CN212302465U - 一种紧凑型调试接口及其连接器、电子*** - Google Patents

Abstract

提供了一种紧凑型调试接口及其连接器、电子***。所提供的紧凑型调试接口的连接器，包括第一组引脚与选择引脚；第一组引脚的各引脚用于传输第一调试端口与第二调试端口的多个信号；选择引脚传输的选择信号指示将第一调试端或第二调试端口的多个信号电连接到第一组引脚，其中所述第一组引脚的引脚数量小于所述第一调试端口与所述第二调试端口的信号数量之和。

Description

一种紧凑型调试接口及其连接器、电子***

技术领域

本申请涉及存储设备，更具体地，涉及一种紧凑型调试接口及其连接器、电子***。

背景技术

图1展示了存储设备的框图。存储设备102同主机相耦合，用于为主机提供存储能力。主机同存储设备102之间可通过多种方式相耦合，耦合方式包括但不限于通过例如SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高级技术附件)、SCSI(Small ComputerSystem Interface，小型计算机***接口)、SAS(Serial Attached SCSI，串行连接SCSI)、IDE(Integrated Drive Electronics，集成驱动器电子)、USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)、PCIE(Peripheral Component Interconnect Express,PCIe，高速***组件互联)、NVMe(NVM Express，高速非易失存储)、以太网、光纤通道、无线通信网络等连接主机与固态存储设备102。主机可以是能够通过上述方式同存储设备相通信的信息处理设备，例如，个人计算机、平板电脑、服务器、便携式计算机、网络交换机、路由器、蜂窝电话、个人数字助理等。存储设备102包括接口103、控制部件104、一个或多个NVM芯片105 以及DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机访问存储器)110。

NAND闪存、相变存储器、FeRAM(Ferroelectric RAM，铁电存储器)、MRAM(MagneticRandom Access Memory，磁阻存储器)、RRAM(Resistive Random Access Memory，阻变存储器)等是常见的NVM。

接口103用于将存储设备耦合到主机，并适配于通过例如SATA、IDE、USB、PCIE、NVMe、SAS、以太网、光纤通道等方式与主机交换数据。

控制部件104用于控制在接口103、NVM芯片105以及DRAM 110之间的数据传输，还用于存储管理、主机逻辑地址到闪存物理地址映射、擦除均衡、坏块管理等。控制部件104可通过软件、硬件、固件或其组合的多种方式实现，例如，控制部件104可以是FPGA(Field-programmable gate array，现场可编程门阵列)、ASIC(Application SpecificIntegrated Circuit，应用专用集成电路)或者其组合的形式。控制部件104也可以包括处理器或者控制器，在处理器或控制器中执行软件来操纵控制部件104的硬件来处理IO(Input/Output)命令。控制部件104还可以耦合到DRAM 110，并可访问DRAM 110的数据。在DRAM可存储FTL表和/或缓存的IO命令的数据。

控制部件104包括闪存接口控制器(或称为介质接口控制器、闪存通道控制器)，闪存接口控制器耦合到NVM芯片105，并以遵循NVM芯片105的接口协议的方式向NVM芯片105发出命令，以操作NVM芯片105，并接收从NVM芯片105输出的命令执行结果。已知的NVM芯片接口协议包括“Toggle”、“ONFI”等。

存储设备还包括电源管理装置，用于为存储设备的各个部件提供电力。在中国专利申请 201210258780.0与201510347811.3中展示了存储设备的供电电路，作为电源管理装置的例子。主机通过接口103向存储设备102提供电力使存储设备102工作。存储设备102还包括备用电源，备用电源在主机给存储设备102的电力中断或故障时，为存储设备102提供应急的供电。以使存储设备 102得以继续正在被执行而未完成的IO命令，还利用备用电源提供的电力记录存储设备的工作状态，以在后续通过接口103恢复供电后，存储设备得以继续正常工作。

备用电源是可充电的，例如充电电池或电容。备用电源包括充电接口。充电接口耦合到接口103。通过接口103给存储设备供电时，还通过充电接口为备用电源充电。

控制部件还包括调试接口。用于在控制部件与外部之间交换调试信息。调试接口遵循例如串口 (UART)、I2C、JTAG、MCTP(Management Component Transport Protocol，管理组件传输协议，在例如https://www.dmtf.org/sites/default/files/standards/ documents/DSP0236_1.3.1.pdf可获得)等协议。

实用新型内容

调试接口主要在存储设备的研发阶段被使用，而对于量产阶段的存储设备，为了降低成本，存储设备外部通常仅保留用于耦合主机的接口的物理连接器。一些存储设备的耦合主机的物理连接器中预留了若干引脚给调试接口。

随着存储设备的控制部件逐渐复杂，例如其中包括多种处理器核甚至不同架构的多种处理器核，每个处理器核使用各自的调试接口。这导致控制部件展现出多个不同种类的调试接口。一些存储设备还包括第二或更新控制部件，例如在电源管理装置中也包括处理器核并具有调试接口。多种调试接口各自需要通过存储设备的物理端口同外部调试设备耦合。耦合主机的物理连接器无法容纳所需的多种调试接口。

需要在电子上提供额外的物理端口以容纳用于多种调试接口的引线。除了用于存储设备，提供的额外物理端口也适用于其他电子设备，用于调试电子设备内的控制部件或其处理器核。所提供的额外的物理端口需要是紧凑的，以尽量小的体积将多种调试接口耦合到外部调试器，并且不显著增加存储设备的成本。紧凑的物理接口还需要适配多种协议的调试接口。这些调试接口各自具有例如不同的电特性。

根据本申请的第一方面，提供了根据本申请第一方面的第一紧凑型调试接口的连接器，包括第一组引脚与选择引脚；第一组引脚的各引脚用于传输第一调试端口与第二调试端口的多个信号；选择引脚传输的选择信号指示将第一调试端或第二调试端口的多个信号电连接到第一组引脚，其中所述第一组引脚的引脚数量小于所述第一调试端口与所述第二调试端口的信号数量之和。

