CN212134736U - 一种传感器寿命测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种传感器寿命测试装置，传感器包括磁性组件、总成电路板和用于固定总成电路板的外壳，磁性组件可转动地安装于外壳，磁性组件用于提供触发磁场，总成电路板根据触发磁场输出方波信号；该传感器寿命测试装置包括支架、转轴、固定组件以及驱动装置，转轴可转动地设置于支架的一侧，转轴用于固定安装磁性组件；固定组件围绕转轴固定设置于支架上，固定组件用于固定安装外壳；驱动装置设置于支架背离转轴的一侧并与转轴传动连接，驱动装置能够驱动转轴转动，转轴带动磁性组件相对于外壳转动，以测试传感器的使用寿命。本实用新型的传感器寿命测试装置，结构简单，测试稳定性好，可以进行长时间测试，实用性强，适合推广应用。

Description

一种传感器寿命测试装置

技术领域

本实用新型涉及传感器测试技术领域，尤其涉及一种传感器寿命测试装置。

背景技术

目前，市场上有一种用于同时测量旋转物体的方向和速度的传感器，其包括磁性组件、总成电路板和用于固定总成电路板的外壳，磁性组件可转动地安装于外壳，外壳套设在目标对象上，目标对象带动磁性组件旋转，磁性组件用于提供触发磁场，总成电路板根据触发磁场输出方波信号，根据方波信号检测目标对象的旋转方向和速度。

传感器需要进行寿命试验，通过寿命试验可以了解传感器的寿命特征、失效率和平均寿命，如结合失效分析，可进一步弄清导致传感器失效的主要失效机理，可以作为改进传感器新产品质量和性能的实验依据。但是，目前还缺少用于该同时测量旋转物体方向和速度的传感器的专用寿命测试装置。

需要说明的是，上述内容属于发明人的技术认知范畴，并不必然构成现有技术。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型的目的是提供一种传感器寿命测试装置，能够用于该同时测量旋转物体方向和速度的传感器的寿命测试，结构简单，测试稳定性好，可以进行长时间测试，实用性强，适合推广应用。

为实现上述目的，本实用新型提出了一种传感器寿命测试装置，所述传感器包括磁性组件、总成电路板和用于固定所述总成电路板的外壳，所述磁性组件可转动地安装于所述外壳，所述磁性组件用于提供触发磁场，所述总成电路板根据所述触发磁场输出方波信号，其特征在于，所述传感器寿命测试装置包括：支架；转轴，所述转轴可转动地设置于所述支架的一侧，所述转轴用于固定安装所述磁性组件；固定组件，所述固定组件围绕所述转轴固定设置于所述支架上，所述固定组件用于固定安装所述外壳；以及驱动装置，所述驱动装置设置于所述支架背离所述转轴的一侧并与所述转轴传动连接，所述驱动装置能够驱动所述转轴转动，所述转轴带动所述磁性组件相对于所述外壳转动，以测试所述传感器的使用寿命。

在一个示例中，所述固定组件包括支撑部件、夹持部件和止挡部件，所述支撑部件设置于所述转轴下方，所述支撑部件的上侧设置有支撑槽，且所述支撑槽的一侧具有缺口；所述夹持部件设置于所述转轴上方，所述夹持部件开设有与所述外壳的周向外缘相适配的卡槽，所述卡槽与所述支撑槽配合夹持所述外壳周向外缘的上下两侧，以限定所述外壳的轴向位置和竖直径向位置；所述止挡部件可拆卸地安装于所述支撑部件的所述缺口处，所述止挡部件与所述支撑部件相配合夹持所述外壳周向边缘的下侧两侧，以限定所述外壳的水平径向位置，从而所述支撑部件、所述夹持部件和所述止挡部件相配合夹持固定所述外壳。

在一个示例中，所述夹持部件上沿平行于所述转轴的方向设置有多个所述卡槽，所述支撑槽沿平行于所述转轴的方向延伸，所述止挡部件、所述支撑槽和所述夹持部件的长度与所述转轴的长度相匹配，所述固定组件能够夹持固定多个所述外壳。

在一个示例中，所述固定组件还包括固定板，所述固定板上开设有转轴孔，所述支撑部件、所述夹持部件和所述止挡部件垂直固定连接于所述固定板，并围绕所述转轴孔间隔布置，所述固定板与所述支架可拆卸连接，以将所述固定组件可拆卸安装于所述支架，所述转轴的一端穿过所述转轴孔与所述驱动装置连接。

