CN211086378U - 一种顶针式的集成电路测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种顶针式的集成电路测试治具，包括基座、按压台、盖体、放置槽和吸附结构，所述基座底部的拐角位置处皆设有吸附结构，且基座顶部的中心位置处设有放置槽，并且基座的顶部安装有盖体，所述盖体底部的两侧皆设有定位结构，且盖体内部的中心位置处设有通槽，通槽的两内侧壁上皆固定有承载板，并且相邻承载板之间的通槽内部设有按压台，所述按压台底部的中心位置处设有缓冲结构，且按压台两侧的承载板外壁上皆设有限位槽，并且限位槽内部的一端设有限位块。本实用新型不仅降低了测试治具使用时因力度过大对放置于放置槽内部芯片造成损伤的现象，提高了测试治具使用时的稳定性，而且提高了测试治具使用时的精准性。

Description

一种顶针式的集成电路测试治具

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域，具体为一种顶针式的集成电路测试治具。

背景技术

现在电子封装的工艺技术和发展趋势是拥有更高的电性能和热性能，其具有轻、薄、小、批量生产、便于安装与使用的特性需求，器件的小型化高密度封装形式也越来越多，因而需对其进行测试处理，因此需使用到相应的测试治具。

现今市场上的此类测试治具种类繁多，基本可以满足人们的使用需求，但是依然存在一定的不足之处，具体问题有以下几点。

(1)现有的此类测试治具不便于对顶针进行缓冲，导致其测试过程中易因力度较大致使芯片损坏，时常困扰着人们；

(2)现有的此类测试治具不便于对基座进行定位，导致其易出现偏移的现象，稳定性一般；

(3)现有的此类测试治具不便于使盖体与基座呈水平结构，导致其易出现一定的偏差，测试精准性一般。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种顶针式的集成电路测试治具，以解决上述背景技术中提出测试治具不便于对顶针进行缓冲、不便于对基座进行定位以及不便于使盖体与基座呈水平结构的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种顶针式的集成电路测试治具，包括基座、按压台、盖体、放置槽和吸附结构，所述基座底部的拐角位置处皆设有吸附结构，且基座顶部的中心位置处设有放置槽，并且基座的顶部安装有盖体，所述盖体底部的两侧皆设有定位结构，且盖体内部的中心位置处设有通槽，通槽的两内侧壁上皆固定有承载板，并且相邻承载板之间的通槽内部设有按压台，所述按压台底部的中心位置处设有缓冲结构，且按压台两侧的承载板外壁上皆设有限位槽，并且限位槽内部的一端设有限位块，限位块的一端延伸至限位槽的外部并与按压台的外壁固定连接。

优选的，所述按压台上方的承载板外壁上通过支板安装有复位弹簧，复位弹簧的底端与按压台的顶端固定连接。

优选的，所述定位结构的内部依次设有第一通孔、第二通孔、定位栓、定位槽以及定位板，所述盖体底部的两侧皆设有定位槽，且第一通孔一侧的内壁上设有第二通孔，第二通孔的一端延伸至盖体的外部。

优选的，所述定位槽内部的中心位置处设有定位板，定位板的底端延伸至定位槽的外部并与基座的顶端固定连接。

优选的，所述定位板内部的中心位置处设有第一通孔，且第一通孔的内部设有定位栓，定位栓的一端贯穿第二通孔并延伸至盖体的外部。

优选的，所述缓冲结构的内部依次设有燕尾槽、伸缩弹簧、限位盘以及顶针，所述按压台底部的中心位置处设有燕尾槽，且燕尾槽内部的底端设有限位盘。

优选的，所述限位盘顶端的中心位置处设有伸缩弹簧，伸缩弹簧的顶端与燕尾槽的顶部固定连接，且限位盘底端的中心位置处设有顶针，顶针的底端延伸至燕尾槽的外部。

优选的，所述吸附结构的内部依次设有工型紧固件、紧固槽、微型吸盘以及安置槽，所述基座底部的拐角位置处皆设有安置槽，且安置槽上方的基座内部皆设有紧固槽。

优选的，所述安置槽内部的底端固定有微型吸盘，且微型吸盘顶端的中心位置处设有工型紧固件，工型紧固件的顶端延伸至紧固槽的内部并与紧固槽的顶部固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该顶针式的集成电路测试治具不仅降低了测试治具使用时因力度过大对放置于放置槽内部芯片造成损伤的现象，提高了测试治具使用时的稳定性，而且提高了测试治具使用时的精准性；

(1)通过设置有燕尾槽、伸缩弹簧、限位盘以及顶针，通过伸缩弹簧的弹性作用，使限位盘在燕尾槽的内部上移，顶针则会同步进行上移，以便进行缓冲处理，从而降低了测试治具使用时因力度过大对放置于放置槽内部芯片造成损伤的现象；

