CN211856709U - 一种电流检测电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型实施例公开了一种电流检测电路，该电路包括控制开关、第一采样电阻、第二采样电阻以及中控芯片，控制开关的输入端与待检测电路的输出端电连接，控制开关的输出端分别与第一采样电阻的第一端以及第二采样电阻的第一端电连接；第一采样电阻的第二端以及第二采样电阻的第二端均接地设置；控制开关的控制端与中控芯片电连接；中控芯片还与第一采样电阻以及第二采样电阻电连接；第一采样电阻的阻值小于第二采样电阻的阻值。中控芯片根据流经第一采样电阻的电流值控制控制开关选择将第一采样电阻和第二采样电阻或者仅将第二采样电阻接入待检测电路输出端，可以实现针对待检测电路输出大电流和小电流的不同情况进行电流的精确测试。
Description
技术领域
本实用新型实施例涉及电流检测技术，尤其涉及一种电流检测电路。
背景技术
随着快充手机的普及，市面上移动电源也越来越多。在移动电源使用过程中，输出电流是一个很重要的参数，移动电源的输出电流太大可能导致移动电源烧毁，输出电流太小可能导致被充电设备无法正常充电。
现有技术中，移动电源的电流检测电路无法精确的测试移动电源的输出电流。
实用新型内容
本实用新型实施例提供一种电流检测电路，以实现了对待检测电路输出大电流和输出小电流的精确测试，达到对输出电流的精确测试。
本实用新型实施例提供了一种电流检测电路，该电流检测电路包括控制开关、第一采样电阻、第二采样电阻以及中控芯片，
所述控制开关的输入端与待检测电路的输出端电连接，所述控制开关的输出端分别与所述第一采样电阻的第一端以及所述第二采样电阻的第一端电连接；
所述第一采样电阻的第二端以及所述第二采样电阻的第二端均接地设置；
所述控制开关的控制端与所述中控芯片电连接；所述中控芯片还与所述第一采样电阻以及所述第二采样电阻电连接；
所述第一采样电阻的阻值小于所述第二采样电阻的阻值。
可选的，所述控制开关包括第一晶体管和第二晶体管；
所述第一晶体管的控制端以及所述第二晶体管的控制端均与所述中控芯片电连接；
所述第一晶体管的输入端以及所述第二晶体管的输入端均与所述待检测电路的输出端电连接；
所述第一晶体管的输出端与所述第一采样电阻的第一端电连接；所述第二晶体管的输出端与所述第二采样电阻的第一端电连接。
可选的，所述第一晶体管和所述第二晶体管的导电类型相同。
可选的，所述中控芯片包括第一电压检测单元和第二电压检测单元；所述第一电压检测单元第一端与所述第一采样电阻的第一端电连接，所述第一电压检测单元第二端与所述第一采样电阻的第二端电连接；所述第二电压检测单元第一端与所述第二采样电阻的第一端电连接，所述第二电压检测单元第二端与所述第二采样电阻的第二端电连接。
可选的，所述中控芯片检测流经所述第一采样电阻的电流值小于预设电流值时，控制所述控制开关将所述第二采样电阻接入所述待检测电路的输出端；所述中控芯片检测流经所述第一采样电阻的电流值大于预设电流值时，控制所述控制开关将所述第一采样电阻以及所述第二采样电阻均接入所述待检测电路的输出端。
本实用新型实施例中电流检测电路包括控制开关、第一采样电阻、第二采样电阻以及中控芯片，控制开关的输入端与待检测电路的输出端电连接，控制开关的输出端分别与第一采样电阻的第一端以及第二采样电阻的第一端电连接；第一采样电阻的第二端以及第二采样电阻的第二端均接地设置；控制开关的控制端与中控芯片电连接；中控芯片还与第一采样电阻以及第二采样电阻电连接；第一采样电阻的阻值小于第二采样电阻的阻值。根据中控芯片检测流经所述第一采样电阻的电流值的大小，控制控制开关选择第一采样电阻和第二采样电阻或者仅将第二采样电阻接入待检测电路输出端，可以实现针对待检测电路输出大电流和小电流的不同情况进行电流的精确测试。
附图说明
图1为本实用新型实施例一提供的一种电流检测电路结构框图；
图2为本实用新型实施例二提供的一种电流检测电路结构框图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。
实施例一
图1为本实用新型实施例一提供的一种电流检测电路结构框图，如图1所示，该电流检测电路包括控制开关10、第一采样电阻20、第二采样电阻30以及中控芯片40，
控制开关10的输入端与待检测电路的输出端电连接，控制开关10的输出端分别与第一采样电阻20的第一端以及第二采样电阻30的第一端电连接；