根据本申请第一方面的第一紧凑型调试接口的连接器，提供了根据本申请第一方面的第二连接器，其中所述连接器被布置于电子设备，用于将所述电子设备连接到调试设备；所述第一调试端口与所述第二调试端口是所述电子设备的调试端口。

根据本申请第一方面的第二连接器，提供了根据本申请第一方面的第三连接器，其中所述调试设备向所述选择引脚提供所述选择信号。

根据本申请第一方面的第一至第三连接器之一，提供了根据本申请第一方面的第四连接器，还包括参考电压引脚；所述参考电压引脚的信号指示所述第一调试端口或第二调试端口使用的接口电平。

根据本申请第一方面的第四连接器，提供了根据本申请第一方面的第五连接器，其中所述电子设备向所述参考电压引脚提供所述第一调试端口或第二调试端口使用的接口电平；所述调试从所述参考电压引脚获取所述接口电平，并根据所述接口电平调整提供给所述第一组引脚的信号，使得提供给所述第一组引脚的信号兼容所述接口电平。

根据本申请第一方面的第一至第五连接器之一，提供了根据本申请第一方面的第六连接器，还包括第二组引脚；第二组引脚的各引脚用于传输第三调试端口与第四调试端口的多个信号。

根据本申请第一方面的第六连接器，提供了根据本申请第一方面的第七连接器，其中所述选择引脚传输的选择信号指示将第三调试端或第四调试端口的多个信号电连接到第二引脚组。

根据本申请第一方面的第一至第七连接器之一，提供了根据本申请第一方面的第八连接器，还包括第二参考电压引脚；所述第二参考电压引脚的信号指示所述第三调试端口或第四调试端口使用的接口电平。

根据本申请第一方面的第一至第八连接器之一，提供了根据本申请第一方面的第九连接器，还包括电源引脚；所述电源引脚用于传输电力。

根据本申请第一方面的第一至第九连接器之一，提供了根据本申请第一方面的第十连接器，其中所述连接器的机械形态遵循HDMI规范或PCIe规范。

根据本申请的第二方面，提供了根据本申请第二方面的第一紧凑型调试接口，包括连接器与引脚压缩与解压缩单元；所述连接器是根据本申请第一方面的第一至第十连接器之一；所述引脚压缩与解压缩单元耦合所述第一组引脚与所述选择引脚。

根据本申请第二方面的第一紧凑型调试接口，提供了根据本申请第二方面的第二紧凑型调试接口，所述引脚压缩与解压缩单元是多通道开关；响应于所述选择引脚的选择信号，所述多通道开关将第一调试端口或第二调试端口之一电连接到所述第一组引脚。

根据本申请第二方面的第二紧凑型调试接口，提供了根据本申请第二方面的第三紧凑型调试接口，所述多通道开关还耦合所述参考电压引脚；响应于所述选择引脚的选择信号，所述多通道开关将所述选择信号指示的第一调试端口或第二调试端口之一所使用的接口电平提供给所述参考电压引脚。

根据本申请第二方面的第三紧凑型调试接口，提供了根据本申请第二方面的第四紧凑型调试接口，其中响应于所述选择引脚的选择信号，所述多通道开关将所述选择信号指示的第三调试端口或第四调试端口之一电连接到所述第二组引脚；所述多通道开关将所述选择信号指示的第三调试端口或第四调试端口之一所使用的接口电平提供给第二参考电压引脚。

根据本申请第二方面的第一紧凑型调试接口，提供了根据本申请第二方面的第五紧凑型调试接口，所述引脚压缩与解压缩单元是多通道开关；响应于所述选择引脚的选择信号，所述多通道开关将所述第一组引脚电连接到第一组引线或第二组引线之一。

根据本申请第二方面的第五紧凑型调试接口，提供了根据本申请第二方面的第六紧凑型调试接口，所述多通道开关还耦合所述参考电压引脚；响应于所述选择引脚的选择信号，所述多通道开关将所述选择信号指示的第一组引线或第二组引线之一所使用的接口电平提供给所述参考电压引脚。

根据本申请第二方面的第六紧凑型调试接口，提供了根据本申请第二方面的第七紧凑型调试接口，其中所述第一组引线耦合所述第一调试端口，所述第二组引线耦合所述第二调试端口。

根据本申请第二方面的第一至第七紧凑型调试接口之一，提供了根据本申请第二方面的第八紧凑型调试接口，还包括电压适配单元；所述电压适配单元耦合所述参考电压引脚与第一组引脚，根据所述参考电压引脚的信号调整提供给第一引脚组的信号的接口电平。

根据本申请第二方面的第八紧凑型调试接口，提供了根据本申请第二方面的第九紧凑型调试接口，还包括第二电压适配单元；所述第二电压适配单元耦合第二参考电压引脚与第而组引脚，根据所述第二参考电压引脚的信号调整提供给第二引脚组的信号的接口电平。

根据本申请第二方面的第八或第九紧凑型调试接口，提供了根据本申请第二方面的第十紧凑型调试接口，其中所述压缩与解压缩单元被布置于电子设备；所述电压适配单元被布置于调试设备。

根据本申请的第三方面，提供了根据本申请第三方面的第一电子***，包括紧凑型调试接口、电子设备与调试设备；所述电子设备通过所述紧凑型调试接口耦合所述调试设备；所述紧凑型调试接口是根据本申请第二方面的第一至第十紧凑型调试接口之一。

根据本申请第三方面的第一电子***，提供了根据本申请第三方面的第二电子***，其中

所述电子设备包括控制部件、主机接口与所述紧凑型调试接口；所述控制部件包括所述第一调试端口与所述第二调试端口；所述主机接口耦合所述控制部件，还用于耦合访问所述电子设备的主机。

根据本申请第三方面的第一或第二电子***，提供了根据本申请第三方面的第三电子***，其中所述调试设备包括第二引脚压缩与解压缩单元、第一端口与第二端口，其中第一端口是同第一调试端口对应的作为通信对端的端口，第二端口是同第二调试端口对应的作为通信对端的端口；第二引脚压缩与解压缩单元选择第一端口与第二端口之一耦合到所述连接器的第一组引脚。