在一个示例中，所述固定板上围绕所述转轴孔凸出设置有定位凸环，所述夹持部件紧邻所述定位凸环上侧，所述支撑部件紧邻所述定位凸环下侧，所述止挡部件可拆卸连接于所述固定板并紧邻所述定位凸环下侧。

在一个示例中，所述支撑部件、所述止挡部件和所述夹持部件与所述固定板可拆卸连接，且所述传感器寿命测试装置包括具有不同支撑槽长度的多个所述支撑部件、具有不同长度的多个所述止挡部件和具有不同长度及卡槽大小的多个所述夹持部件，所述支撑部件、所述止挡部件和所述夹持部件在所述固定板上的安装位置能够调整，以使所述固定组件适于夹持固定不同外部轮廓和尺寸的所述外壳。

在一个示例中，所述支撑槽的与所述缺口相对一侧的槽口设置槽口弧面，所述止挡部件设置有止挡弧面，且所述槽口弧面和所述止挡弧面与所述外壳的外周弧面相适配，以使所述支撑部件和所述止挡部件紧贴所述外壳的外周。

在一个示例中，所述外壳包括环形主体和沿径向凸出于所述环形主体外周的总成电路板固定部，所述总成电路板固定部具有沿所述环形主体外周切向的线束口；所述支撑槽的深度与所述总成电路板固定部的高度相适配，所述支撑部件在所述支撑槽的端部还设置有定位凸筋，所述定位凸筋凸出于所述支撑槽底部的高度与所述线束口的外径相适配；所述止挡部件安装于所述支撑部件的所述缺口处，并与所述定位凸筋抵接，以在所述止挡部件与所述支撑部件之间形成用于容置所述线束口的预留空间。

在一个示例中，所述传感器寿命测试装置包括具有不同的长度和/或外径的多根所述转轴，且所述转轴与所述支架可拆卸连接，以更换不同的所述转轴。

在一个示例中，所述传感器寿命测试装置还包括控制组件，所述控制组件与所述驱动装置连接，所述控制组件用于控制所述驱动装置工作，以调控所述转轴的转速和/或转动方向。

通过本实用新型提出的一种传感器寿命测试装置能够带来如下有益效果：

1、通过固定组件固定传感器的外壳，通过转轴带动磁性组件相对于外壳转动，能够模拟传感器的使用状态，实现对传感器使用寿命的测试，而且结构简单，测试稳定性好，可以进行长时间测试，实用性强，适合推广应用。

2、夹持部件开设有与外壳的周向外缘相适配的卡槽，支撑部件、夹持部件和止挡部件相配合夹持固定传感器外壳，对外壳的固定稳定可靠，通过止挡部件可以方便地安装固定或者拆除传感器，使用简单方便，而且结构简单易实现，节省材料，制造成本低，实用性强。

3、夹持部件设置多个卡槽，止挡部件、支撑槽和夹持部件的长度与转轴的长度相匹配，固定组件能够夹持固定多个外壳，从而可以批量测试多个传感器的使用寿命，有效提高测试效率，实用性强。

4、通过固定板能够将支撑部件、夹持部件和止挡部件一体集成固定安装于支架，有效保证固定组件在支架上的安装精度，而且拆装简单方便快捷，提高拆装效率，使用简单，方便维护更换，实用性强。

5、通过设置定位凸环，方便支撑部件、夹持部件和止挡部件与固定板连接的快速定位，保证连接精度，方便对传感器的定位安装，提高拆装效率，拆装使用简单方便快捷，实用性强。

6、不同支撑槽长度的多个支撑部件、不同长度的多个止挡部件和不同长度及卡槽大小的多个夹持部件均能在固定板上拆卸安装，以使固定组件适于夹持固定不同外部轮廓和尺寸的外壳，从而传感器寿命测试装置可以用于不同外形和尺寸的传感器的寿命测试，提高传感器寿命测试装置的兼容性和灵活性，适用范围更广，实用性强。

7、支撑部件设置槽口弧面，止挡部件设置止挡弧面，支撑部件和止挡部件与外壳的接触更加紧密，提高夹持外壳的稳定性，转轴带动磁性组件转动时外壳固定稳定不易滑动，有利于保证测试稳定，测试结构准确可靠，有利于进行长时间测试，实用性强。

8、预留空间方便引出传感器的连接线束，防止连接线束被挤压损坏，传感器寿命测试稳定可靠，实用性强。

9、不同外径的转轴可以用于固定不同尺寸的磁性组件，不同长度的转轴可以用于固定不同数量的磁性组件，从而传感器寿命测试装置可以用于不同外形、尺寸及数量的传感器的寿命测试，大大提高传感器寿命测试装置的兼容性和灵活性，适用范围更广，实用性强。