(2)通过设置有工型紧固件、紧固槽、微型吸盘以及安置槽，通过紧固槽内部的工型紧固件将微型吸盘定位设置于安置槽的内部，当基座与放置面相接触时，微型吸盘则会与放置面相吸附，以便对基座进行定位，避免其出现偏移的现象，从而提高了测试治具使用时的稳定性；

(3)通过设置有第一通孔、第二通孔、定位栓、定位槽以及定位板，通过将定位板扣入至定位槽的内部，同时将定位栓贯穿第二通孔以及第一通孔，以便将盖体定位设置于基座的顶端，并使两者呈水平结构，避免其出现一定的偏差，从而提高了测试治具使用时的精准性。

附图说明

图1为本实用新型的正视剖面结构示意图；

图2为本实用新型的定位结构剖视放大结构示意图；

图3为本实用新型的缓冲结构剖视放大结构示意图；

图4为本实用新型的吸附结构剖视放大结构示意图；

图5为本实用新型的俯视结构示意图。

图中：1、基座；2、承载板；3、复位弹簧；4、通槽；5、按压台；6、限位块；7、盖体；8、定位结构；801、第一通孔；802、第二通孔；803、定位栓；804、定位槽；805、定位板；9、限位槽；10、缓冲结构；1001、燕尾槽；1002、伸缩弹簧；1003、限位盘；1004、顶针；11、放置槽；12、吸附结构；1201、工型紧固件；1202、紧固槽；1203、微型吸盘；1204、安置槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，本实用新型提供的一种实施例：一种顶针式的集成电路测试治具，包括基座1、按压台5、盖体7、放置槽11和吸附结构12，基座1底部的拐角位置处皆设有吸附结构12，吸附结构12的内部依次设有工型紧固件1201、紧固槽1202、微型吸盘1203以及安置槽1204，基座1底部的拐角位置处皆设有安置槽1204，且安置槽1204上方的基座1内部皆设有紧固槽1202，安置槽1204内部的底端固定有微型吸盘1203，且微型吸盘1203顶端的中心位置处设有工型紧固件1201，工型紧固件1201的顶端延伸至紧固槽1202的内部并与紧固槽1202的顶部固定连接；

通过紧固槽1202内部的工型紧固件1201将微型吸盘1203定位设置于安置槽1204的内部，当基座1与放置面相接触时，微型吸盘1203则会与放置面相吸附，以便对基座1进行定位，避免其出现偏移的现象，提高测试治具的稳定性；

且基座1顶部的中心位置处设有放置槽11，并且基座1的顶部安装有盖体7，盖体7底部的两侧皆设有定位结构8，定位结构8的内部依次设有第一通孔801、第二通孔802、定位栓803、定位槽804以及定位板805，盖体7底部的两侧皆设有定位槽804，且第一通孔801一侧的内壁上设有第二通孔802，第二通孔802的一端延伸至盖体7的外部，定位槽804内部的中心位置处设有定位板805，定位板805的底端延伸至定位槽804的外部并与基座1的顶端固定连接，定位板805内部的中心位置处设有第一通孔801，且第一通孔801的内部设有定位栓803，定位栓803的一端贯穿第二通孔802并延伸至盖体7的外部；

通过将定位板805扣入至定位槽804的内部，同时将定位栓803贯穿第二通孔802以及第一通孔801，以便将盖体7定位设置于基座1的顶端，并使两者呈水平结构，避免其出现一定的偏差，提高测试治具使用时的精准性；

且盖体7内部的中心位置处设有通槽4，通槽4的两内侧壁上皆固定有承载板2，并且相邻承载板2之间的通槽4内部设有按压台5，按压台5上方的承载板2外壁上通过支板安装有复位弹簧3，复位弹簧3的底端与按压台5的顶端固定连接，以便使按压台5复位至原处；

按压台5底部的中心位置处设有缓冲结构10，缓冲结构10的内部依次设有燕尾槽1001、伸缩弹簧1002、限位盘1003以及顶针1004，按压台5底部的中心位置处设有燕尾槽1001，且燕尾槽1001内部的底端设有限位盘1003，限位盘1003顶端的中心位置处设有伸缩弹簧1002，伸缩弹簧1002的顶端与燕尾槽1001的顶部固定连接，且限位盘1003底端的中心位置处设有顶针1004，顶针1004的底端延伸至燕尾槽1001的外部；

通过伸缩弹簧1002的弹性作用，使限位盘1003在燕尾槽1001的内部上移，顶针1004则会同步进行上移，以便进行缓冲处理，降低因力度过大对放置于放置槽11内部芯片造成损伤的现象发生；