根据本申请第三方面的第三电子***，提供了根据本申请第三方面的第四电子***，其中所述调试设备还包括电压适配单元；所述电压适配单元耦合第二引脚压缩与解压缩单元、所述参考电压引脚与第一组引脚，根据所述参考电压引脚的信号调整第二引脚压缩与解压缩单元提供给第一引脚组的信号的接口电平；其中，第二引脚压缩与解压缩单元提供给第一引脚组的信号是第一端口与第二端口之一的信号。

根据本申请第三方面的第三或第四电子***，提供了根据本申请第三方面的第五电子***，其中所述调试设备还包括选择控制单元；所述选择控制单元向所述连接器的选择引脚提供第一选择信号，以及向所述第二引脚压缩与解压缩单元提供第二选择信号；其中，所述第一选择信号指示选择第一调试端口与第二调试端口之一，所述第二选择信号指示选择第一端口与第二端口之一，以及所述第一选择信号指示的调试端口与所述第二选择信号指示的端互为通信的对端并遵循相同的通信协议。

根据本申请第三方面的第三至第五电子***之一，提供了根据本申请第三方面的第六电子***，其中所述调试设备还包括选择第一连接器与第二连接器；所述第一连接器耦合所述第一端口，所述第二连接器耦合所述第二端口；响应于第一连接器被连接了第二主机，选择控制单元提供的第一选择信号指示选择第一端口；响应于第二连接器被连接了第二主机，选择控制单元提供的第一选择信号指示选择第二端口。

根据本申请第三方面的第三至第六电子***之一，提供了根据本申请第三方面的第七电子***，其中所述调试设备还包括第三端口、第四端口与第二电压适配单元；所述第二电压适配单元耦合第二引脚压缩与解压缩单元、第二参考电压引脚与第二组引脚，根据所述第二参考电压引脚的信号调整第二引脚压缩与解压缩单元提供给第二引脚组的信号的接口电平；其中，第二引脚压缩与解压缩单元提供给第二引脚组的信号是第三端口与第四端口之一的信号。

根据本申请第三方面的第七电子***，提供了根据本申请第三方面的第八电子***，其中所述第二选择信号指示选择第一端口与第二端口之一，还指示选择第三端口与第四端口之一；其中第三端口与第三调试端口互为通信的对端并遵循相同的通信协议，第四端口与第四调试端口互为通信的对端并遵循相同的通信协议。

根据本申请的第四方面，提供了根据本申请第四方面的第一调试电子设备的方法，包括：通过连接器连接调试设备与所述电子设备，其中所述电子设备包括多个调试端口；所述调试设备通过连接所述连接器的选择引脚选择所述多个调试端口之一；所述调试设备的端口通过所述第一组引脚承载的信号访问被选择的调试端口。

根据本申请第四方面的第一调试电子设备的方法，提供了根据本申请第四方面的第二调试电子设备的方法，其中，连接所述调试设备的连接器的第一组引脚的引脚数小于所述多个调试端口的引线数之和。

根据本申请第四方面的第一或第二调试电子设备的方法，提供了根据本申请第四方面的第三调试电子设备的方法，其中，响应于所述调试设备通过所述连接器的选择引脚选择所述多个调试端口之一，电连接被选择的调试端口与所述第一组引脚。

根据本申请第四方面的第三调试电子设备的方法，提供了根据本申请第四方面的第四调试电子设备的方法，其中响应于所述调试设备通过所述连接器的选择引脚选择所述多个调试端口之一，还电连接所述调试设备的第一端口与所述第一组引脚，其中所述第一端口与被选择的调试端口互为通信的对端并遵循相同的通信协议。

根据本申请第四方面的第四调试电子设备的方法，提供了根据本申请第四方面的第五调试电子设备的方法，其中响应于所述调试设备通过所述连接器的选择引脚选择所述多个调试端口之一，还向所述连接器的参考电压引脚提供被选择的调试端口的接口电平；所述调试设备根据所述参考电压引脚获取的所述接口电平，调节提供给所述第一组引脚的信号。

根据本申请第四方面的第一至第五调试电子设备的方法之一，提供了根据本申请第四方面的第六调试电子设备的方法，还包括：所述调试设备通过所述连接器的选择引脚选择所述多个调试端口的另一个；所述调试设备的端口通过所述第一组引脚承载的信号访问被选择的所述另一个调试端口。

根据本申请第四方面的第一至第六调试电子设备的方法之一，提供了根据本申请第四方面的第七调试电子设备的方法，其中通过连接器连接调试设备与所述电子设备之前，所述电子设备耦合第一主机并运行；所述方法还包括：将第二主机连接到所述调试设备的多个第二连接器之一；根据第二主机所连接的多个第二连接器之一，选择所述多个调试端口之一，其中所述第二主机所连接的第二连接器所耦合的端口同被选择的调试端口互为通信的对端并遵循相同的通信协议。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中存储设备的示意图；

图2A展示了根据本申请实施例的耦合的电子设备与调试设备的框图；

图2B展示了根据本申请又一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图；

图2C展示了根据本申请再一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图；

图2D展示了根据本申请另一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图；

图3A展示了根据本申请的依然又一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图；

图3B展示了根据本申请的依然再一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图；

图4A展示了根据本申请的实施例的耦合的存储设备、调试设备与调试主机的框图；

图4B展示了根据本申请的又一实施例的耦合的存储设备、调试设备与调试主机的框图；

图5展示了根据本申请的再一实施例的耦合的存储设备、调试设备与调试主机的框图；以及

图6展示了根据本申请实施例的访问调试端口的流程图。

具体实施方式

下面结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

图2A展示了根据本申请实施例的耦合的电子设备与调试设备的框图。

电子设备包括控制部件，控制部件包括两个调试端口，记为端口1A与端口2A，其中“A”代表彼此耦合的两个端口之一。对应的，端口1B同端口1A耦合，并彼此通信，端口2B同端口2A耦合并彼此通信。

