CN213022930U - 一种手持式x荧光光谱仪辅测台架装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，包括底座、弹簧、顶块、托块、手持式X荧光光谱仪主体、下滑动座、中滑动座和上滑动座，所述弹簧套设在顶块下侧的轴状部分上，所述顶块下端***底座中的座孔内部，所述弹簧和顶块的上侧部分位于托块中的块顶腔内部，所述托块通过托块螺丝穿过边槽中的通孔进入座螺纹孔内部与底座固定，所述托块中的燕尾条位于手持式X荧光光谱仪主体下端的燕尾槽内部，顶块上端位于圆凹口内部，下滑动座下端的下凸条位于底座中的座滑槽内部，下滑动座通过下螺丝穿过下螺丝槽进入下螺纹孔内部与底座固定。该手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，利于尺寸较小的轴状零件的材质测定，适合普遍推广使用。

Description

一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置

技术领域

本实用新型属于光谱仪检测技术领域，具体涉及一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置。

背景技术

光谱仪是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器，由棱镜或衍射光栅等构成，利用光谱仪可测量物体表面反射的光线。阳光中的七色光是肉眼能分的部分(可见光)，但若通过光谱仪将阳光分解，按波长排列，可见光只占光谱中很小的范围，其余都是肉眼无法分辨的光谱，如红外线、微波、紫外线、X射线等等。通过光谱仪对光信息的抓取、以照相底片显影，或电脑化自动显示数值仪器显示和分析，从而测知物品中含有何种元素。这种技术被广泛地应用于空气污染、水污染、食品卫生、金属工业等的检测中。

现有的手持式光谱仪在使用中若要检测尺寸较小的轴状零件时，需要将手持式光谱仪的检测头较为精准的正对着待测零件，允许的摆动误差较小，部分零件测量时的摆动误差甚至小于2毫米，以手持的方式将检测头对着零件保持位置较为困难，因为手持保持固定动作时较为困难，且较为消耗体力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，包括底座、弹簧、顶块、托块、手持式X荧光光谱仪主体、下滑动座、中滑动座和上滑动座，所述弹簧套设在顶块下侧的轴状部分上，所述顶块下端***底座中的座孔内部，所述弹簧和顶块的上侧部分位于托块中的块顶腔内部，所述托块通过托块螺丝穿过边槽中的通孔进入座螺纹孔内部与底座固定，所述托块中的燕尾条位于手持式X荧光光谱仪主体下端的燕尾槽内部，所述顶块上端位于圆凹口内部，下滑动座下端的下凸条位于底座中的座滑槽内部，下滑动座通过下螺丝穿过下螺丝槽进入下螺纹孔内部与底座固定，中滑动座中的中螺丝槽位于下滑动座中的下滑槽内部，所述中滑动座通过中螺丝穿过中螺丝槽进入中螺纹孔内部与下滑动座固定，所述上滑动座下端的上凸条位于中滑动座上端的中滑槽内部，所述上滑动座通过上螺丝穿过上螺丝槽进入上螺丝孔内部与中滑动座固定，所述上滑动座呈板状结构，所述上滑动座下侧设有两条上凸条，两条所述上凸条之间的上滑动座中开有上螺丝槽，所述上滑动座上端面开有截面轮廓呈V形的V槽。

优选的，所述底座的轮廓呈T形，所述下滑动座上侧开有两组相互平行的座滑槽，两组座滑槽之间的底座上开有下螺纹孔，所述底座上远离座滑槽的部分上开有座孔，所述座孔外侧的底座上开有四组呈矩形阵列分布的座螺纹孔。

优选的，所述顶块中部的直径与块顶腔的下侧部分直径对应，所述顶块上侧的直径与块顶腔的上侧部分直径对应，所述顶块的下侧部分直径与座孔的直径对应，所述顶块上端呈半球形，所述手持式X荧光光谱仪主体下端开有燕尾槽，所述燕尾槽内开有呈半圆形的圆凹口，所述圆凹口的轮廓和顶块的上端轮廓对应，所述托块呈矩形块状结构，所述托块外侧开有四组边槽，所述边槽内均开有垂直贯穿托块的通孔，所述托块中开口内设有燕尾条，所述燕尾条内部开有块顶腔。

优选的，所述下滑动座下侧呈水平的板状结构上侧为垂直的板状结构，所述下滑动座下表面设有两条下凸条，两条所述下凸条之间的下滑动座中开有下螺丝槽，所述下滑动座上侧开有两条下滑槽，两组下滑槽之间的下滑动座中开有中螺纹孔。

优选的，所述中滑动座下侧的垂直部分上设有两组中凸条，两组所述中凸条之间的中滑动座中开有中螺丝槽，所述中滑动座上侧的水平部分上开有两条中滑槽，两条中滑槽之间的中滑动座中开有上螺丝孔。