且按压台5两侧的承载板2外壁上皆设有限位槽9，并且限位槽9内部的一端设有限位块6，限位块6的一端延伸至限位槽9的外部并与按压台5的外壁固定连接。

工作原理：当测试治具使用时，首先将芯片放置于放置槽11的内部，通过将定位板805扣入至定位槽804的内部，同时将定位栓803贯穿第二通孔802以及第一通孔801，以便将盖体7定位设置于基座1的顶端，并使两者呈水平结构，避免其出现一定的偏差，提高测试治具使用时的精准性，再通过紧固槽1202内部的工型紧固件1201将微型吸盘1203定位设置于安置槽1204的内部，当基座1与放置面相接触时，微型吸盘1203则会与放置面相吸附，以便对基座1进行定位，避免其出现偏移的现象，提高测试治具的稳定性，之后通过按压按压台5，使限位块6在限位槽9的内部下移，经按压台5带动顶针1004同步下移，以便对芯片进行测试，同时因复位弹簧3的复合作用，可使按压台5复位至原处，最后通过伸缩弹簧1002的弹性作用，使限位盘1003在燕尾槽1001的内部上移，顶针1004则会同步进行上移，以便进行缓冲处理，降低因力度过大对放置于放置槽11内部芯片造成损伤的现象发生，从而完成测试治具的使用。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (9)

1.一种顶针式的集成电路测试治具，包括基座(1)、按压台(5)、盖体(7)、放置槽(11)和吸附结构(12)，其特征在于：所述基座(1)底部的拐角位置处皆设有吸附结构(12)，且基座(1)顶部的中心位置处设有放置槽(11)，并且基座(1)的顶部安装有盖体(7)，所述盖体(7)底部的两侧皆设有定位结构(8)，且盖体(7)内部的中心位置处设有通槽(4)，通槽(4)的两内侧壁上皆固定有承载板(2)，并且相邻承载板(2)之间的通槽(4)内部设有按压台(5)，所述按压台(5)底部的中心位置处设有缓冲结构(10)，且按压台(5)两侧的承载板(2)外壁上皆设有限位槽(9)，并且限位槽(9)内部的一端设有限位块(6)，限位块(6)的一端延伸至限位槽(9)的外部并与按压台(5)的外壁固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种顶针式的集成电路测试治具，其特征在于：所述按压台(5)上方的承载板(2)外壁上通过支板安装有复位弹簧(3)，复位弹簧(3)的底端与按压台(5)的顶端固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种顶针式的集成电路测试治具，其特征在于：所述定位结构(8)的内部依次设有第一通孔(801)、第二通孔(802)、定位栓(803)、定位槽(804)以及定位板(805)，所述盖体(7)底部的两侧皆设有定位槽(804)，且第一通孔(801)一侧的内壁上设有第二通孔(802)，第二通孔(802)的一端延伸至盖体(7)的外部。

4.根据权利要求3所述的一种顶针式的集成电路测试治具，其特征在于：所述定位槽(804)内部的中心位置处设有定位板(805)，定位板(805)的底端延伸至定位槽(804)的外部并与基座(1)的顶端固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种顶针式的集成电路测试治具，其特征在于：所述定位板(805)内部的中心位置处设有第一通孔(801)，且第一通孔(801)的内部设有定位栓(803)，定位栓(803)的一端贯穿第二通孔(802)并延伸至盖体(7)的外部。

6.根据权利要求1所述的一种顶针式的集成电路测试治具，其特征在于：所述缓冲结构(10)的内部依次设有燕尾槽(1001)、伸缩弹簧(1002)、限位盘(1003)以及顶针(1004)，所述按压台(5)底部的中心位置处设有燕尾槽(1001)，且燕尾槽(1001)内部的底端设有限位盘(1003)。

7.根据权利要求6所述的一种顶针式的集成电路测试治具，其特征在于：所述限位盘(1003)顶端的中心位置处设有伸缩弹簧(1002)，伸缩弹簧(1002)的顶端与燕尾槽(1001)的顶部固定连接，且限位盘(1003)底端的中心位置处设有顶针(1004)，顶针(1004)的底端延伸至燕尾槽(1001)的外部。

8.根据权利要求1所述的一种顶针式的集成电路测试治具，其特征在于：所述吸附结构(12)的内部依次设有工型紧固件(1201)、紧固槽(1202)、微型吸盘(1203)以及安置槽(1204)，所述基座(1)底部的拐角位置处皆设有安置槽(1204)，且安置槽(1204)上方的基座(1)内部皆设有紧固槽(1202)。

9.根据权利要求8所述的一种顶针式的集成电路测试治具，其特征在于：所述安置槽(1204)内部的底端固定有微型吸盘(1203)，且微型吸盘(1203)顶端的中心位置处设有工型紧固件(1201)，工型紧固件(1201)的顶端延伸至紧固槽(1202)的内部并与紧固槽(1202)的顶部固定连接。

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