根据本申请实施例，电子设备还包括连接器与引脚压缩/解压缩单元。连接器是物理端口，用于物理上连接调试设备与电子设备。连接器包括多个引脚。连接器的引脚耦合到引脚压缩/解压缩单元。引脚压缩/解压缩单元还耦合端口1A与端口2A。端口1A与端口2A所需引线的数量大于连接器提供给引脚压缩/解压缩单元的引线数量，从而提供了压缩的端口，实现了对引线数量的压缩。例如，连接器包括19个引脚，这些引脚耦合到引脚压缩/解压缩单元。端口1A通过18根引线连接引脚压缩/ 解压缩单元，而端口2A通过15根引线连接引脚压缩/解压缩单元。

电子设备的引脚压缩/解压缩单元将端口1A与端口2A所需的引脚“压缩”后连接到连接器。从而连接器的一个或多个引脚承载了来自端口1A与端口2A两者的引线。同时，引脚压缩/解压缩单元将连接器提供的引脚“解压缩”后连接到端口1A与端口2A。

在一种实施方式中，引脚压缩/解压缩单元分时传输端口1A与端口2A的信号。例如，第一时间，将连接器的引脚同端口1A的引线连接，从而端口1A通过连接器同调试设备通信。在与第一时间不同的第二时间，将连接器的引脚同端口2A的引线连接，从而端口2A通过连接器同调试设备通信。

在又一种实施方式中，连接器中的一个或多个标记引脚指示对端口1A与端口2A的选择。当该标记引脚传递的信号指示端口1A时，连接器的其他引脚同端口1A的引线连接，从而端口1A通过连接器同调试设备通信；而当标记引脚传输的信号指示端口2A时，连接器的其他引脚同端口2A的引线连接，从而端口1A通过连接器同调试设备通信。

调试设备包括引脚压缩/解压缩单元，还包括多个端口(记为端口1B与端口2B)。端口1B与端口2B的引线耦合到引脚压缩/解压缩单元。调试设备的引脚压缩/解压缩单元同电子设备的连接器耦合。调试设备的引脚压缩/解压缩单元将端口1B与端口2B所需的引脚“压缩”后提供给电子设备的连接器。同时，调试设备的引脚压缩/解压缩单元将电子设备的连接器提供的引脚“解压缩”后连接到端口1B与端口2B。

可以理解地，图2A展示了两个端口(1A与2A)，而本申请的实施例可包括其他数量的端口。

在可选的实施方式中，调试设备包括单一的端口而不包括引脚压缩/解压缩单元。调试设备的单一的端口耦合电子设备的连接器，并通过向电子设备的连接器提供指定的选择信号来向电子设备指示要访问的调试端口。从而在仅需要访问单一调试端口或同种类型调试端口时，可使用简化的调试设备。简化的调试设备的单一端口被耦合到连接器，简化的调试设备还向电子设备的连接器提供指定的选择信号来向电子设备指示要访问的调试端口。

根据本申请实施例，提供了具有标准物理尺寸的连接器。所提供的连接器具有指定的引脚数量与布置。所提供的连接器的引脚包括引脚组、选择引脚与可选地参考电压引脚。引脚组中的引脚传递双向的信号，并用于承载调试接口所需的信号。引脚组承载两个或更多调试接口所需的信号，并且引脚组的引脚数量小于其承载的所有调试接口所需信号的和，或者引脚组的引脚数量不大于其承载的所有调试接口组中具有最大信号数量的调试接口的信号数量。

所提供的连接器的选择引脚单向传递信号。所提供的连接器耦合的两个设备分别称为电子设备与调试设备。连接器的选择引脚承载的信号，由调试设备提供给电子设备，并用于指示引脚组承载的所有调试接口中的一个或多个。

所提供的连接器的参考电压引脚单向传递信号，参考电压引脚所承载的信号由电子设备提供给电子设备，并用于指示引脚组当前传输信号所使用的接口电压。可选地，参考电压引脚传递的参考电压值同引脚组当前传输信号所使用的接口电压相同，从而调试设备根据参考电压引脚传递的参考电压值生成在引脚组上传输的信号。

根据本申请的实施例，还包括同连接器耦合的多通道开关。可选地，多通道开关耦合连接器的引脚组，并将引脚组的每个引脚耦合到两个或多个引线。多通道开关根据连接器的选择引脚的选择信号，确定引脚组的每个引脚所耦合的引线。从而调试设备通过向选择引脚施加选择信号，指示多通道开关将引脚组连接到一组指定的引线，这组引线同电子设备的一个或多个调试端口耦合，使得调试设备得到访问该一个或多个调试端口。

所提供的连接器具有标准物理尺寸，从而使用所提供的连接器的电子设备可通过多种调试设备访问。电子设备也可具有不同的结构并提供不同数量的调试接口，而调试设备得以用于访问多种电子设备。所提供的连接器与多通道开关向电子设备提供了更多数量的引线(同连接器的引脚数量相比)，从而支持更多的调试端口。

图2B展示了根据本申请又一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图。

存储设备210通过主机接口230同主机220耦合。主机220通过主机接口230存储设备210提供存储命令。存储设备210还通过连接器240耦合调试设备270。

可选地，存储设备210正常工作时仅同主机220耦合。由于发生故障或其他原因需要调试，而将调试设备270耦合连接器240，以利用调试设备270访问存储设备的内部状态。依然可选地，在研发阶段，调试设备270始终与存储设备210通过连接器240耦合。

存储设备210包括主机接口230、控制部件214、连接器240、多通道开关220、调试端口(1A) 224与调试接口(2A)228。调试端口(1A)224与调试接口(2A)228各自是用于控制部件214的调试接口。

连接器240包括多个引脚，分别记为引脚组与选择引脚。引脚组包括多个引脚，用于传输调试端口所需的所有引线。例如，引脚组包括的引脚数量能够容纳遵循USB、I2C与JTAG协议之一的端口所需的引线。选择引脚传输选择信号。

