CN213211655U - 显示屏组件及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种显示屏组件及电子设备。显示屏组件包括显示面板、驱动芯片、第一测试单元、第一检测单元及第一计算单元。驱动芯片与显示面板通过多个第一绑定点绑定以驱动显示面板工作，驱动芯片包括第一、第二测试引脚，第一测试引脚的一端电连接第二测试引脚的一端，且第一测试引脚另一端通过一个第一绑定点、另一个第一绑定点电连接第二测试引脚的另一端。第一测试单元与所述一个第一绑定点电连接，用于提供第一测试电压及第一测试电流。第一检测单元检测第二测试引脚的电压值以得到第一电压。第一计算单元根据第一测试电压、第一电压及第一测试电流得到第一绑定点的第一电阻值。本申请提供的每个显示屏组件均可检测第一绑定点的第一电阻值。
Description
技术领域
本申请涉及申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种显示屏组件及电子设备。
背景技术
手机、电脑、电视等电子设备通常包括显示面板、以及驱动所述显示面板工作的驱动芯片。所述驱动芯片通常绑定(bonding)在所述显示面板上。所述驱动芯片与所述显示面板绑定处存在接触电阻，接触电阻的大小往往会影响到驱动芯片传输至所述显示面板的信号传输。较小的接触电阻对驱动芯片传输至所述显示面板的信号影响较小，所述显示面板在驱动芯片传输过来的信号的驱动下的显示效果较佳。较大的接触电阻对驱动芯片传输至显示面板的信号影响较大，所述显示面板在所述驱动芯片传输过来的信号的驱动下的显示效果较差。较大的接触电阻甚至会导致显示面板出现花屏、黑屏等问题。因此，需要对驱动芯片与所述显示面板的之间绑定处的接触电阻进行检测。当对所述驱动芯片与所述显示面板之间绑定处的接触电阻进行检测时，通常使用外接万用表的方式对显示面板进行抽样检测。然，该方案并不能检测到所有的电子设备，且无法检测到显示面板及所述驱动芯片出货后或者电子设备使用过程中的接触电阻的变化情况。
实用新型内容
本申请提供了一种显示屏组件，所述显示屏组件包括：
显示面板；
驱动芯片，与所述显示面板通过多个第一绑定点绑定，且所述驱动芯片用于驱动所述显示面板工作，所述驱动芯片包括第一测试引脚及第二测试引脚，所述第一测试引脚的一端电连接所述第二测试引脚的一端，且所述第一测试引脚的另一端通过其中一个第一绑定点、另一个第一绑定点电连接所述第二测试引脚的另一端；
第一测试单元，所述第一测试单元与其中一个第一绑定点电连接，用于提供第一测试电压及第一测试电流；
第一检测单元，所述第一检测单元用于检测所述第二测试引脚的电压值，以得到第一电压；以及
第一计算单元，所述第一计算单元根据所述第一测试电压、第一电压以及第一测试电流得到所述第一绑定点的第一电阻值。
本申请还提供了一种电子设备，所述电子设备包括前面所述的显示屏组件。
本申请的显示屏组件通过配置驱动芯片、第一测试单元、第一检测单元、及第一测试引脚、第二测试引脚及两个第一绑定点的电连接关系即可实对所述第一绑定点的第一电阻值的计算。换而言之，每个显示屏组件均可实现对第一绑定点的第一电阻值的计算，且具有较高的检测效率。即便显示屏组件出货后或者所述显示屏组件所应用的电子设备在使用的过程中依然可以检测到所述第一绑定点的第一电阻值。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请一实施方式提供的电子设备的示意图。
图2为本申请一实施方式提供的显示屏组件的示意图。
图3为图2中所述的显示屏组件的电路结构示意图。
图4为本申请又一实施方式提供的显示屏组件的示意图。
图5为图4中所述的显示屏组件的电路结构示意图。
图6为本申请一实施方式提供的驱动芯片的结构示意图。
图7为图6中驱动芯片的电路框图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本文中提及“实施例”或“实施方式”意味着，结合实施例或实施方式描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