本实用新型的技术效果和优点：该手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，燕尾条和燕尾槽配合，可将手持式X荧光光谱仪主体较为精准的定位，相较于手持的固定方式，此种定位方式更加稳固；通过弹簧推动的顶块可将手持式X荧光光谱仪主体的位置固定，解除时直接将手持式X荧光光谱仪主体抽出即可，连接简单拆除方便，相较于使用螺丝固定的卡箍固定方式提高了易用性，适合普遍推广使用；下滑动座、中滑动座、上滑动座通过螺丝相互连接，可较为精准的调整放置在V槽内的待测零件的位置，从而适应各类不同直径的轴状零件的检测。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的分离状态结构示意图；

图3为本实用新型的托块结构示意图；

图4为本实用新型的托块剖切面结构示意图；

图5为本实用新型的底座、弹簧、顶块和托块的连接处剖切面结构示意图；

图6为本实用新型的手持式X荧光光谱仪主体下侧结构示意图；

图7为本实用新型的下滑动座结构示意图；

图8为本实用新型的中滑动座结构示意图；

图9为本实用新型的上滑动座结构示意图。

图中：1底座、101下螺纹孔、102座滑槽、103座孔、104座螺纹孔、2弹簧、3顶块、4托块、401边槽、402燕尾条、403块顶腔、5手持式X荧光光谱仪主体、501燕尾槽、502圆凹口、6下滑动座、601下螺丝槽、602下凸条、603下滑槽、604中螺纹孔、7中滑动座、701中螺丝槽、702中凸条、703中滑槽、704上螺丝孔、8上滑动座、801上螺丝槽、802上凸条、803V槽、9下螺丝、10托块螺丝、11中螺丝、12上螺丝。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供了如图1-9所示的一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，包括底座1、弹簧2、顶块3、托块4、手持式X荧光光谱仪主体5、下滑动座6、中滑动座7和上滑动座8，所述弹簧2套设在顶块3下侧的轴状部分上，所述顶块3下端***底座1中的座孔103内部，所述弹簧2和顶块3的上侧部分位于托块4中的块顶腔403内部，所述托块4通过托块螺丝10穿过边槽401中的通孔进入座螺纹孔104内部与底座1固定，所述托块4中的燕尾条402位于手持式X荧光光谱仪主体5下端的燕尾槽501内部，所述顶块3上端位于圆凹口502内部，下滑动座6下端的下凸条602位于底座1中的座滑槽102内部，下滑动座6通过下螺丝9穿过下螺丝槽601进入下螺纹孔101内部与底座1固定，中滑动座7中的中螺丝槽701位于下滑动座6中的下滑槽603内部，所述中滑动座7通过中螺丝11穿过中螺丝槽701进入中螺纹孔604内部与下滑动座6固定，所述上滑动座8下端的上凸条802位于中滑动座7上端的中滑槽703内部，所述上滑动座8通过上螺丝12穿过上螺丝槽801进入上螺丝孔704内部与中滑动座7固定，所述上滑动座8呈板状结构，所述上滑动座8下侧设有两条上凸条802，两条所述上凸条802之间的上滑动座8中开有上螺丝槽801，所述上滑动座8上端面开有截面轮廓呈V形的V槽803。

具体的，所述底座1的轮廓呈T形，所述下滑动座6上侧开有两组相互平行的座滑槽102，两组座滑槽102之间的底座1上开有下螺纹孔101，所述底座1上远离座滑槽102的部分上开有座孔103，所述座孔103外侧的底座1上开有四组呈矩形阵列分布的座螺纹孔104，底座1用于支撑托块4和下滑动座6。

具体的，所述顶块3中部的直径与块顶腔403的下侧部分直径对应，所述顶块3上侧的直径与块顶腔403的上侧部分直径对应，所述顶块3的下侧部分直径与座孔103的直径对应，所述顶块3上端呈半球形，所述手持式X荧光光谱仪主体5下端开有燕尾槽501，所述燕尾槽501内开有呈半圆形的圆凹口502，所述圆凹口502的轮廓和顶块3的上端轮廓对应，所述托块4呈矩形块状结构，所述托块4外侧开有四组边槽401，所述边槽401内均开有垂直贯穿托块4的通孔，所述托块4中开口内设有燕尾条402，所述燕尾条402内部开有块顶腔403，燕尾条402配合燕尾槽501将手持式X荧光光谱仪主体5定位。

具体的，所述下滑动座6下侧呈水平的板状结构上侧为垂直的板状结构，所述下滑动座6下表面设有两条下凸条602，两条所述下凸条602之间的下滑动座6中开有下螺丝槽601，所述下滑动座6上侧开有两条下滑槽603，两组下滑槽603之间的下滑动座6中开有中螺纹孔604，下滑动座6为一体式结构，通过下螺丝9固定位置。

具体的，所述中滑动座7下侧的垂直部分上设有两组中凸条702，两组所述中凸条702之间的中滑动座7中开有中螺丝槽701，所述中滑动座7上侧的水平部分上开有两条中滑槽703，两条中滑槽703之间的中滑动座7中开有上螺丝孔704，中滑动座7决定被测零件的高度。

