CN210571299U - 用于测量小视场投影模组光学参数的*** - Google Patents
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Abstract
一种用于测量小视场投影模组光学参数的***，属于投影模组检测技术领域。该用于测量小视场投影模组光学参数的***包括：大靶面相机、被测投影模组、安装台和光学参数分析模组；被测投影模组和大靶面相机固定在安装台上，被测投影模组和大靶面相机之间的间距可调节，大靶面相机的感光平面与被测投影模组光轴垂直，且被测投影模组光心与大靶面相机中心始终对齐；大靶面相机用于获取被测投影模组投影的标准画面，大靶面相机与光学参数分析模组电连接输出图像电信号。本实用新型能够获取小视场投影模组的投影用于投影模组光学性能的分析，易于操作。
Description
技术领域
本实用新型涉及的是一种光学检测领域的技术，具体是一种用于测量小视场投影模组光学参数的***。
背景技术
传统测量方法是控制投影模组投影图形到幕布上，并通过人工辨别及光学测量仪器等手段在幕布上测量得到均匀性、对比度、畸变、成像质量等反应投影模组性能的光学参数。但小视场投影模组的投影图像非常小，传统测量方法中使用的测量工具尺寸过大，无法用于小视场投影模组光学参数的测量。
为了解决现有技术存在的上述问题，本实用新型由此而来。
实用新型内容
本实用新型针对现有技术存在的上述不足，提出了一种用于测量小视场投影模组光学参数的***，能够获取小视场投影模组的投影，用于投影模组光学性能的分析，易于操作。
本实用新型涉及一种用于测量小视场投影模组光学参数的***，包括：安装台、被测投影模组、大靶面相机和光学参数分析模组；所述被测投影模组和大靶面相机固定在安装台上，被测投影模组和大靶面相机之间的间距可调节，大靶面相机的感光平面与被测投影模组光轴垂直，且被测投影模组光心与大靶面相机中心始终对齐；所述大靶面相机用于获取被测投影模组投影的标准画面，大靶面相机与光学参数分析模组电连接输出图像电信号。
优选地，所述大靶面相机像元的边长不超过投影图像像素边长的1/3，且两者差距越大得到的投影模组光学参数越准确；进一步优选地，大靶面相机采用不小于2000万像素的高分辨率大靶面相机，感光宽度不小于被测投影模组的投影宽度。
优选地，所述被测投影模组和大靶面相机之间设有衰减器，衰减器通过滑轨滑块结构安装在安装台上；进一步优选地，所述衰减器为滤光片、偏振片中一种或两种组合，以减弱得到的测试图像的亮度。
优选地，所述大靶面相机在光入射端设有遮光筒，避免环境光对大靶面相机感光片造成干扰。
优选地，所述被测投影模组和大靶面相机中至少一个通过滑轨滑块结构安装在安装台上。
优选地，所述光学参数分析模组采用上位机，通过软件实现被测投影模组光学参数的测量。
技术效果
与现有技术相比，本实用新型具有如下技术效果：
1)能够对投影宽度小于30mm的小视场投影模组进行光学参数测量；
2)大靶面相机通过相机感光片直接获取被测投影模组投影的标准画面，不用安装镜头，因此测试图像不受相机镜头的干扰，使测试图像真实反映投影模组的成像投影效果；
3)得到的测试图像清晰，能够分辨单个投影图像像素的信息，增加了测量的准确度；
4)测试图像可以被上位机保存，方便投影模组光学参数测量，并进行追溯。
附图说明
图1为实施例1中***图；
图中：安装台1、被测投影模组2、衰减器3、遮光筒4、大靶面相机5、上位机6。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施方式对本实用新型进行详细描述。
实施例1
如图1所示，本实施例涉及一种用于测量小视场投影模组光学参数的***，包括：安装台1、被测投影模组2、大靶面相机5和上位机6；被测投影模组2和大靶面相机5通过滑轨滑块结构可移动地设置在安装台1上，两者之间的间距可调节，且大靶面相机的感光平面与被测投影模组光轴垂直，被测投影模组光心与大靶面相机中心始终对齐；大靶面相机5与上位机6电连接输出图像电信号，上位机6通过软件实现被测投影模组光学参数的测量。