多通道开关220根据选择引脚的选择信号的指示将连接器240的引脚组耦合到调试端口(1A)224 与调试端口(2A)228之一。例如，响应于选择信号为第一值，调试端口(1A)224的引线被耦合到引脚组，从而调试设备270观察到连接器240传输的是调试端口1A(224)的信号；响应于选择信号为第二值，调试端口(2A)228的引线被耦合到引脚组，从而调试设备270观察到连接器240 传输的是调试端口2A(228)的信号。从而，多通道开关220将调试端口(1A)224与调试端口(2A) 228的所有引线“压缩”为引脚组所容纳的引线数量。

连接器240提供了压缩的引脚数量。而多通道开关220向控制部件214提供了解压缩的引脚数量，足以容纳控制部件214的所有调试接口所需的所有引线。

另一方面，调试设备270向存储设备210传输信号时，连接器240的引脚组所接收的信号被提供给多通道开关220。选择信号也被耦合到多通道开关220。响应于选择信号的取值，多通道开关将从引脚组接收的信号提供给调试端口(1A)224与调试端口(2A)228之一。从而，连接器240的引脚组传输被“压缩”的信号，而多通道开关220向调试端口(1A)224与调试端口(2A)228提供的时经“解压缩”的信号。

根据本申请的实施例，对于连接器240的选择引脚，调试设备270是选择信号的发送方，而存储设备210是选择信号的接收方。从而调试端口(1A)224与调试端口(2A)228各自按自己的方式工作，而不知晓选择信号的状态。因而，一些情况下，例如，调试端口(2A)228并未被连接到连接器240，但调试端口(2A)228依然产生信号。由调试设备270通过向连接器240的选择引脚施加选择信号来选择要与之通信的调试端口。

调试设备270包括端口(1B)274、端口(2B)278以及多通道开关280。端口(1B)274是同调试端口1A(224)通信的端口，而端口2B(278)是同调试端口2A(228)通信的端口。多通道开关 280选择端口(1B)274与端口2B(278)之一的信号耦合到连接器240的引脚组。

可选地，调试设备270包括的端口的数量与种类无需同存储设备210的调试端口一一对应。例如，调试设备270是通用调试设备，包括多种调试接口。当调试设备270被用于调试存储设备210时，选择其中的一种或多种接口来访问存储设备210。

图2C展示了根据本申请再一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图。

存储设备210通过主机接口230同主机220耦合。主机220通过主机接口230存储设备210提供存储命令。存储设备210还通过连接器240耦合调试设备270。

同图2B的实施例相比，图2C中，连接器240还包括一个或多个参考电压引脚。参考电压引脚传输参考电压信号。存储设备210是参考电压信号的提供方，而调试设备270是参考电压信号的接收方。调试端口(1A)224与调试端口(2A)228各自需要的电压依赖于控制部件214，而不依赖于调试设备270。为同调试端口(1A)224与调试端口(2A)228通信，调试设备270需要知晓并使用调试端口(1A)224与调试端口(2A)228各自的接口电压。

作为举例，调试端口(1A)224的接口电压为3.3V，而调试端口(2A)228的接口电压为1.8V。调试设备270为同调试端口(1A)224通信，而向连接器240的选择引脚施加第一值的选择信号，作为响应，多通道开关将指示3.3V接口电压的参考电压施加到参考电压引脚，使得多通道开关280 使用3.3V参考电压同引脚组传输信号。调试设备270为同调试端口(2A)228通信，而向连接器240 的选择引脚施加第二值的选择信号，作为响应，多通道开关将指示1.8V接口电压的参考电压施加到参考电压引脚，使得多通道开关280使用1.8V参考电压同引脚组传输信号。

图2C中，调试设备还包括选择控制单元282。选择控制单元282向多通道开关280施加控制信号，以指示多通道开关280选择端口(1B)274与端口(2B)278之一耦合到连接器240。选择控制单元 282还产生提供给连接器240的选择引脚的选择信号。选择信号同选择控制单元282对端口(1B)274 与端口(2B)278的选择相对应。选择控制开关282是例如按键或跳线，从而用户得以操作选择控制单元282来指示调试设备270要使用的端口(1B)274与端口(2B)278之一。依然可选地，选择控制单元282由耦合到调试设备270的计算机控制。

图2D展示了根据本申请另一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图。

存储设备212通过主机接口230同主机220耦合。主机220通过主机接口230存储设备212提供存储命令。存储设备212还通过连接器240耦合调试设备270。

同图2C的实施例相比，图2D中，存储设备212的控制单元214仅展示单一的调试接口(1A) 214。存储设备212不包括多通道开关。而是调试接口(1A)214直接耦合到连接器240的引脚组。存储设备无需响应连接器的选择引脚提供的选择信号。

可选地，存储设备向连接器240的参考电压引脚提供参考电压，以指示调试端口(1A)224的接口电压。

依然可选地，存储设备不向连接器240提供参考电压。调试设备270的根据端口1B(274)遵循的协议而设置用于端口(1B)274的接口电压，根据端口2B(278)遵循的协议而设置用于端口(2B) 278的接口电压。从而调试设备270不使用从连接器240的参考电压引脚获取的参考电压。

图3A展示了根据本申请的依然又一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图。

存储设备310通过主机接口330同主机320耦合。存储设备310还通过连接器340耦合调试设备 370。

存储设备310包括控制部件314与四个调试接口(分别记为调试接口(1A)322、调试接口(2A) 324、调试接口(3A)326与调试接口(4A)328)。存储设备310的四个调试接口的引线数量之和大于连接器340的引脚数量。存储设备310的四个调试接口通过多通道开关320耦合连接器340。连接器340包括引脚组1、引脚组2、一个选择引脚、与两个参考电压引脚。引脚组1的引脚通过多通道开关320耦合调试端口(1A)322与调试端口(2A)324；引脚组2的引脚通过多通道开关320耦合调试端口(3A)326与调试端口(4A)328。

