CN211318564U - 一种万用表多路检测电学参数值的*** - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种万用表多路检测电学参数值的***，包括，计算机、万用表、多通道模拟开关，所述电学参数值包括电压值、电流值、电阻值中的至少一种；所述多通道模拟开关，连接于所述万用表和待测点之间，并配置为，控制所述万用表和所述待测点之间的联通，以使所述万用表对所述待测点进行所述电学参数值的检测；所述计算机，与所述万用表和所述多通道模拟开关分别相连，并配置为，向所述多通道模拟开关发送控制指令，以及获取所述万用表检测的所述电学参数值，并进行记录和处理。根据本实用新型的技术方案，可以实现仅用一个万用表实现对多个检测点的电学参数值的检测，大大降低硬件测试成本，优化了测试条件。

Description

一种万用表多路检测电学参数值的***

技术领域

本实用新型总体涉及硬件检测领域，更具体地，涉及一种万用表多路检测电学参数值的技术。

背景技术

在硬件测试领域，常见电路的电压、电流等测试，而一般开发或生产的硬件检测工具数量都是受限的，一般一个仪表只能检测一个电压/电流检测点。如果有多个检测点，在仪表受限的情况下，很难快速有效的检测所有的检测点，测试过程十分不方便。

实用新型内容

针对以上问题，本实用新型的目的在于克服现有技术中一个仪表只能检测一个电压/电流检测点的缺陷，提供一种万用表多路检测电学参数值的***。

根据本实用新型的技术方案，提供一种万用表多路检测电学参数值的***，包括，计算机、万用表、多通道模拟开关，所述电学参数值包括电压值、电流值、电阻值中的至少一种；所述多通道模拟开关，连接于所述万用表和待测点之间，并配置为，控制所述万用表和所述待测点之间的联通，以使所述万用表对所述待测点进行所述电学参数值的检测；所述计算机，与所述万用表和所述多通道模拟开关分别相连，并配置为，向所述多通道模拟开关发送控制指令，以及获取所述万用表检测的所述电学参数值，并进行记录和处理。

可选地，所述待测点包括多个；所述多通道模拟开关与各所述待测点分别相连，并配置为，控制所述万用表分别和多个所述待测点之间的联通。

可选地，还包括切换开关控制设备，所述切换开关控制设备，连接于所述计算机和所述多通道模拟开关之间，并配置为，接收所述计算机的所述控制指令，以及控制所述多通道模拟开关在不同所述测试点之间的开关切换。

可选地，所述万用表的输入端和输出端分别与所述多通道模拟开关相连。

可选地，还包括连接装置，所述连接装置，连接于所述多通道模拟开关和所述待测点之间，并配置为，包括输入连接端和输出连接端；所述多通道模拟开关还配置为，联通所述万用表的所述输入端和所述连接装置的所述输入连接端；联通所述万用表的所述输出端和所述连接装置的所述输出连接端。

可选地，例如，所述待测点包括两个连接接口，所述输入连接端与所述待测点的一个连接接口相连；所述输出连接端与所述待测点的另一个连接接口相连。

可选地，例如，所述多通道模拟开关包括两个，分别为第一多通道模拟开关和第二多通道模拟开关，所述第一多通道模拟开关连接所述万用表的所述输入端和所述连接装置的所述输入连接端；所述第二多通道模拟开关连接所述万用表的所述输出端和所述连接装置的所述输出连接端。

可选地，例如，所述输入连接端包括多个；所述输出连接端包括多个；所述输入连接端和所述输出连接端的数量相同。

可选地，所述计算机还配置为，定时循环发送所述控制指令。

可选地，所述控制指令包括切换指令、开关指令中的至少一种。

本实用新型的优点在于：

1)根据本实用新型的技术方案，可以实现仅用一个万用表实现对多个检测点的电学参数值的检测，并可以实现数据记录和处理；

2)根据本实用新型的技术方案，可以大大降低硬件测试成本，优化了测试条件，并保存了硬件测试数据，为硬件测试提供了强有力的测试保证；

3)根据本实用新型的技术方案，可以实现实时、定时检测待测点的电压值、电流值、电阻值等电学参数值。

附图说明

图1示出了根据本实用新型的一种万用表多路检测电学参数值的***示意图。

图2示出了根据本实用新型的包括多个待测点的***的一种实施方式示意图。

图3示出了根据本实用新型的包括切换开关控制设备的***的一种实施方式示意图。

图4示出了根据本实用新型的包括连接装置的***的一种实施方式示意图。

图5示出了根据本实用新型的包括两个多通道模拟开关的***的一种实施方式示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，参考标号是指本实用新型中的组件、技术，以便本实用新型的优点和特征在适合的环境下实现能更易于被理解。下面的描述是对本实用新型权利要求的具体化，并且与权利要求相关的其它没有明确说明的具体实现也属于权利要求的范围。

