CN212989502U - 一种基于stm32的设备测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种基于STM32的设备测试治具，包括STM32模块，STM32模块连接电源控制模块、通道整合模块和PC，电源模块连接待测设备，用于通过继电器开关控制待测设备开关，待测设备与PC连接，且待测设备的N个输出端均连接通道整合模块，STM模块通过控制通道整合模块内的继电器，将N个输出整合到一个上面，同一时刻只有一个输出，通道整合模块连接测试切换模块，测试切换模块连接N个测试设备，测试设备连接PC。本实用新型测试治具能够进行通道切换，对应测试功能切换，并保存测试数据，将不良进行卡控，提高测试效率，保证产品品质。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试治具领域，具体涉及一种基于STM32的设备测试治具。
背景技术
目前，对于待测设备的测试，只能用示波器、万用表等进行专项测试，重复操作浪费时间，测试结果记录难度大。产线生产的每台设备有许多通道与功能，产线测试经常重复某些动作，浪费大量时间与人力，人工卡控品质也不能得到保障。
为了方便产线作业，提高工作效率，以降低成本提高品质为核心，需要开发一款自动化测试治具。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种STM32的设备测试治具，用以解决现有技术中的产品测试工作效率低、产品品质难以把控的问题。
本实用新型提供了一种基于STM32的设备测试治具，包括STM32模块、电源控制模块、通道整合模块、测试切换模块，所述STM32模块连接电源控制模块、通道整合模块和PC，所述电源控制模块连接待测设备，用于通过继电器开关控制待测设备开关，所述待测设备与PC连接，且待测设备的N个输出端均连接通道整合模块，所述STM模块通过控制通道整合模块内的继电器，将N个输出整合到一个上面，同一时刻只有一个输出，所述通道整合模块连接测试切换模块，所述测试切换模块连接N个测试设备，所述测试切换模块用于将输出切换到不同的测试设备上进行测试，所述测试设备连接PC。
进一步的，所述测试设备包括万用表、电子负载、示波器。
进一步的，所述待测设备与PC通过网线连接。
采用上述本实用新型技术方案的有益效果是：
本实用新型测试治具能够进行通道切换，对应测试功能切换，并保存测试数据，将不良进行卡控，提高测试效率，保证产品品质。
附图说明
图1为本实用新型基于STM32的设备测试治具结构示意图；
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
如图1所示，本实用新型提供了一种基于STM32的设备测试治具，包括 STM32模块、电源控制模块、通道整合模块、测试切换模块，所述STM32模块连接电源控制模块、通道整合模块和PC，PC对STM32下发测试指令，所述电源控制模块连接待测设备，用于通过继电器开关控制待测设备开关，所述待测设备与PC通过网线连接，且待测设备的N个输出端均连接通道整合模块，所述STM模块通过控制通道整合模块内的继电器，将N个输出整合到一个上面，同一时刻只有一个输出，所述通道整合模块连接测试切换模块，所述测试切换模块连接N个测试设备，所述测试切换模块用于将输出切换到不同的测试设备上进行测试，所述测试设备连接PC，用于测试数据上传。
所述测试设备包括万用表、电子负载、示波器。
该实用新型测试治具自动化测试流程为：电压校正模式时，电压先通过通道整合模块进入VOUT主路，然后通过测试功能切换模块内电压校正测试继电器和GND继电器连接到KEITHLAY台表上，台表显示的电压值会反馈到 PG侦测电路里，通过减法电路(使其最大电压不能超过采集芯片的输入范围) 进入采集芯片里，换算成寄存器值，最终存到flash里，多段数据采集后，台表显示的电压值与寄存器值可拟合成一个公式，大致为Y＝AX+B(A,B为常量)，Y代表电压值，X代表寄存器值。电流校正则是在电压进入VOUT主路后，通过电流校正继电器串联一个300K电阻到KEITHLAY台表，再连接到地，形成一个回路，同样和电压校正原理一样，电流值会通过侦测电路换算成寄存器值存入Flash，然后多段数据拟合成一个公式，最终达到设置电压电流时，FPGA给出对应的寄存器值来产生这个电压电流值，准确度比没校正前有较大提升。
综上，本实用新型测试治具能够进行通道切换，对应测试功能切换，并保存测试数据，将不良进行卡控，提高测试效率，保证产品品质。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。
Claims (3)
1.一种基于STM32的设备测试治具，其特征在于，包括STM32模块、电源控制模块、通道整合模块、测试切换模块，所述STM32模块连接电源控制模块、通道整合模块和PC，所述电源控制模块连接待测设备，用于通过继电器开关控制待测设备的开关，所述待测设备与PC连接，且待测设备的N个输出端均连接通道整合模块，所述STM模块通过控制通道整合模块内的继电器，将N个输出整合到一个上面，同一时刻只有一个输出，所述通道整合模块连接测试切换模块，所述测试切换模块连接N个测试设备，所述测试切换模块用于将输出切换到不同的测试设备上进行测试，所述测试设备连接PC。
2.根据权利要求1所述的基于STM32的设备测试治具，其特征在于，所述测试设备包括万用表、电子负载、示波器。
3.根据权利要求1所述的基于STM32的设备测试治具，其特征在于，所述待测设备与PC通过网线连接。
Priority Applications (1)
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| CN202020729986.7U CN212989502U (zh) | 2020-05-07 | 2020-05-07 | 一种基于stm32的设备测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN202020729986.7U CN212989502U (zh) | 2020-05-07 | 2020-05-07 | 一种基于stm32的设备测试治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN212989502U true CN212989502U (zh) | 2021-04-16 |
Family
ID=75398874
Family Applications (1)
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| CN202020729986.7U Active CN212989502U (zh) | 2020-05-07 | 2020-05-07 | 一种基于stm32的设备测试治具 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN212989502U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114167254A (zh) * | 2021-10-31 | 2022-03-11 | 重庆台冠科技有限公司 | 一种第一tp测试工具和tp测试装置 |
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2020
- 2020-05-07 CN CN202020729986.7U patent/CN212989502U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN114167254A (zh) * | 2021-10-31 | 2022-03-11 | 重庆台冠科技有限公司 | 一种第一tp测试工具和tp测试装置 |
| CN114167254B (zh) * | 2021-10-31 | 2023-12-12 | 重庆台冠科技有限公司 | 一种第一tp测试工具和tp测试装置 |
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