10、通过控制组件调控转轴的转速和/或转动方向，可以调整转轴的转动规律，以模拟传感器的实际应用场景，测试条件贴近真实工作状态，有效提高测试结果的准确性，实用性强。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型的一种传感器寿命测试装置的使用状态示意图；

图2为本实用新型的一种传感器寿命测试装置的立体结构示意图；

图3为本实用新型的一种传感器寿命测试装置的局部剖视图；

图4为本实用新型的固定组件的立体结构示意图；

图5为本实用新型的支撑部件的立体结构示意图；

图6为本实用新型的夹持部件的立体结构示意图；

图7为本实用新型的止挡部件的立体结构示意图；

图8为传感器的分解结构示意图。

具体实施方式

为了更清楚的阐释本实用新型的整体构思，下面结合说明书附图以示例的方式进行详细说明。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，还可以是通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。在本说明书的描述中，参考术语“一个方案”、“一些方案”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该方案或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个方案或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的方案或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个方案或示例中以合适的方式结合。

如图1～图8所示，本实用新型的实施例提出了一种传感器寿命测试装置100，其中，传感器200包括磁性组件201、总成电路板202和用于固定总成电路板的外壳203，磁性组件201可转动地安装于外壳203，磁性组件201用于提供触发磁场，总成电路板202根据触发磁场输出方波信号；传感器寿命测试装置100包括支架1、转轴2、固定组件3和驱动装置4，转轴2可转动地设置于支架1的一侧，转轴2用于固定安装磁性组件201；固定组件3围绕转轴2固定设置于支架1上，固定组件3用于固定安装外壳203；驱动装置4设置于支架1背离转轴2的一侧并与转轴2传动连接，驱动装置4能够驱动转轴2转动，转轴2带动磁性组件201相对于外壳203转动，以测试传感器200的使用寿命。通过固定组件3固定传感器200的外壳203，通过转轴2带动磁性组件201相对于外壳203转动，能够模拟传感器200的使用状态，实现对传感器200使用寿命的测试，而且结构简单，测试稳定性好，可以进行长时间测试，实用性强，适合推广应用。

在一个具体实施例中，驱动装置4为电机；支架1包括底板11和竖直板12，底板11用于支撑放置支架1，竖直板12垂直固定连接于底板11，转轴2、固定组件3和驱动装置4安装于竖直板12上。

具体地，固定组件3包括支撑部件31、夹持部件32和止挡部件33，支撑部件31设置于转轴2下方，支撑部件31的上侧设置有支撑槽311，且支撑槽311的一侧具有缺口312；夹持部件32设置于转轴2上方，夹持部件32开设有与外壳203的周向外缘相适配的卡槽321，卡槽321与支撑槽311配合夹持外壳203周向外缘的上下两侧，以限定外壳203的轴向位置和竖直径向位置；止挡部件33可拆卸地安装于支撑部件31的缺口312处，止挡部件33与支撑部件31相配合夹持外壳203周向边缘的下侧两侧，以限定外壳203的水平径向位置，从而支撑部件31、夹持部件32和止挡部件33相配合夹持固定外壳203。固定组件3夹持固定外壳203的周向外缘，对外壳203的固定稳定可靠，通过止挡部件33和夹持部件32可以方便地安装固定或者拆除传感器200，使用简单方便，而且结构简单易实现，节省材料，制造成本低，实用性强。

具体地，夹持部件32上沿平行于转轴2的方向设置有多个卡槽321，支撑槽311沿平行于转轴2的方向延伸，止挡部件33、支撑槽311和夹持部件32的长度与转轴2的长度相匹配，固定组件3能够夹持固定多个外壳203，从而可以批量测试多个传感器200的使用寿命，有效提高测试效率，实用性强。

具体地，固定组件3还包括固定板34，固定板34上开设有转轴孔341，支撑部件31、夹持部件32和止挡部件33垂直固定连接于固定板34，并围绕转轴孔341间隔布置，固定板34与支架1可拆卸连接，以将固定组件3可拆卸安装于支架1，转轴2的一端穿过转轴孔341与驱动装置4连接。通过固定板34能够将支撑部件31、夹持部件32和止挡部件33一体集成固定安装于支架1，有效保证固定组件3在支架1上的安装精度，而且拆装简单方便快捷，提高拆装效率，使用简单，方便维护更换，实用性强。