图1示出了根据本实用新型的一种万用表多路检测电学参数值的***示意图。

如图1所示，提供一种万用表多路检测电学参数值的***，可以包括，计算机110、万用表120、多通道模拟开关130，所述电学参数值包括电压值、电流值、电阻值中的至少一种；所述多通道模拟开关130，连接于所述万用表120和待测点之间，并配置为，控制所述万用表120和所述待测点之间的联通，以使所述万用表120对所述待测点进行所述电学参数值的检测；所述计算机110，与所述万用表120和所述多通道模拟开关130分别相连，并配置为，向所述多通道模拟开关130发送控制指令，以及获取所述万用表120检测的所述电学参数值，并进行记录和处理。

所述万用表120是一种可以测量电压、电流、电阻等电学参数值的电学测量仪表。例如安捷伦系列的万用表等。所述电压可以包括直流电压、交流电压，所述电流可以包括直流电流、交流电流。例如，所述万用表120可以测量待测电路的电流值、电压值等，还可以测量例如二极管的电阻值等。所述待测点可以包括但不限于电路、二极管等元件的待测位置。

所述多通道模拟开关130可以是一种控制所述万用表120和所述待测点之间是否进行联通的模拟开关装置，且可以是包括多个控制通道的开关，每个待测点和所述万用表120之间的联通可以通过所述多通道模拟开关130中的至少一个通道控制即可。所述万用表120与所述多通道模拟开关130之间可以通过直接或者间接连接，可以通过有线或者无线的方式连接，还可以通过接口、串口等方式进行连接。所述多通道模拟开关130与所述待测点之间可以通过直接或者间接连接，可以通过有线或者无线的方式连接，还可以通过接口、串口等方式进行连接。所述多通道模拟开关130可以是一种集成式开关，可以通过芯片等方式实现，例如型号为HEF4051的芯片。

所述计算机110与所述万用表120之间或者所述计算机110与所述多通道模拟开关130之间可以通过直接或者间接连接，可以通过有线或者无线的方式连接，可以通过物理或者逻辑连接，还可以通过接口、串口等方式进行连接。例如通过通用串行总线usb接口、通用异步收发传输器uart等进行连接。所述计算机110可以向所述多通道模拟开关130发送控制指令，以使所述多通道模拟开关130按照指令内容实现开合。所述计算机110还可以从所述万用表120处实时或者定时获取已检测的所述电学参数值，并进行记录、显示、处理等操作。所述处理可以包括但不限于绘制所述电学参数值变化的曲线。所述显示可以通过所述计算机110自有的显示屏幕进行显示，或者也可以通过外接显示器进行显示，以实现人机互动。所述计算机110是一种可以用于高速计算的电子计算机器，也可以以处理器、控制器、计算器、芯片等或者其集合的方式实现。

根据本实用新型的一种实施方式，例如，所述控制指令可以包括切换指令、开关指令等中的至少一种。例如，所述计算机110可以向所述多通道模拟开关130发送切换通道的指令，或者也可以发送开关是否开合的指令，或者同时发送切换到某通道，以及打开该通道关闭其他通道的指令等。

根据本实用新型的一种实施方式，所述计算机110还可以配置为，定时循环发送所述控制指令。所述定时可以是指间隔固定时间发送一次所述控制指令，所述定时的控制可以通过计时器或者芯片等实现。所述循环可以是指控制所述多通道模拟开关130的各通道切换或/和开合的指令，并进行循环。例如，所述多通道模拟开关130具有8个通道，分别标号1、2、3、4、5、6、7、8以方便说明，所述循环可以是指依次发布打开1通道开关、打开2通道开关、打开3通道开关、打开4通道开关、打开5通道开关、打开6通道开关、打开7通道开关、打开8通道开关的控制命令，然后又重复发布上述打开1通道开关～打开8通道开关的控制指令，以此循环。也可以不按照1-8的顺序，可以例如1、3、5、7、2、4、6、8的顺序等进行循环，或者也可以不打开所有通道，只循环其中的某个或者部分通道，例如1、1、1的顺序、1、2、3、4、1、2、3、4的顺序等进行循环。

图2示出了根据本实用新型的包括多个待测点的***的一种实施方式示意图。

如图2所示，所述待测点可以包括多个；所述多通道模拟开关130与各所述待测点分别相连，并配置为，控制所述万用表120分别和多个所述待测点之间的联通。

所述多通道模拟开关130可以包括多个控制通道，所述多个控制通道可以分别和多个所述待测点相连，例如每个控制通道可以连接一个所述待测点。所述多通道模拟开关130可以通过控制各通道的打开和关闭，实现所述万用表120与多个所述待测点之间的分别联通，从而实现仅用一个所述万用表就可以依次或间隔或同时测量多个所述待测点，而无需人工手动操作、费时费力。