请参阅图1，图1为本申请一实施方式提供的电子设备的示意图。所述电子设备1可以为但不仅限于手机、电脑、电视等包括显示屏组件10的设备。所述电子设备1包括显示屏组件10、中框30、及壳体50。所述显示屏组件10设置于所述中框30的一侧，且承载于所述中框30。所述壳体50设置于所述中框30的另一侧，且用于收容及固定所述显示屏组件10及所述中框30。
所述显示屏组件10为所述电子设备1中实现显示功能的设备，比如，可以显示文字、图像、播放视频等。所述显示屏组件10的具体结构稍后详细介绍。所述中框30的材质通常为金属，比如，铝镁合金，所述中框30构成所述电子设备1中的地极。所述壳体50的材质可以为金属，也可以为非金属，在此不做限定。接下来对本申请提供的显示屏组件10进行详细介绍。可以理解地，前面所描述的电子设备1中除了显示屏组件10之外的其他部件以及显示屏组件10与其他部件之间的位置关系及连接关系的介绍仅仅是为了对显示屏组件10一种可能的应用方式进行了解，并不构成对本申请提供的显示屏组件10的限定。
请一并参阅图2及图3，图2为本申请一实施方式提供的显示屏组件的示意图；图3为图2中所述的显示屏组件的电路结构示意图。所述显示屏组件10包括显示面板110、驱动芯片120、第一测试单元130、第一检测单元140及第一计算单元150。所述驱动芯片120与所述显示面板110通过多个第一绑定点123绑定，且所述驱动芯片120用于驱动所述显示面板110工作。所述驱动芯片120包括第一测试引脚121及第二测试引脚122。所述第一测试引脚121的一端电连接所述第二测试引脚122的一端，且所述第一测试引脚121的另一端通过其中一个第一绑定点123、另一个第一绑定点123电连接所述第二测试引脚122的另一端。所述第一测试单元130与其中一个第一绑定点123电连接，用于提供第一测试电压及第一测试电流。所述第一检测单元140用于检测所述第二测试引脚122的电压值，以得到第一电压。所述第一计算单元150根据所述第一测试电压、第一电压以及第一测试电流得到所述第一绑定点123的第一电阻值。
所述显示面板110可以是液晶显示面板110也可以是有机发光二极管显示面板。所述驱动芯片120用于驱动所述显示面板110工作，举例而言，所述驱动芯片120用于产生扫描信号及数据信号等信号，并将所述扫描信号及所述数据信号通过多个输出引脚126(参阅图6)传输至所述显示面板110，以驱动所述显示面板110工作。所述驱动芯片120通过绑定(bonding)工艺压合到显示面板110上，比如，驱动芯片120通过玻璃上芯片技术(Chip onGlass,COG)技术压合到所述显示面板110上。
所述第一测试引脚121、其中一个第一绑定点123、另一个第一绑定点123定及所述第二测试引脚122形成串联回路。在所述串联回路中各处的电流值相等，即均等于第一测试电流。所述第一测试电压经由其中的一个第一绑定点123加入，流至所述第二测试引脚122时，由于所述驱动芯片120与所述显示面板110绑定时具有接触电阻，即所述第一绑定点123具有电阻，因此，所述第一电压小于所述第一测试电压。所述第一测试电压与所述第一电压之间的差值可视为整个回路所消耗的电压值。对于第一绑定点123的电阻值的计算，请参照如下公式：
RCoG＝(Rtotal-R0)/2 (公式1)
其中，RCoG为第一绑定点123的第一电阻值；R0为第一回路中电连接第一测试引脚121及一个第一绑定点123的线路的电阻R01加上第二测试引脚122与另一个第一绑定点123的电阻R02之和(即，R0＝R01+R02)，其中，R0为已知数；Rtotal为整个回路的电阻值。由于电连接所述第一测试引脚121与一个第一绑定点123的线路为显示面板110上的线路，电连接第二测试引脚122与另外一个第一绑定点123的线路也为显示面板110上的线路，因此，R0也称为显示面板110上的线路的阻抗。
而对于Rtotal计算公式如下：
Rtotal＝(U11-U12)/I1 (公式2)
其中，U11为第一测试电压，U12为第一电压，I1为第一测试电流。