具体地，固定板34上围绕转轴孔341凸出设置有定位凸环342，夹持部件32紧邻定位凸环342上侧，支撑部件31紧邻定位凸环342下侧，止挡部件33可拆卸连接于固定板34并紧邻定位凸环342下侧。通过设置定位凸环342，方便支撑部件31、夹持部件32和止挡部件33与固定板34的快速连接定位，保证连接精度，方便对传感器200的定位安装，提高拆装效率，拆装使用简单方便快捷，实用性强。

具体地，支撑部件31、止挡部件33和夹持部件32与固定板34可拆卸连接，且所述传感器寿命测试装置100包括具有不同支撑槽311长度的多个所述支撑部件31、具有不同长度的多个所述止挡部件33和具有不同长度及卡槽321大小的多个所述夹持部件32，支撑部件31、止挡部件33和夹持部件32在固定板34上的安装位置能够调整，以使所述固定组件3适于夹持固定不同外部轮廓和尺寸的所述外壳203，从而传感器寿命测试装置100可以用于不同外形和尺寸的传感器200的寿命测试，提高传感器寿命测试装置100的兼容性和灵活性，适用范围更广，实用性强。

具体地，支撑槽311的与缺口312相对一侧的槽口设置槽口弧面313，止挡部件33设置有止挡弧面331，且槽口弧面313和止挡弧面331与外壳203的外周弧面相适配，以使支撑部件31和止挡部件33紧贴外壳203的外周。支撑部件31和止挡部件33与外壳203的接触更加紧密，提高夹持外壳203的稳定性，转轴2带动磁性组件201转动时外壳203固定稳定不易晃动，有利于保证测试稳定，测试结果准确可靠，有利于进行长时间测试，实用性强。

具体地，外壳203包括环形主体2031和沿径向凸出于环形主体2031外周的总成电路板固定部2032，总成电路板固定部2032具有沿环形主体2031外周切向的线束口204；支撑槽311的深度与总成电路板固定部2032的高度相适配，支撑部件31在支撑槽311的端部还设置有定位凸筋314，定位凸筋314凸出于支撑槽311底部的高度与线束口204的外径相适配；止挡部件33安装于支撑部件31的缺口312处，并与定位凸筋314抵接，以在止挡部件33与支撑部件31之间形成用于容置线束口204的预留空间。预留空间方便引出传感器200的连接线束，整齐美观，防止连接线束被挤压损坏，传感器200寿命测试稳定可靠，实用性强。

具体地，传感器寿命测试装置100包括具有不同的长度和/或外径的多根转轴2，且转轴2与支架1可拆卸连接，以更换不同的转轴2。不同外径的转轴2可以用于固定不同尺寸的磁性组件201，不同长度的转轴2可以用于固定不同数量的磁性组件201，从而传感器寿命测试装置100可以用于不同外形、尺寸及数量的传感器200的寿命测试，大大提高传感器寿命测试装置100的兼容性和灵活性，适用范围更广，实用性强。

具体地，传感器寿命测试装置100还包括控制组件，控制组件与驱动装置4连接，控制组件用于控制驱动装置4工作，以调控转轴2的转速和/或转动方向。通过控制组件调控转轴2的转速和/或转动方向，可以调整转轴2的转动规律，以模拟传感器200的实际应用场景，测试条件贴近真实工作状态，有效提高测试结果的准确性，实用性强。

在一个具体实施例中，控制组件包括单片机，通过单片机能够编程控制驱动装置4工作；控制组件与传感器200引出的连接线束连接，能够接收、记录和分析传感器200输出的方波信号，从而得到传感器200的寿命测试结果。

本实用新型的传感器寿命测试装置100在使用时，首先根据需要测试的传感器200的形状和尺寸，选取合适的转轴2和固定组件3；然后将多个或者单个传感器200的磁性组件201套设固定安装于转轴2上，固定组件3的支撑部件31和夹持部件32夹持固定外壳203的上下两侧，再安装止挡部件33完全夹持固定外壳203；最后将传感器200的连接线束从预留空间引出，并与控制组件连接，从而将传感器200安装于传感器寿命测试装置100。控制组件控制驱动装置4驱动转轴2按照一定的转速和/或转动方向的转动规律转动，带动磁性组件201相对于外壳203转动，磁性组件201的触发磁场触发总成电路板202，总成电路板202根据触发磁场输出方波信号，从而模拟传感器200的实际应用场景；驱动装置4持续驱动转轴2转动，完成对传感器200的寿命测试。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于***实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本实用新型的实施例而已，并不用于限制本实用新型。对于本领域技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种传感器寿命测试装置，所述传感器包括磁性组件、总成电路板和用于固定所述总成电路板的外壳，所述磁性组件可转动地安装于所述外壳，所述磁性组件用于提供触发磁场，所述总成电路板根据所述触发磁场输出方波信号，其特征在于，所述传感器寿命测试装置包括：