图3示出了根据本实用新型的包括切换开关控制设备的***的一种实施方式示意图。

如图3所示，还可以包括切换开关控制设备310，所述切换开关控制设备310，连接于所述计算机110和所述多通道模拟开关130之间，并配置为，接收所述计算机110的所述控制指令，以及控制所述多通道模拟开关130在不同所述测试点之间的开关切换。

所述切换开关控制设备310可以根据所述控制指令，控制所述多通道模拟开关130中各通道的开启和关闭，从而起到切换通道的作用。所述切换开关控制设备310与所述计算机110或者与所述多通道模拟开关130之间的连接可以通过直接或者间接连接，可以通过有线或者无线的方式连接，可以通过物理或者逻辑连接，还可以通过接口、串口等方式进行连接。例如通过通用串行总线usb接口、通用异步收发传输器uart等进行连接。所述切换开关控制设备310可以采用Z32HuB型芯片等。

图4示出了根据本实用新型的包括连接装置的***的一种实施方式示意图。

如图4所示，所述万用表120的输入端IN₀和输出端OUT₀可以分别与所述多通道模拟开关130相连。

所述万用表120可以包括输入端IN₀和输出端OUT₀，可以通过外接表笔与待测电路或者元器件等连接。例如，红色表笔连接为输入端IN₀，黑色表笔连接为输出端OUT₀。所述输入端IN₀和输出端OUT₀可以是指电流通过所述万用表120的方向，例如电流流入所述万用表120的方向为所述万用表120的输入端IN₀，电流流出所述万用表120的方向为所述万用表120的输出端OUT₀。所述外接表笔与所述待测电路连接可以是，所述红色表笔连接所述待测电路的正极，所述黑色表笔连接所述待测电路的负极。

所述万用表120与所述多通道模拟开关130相连时，可以有多种连接方式，例如所述万用表120通过两个表笔将所述输入端IN₀和所述输出端OUT₀分别和所述多通道模拟开关130相连。

根据本实用新型的一种实施方式，所述待测点可以包括两个连接接口。例如待测电路的正极和负极、待测二极管的阳极和阴极、待测电阻等元器件的两端等。每个所述待测点的两个连接接口可以与所述多通道模拟开关130的一个通道相连，也可以与所述多通道模拟开关130的两个通道分别相连。如果是每个所述待测点的两个连接接口与所述多通道模拟开关130的两个通道分别相连，所述多通道模拟开关130可以控制所述万用表120的输入端IN₀和输出端OUT₀分别和每个所述待测点的所述两个连接接口联通，且所述多通道模拟开关130中的通道数量至少是所述待测点数量的两倍。

根据本实用新型的一种实施方式，还可以包括连接装置410，所述连接装置410，连接于所述多通道模拟开关130和所述待测点之间，并配置为，包括输入连接端IN和输出连接端OUT；所述多通道模拟开关130还配置为，联通所述万用表120的所述输入端IN₀和所述连接装置410的所述输入连接端IN；联通所述万用表120的所述输出端OUT₀和所述连接装置410的所述输出连接端OUT。

所述连接装置410和所述多通道模拟开关130或者和所述待测点之间的连接可以通过直接或者间接连接，可以通过有线或者无线的方式连接，可以通过物理或者逻辑连接，还可以通过接口、串口等方式进行连接。例如通过通用串行总线usb接口、通用异步收发传输器uart等进行连接。所述输入连接端IN和所述输出连接端OUT可以是通过插针、引脚等方式实现。所述输入连接端IN与所述万用表的输入端IN₀可以通过所述多通道模拟开关130进行导通，所述输出连接端OUT与所述万用表的输出端OUT₀可以通过所述多通道模拟开关130进行导通。当所述待测点为多个时，多个所述待测点可以分别与所述连接装置410连接。

所述输入连接端IN可以包括多个；所述输出连接端OUT可以包括多个；所述输入连接端IN和所述输出连接端OUT的数量可以相同。一个所述输入连接端IN和一个所述输出连接端OUT可以组成为一组连接端。所述万用表的输入端IN₀与多个所述输入连接端IN可以通过一对多的方式进行导通，所述万用表的输出端OUT₀与多个所述输出连接端OUT可以通过一对多的方式进行导通。

根据本实用新型的一种实施方式，所述待测点包括两个连接接口，所述输入连接端IN与所述待测点的一个连接接口相连；所述输出连接端OUT与所述待测点的另一个连接接口相连。当所述待测点为多个时，每组连接端中的所述输入连接端IN与一个所述待测点的一个连接接口相连，该组连接端中的所述输出连接端OUT与该所述待测点的另一个连接接口相连，例如如图4所示的连接实施例，以实现多组连接端与多个待测点之间的连接。