由上述描述可见，本申请的显示屏组件10通过配置驱动芯片120、第一测试单元130、第一检测单元140、及第一测试引脚121、第二测试引脚122及两个第一绑定点123的电连接关系即可实对所述第一绑定点123的第一电阻值的计算。换而言之，每个显示屏组件10均可实现对第一绑定点123的第一电阻值的计算。即便显示屏组件10出货后或者所述显示屏组件10所应用的电子设备1在使用的过程中依然可以检测到所述第一绑定点123的第一电阻值。
需要说明的是，在前面描述中，所述驱动芯片120还通过所述多个第一绑定点123中的部分第一绑定点123将信号输出至所述显示面板110，以驱动所述显示面板110工作。
需要说明的是，本申请提供的显示屏组件10通过配置显示面板110、驱动芯片120、第一测试单元130、第一检测单元140、及第一计算单元150的连接关系以达到检测到所述第一绑定点123的第一电阻值的效果，本申请并未对所述显示屏组件10中的显示面板110、驱动芯片120、第一测试单元130、第一检测单元140、及第一计算单元150中的任意一个部件做软件算法的改进，不应当理解为不符合专利法对实用新型保护客体的要求。
请再次参阅图2，在本实施方式中，所述显示面板110具有显示区1111及非显示区1112，所述非显示区1112围设在所述显示区1111的周缘，所述非显示区1112具有第一绑定区1113，所述第一测试引脚121及所述第二测试引脚122均位于所述第一绑定区1113。
所谓显示区1111，是指具有显示功能的区域，所述显示区1111为所述显示面板110中可显示图像、文字、视频的区域。所谓非显示区1112，是指不具有显示功能的区域。所述非显示区1112通常设置在所述显示区1111的周缘。
在本实施方式中，所述第一测试引脚121及所述第二测试引脚122均设置于所述非显示区1112内的第一绑定区1113而不占用显示区1111的面积，从而不影响所述显示面板110显示区1111的显示。
请进一步参阅图3，在本实施方式中，所述第一测试引脚121的数目为两个，所述第二测试引脚122的数目为两个。其中一个第一测试引脚121及其中一个第二测试引脚122形成第一测试组1201，另外一个第一测试引脚121及另外一个第二测试引脚122形成第二测试组1202，所述第一测试组1201及所述第二测试组1202间隔设置。
在本实施方式中，所述第一测试组1201及所述第二测试组1202可对不同位置的第一绑定点123的第一电阻值进行测量，以便得到不同位置处的第一绑定点123的第一电阻值。
可选地，所述第一测试组1201设置于所述驱动芯片120用于输出扫描信号及数据信号的所述多个输出引脚126的一侧，所述第二测试组1202设置于所述多个输出引脚126的另一侧。换而言之，所述第一测试组1201及所述第二测试组1202设置于所述多个输出引脚126相背的两侧。所述第一测试组1201及所述第二测试组1202的上述位置设置可使得所述第一测试组1201及所述第二测试组1202测量到最边缘的输出引脚126的第一绑定点123的第一电阻值。所述第一测试组1201及所述第二测试组1202的位置设置可方便所述第一测试引脚121及所述第二测试引脚122的排布与设置。可以理解地，在其他实施方式中，所述第一测试组1201和所述第二测试组1202也可对应所述多个输出引脚126的其他位置设置，只要满足所述第一测试组1201及所述第二测试组1202间隔设置，且所述第一测试组1201中的第一测试引脚121电连接一个绑定点，第二测试引脚122电连接另一个第一绑定点123即可；同样地，只要第二测试组1202中的第一测试引脚121电连接一个第一绑定点123，第二测试引脚122电连接另一个第一绑定点123即可。
在本实施方式中，所述第一测试组1201及所述第二测试组1202对称设置。所述第一测试组1201及所述第二测试组1202对称设置，可方便对所述第一测试组1201及所述第二测试组1202进行安装。可以理解地，在其他实施方式中，所述第一测试组1201及所述第二测试组1202也可以不对称设置，只要满足第一测试组1201及所述第二测试组1202间隔设置即可。