选择引号提供的选择信号，指示多通道开关将引脚组1耦合到调试端口(1A)322与调试端口(2A) 324之一，则将引脚组2耦合到调试端口(3A)326与调试端口(4A)328之一。连接器340的两个参考电压引脚，分别指示引脚组1的接口电压与引脚组2的接口电压。

调试设备370包括多通道开关380、端口(1B)374与端口(2B)378。多通道开关380将端口(1B) 374与端口(2B)378耦合到连接器340的引脚组1和/或引脚组2。调试设备370还向连接器340的选择引脚提供选择信号。可选地，多通道开关还接收连接器340提供的参考电压。

端口(1B)同存储设备310的调试端口(1A)322相通信，而端口(2B)同调试端口(2A)324 通信。可选地，调试设备370不同调试端口(3A)326或调试端口(4A)328通信。依然可选地，通过使用其他调试设备，同调试端口(3A)326和/或调试端口(4A)328通信。

图3B展示了根据本申请的依然再一实施例的耦合的存储设备与调试设备的框图。

存储设备312通过主机接口330同主机320耦合。存储设备312还通过连接器340耦合调试设备 370。

同图3A的例子相比，图3B的实施例中，存储设备312包括两个控制部件(314与318)。控制部件314包括调试接口(1A)(322)与调试接口(2A)324，控制部件318包括调试接口(3A)326 与调试接口(4A)328。作为举例，控制部件314是主设备，而控制部件318是从设备。可选地，控制部件314与控制部件318是彼此独立的芯片。

图4A展示了根据本申请的实施例的耦合的存储设备、调试设备与调试主机的框图。

存储设备410通过主机接口430同主机420耦合。存储设备410还通过连接器440耦合调试设备 470。调试用的主机490耦合调试设备470，通过调试设备470访问存储设备410的调试端口。

存储设备410包括控制部件414与四个调试接口(分别记为调试接口(1A)422、调试接口(2A) 424、调试接口(3A)426与调试接口(4A)428)。存储设备410的四个调试接口的引线数量之和大于连接器440的引脚数量。存储设备410的四个调试接口通过多通道开关420耦合连接器440。

连接器440包括引脚组1、引脚组2、一个选择引脚、与两个参考电压引脚。

调试设备470包括多通道开关480、端口(1B)474与端口(2B)478。多通道开关480将端口(1B) 474与端口(2B)478耦合到连接器440的引脚组1和/或引脚组2。调试设备470还包括选择控制单元482。选择控制单元482向连接器440的选择引脚提供选择信号。选择控制单元482还向多通道开关480提供选择信号，以指示多通道开关480选择端口(1B)474或端口(2B)478耦合到连接器 440。选择控制单元482提供给多通道开关480的选择信号对应于其提供给连接器440的选择信号。可选地，多通道开关480还接收连接器440提供的参考电压。

调试用的主机490可拆卸地连接端口(1B)474和/或端口(2B)478。例如，主机490通过USB 协议连接端口(2B)478，而选择控制单元482是按键开关。用户将主机490连接端口(2B)478，并设置选择控制单元482，使得多通道开关480将端口2B(478)耦合到连接器440。选择控制单元 482还通过连接器440的选择引脚指示多通道开关420将引脚组1耦合到调试端口(2A)424，从而主机490得以通过端口(2B)478访问调试端口(2A)424。

可以理解地，移除主机490和/或调试设备470，可不影响存储设备410的工作，也可不影响存储设备410为主机420提供的存储服务。

图4B展示了根据本申请的又一实施例的耦合的存储设备、调试设备与调试主机的框图。

存储设备410通过主机接口430同主机420耦合。存储设备410还通过连接器440耦合调试设备 472。调试用的主机490耦合调试设备472，通过调试设备472访问存储设备410的调试端口。

同图4A相比，调试设备472同调试设备470的区别在于，还包括连接器484。连接器484是例如USB连接器。连接器484耦合端口1B(474)与端口2B(478)，主机490通过连接器484耦合端口1B(474)与端口2B(478)。选择控制单元482还耦合1B(474)与端口2B(478)，并选择1B(474)与端口2B(478)之一电连接到连接器484。例如，响应于选择控制单元482输出第一值，端口1B(474)电连接连接器484，而端口2B(478)同连接器484断开；响应于选择控制单元482 输出第二值，端口1B(474)同连接器484断开，而端口2B(478)电连接连接器484。相应地，响应于选择控制单元482输出第一值，多通道开关480将端口1B(474)电连接到连接器440，而响应于选择控制单元482输出第二值，多通道开关480将端口2B(478)电连接到连接器440。

选择控制单元482是例如按键。可选地，选择控制单元482还耦合主机490，从而主机490通过电信号控制选择控制单元482输出的值。

从而，仅使用主机的单一连接器或端口，得以访问调试设备的两个端口(1B与2B)，而无需频繁地插拔连线来变更使用的调试端口。进一步地，选择控制单元482通过向连接器440的选择引脚提供信号，使得端口1B(474)得以耦合存储设备410的例如调试端口1A(422)与调试端口3A(426) (若端口1B与调试端口3A属于同类端口，例如，都遵循JTAG协议)，而端口2B(478)得以耦合存储设备410的例如调试端口2A(424)与调试端口4A(428)(若端口2B与调试端口4A属于同类端口，例如，都遵循I2C协议)。

图5展示了根据本申请的再一实施例的耦合的存储设备、调试设备与调试主机的框图。

存储设备510通过主机接口530同主机520耦合。存储设备510还通过连接器540耦合调试设备 570。调试用的主机(590与592)耦合调试设备570，通过调试设备570访问存储设备510的调试端口。

存储设备510包括控制部件514与四个调试接口(分别记为调试接口(1A)522、调试接口(2A) 524、调试接口(3A)526与调试接口(4A)528)。存储设备510的四个调试接口的引线数量之和大于连接器540的引脚数量。连接器540包括引脚组1、引脚组2、一个选择引脚、与两个参考电压引脚。可选地，存储设备510的四个调试接口的引线数量之和大于连接器540的引脚组1与引脚组2 的引脚数量之和。