支架；

转轴，所述转轴可转动地设置于所述支架的一侧，所述转轴用于固定安装所述磁性组件；

固定组件，所述固定组件围绕所述转轴固定设置于所述支架上，所述固定组件用于固定安装所述外壳；以及

驱动装置，所述驱动装置设置于所述支架背离所述转轴的一侧并与所述转轴传动连接，所述驱动装置能够驱动所述转轴转动，所述转轴带动所述磁性组件相对于所述外壳转动，以测试所述传感器的使用寿命。

2.根据权利要求1所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述固定组件包括支撑部件、夹持部件和止挡部件，所述支撑部件设置于所述转轴下方，所述支撑部件的上侧设置有支撑槽，且所述支撑槽的一侧具有缺口；

所述夹持部件设置于所述转轴上方，所述夹持部件开设有与所述外壳的周向外缘相适配的卡槽，所述卡槽与所述支撑槽配合夹持所述外壳周向外缘的上下两侧，以限定所述外壳的轴向位置和竖直径向位置；

所述止挡部件可拆卸地安装于所述支撑部件的所述缺口处，所述止挡部件与所述支撑部件相配合夹持所述外壳周向边缘的下侧两侧，以限定所述外壳的水平径向位置，从而所述支撑部件、所述夹持部件和所述止挡部件相配合夹持固定所述外壳。

3.根据权利要求2所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述夹持部件上沿平行于所述转轴的方向设置有多个所述卡槽，所述支撑槽沿平行于所述转轴的方向延伸，所述止挡部件、所述支撑槽和所述夹持部件的长度与所述转轴的长度相匹配，所述固定组件能够夹持固定多个所述外壳。

4.根据权利要求2所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述固定组件还包括固定板，所述固定板上开设有转轴孔，所述支撑部件、所述夹持部件和所述止挡部件垂直固定连接于所述固定板，并围绕所述转轴孔间隔布置，所述固定板与所述支架可拆卸连接，以将所述固定组件可拆卸安装于所述支架，所述转轴的一端穿过所述转轴孔与所述驱动装置连接。

5.根据权利要求4所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述固定板上围绕所述转轴孔凸出设置有定位凸环，所述夹持部件紧邻所述定位凸环上侧，所述支撑部件紧邻所述定位凸环下侧，所述止挡部件可拆卸连接于所述固定板并紧邻所述定位凸环下侧。

6.根据权利要求4所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述支撑部件、所述止挡部件和所述夹持部件与所述固定板可拆卸连接，且所述传感器寿命测试装置包括具有不同支撑槽长度的多个所述支撑部件、具有不同长度的多个所述止挡部件和具有不同长度及卡槽大小的多个所述夹持部件，所述支撑部件、所述止挡部件和所述夹持部件在所述固定板上的安装位置能够调整，以使所述固定组件适于夹持固定不同外部轮廓和尺寸的所述外壳。

7.根据权利要求2所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述支撑槽的与所述缺口相对一侧的槽口设置槽口弧面，所述止挡部件设置有止挡弧面，且所述槽口弧面和所述止挡弧面与所述外壳的外周弧面相适配，以使所述支撑部件和所述止挡部件紧贴所述外壳的外周。

8.根据权利要求7所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述外壳包括环形主体和沿径向凸出于所述环形主体外周的总成电路板固定部，所述总成电路板固定部具有沿所述环形主体外周切向的线束口；

所述支撑槽的深度与所述总成电路板固定部的高度相适配，所述支撑部件在所述支撑槽的端部还设置有定位凸筋，所述定位凸筋凸出于所述支撑槽底部的高度与所述线束口的外径相适配；

所述止挡部件安装于所述支撑部件的所述缺口处，并与所述定位凸筋抵接，以在所述止挡部件与所述支撑部件之间形成用于容置所述线束口的预留空间。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述传感器寿命测试装置包括具有不同的长度和/或外径的多根所述转轴，且所述转轴与所述支架可拆卸连接，以更换不同的所述转轴。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的一种传感器寿命测试装置，其特征在于，所述传感器寿命测试装置还包括控制组件，所述控制组件与所述驱动装置连接，所述控制组件用于控制所述驱动装置工作，以调控所述转轴的转速和/或转动方向。

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