请一并参阅图4及图5，图4为本申请又一实施方式提供的显示屏组件的示意图；图5为图4中所述的显示屏组件的电路结构示意图。在本实施方式中，所述显示屏组件10还包括柔性电路板190、第二测试单元160、第二检测单元170及第二计算单元180。所述显示屏组件10包括柔性电路板190、第二测试单元160、第二检测单元170及第二计算单元180可结合到前面任意实施方式中提供的显示屏组件10中。在本实施方式中的示意图中仅以所述显示屏组件10包括柔性电路板190、第二测试单元160、第二检测单元170及第二计算单元180结合到前面示意的实施方式中为例进行示意。所述柔性电路板190用于产生原始信号，并将所述原始信号传输至所述驱动芯片120，所述驱动芯片120根据所述原始信号产生所述驱动信号。所述柔性电路板190上还设置有间隔的第三测试引脚191及第四测试引脚192。所述柔性电路板190与所述显示面板110通过多个第二绑定点193绑定。所述第三测试引脚191的一端电连接所述第四测试引脚192的一端，所述第三测试引脚191的另一端还依次电连接一个第二绑定点193、一个第一绑定点123、另一个第一绑定点123、另一个第二绑定点193至所述第四测试引脚192的另一端。所述第二测试单元160与一个所述第二绑定点193电连接，用于提供第二测试电压及第二测试电流。所述第二检测单元170用于检测所述第四测试引脚192的电压值，以得到第二电压。所述第二计算单元180根据所述第二测试电压、所述第二测试电流、所述第二电压、第一电阻值得到所述第二绑定点193的第二电阻值。
所述第三测试引脚191、一个第二绑定点193、一个第一绑定点123、另一个第一绑定点123、另一个第二绑定点193及第四测试引脚192形成串联回路。所述串联回路中各处的电流值相等，即均等于第二测试电流。由于所述驱动芯片120与所述显示面板110绑定时均具有第一电阻值，所述柔性电路板190与所述显示面板110绑定时均具有第二电阻值，因此，所述第二测试电压经由第三绑定点加入，流经至第四测试引脚192，在第四测试引脚192测得的第二电压必然会小于第二测试电压。
RFOG＝(Rtotal-R0)/2-RCoG (公式3)
其中，RFOG为第二绑定点193的第二电阻值。
由上述描述可见，本申请的显示屏组件10通过配置驱动芯片120、第二测试单元160、第二检测单元170、第三测试引脚191、第四测试引脚192、两个第一绑定点123及两第二绑绑定点个的电连接关系即可实对所述第二绑定点193的第二电阻值的计算。换而言之，每个显示屏组件10均可实现对第二绑定点193的第二电阻值的计算。即便显示屏组件10出货后或者所述显示屏组件10所应用的电子设备1在使用的过程中依然可以检测到所述第二绑定点193的第二电阻值。
需要说明的是，本申请提供的显示屏组件10通过配置显示面板110、驱动芯片120、柔性电路板190、第二测试单元160、第二检测单元170、及第二计算单元180等的连接关系以达到检测到所述第二绑定点193的第二电阻值的效果，本申请并未对所述显示屏组件10中的显示面板110、驱动芯片120、柔性电路板190、第二测试单元160、第二检测单元170、及第二计算单元180中的任意一个部件做软件算法的改进，不应当理解为不符合专利法对实用新型保护客体的要求。
请再次参阅图4，柔性电路板190还具有第二绑定区1114，所述第二绑定区1114与所述第一绑定区1113间隔设置，所述第三测试引脚191及所述第四测试引脚192均位于第二绑定区1114。
在本实施方式中，所述第三测试引脚191及所述第四测试引脚192均设置于第二绑定区1114而不占用显示区1111的面积，从而不影响所述显示面板110显示区1111的显示。
请参阅图5，在本实施方式中，所述第三测试引脚191的数目为两个，所述第四测试引脚192的数目为两个。其中一个第三测试引脚191及其中一个第四测试引脚192形成第三测试组1901，另外一个第三测试引脚191及另外一个第四测试引脚192形成第四测试组1902，所述第三测试组1901及所述第四测试组1902间隔设置。
在本实施方式中，所述第三测试组1901及所述第四测试组1902可对不同位置的第二绑定点193的第二电阻值进行测量，以便得到不同位置处的第二绑定点193的第二电阻值。