第一采样电阻20的第二端以及第二采样电阻30的第二端均接地设置；
控制开关10的控制端与中控芯片40电连接；中控芯片40还与第一采样电阻20以及第二采样电阻30电连接；
第一采样电阻20的阻值小于第二采样电阻30的阻值。
其中，中控芯片40与第一采样电阻20以及第二采样电阻30相连，中控芯片40与控制开关10的控制端电连接。该电流检测电路与待检测电路的输出端电连接后，中控芯片40先控制控制开关10将待检测电路的输出端与所述第一采样电阻20导通，中控芯片40检测第一采样电阻20的电压值，然后经过计算得到第一采样电阻20的电流值。若检测的第一采样电阻20的电流值小于预设电流值，说明此时待检测电路的输出端输出的是电流较小。因为电流较小时，使用小电阻采集分压计算电流的方式不准确，因此可以通过中控芯片40控制控制开关10将待检测电路的输出端与所述第二采样电阻30导通，此时通过采集第二采样电阻30的分压值计算待检测电路的输出端输出的电流会比较准确。
若检测的第一采样电阻20的电流值大于预设电流值，说明此时待检测电路的输出端输出的是电流较大。如果通过电阻采集分压计算电流的方式容易导致功耗过高，因此可以通过中控芯片40控制控制开关10将待检测电路的输出端与所述第一采样电阻20以及第二采样电阻30导通，此时第一采样电阻20和第二采样电阻30并联，因此总采样电阻小于第一采样电阻20的阻值，所以在实现对待检测电路的输出端输出大电流的同时，还可以节省功耗。
实施例二
图2是本实施例二提供的一种电流检测电路的结构框图，如图2所示，在上述实施例的基础上，进一步优化，可选的，控制开关包括第一晶体管11和第二晶体管12；
第一晶体管11的控制端以及第二晶体管12的控制端均与中控芯片40电连接；
第一晶体管11的输入端以及第二晶体管12的输入端均与待检测电路的输出端电连接；
第一晶体管11的输出端与第一采样电阻20的第一端电连接；第二晶体管12的输出端与第二采样电阻30的第一端电连接。
可选的，第一晶体管11和第二晶体管12的导电类型相同。
其中，需要说明的是，控制开关起到了切换接入第一采样电阻20和第二采样电阻30的作用，这里对控制开关类型不作限定。可选的，控制开关可以包括第一晶体管11和第二晶体管12，第一晶体管11和第二晶体管12的导电类型均为P型导电类型或均为N型导电类型。控制开关还可以是开关控制芯片。
继续参照图2，可选的，中控芯片40包括第一电压检测单元41和第二电压检测单元42；第一电压检测单元41第一端与第一采样电阻20的第一端电连接，第一电压检测单元41第二端与第一采样电阻20的第二端电连接；第二电压检测单元42第一端与第二采样电阻30的第一端电连接，第二电压检测单元42第二端与第二采样电阻30的第二端电连接。
中控芯片40检测流经第一采样电阻20的电流值小于预设电流值时，控制控制开关将第二采样电阻20接入待检测电路的输出端，此时对待检测电路的输出端输出小电流的情况进行检测；中控芯片40检测流经第一采样电阻20的电流值大于预设电流值时，控制控制开关10将第一采样电阻20以及第二采样电阻30均接入待检测电路的输出端，此时对待检测电路的输出端输出大电流的情况进行检测。
示例性的，待检测电路可以为移动电源的输出电路，移动电源的输出电路与控制开关电连接，在移动电源开始电量充足的时候，在对外界终端设备放电时，移动电源的输出电路中输出电流较大，中控芯片40与第一采样电阻20相连，中控芯片40通过第一电压检测单元41检测到第一采样电阻20的电压值，并计算得到对应的电流值。然后，中控芯片40判断检测到第一采样电阻20的电流值大小。
当检测到第一采样电阻20的电流值大于预设电流值时，控制控制开关将第一采样电阻20以及第二采样电阻30接入移动电源的输出电路中，移动电源的输出电路通过并联第一采样电阻20和第二采样电阻30，并联后其阻抗值变小，可以减小电流检测时的功耗。
当检测到第一采样电阻20的电流值小于预设电流值时，控制控制开关将第二采样电阻30接入移动电源的输出电路中，即切换为阻值较大的第二采样电阻30进行小电流的检测以提高电流检测的准确性。
本方解决了现有技术中在待检测电路输出较大的电流时，若接入较大的电阻，造成热损耗增大，电压测试不准等问题；同时也解决了在待检测电路输出较小的电流时，若接入较小的电阻，造成电压测试不准等问题，本方案中待检测电路的输出电流较大时接入并联的第一采样电阻和第二采样电阻，在待检测电路的输出电流较小时接入第二采样电阻，通过采样电阻的接入切换，实现了待检测电路输出电流的精确测试。