工作原理，该手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，将手持式X荧光光谱仪主体5***托块4内部，燕尾条402进入燕尾槽501内部，***时顶块3被弹簧2推动将会***圆凹口502内部给手持式X荧光光谱仪主体5定位，然后将下螺丝9、中螺丝11和上螺丝12松开，调整下滑动座6、中滑动座7和上滑动座8的位置，将被测零件放置在上滑动座8上方的V槽803内部，将V槽803内的被测零件位置移动到正对着手持式X荧光光谱仪主体5的测量头的位置，然后拧紧下螺丝9、中螺丝11和上螺丝12定位，在测量时由于V槽803的结构，被测的轴状零件放入时将会落到正对着手持式X荧光光谱仪主体5测量头的位置，从而被手持式X荧光光谱仪主体5检测。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，包括底座(1)、弹簧(2)、顶块(3)、托块(4)、手持式X荧光光谱仪主体(5)、下滑动座(6)、中滑动座(7)和上滑动座(8)，其特征在于：所述弹簧(2)套设在顶块(3)下侧的轴状部分上，所述顶块(3)下端***底座(1)中的座孔(103)内部，所述弹簧(2)和顶块(3)的上侧部分位于托块(4)中的块顶腔(403)内部，所述托块(4)通过托块螺丝(10)穿过边槽(401)中的通孔进入座螺纹孔(104)内部与底座(1)固定，所述托块(4)中的燕尾条(402)位于手持式X荧光光谱仪主体(5)下端的燕尾槽(501)内部，所述顶块(3)上端位于圆凹口(502)内部，下滑动座(6)下端的下凸条(602)位于底座(1)中的座滑槽(102)内部，下滑动座(6)通过下螺丝(9)穿过下螺丝槽(601)进入下螺纹孔(101)内部与底座(1)固定，中滑动座(7)中的中螺丝槽(701)位于下滑动座(6)中的下滑槽(603)内部，所述中滑动座(7)通过中螺丝(11)穿过中螺丝槽(701)进入中螺纹孔(604)内部与下滑动座(6)固定，所述上滑动座(8)下端的上凸条(802)位于中滑动座(7)上端的中滑槽(703)内部，所述上滑动座(8)通过上螺丝(12)穿过上螺丝槽(801)进入上螺丝孔(704)内部与中滑动座(7)固定，所述上滑动座(8)呈板状结构，所述上滑动座(8)下侧设有两条上凸条(802)，两条所述上凸条(802)之间的上滑动座(8)中开有上螺丝槽(801)，所述上滑动座(8)上端面开有截面轮廓呈V形的V槽(803)。

2.根据权利要求1所述的一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，其特征在于：所述底座(1)的轮廓呈T形，所述下滑动座(6)上侧开有两组相互平行的座滑槽(102)，两组座滑槽(102)之间的底座(1)上开有下螺纹孔(101)，所述底座(1)上远离座滑槽(102)的部分上开有座孔(103)，所述座孔(103)外侧的底座(1)上开有四组呈矩形阵列分布的座螺纹孔(104)。

3.根据权利要求1所述的一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，其特征在于：所述顶块(3)中部的直径与块顶腔(403)的下侧部分直径对应，所述顶块(3)上侧的直径与块顶腔(403)的上侧部分直径对应，所述顶块(3)的下侧部分直径与座孔(103)的直径对应，所述顶块(3)上端呈半球形，所述手持式X荧光光谱仪主体(5)下端开有燕尾槽(501)，所述燕尾槽(501)内开有呈半圆形的圆凹口(502)，所述圆凹口(502)的轮廓和顶块(3)的上端轮廓对应，所述托块(4)呈矩形块状结构，所述托块(4)外侧开有四组边槽(401)，所述边槽(401)内均开有垂直贯穿托块(4)的通孔，所述托块(4)中开口内设有燕尾条(402)，所述燕尾条(402)内部开有块顶腔(403)。

4.根据权利要求1所述的一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，其特征在于：所述下滑动座(6)下侧呈水平的板状结构上侧为垂直的板状结构，所述下滑动座(6)下表面设有两条下凸条(602)，两条所述下凸条(602)之间的下滑动座(6)中开有下螺丝槽(601)，所述下滑动座(6)上侧开有两条下滑槽(603)，两组下滑槽(603)之间的下滑动座(6)中开有中螺纹孔(604)。

5.根据权利要求1所述的一种手持式X荧光光谱仪辅测台架装置，其特征在于：所述中滑动座(7)下侧的垂直部分上设有两组中凸条(702)，两组所述中凸条(702)之间的中滑动座(7)中开有中螺丝槽(701)，所述中滑动座(7)上侧的水平部分上开有两条中滑槽(703)，两条中滑槽(703)之间的中滑动座(7)中开有上螺丝孔(704)。

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