图5示出了根据本实用新型的包括两个多通道模拟开关的***的一种实施方式示意图。

如图5所示，所述多通道模拟开关130可以包括两个，分别为第一多通道模拟开关131和第二多通道模拟开关132，所述第一多通道模拟开关131可以连接所述万用表120的所述输入端IN₀和所述连接装置410的所述输入连接端IN；所述第二多通道模拟开关132可以连接所述万用表120的所述输出端OUT₀和所述连接装置410的所述输出连接端OUT。

所述输入连接端IN为多个时，所述第一多通道模拟开关131与多个所述输入连接端IN分别相连；当所述输出连接端OUT为多个时，所述第二多通道模拟开关132与多个所述输出连接端OUT分别相连。

所述待测点为多个时，可以分别与所述连接装置410相连。每个所述待测点的两端可以分别与每组连接端的输入连接端IN和输出连接端OUT相连，根据本实施方式，可以实现一个所述万用表120的输入端IN₀和输出端OUT₀可以分别与多个待测点的两端连接。

如图5所示，本实施方式中，还可以包括所述切换开关控制设备310，与所述计算机110、所述第一多通道模拟开关131、所述第二多通道模拟开关132分别相连，从而实现对所述第一多通道模拟开关131和所述第二多通道模拟开关132的分别控制。根据本实施方式，所述切换开关控制设备310可以同时控制所述第一多通道模拟开关131和所述第二多通道模拟开关132的各通道的开启和关闭，以实现对同一待测点的快速导通以及快速测量。如果切换速度足够快，几乎可以实现对所有所述待测点的同时检测。

本实用新型的优点在于：

1)根据本实用新型的技术方案，可以实现仅用一个万用表对多个检测点的电学参数值的检测，并可以实现数据记录和处理，真正实现了一表多用；

2)根据本实用新型的技术方案，可以大大降低硬件测试成本，优化了测试条件，并保存了硬件测试数据，为硬件测试提供了强有力的测试保证；

3)根据本实用新型的技术方案，可以实现实时、定时检测待测点的电压值、电流值、电阻值等电学参数值，且检测速度快、检测效率高。

应该注意的是，上述实施例对本实用新型进行说明而不是对本实用新型进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。

Claims (10)

1.一种万用表多路检测电学参数值的***，其特征在于，包括，计算机、万用表、多通道模拟开关，

所述电学参数值包括电压值、电流值、电阻值中的至少一种；

所述多通道模拟开关，连接于所述万用表和待测点之间，并配置为，

控制所述万用表和所述待测点之间的联通，以使所述万用表对所述待测点进行所述电学参数值的检测；

所述计算机，与所述万用表和所述多通道模拟开关分别相连，并配置为，

向所述多通道模拟开关发送控制指令，以及获取所述万用表检测的所述电学参数值，并进行记录和处理。

2.根据权利要求1所述的***，其特征在于，

所述待测点包括多个；

所述多通道模拟开关与各所述待测点分别相连，并配置为，

控制所述万用表分别和多个所述待测点之间的联通。

3.根据权利要求1或2所述的***，其特征在于，还包括切换开关控制设备，

所述切换开关控制设备，连接于所述计算机和所述多通道模拟开关之间，并配置为，

接收所述计算机的所述控制指令，

以及控制所述多通道模拟开关在不同所述待测点之间的开关切换。

4.根据权利要求3所述的***，其特征在于，

所述万用表的输入端和输出端分别与所述多通道模拟开关相连。

5.根据权利要求4所述的***，其特征在于，还包括连接装置，

所述连接装置，连接于所述多通道模拟开关和所述待测点之间，并配置为，包括输入连接端和输出连接端；

所述多通道模拟开关还配置为，

联通所述万用表的所述输入端和所述连接装置的所述输入连接端；

联通所述万用表的所述输出端和所述连接装置的所述输出连接端。

6.根据权利要求5所述的***，其特征在于，其中，

所述待测点包括两个连接接口，

所述输入连接端与所述待测点的一个连接接口相连；

所述输出连接端与所述待测点的另一个连接接口相连。

7.根据权利要求5所述的***，其特征在于，其中，

所述多通道模拟开关包括两个，分别为第一多通道模拟开关和第二多通道模拟开关，

所述第一多通道模拟开关连接所述万用表的所述输入端和所述连接装置的所述输入连接端；

所述第二多通道模拟开关连接所述万用表的所述输出端和所述连接装置的所述输出连接端。

8.根据权利要求5所述的***，其特征在于，其中，

所述输入连接端包括多个；

所述输出连接端包括多个；

所述输入连接端和所述输出连接端的数量相同。

9.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述计算机还配置为，

定时循环发送所述控制指令。

10.根据权利要求1所述的***，其特征在于，其中，

所述控制指令包括切换指令、开关指令中的至少一种。

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