可选地，所述第三测试组1901设置于所述驱动芯片120用于输出扫描信号及数据信号的所述多个输出引脚126的一侧，所述第四测试组1902设置于所述输出引脚126的另一侧。换而言之，所述第三测试组1901及所述第四测试组1902设在于所述多个所处引脚的相背的两侧。
所述第三测试组1901及所述第四测试组1902的上述位置设置可使得所述第三测试组1901及所述第四测试组1902测量到最边缘的输出引脚126的第二绑定点的第二电阻值。所述第三测试组1901及所述第四测试组1902的位置设置可方便所述第三测试引脚191及所述第四测试引脚192的排布与设置。可以理解地，在其他实施方式中，所述第三测试组1901和所述第四测试组1902也可对应所述多个输出引脚126的其他位置设置，只要满足所述第三测试组1901及所述第四测试组1902间隔设置，且所述第三测试组1901中的第三测试引脚191电连接一个绑定点，第四测试引脚192电连接另一个第二绑定点193即可；同样地，只要第四测试组1902中的第三测试引脚191电连接一个第二绑定点193，第四测试引脚192电连接另一个第二绑定点193即可。
在本实施方式中，所述第三测试组1901及所述第四测试组1902对称设置。
所述第三测试组1901及所述第四测试组1902对称设置，可方便对所述第三测试组1901及所述第四测试组1902进行安装。可以理解地，在其他实施方式中，所述第三测试组1901及所述第四测试组1902也可以不对称设置，只要满足第三测试组1901及所述第四测试组1902间隔设置即可。
在本实施方式中，所述第一绑定区1113及所述第二绑定区1114均位于所述显示区1111的同一侧。所述第一绑定区1113及所述第二绑定区1114的位于所述显示区1111同一侧12，从而方便对所述第一测试引脚121、第二测试引脚122、第三测试引脚191及第四测试引脚192进行设置。可以理解地，在其他实施方式中，所述第一绑定区1113及所述第二绑定区1114也可以位于所述显示区1111不同侧。
请一并参阅图6及图7，图6为本申请一实施方式提供的驱动芯片的结构示意图；图7为图6中驱动芯片的电路框图。所述驱动芯片120包括驱动单元124及封装壳125，所述驱动单元124设置于所述封装壳125内，所述驱动单元124用于驱动所述显示面板110工作，所述第一测试单元130、所述第一检测单元140、及所述第一计算单元150集成在所述封装壳125内。
所述第一测试单元130、所述第一检测单元140、及所述第一计算单元150集成在所述封装壳125内可有利于提升所述驱动芯片120的集成度。
此外，在其他实施方式中，所述第二测试单元160、所述第二检测单元170及所述第二计算单元180也可集成在所述封装壳125内。
在其他实施方式中，所述第一测试单元130、所述第一检测单元140、及所述第一计算单元150、以及所述第二测试单元160、所述第二检测单元170及所述第二计算单元180均集成在所述封装壳125内。
尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型，这些改进和润饰也视为本申请的保护范围。
Claims (11)
1.一种显示屏组件，其特征在于，所述显示屏组件包括：
显示面板；
驱动芯片，与所述显示面板通过多个第一绑定点绑定，且所述驱动芯片用于驱动所述显示面板工作，所述驱动芯片包括第一测试引脚及第二测试引脚，所述第一测试引脚的一端电连接所述第二测试引脚的一端，且所述第一测试引脚的另一端通过其中一个第一绑定点、另一个第一绑定点电连接所述第二测试引脚的另一端；
第一测试单元，所述第一测试单元与其中一个第一绑定点电连接，用于提供第一测试电压及第一测试电流；
第一检测单元，所述第一检测单元用于检测所述第二测试引脚的电压值，以得到第一电压；以及
第一计算单元，所述第一计算单元根据所述第一测试电压、第一电压以及第一测试电流得到所述第一绑定点的第一电阻值。
2.如权利要求1所述的显示屏组件，其特征在于，所述显示面板具有显示区及非显示区，所述非显示区围设在所述显示区的周缘，所述非显示区具有第一绑定区，所述第一测试引脚及所述第二测试引脚均位于所述第一绑定区。