被测投影模组2和大靶面相机5之间设有衰减器3防过度曝光，且大靶面相机5在光入射端设有遮光筒4避免环境光干扰。
优选地，大靶面相机采用2400万像素的高分辨率大靶面相机，像元的边长小于投影图像像素边长的1/3。
本实施例用于小视场投影模组光学参数的测量，包括以下步骤：
S1，将被测投影模组和大靶面相机安装在安装台上，使大靶面相机的感光平面与被测投影模组光轴垂直，且被测投影模组光心与大靶面相机中心始终对齐；
S2，打开被测投影模组，投影标准画面，优选标准画面为矩形图像，大靶面相机感光片获取被测投影模组的投影标准画面，得到测试图像，并且开启上位机接收测试图像；调整衰减器使测试电脑接收到的测试图像不过度曝光；
S3，调整被测投影模组的位置到工作距离，之后调节被测投影模组上的对焦装置达到合适的对焦位置，使测试图像清晰；
S4，通过上位机对已调节清晰的测试图像进行图像分析；具体操作是，获取测试图像每个像素的坐标和/或灰度值，据此计算得到被测投影模组的光学参数。
本实施例以矩形标准画面为例，对被测投影模组光学参数中的畸变、倾斜和均匀度进行评价；实际应用中可以根据计量、质检等应用场合及应用对象的需要进行针对性的评价体系设计。
A.畸变：获取测试图像上畸变极限位置处以及畸变极限位置处相应顶点之间的间距差值如Δx或Δy，与相应的边长X或Y进行对比，得到畸变数值Δx/X或Δy/Y。
B.倾斜：基于标准画面任意一条直线上两端点，获取测试图像上任意相应两点的坐标(x1，y1)和(x2，y2)，计算
根据θ的大小，判断倾斜程度。
C.均匀度：将测试图像划分成匀称的九宫格结构(畸变和倾斜带来的影响可以忽略不计)，得到各格平均灰度，不同图像可以采用不同的划分计算方式；
一种计算方式是均匀度
另一种计算方式是均匀度
需要强调的是：以上仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (6)
1.一种用于测量小视场投影模组光学参数的***，其特征在于，包括：大靶面相机、被测投影模组、安装台和光学参数分析模组；
所述被测投影模组和大靶面相机固定在安装台上，被测投影模组和大靶面相机之间的间距可调节，大靶面相机的感光平面与被测投影模组光轴垂直，且被测投影模组光心与大靶面相机中心始终对齐；
所述大靶面相机用于获取被测投影模组投影的标准画面，大靶面相机与光学参数分析模组电连接输出图像电信号。
2.根据权利要求1所述用于测量小视场投影模组光学参数的***，其特征是，所述大靶面相机像元的边长不超过投影图像像素边长的1/3。
3.根据权利要求2所述用于测量小视场投影模组光学参数的***，其特征是，所述大靶面相机采用不小于2000万像素的高分辨率大靶面相机，感光宽度不小于被测投影模组的投影宽度。
4.根据权利要求1所述用于测量小视场投影模组光学参数的***，其特征是，所述被测投影模组和大靶面相机之间设有衰减器，所述衰减器为滤光片、偏振片中一种或两种组合。
5.根据权利要求4所述用于测量小视场投影模组光学参数的***，其特征是，所述大靶面相机在光入射端设有遮光筒。
6.根据权利要求1所述用于测量小视场投影模组光学参数的***，其特征是，所述被测投影模组和大靶面相机中至少一个通过滑轨滑块结构安装在安装台上。
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| CN112556992A (zh) * | 2019-09-25 | 2021-03-26 | 博众精工科技股份有限公司 | 用于测量小视场投影模组光学参数的方法与*** |
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