存储设备510的四个调试接口通过多通道开关520耦合连接器540。多通道开关520将引脚组1 和/或引脚组2的引脚一一对应地电连接到四个调试接口(调试接口(1A)522、调试接口(2A)524、调试接口(3A)526与调试接口(4A)528)的引线。由于引脚与引线数量不一致，多通道开关520 依据连接器的选择引脚的选择信号的指示，将引脚组1和/或引脚组2的引脚电连接到四个调试端口的1个、2个或3个，而断开引脚组1和/或引脚组2的引脚同其他调试端口的电连接。

调试设备570包括多通道开关580、端口(1B)572、端口(2B)574、端口(3B)576与端口(4B) 578。多通道开关580将端口(1B)572、端口(2B)574、端口(3B)576与端口(4B)578耦合到连接器540的引脚组1和/或引脚组2。

调试设备570还包括多个电平适配单元(示出为560、561、562、563、564与565)。电平适配单元适配多通道开关580输出信号的电平，使得提供给连接器540的引脚的电平满足其承载的传输协议的要求。作为举例，调试端口1A(522)使用1.8V接口电平，而调试端口2A(524)使用3.3V 接口电平。调试端口1A(522)和/或调试端口2A(524)将自身使用的接口电平提供给连接器540 的参考电压引脚。参考电压引脚耦合到电平适配单元(560、561、562、563、564与565)的一个或多个。依然作为举例，选择引脚指示将引脚组1电连接到调试端口1A(522)，而多通道开关520 也将调试端口1A(522)的接口电平通过参考电压引脚提供给电平适配单元(560、561与562)。以及多通道开关580将调试端口1B(572)输出的信号通过电平适配单元(560、561与562)耦合到引脚组1。电平适配单元(560、561与562)响应于接收到1.8V的参考电压，而将来自调试端口1B (572)输出的信号调节为具有1.8V的接口电平，从而调试端口1A(522)得以用相同的接口电平同调试端口1B(572)通信。依然作为举例，选择控制单元582断开调试端口1B(572)同引脚组1 的电连接，而希望用调试端口2B(574)同调试端口2A(524)通信。通过向选择引脚提供选择信号，多通道开关520将调试端口2A(524)电连接到引脚组1，而断开调试端口1A(522)同引脚组1的电连接。多通道开关520还将调试端口2A(524)的接口电平通过参考电压引脚提供给电平适配单元(560、561与562)。以及多通道开关580将调试端口2B(574)输出的信号通过电平适配单元(560、 561与562)耦合到引脚组1。电平适配单元(560、561与562)响应于接收到3.3V的参考电压，而将来自调试端口2B(574)输出的信号调节为具有3.3V的接口电平，从而调试端口2A(524)得以用相同的接口电平同调试端口2B(574)通信。可以理解地，电平适配单元(560、561与562)响应于接收到3.3V的参考电压，也将来自引脚组1输出的具有3.3V接口电平的信号调节为多通道开关 580和/或调试端口2B(574)可接受的接口电平。

从而，根据本申请的实施例，调试设备570通过连接器540得以访问多种接口，还得以访问具有不同接口电平的多种接口。

调试设备570还包括选择控制单元582。选择控制单元582向连接器540的选择引脚提供选择信号。选择控制单元582还向多通道开关580提供选择信号，以指示多通道开关580选择端口(1B) 572、端口(2B)574、端口(3B)576和/或端口(4B)578耦合到连接器540。选择控制单元582 提供给多通道开关580的选择信号对应于其提供给连接器540的选择信号。从而，多通道开关580 选择的端口(例如，端口1B(572))对应于多通道开关520选择的端口(例如，端口1A(522))。

调试设备还包括多个连接器(图5中，示出为连接器584与连接器588)。连接器584为例如USB 连接器，USB588为例如UART连接器。调试用主机590耦合连接器584，而调试用主机592耦合连接器588。连接器584耦合端口1B(572)与端口2B(574)，连接器588耦合端口3B(576)与端口4B(578)。主机590通过连接器584访问端口1B或端口2B，进而例如通过端口1B访问存储设备的调试端口1A，而通过端口2B访问存储设备的调试端口2A。

图6展示了根据本申请实施例的访问调试端口的流程图。

也参看图5，存储设备510工作期间耦合于主机520。控制部件514根据指定的工作方式，通过各调试端口输出调试信息和/或代表工作状态的日志信息(610)。可以理解地，即使未通过连接器 540耦合调试设备570，控制部件514依然生成调试信息和/或信息，然而可选地，生成的调试信息/ 日志信息不通过调试端口输出。

为获得调试信息，将调试设备570耦合到连接器540(620)，可选地还将调试用的主机(590或 592)耦合到调试设备570。通过设置调试设备的选择控制单元582选择要连接的调试端口(630)。作为举例，选择控制单元582是按键，按下按键代表要访问调试端口1A(522)与调试端口2A(524)，弹起按键代表要访问调试端口3A(526)与调试端口4A(528)。响应于按下按键，多通道开关580 将端口1B与端口2B的各引线连接到引脚组1与引脚组2，而调试设备570还向连接器540的选择引脚提供选择信号，使得多通道开关将引脚组1电连接到调试端口1A(522)，而将引脚组2电连接调试端口2A(524)。以及调试端口1A(522)还通过连接器540的参考电压引脚向调试设备570 提供其使用的接口电平，而调试端口2A(524)通过连接器540的参考电压引脚向调试设备570提供其使用的接口电平。从而调试设备570耦合到引脚组1的信号采用调试端口1A(522)的接口电平，而调试设备570耦合到引脚组2的信号采用调试端口2A(524)的接口电平。

由于多通道开关520与多通道开关580构建了从调试端口1A(522)通过连接器540的引脚组1 到端口1B(572)的电连接，主机590通过访问端口1B(572)得到调试端口1A(522)提供的调试信息(640)。以及主机也通过向端口1B(572)发送数据来向调试端口1A(522)发送调试命令。可选地，还重复步骤630与步骤640。在步骤630，将调试用的主机耦合到连接器(584与586)之一，和/或通过选择控制单元582选择要访问的端口(1B、2B、3B与4B)与调试端口(1A、2A、3A 与4A)，以及在步骤640，访问连接的端口以获取调试信息。