3.如权利要求2所述的显示屏组件，其特征在于，所述第一测试引脚的数目为两个，所述第二测试引脚的数目为两个，其中一个第一测试引脚及其中一个第二测试引脚形成第一测试组，另外一个第一测试引脚及另外一个第二测试引脚形成第二测试组，所述第一测试组及所述第二测试组间隔设置。
4.如权利要求3所述的显示屏组件，其特征在于，所述第一测试组及所述第二测试组对称设置。
5.如权利要求2-4任意一项所述的显示屏组件，其特征在于，所述显示屏组件还包括柔性电路板、第二测试单元、第二检测单元及第二计算单元，所述柔性电路板上还设置有间隔的第三测试引脚及第四测试引脚，所述柔性电路板与所述显示面板通过多个第二绑定点绑定，所述第三测试引脚的一端电连接所述第四测试引脚的一端，所述第三测试引脚的另一端还依次电连接一个第二绑定点、一个第一绑定点、另一个第一绑定点、另一个第二绑定点至所述第四测试引脚的另一端；
所述第二测试单元与所述一个第二绑定点电连接，用于提供第二测试电压及第二测试电流；
第二检测单元，所述第二检测单元用于检测所述第四测试引脚的电压值，以得到第二电压；
所述第二计算单元，所述第二计算单元根据所述第二测试电压、所述第二测试电流、所述第二电压、第一电阻值得到所述第二绑定点的第二电阻值。
6.如权利要求5所述的显示屏组件，其特征在于，所述柔性电路板还具有第二绑定区，所述第二绑定区与所述第一绑定区间隔设置，所述第三测试引脚及所述第四测试引脚均位于第二绑定区。
7.如权利要求6所述的显示屏组件，其特征在于，所述第三测试引脚的数目为两个，所述第四测试引脚的数目为两个，其中一个第三测试引脚及其中一个第四测试引脚形成第三测试组，另外一个第三测试引脚及另外一个第四测试引脚形成第四测试组，所述第三测试组及所述第四测试组间隔设置。
8.如权利要求7所述的显示屏组件，其特征在于，所述第三测试组及所述第四测试组对称设置。
9.如权利要求6所述的显示屏组件，其特征在于，所述第一绑定区及所述第二绑定区均位于所述显示区的同一侧。
10.如权利要求1所述的显示屏组件，其特征在于，所述驱动芯片包括驱动单元及封装壳，所述驱动单元设置于所述封装壳内，所述驱动单元用于驱动所述显示面板工作，所述第一测试单元、所述第一检测单元、及所述第一计算单元集成在所述封装壳内。
11.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括如权利要求1-10任意一项所述的显示屏组件。
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN113740607A (zh) * | 2021-09-24 | 2021-12-03 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种电阻测试方法及电阻测试装置 |
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2020
- 2020-11-10 CN CN202022592518.2U patent/CN213211655U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113740607A (zh) * | 2021-09-24 | 2021-12-03 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种电阻测试方法及电阻测试装置 |
| CN113740607B (zh) * | 2021-09-24 | 2023-11-28 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种电阻测试方法及电阻测试装置 |
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|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |