CN212381261U - 一种用于手机辐射性能的测试*** - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于手机辐射性能的测试***，包括：电波暗室；设置于所述电波暗室内的待测物放置台；以所述待测物放置台为圆心设置的圆形轨道，设置于所述圆形轨道上与增益天线相连的极化转轴，所述极化转轴能带动所述增益天线沿所述圆形轨道旋转运动；模拟基地台，所述模拟基地台与放置于所述待测物放置台上的待测物信号连接；与所述电波暗室信号连接的信号分析单元，所述信号分析单元能用于对所述待测物的辐射信号进行分析；其中包括测试所述待测物空间分布区间数值。该***能够实现在全自动环境下对手机辐射性能进行测试，减少人为因素的干扰，实现全方位的测试。

Description

一种用于手机辐射性能的测试***

技术领域

本实用新型涉及一种测试***，尤其涉及一种用于手机辐射性能的测试***。

背景技术

目前主要有两种方法对手机的辐射性能进行考察：一种是从天线的辐射性能进行判定，是目前较为传统的天线测试方法，称为无源测试；另一种是在特定微波暗室内，测试手机的辐射功率和接收灵敏度，称为有源测试。无源测试侧重从手机天线的增益、效率、方向图等天线的辐射参数方面考察手机的辐射性能。无源测试虽然考虑了整机环境(比如天线周围器件、开盖和闭盖)对天线性能的影响，但天线与整机配合之后最终的辐射功率和接收灵敏度如何，从无源测试数据无法直接得知，测试数据不是很直观。有源测试则侧重从手机整机的发射功率和接收灵敏度方面考察手机的辐射性能，更能直接地反映手机整机的辐射性能。在有源测试中，待测设备的放置位置，其与天线之间的距离等直接影响着测试结果。而随着待测设备的多样化，现有的测试***已不能满足测试的需求。

发明内容

本实用新型目的是提供一种用于手机辐射性能的测试***，该***能够实现在全自动环境下对手机辐射性能进行测试，减少人为因素的干扰，实现全方位的测试。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于手机辐射性能的测试***，包括：

电波暗室；

设置于所述电波暗室内的待测物放置台；

以所述待测物放置台为圆心设置的圆形轨道，设置于所述圆形轨道上与增益天线相连的极化转轴，所述极化转轴能带动所述增益天线沿所述圆形轨道旋转运动；

模拟基地台，所述模拟基地台与放置于所述待测物放置台上的待测物信号连接；

与所述电波暗室信号连接的信号分析单元，所述信号分析单元能用于对所述待测物的辐射信号进行分析；其中包括测试所述待测物空间分布区间数值。

上述技术方案中，所述极化转轴的底端设置有与所述圆形轨道相配合的滑块，所述滑块与驱动机构相连，用于驱动所述滑块沿所述圆形轨道旋转运动。

上述技术方案中，沿所述待测物放置台的台面的径向方向设置有滑槽，所述滑槽内设置有滑条，所述滑条背离所述台面中心的一端设置有待测物放置槽，所述滑条能沿所述滑槽滑动从而调节设置于所述待测物放置槽内的所述待测物与所述增益天线间的距离。

上述技术方案中，在所述台面上沿所述滑槽的延伸方向设置有刻度线。

上述技术方案中，所述增益天线与所述台面相对设置且所述增益天线的中心与所述台面位于同一水平面上。

上述技术方案中，所述信号分析单元包括网络分析仪，所述网络分析仪能调节进行多信道多频段同时测量；获得所述待测物空间分布区间数值。

上述技术方案中，还包括计算机、测量仪表、控制器；所述计算机与所述测量仪表和所述控制器相连，所述测量仪表分别与所述增益天线和所述待测物相连。

由于上述技术方案运用，本发明与现有技术相比具有下列优点：

1.本实用新型中在电波暗室内相对设置待测物放置台与增益天线，实现对测试环境的模拟；且以待测物放置台为圆心设置有圆形轨道，增益天线通过极化转轴设置于圆形轨道上，从而使增益天线能够沿圆形轨道旋转运动，保证增益天线能够与待测物的各个面相对，实现全方位的测试。

2.极化转轴下端的滑块与驱动机构相连，通过驱动机构控制，实现自动化调整，减少人为因素的干扰，保证测试结果的准确性。

3.在待测物放置台的台面的径向方向设置有滑槽，滑槽内设置有滑条，滑条背离台面中心的一端设置有待测物放置槽，通过滑槽与滑条的配合，调节待测物放置槽的位置，从而实现待测物与增益天线之间的距离，满足不同测试的需求。

附图说明

图1是本实用新型测试***示意图；

图2是本实用新型待测物放置台与增益天线示意图；

图3是本网络分析仪生成的待测物部分分布区间增益值。

其中：1、电波暗室；2、待测物放置台；3、圆形轨道；4、增益天线；5、极化转轴；6、模拟基地台；7、信号分析单元；8、滑槽；9、滑条；10、待测物放置槽。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

实施例一：参见图1～3所示，一种用于手机辐射性能的测试***，包括：

电波暗室1；

设置于所述电波暗室1内的待测物放置台2；

以所述待测物放置台2为圆心设置的圆形轨道3，设置于所述圆形轨道3上与增益天线4相连的极化转轴5，所述极化转轴5能带动所述增益天线4沿所述圆形轨道3旋转运动；

模拟基地台6，所述模拟基地台6与放置于所述待测物放置台2上的待测物信号连接；

与所述电波暗室1信号连接的信号分析单元7，所述信号分析单元7能用于对所述待测物的辐射信号进行分析；其中包括测试所述待测物空间分布区间数值。

通过在电波暗室1内相对设置待测物放置台2与增益天线4，实现对测试环境的模拟；且以待测物放置台2为圆心设置有圆形轨道3，增益天线4通过极化转轴5设置于圆形轨道3上，从而使增益天线4能够沿圆形轨道3旋转运动，保证增益天线4能够与待测物的各个面相对，实现全方位的测试。

为了实现自动化全方位的测试，所述极化转轴5的底端设置有与所述圆形轨道3相配合的滑块，所述滑块与驱动机构相连，用于驱动所述滑块沿所述圆形轨道3旋转运动。

参见图2所示，沿所述待测物放置台2的台面的径向方向设置有滑槽8，所述滑槽8内设置有滑条9，所述滑条9背离所述台面中心的一端设置有待测物放置槽10，所述滑条9能沿所述滑槽8滑动从而调节设置于所述待测物放置槽10内的所述待测物与所述增益天线4间的距离，使其能够满足不同需求的测试。

在一个优选的测试方式中，在所述台面上沿所述滑槽8的延伸方向设置有刻度线。所述刻度线的设置能够使滑条9的调节更为可控，直观。

所述增益天线4与所述台面相对设置且所述增益天线4的中心与所述台面位于同一水平面上，具体的，可将其在垂直方向的高度设置为1.2m。

所述信号分析单元7包括网络分析仪，所述网络分析仪能调节进行多信道多频段同时测量；获得所述待测物空间分布区间数值。

还包括计算机、测量仪表、控制器；所述计算机与所述测量仪表和所述控制器相连，所述测量仪表分别与所述增益天线4和所述待测物相连。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种用于手机辐射性能的测试***，其特征在于，包括：

电波暗室；

设置于所述电波暗室内的待测物放置台；

以所述待测物放置台为圆心设置的圆形轨道，设置于所述圆形轨道上与增益天线相连的极化转轴，所述极化转轴能带动所述增益天线沿所述圆形轨道旋转运动；

模拟基地台，所述模拟基地台与放置于所述待测物放置台上的待测物信号连接；

与所述电波暗室信号连接的信号分析单元，所述信号分析单元能用于对所述待测物的辐射信号进行分析；其中包括测试所述待测物空间分布区间数值。

2.根据权利要求1所述的用于手机辐射性能的测试***，其特征在于：所述极化转轴的底端设置有与所述圆形轨道相配合的滑块，所述滑块与驱动机构相连，用于驱动所述滑块沿所述圆形轨道旋转运动。

3.根据权利要求1所述的用于手机辐射性能的测试***，其特征在于：沿所述待测物放置台的台面的径向方向设置有滑槽，所述滑槽内设置有滑条，所述滑条背离所述台面中心的一端设置有待测物放置槽，所述滑条能沿所述滑槽滑动从而调节设置于所述待测物放置槽内的所述待测物与所述增益天线间的距离。

4.根据权利要求3所述的用于手机辐射性能的测试***，其特征在于：在所述台面上沿所述滑槽的延伸方向设置有刻度线。

5.根据权利要求3所述的用于手机辐射性能的测试***，其特征在于：所述增益天线与所述台面相对设置且所述增益天线的中心与所述台面位于同一水平面上。

6.根据权利要求1所述的用于手机辐射性能的测试***，其特征在于：所述信号分析单元包括网络分析仪，所述网络分析仪能调节进行多信道多频段同时测量；获得所述待测物空间分布区间数值。

7.根据权利要求1所述的用于手机辐射性能的测试***，其特征在于：还包括计算机、测量仪表、控制器；所述计算机与所述测量仪表和所述控制器相连，所述测量仪表分别与所述增益天线和所述待测物相连。

Images