多通道开关520与多通道开关580构建了从调试端口2A(524)通过连接器540的引脚组2到端口2B(574)的电连接。例如主机590通过访问端口2B(574)得到调试端口2A(524)提供的调试信息。

在可选的实施方式中，调试设备570检测多个连接器(584、588)中的哪个被连接了主机，根据检测结果，多通道开关580选择被连接到连接器540的端口。例如，若连接器584被连接了主机，则将端口1B(572)和/或端口2B(574)连接到连接器540；若连接器588被连接了主机，则将端口 3B(576)和/或端口4B(578)连接到连接器540。

根据本申请实施例提供的连接器，用于向外部调试设备暴露电子设备的调试端口，并且能够展示多个调试端口，所展示的调试端口的引线数量之和大于连接器的引脚组的引脚数量。从而以有限的引脚数量向外提供更多数量的调试端口。有限的引脚数量限制了连接器的尺寸，从而有助于减少电子设备的体积，并降低成本。连接器还包括向被调试的电子设备提供选择信号的选择引脚。选择引脚用于指示对所提供的多个调试端口的选择。可选地，连接器还包括向调试设备提供参考电压的参考电压引脚。参考电压引脚用于指示电子设备的被选择的端口所使用的接口电平。

根据本申请实施例提供的紧凑型调试接口，包括连接器与多通道开关。紧凑型调试接口被设置于电子设备，多通道开关耦合连接器的引脚组，并向电子设备展示出多组引线。每组引线耦合例如电子设备的调试端口之一。连接器的选择引脚也耦合多通道开关，并指示多通道开关将多组引线之一连接到引脚组。

可选地，根据本申请实施的连接器还包括电源引脚，用于为电子设备供电。作为举例，通过电源引脚被电子设备的备用电源供电。而电子主机的主机接口也包括电源引脚，通过主机接口的电源引脚为电子设备的各部件供电。

虽然当前申请参考的示例被描述，其只是为了解释的目的而不是对本申请的限制，对实施方式的改变，增加和/或删除可以被做出而不脱离本申请的范围。

这些实施方式所涉及的、从上面描述和相关联的附图中呈现的教导获益的领域中的技术人员将认识到这里记载的本申请的很多修改和其他实施方式。因此，应该理解，本申请不限于公开的具体实施方式，旨在将修改和其他实施方式包括在所附权利要求书的范围内。尽管在这里采用了特定的术语，但是仅在一般意义和描述意义上使用它们并且不是为了限制的目的而使用。

Claims (10)

1.一种紧凑型调试接口的连接器，包括第一组引脚与选择引脚；

第一组引脚的各引脚用于传输第一调试端口与第二调试端口的多个信号；

选择引脚传输的选择信号指示将第一调试端或第二调试端口的多个信号电连接到第一组引脚，其中所述第一组引脚的引脚数量小于所述第一调试端口与所述第二调试端口的信号数量之和。

2.根据权利要求1所述的连接器，还包括参考电压引脚；

所述参考电压引脚的信号指示所述第一调试端口或第二调试端口使用的接口电平。

3.根据权利要求1或2所述的连接器，还包括第二组引脚；

第二组引脚的各引脚用于传输第三调试端口与第四调试端口的多个信号；

所述选择引脚传输的选择信号指示将第三调试端或第四调试端口的多个信号电连接到第二引脚组。

4.一种紧凑型调试接口，包括连接器与引脚压缩与解压缩单元；

所述连接器是根据权利要求1-3之一所述的连接器；

所述引脚压缩与解压缩单元耦合所述第一组引脚与所述选择引脚。

5.根据权利要求4所述的紧凑型调试接口，所述引脚压缩与解压缩单元是多通道开关；

响应于所述选择引脚的选择信号，所述多通道开关将所述第一组引脚电连接到第一组引线或第二组引线之一；

所述多通道开关还耦合所述参考电压引脚；

响应于所述选择引脚的选择信号，所述多通道开关将所述选择信号指示的第一组引线或第二组引线之一所使用的接口电平提供给所述参考电压引脚。

6.根据权利要求4或5所述的紧凑型调试接口，还包括电压适配单元；

所述电压适配单元耦合所述参考电压引脚与第一组引脚，根据所述参考电压引脚的信号调整提供给第一引脚组的信号的接口电平。

7.一种电子***，包括紧凑型调试接口、电子设备与调试设备；

所述电子设备通过所述紧凑型调试接口耦合所述调试设备；

所述紧凑型调试接口是根据权利要求4-6之一所述的紧凑型调试接口。

8.根据权利要求7所述的电子***，其中

所述调试设备包括第二引脚压缩与解压缩单元、第一端口与第二端口，其中第一端口是同第一调试端口对应的作为通信对端的端口，第二端口是同第二调试端口对应的作为通信对端的端口；

第二引脚压缩与解压缩单元选择第一端口与第二端口之一耦合到所述连接器的第一组引脚。

9.根据权利要求8所述的电子***，其中

所述调试设备还包括选择控制单元；

所述选择控制单元向所述连接器的选择引脚提供第一选择信号，以及向所述第二引脚压缩与解压缩单元提供第二选择信号；

其中，所述第一选择信号指示选择第一调试端口与第二调试端口之一，所述第二选择信号指示选择第一端口与第二端口之一，以及所述第一选择信号指示的调试端口与所述第二选择信号指示的端互为通信的对端并遵循相同的通信协议。

10.根据权利要求8或9所述的电子***，其中

所述调试设备还包括选择第一连接器与第二连接器；

所述第一连接器耦合所述第一端口，所述第二连接器耦合所述第二端口；

响应于第一连接器被连接了第二主机，选择控制单元提供的第一选择信号指示选择第一端口；

响应于第二连接器被连接了第二主机，选择控制单元提供的第一选择信号指示选择第二端口。

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