 2021-07-30 | 2021-10-08 | 锐石创芯(深圳)科技有限公司 | 芯片测试选通模块及芯片测试*** |
CN113484735B (zh) * | 2021-07-30 | 2022-11-08 | 锐石创芯(深圳)科技股份有限公司 | 芯片测试选通模块及芯片测试*** |
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GR01 | Patent grant | ||
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