注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (5)
1.一种电流检测电路，其特征在于，包括控制开关、第一采样电阻、第二采样电阻以及中控芯片，
所述控制开关的输入端与待检测电路的输出端电连接，所述控制开关的输出端分别与所述第一采样电阻的第一端以及所述第二采样电阻的第一端电连接；
所述第一采样电阻的第二端以及所述第二采样电阻的第二端均接地设置；
所述控制开关的控制端与所述中控芯片电连接；所述中控芯片还与所述第一采样电阻以及所述第二采样电阻电连接；
所述第一采样电阻的阻值小于所述第二采样电阻的阻值。
2.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述控制开关包括第一晶体管和第二晶体管；
所述第一晶体管的控制端以及所述第二晶体管的控制端均与所述中控芯片电连接；
所述第一晶体管的输入端以及所述第二晶体管的输入端均与所述待检测电路的输出端电连接；
所述第一晶体管的输出端与所述第一采样电阻的第一端电连接；所述第二晶体管的输出端与所述第二采样电阻的第一端电连接。
3.根据权利要求2所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一晶体管和所述第二晶体管的导电类型相同。
4.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述中控芯片包括第一电压检测单元和第二电压检测单元；所述第一电压检测单元第一端与所述第一采样电阻的第一端电连接，所述第一电压检测单元第二端与所述第一采样电阻的第二端电连接；所述第二电压检测单元第一端与所述第二采样电阻的第一端电连接，所述第二电压检测单元第二端与所述第二采样电阻的第二端电连接。
5.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述中控芯片检测流经所述第一采样电阻的电流值小于预设电流值时，控制所述控制开关将所述第二采样电阻接入所述待检测电路的输出端；所述中控芯片检测流经所述第一采样电阻的电流值大于预设电流值时，控制所述控制开关将所述第一采样电阻以及所述第二采样电阻均接入所述待检测电路的输出端。
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| CN201922250583.4U CN211856709U (zh) | 2019-12-13 | 2019-12-13 | 一种电流检测电路 |
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| CN201922250583.4U CN211856709U (zh) | 2019-12-13 | 2019-12-13 | 一种电流检测电路 |
Publications (1)
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| CN201922250583.4U Active CN211856709U (zh) | 2019-12-13 | 2019-12-13 | 一种电流检测电路 |
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| CN (1) | CN211856709U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112834904A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-05-25 | 武汉光谷信息光电子创新中心有限公司 | 一种芯片老化测试***及方法 |
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2019
- 2019-12-13 CN CN201922250583.4U patent/CN211856709U/zh active Active
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