CN210323143U - 一种测试探针卡 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种测试探针卡，包括第一针盘，所述第一针盘和第二针盘配合安装，第二针盘和限位盘贴合安装，第一针盘中设有多个入针槽，第二针盘中设有多个针槽，第二针盘的顶部还设有多个针尾槽，针尾槽用于电性连接探针和焊点；本实用新型通过对探针卡结构的分层设计，使探针在安装时可以采用直针的形式进入到针槽中，细小的检测探针的安装更加的便捷，不需要间隔着放入探针，提高检测的精度和检测组装中的效率，避免人工的低效率和高精度设备的高成本的限制，适用于多种不同的场合，焊点设置在上方可以很好的将针和线分开，可以持续的循环使用。
Description
技术领域
本实用新型涉及探针测试技术领域，具体的是一种测试探针卡。
背景技术
测试探针在工作时需要弯针成一个角度，这样的角度是为了在检测是具有较高的检测精度和增加检测面积，然而在安装细小的探针时，安装过程是一个难题，选择直形的探针最后使用时候的弯折的角度不好控制，选择弯折好的探针在对准针槽安装具有较高的难度，尤其是在直径以毫米和微米计算的探针上操作起来非常的费力，目前对于这种微米级的针都是通过人工完成，还有高精度的设备完成，人工效率低下，高精度设备成本高昂，因此，如何改善探针卡的组合方式，使探针以直线形式***针槽中，通过探针卡的组合形式将整体弯折成测试需要的角度，不仅可以提高效率还可以提高探针角度的高度统一是本实用新型需要解决的问题。
实用新型内容
为了解决上述的技术问题，本实用新型的目的在于提供一种测试探针卡，改善探针卡的组合方式，使探针以直线形式***针槽中，通过探针卡的组合形式将整体弯折成测试需要的角度，不仅可以提高效率还可以提高探针角度的高度统一。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：
一种测试探针卡，包括第一针盘，所述第一针盘和第二针盘配合安装，第二针盘和限位盘贴合安装，第一针盘中设有多个入针槽，第二针盘中设有多个针槽，第二针盘的顶部还设有多个针尾槽，针尾槽用于电性连接探针和焊点。
作为本实用新型进一步的方案：所述第一针盘的侧边的中间设有指针，指针的箭头对准第二针盘，第一针盘的两端设有用于定位销穿过的通孔，多个入针槽设置在两边的定位销之间。
作为本实用新型进一步的方案：所述第二针盘的侧边设置有刻度盘，刻度盘的中间为180度，刻度盘向两边数值减小，第二针盘的两边设有与第一针盘通孔对齐的孔槽，多个针槽设置在两边的孔槽之间。
作为本实用新型进一步的方案：所述第二针盘的厚度是探针的直径的两倍。
作为本实用新型进一步的方案：所述入针槽是阵列分布的探针入口位置，入针槽是圆锥结构，圆锥的底部与针槽的直径相同，圆锥的顶部的直径是针槽直径的两倍。
作为本实用新型进一步的方案：所述针槽是阵列分布的探针的***位置，入针槽是探针直径的1.5倍。
作为本实用新型进一步的方案：所述探针的下半部分为弯针，弯针在第二针盘上折弯。
作为本实用新型进一步的方案：所述限位盘为实心薄板结构。
本实用新型的有益效果：本实用新型通过对探针卡结构的分层设计，使探针在安装时可以采用直针的形式进入到针槽中，当进入到弯曲位置时，通过第一针盘和第二针盘的错位将所有探针一次性弯折到需要的角度，使在细小的检测探针的安装更加的便捷，不需要间隔着放入探针，提高检测的精度和检测组装中的效率，避免人工的低效率和高精度设备的高成本的限制，适用于多种不同的场合，焊点设置在上方可以很好的将针和线分开，可以持续的循环使用。
附图说明
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
图1是本实用新型整体局部剖视结构示意图。
图2是本实用新型整体正面结构示意图。
附图标记：10、第一针盘；11、入针槽；12、指针；20、第二针盘；21、针槽；22、刻度盘；30、限位盘；40、探针；41、弯针；50、定位销；60、针尾槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1和图2所示，本实用新型为一种测试探针卡，包括第一针盘10，第一针盘10和第二针盘20配合安装，第二针盘20和限位盘30贴合安装，第一针盘10中设有多个入针槽11，第二针盘20中设有多个针槽21，第二针盘20的顶部还设有多个针尾槽60，针尾槽60用于电性连接探针40和焊点。
第一针盘10的侧边的中间设有指针12，指针12的箭头对准第二针盘20，第一针盘10的两端设有用于定位销50穿过的通孔，多个入针槽11设置在两边的定位销50之间。
第二针盘20的侧边设置有刻度盘22，刻度盘22的中间为180度，刻度盘22向两边数值减小，第二针盘20的两边设有与第一针盘10通孔对齐的孔槽，多个针槽21设置在两边的孔槽之间。
第二针盘20的厚度是探针40的直径的两倍。
入针槽11是阵列分布的探针入口位置，入针槽11是圆锥结构，圆锥的底部与针槽21的直径相同，圆锥的顶部的直径是针槽直径的两倍。
针槽21是阵列分布的探针40的***位置，入针槽11是探针40直径的1.5倍。
探针40的下半部分为弯针41，弯针41在第二针盘20上折弯。
限位盘30为实心薄板结构。
该测试探针卡的工作原理：将第一针盘10和第二针盘20对齐放置，并且通过两边的多个定位销50将第一针盘10和第二针盘20定位，这时的入针槽11和针槽21中心线对齐，指针12与刻度盘22的180度的刻度对齐，再将限位盘30放置在第二针盘20的底部；将直形的探针40从入针槽11的圆锥大口方向注入到第一针盘10中，探针40顺着入针槽11进入到针槽21中，探针40的底部在限位盘30的阻挡下停留在第一针盘10和第二针盘20中，取下所有的定位销50，将第二针盘20和第一针盘10错位弯折，使探针40具有一定的角度，本实施例的探针40的角度为101度，探针40的直径为150um，长度为1.2mm，弯折完成后将限位盘30向下移动一个距离，将第一针盘10和第二针盘20的错位缓慢恢复到指针12指向180度的位置，当探针40顶部再次接触到限位盘30时，将第一针盘10的指针对齐第二针盘20的90度位置，移走限位盘30，将第一针盘10和第二针盘20通过螺钉固定。
以上内容仅仅是对本实用新型结构所作的举例和说明，所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离实用新型的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本实用新型的保护范围。
Claims (8)
1.一种测试探针卡，其特征在于，包括第一针盘(10)，所述第一针盘(10)和第二针盘(20)配合安装，第二针盘(20)和限位盘(30)贴合安装，第一针盘(10)中设有多个入针槽(11)，第二针盘(20)中设有多个针槽(21)，第二针盘(20)的顶部还设有多个针尾槽(60)，针尾槽(60)用于电性连接探针(40)和焊点。
2.根据权利要求1所述的一种测试探针卡,其特征在于，所述第一针盘(10)的侧边的中间设有指针(12)，指针(12)的箭头对准第二针盘(20)，第一针盘(10)的两端设有用于定位销(50)穿过的通孔，多个入针槽(11)设置在两边的定位销(50)之间。
3.根据权利要求1所述的一种测试探针卡,其特征在于，所述第二针盘(20)的侧边设置有刻度盘(22)，刻度盘(22)的中间为180度，刻度盘(22)向两边数值减小，第二针盘(20)的两边设有与第一针盘(10)通孔对齐的孔槽，多个针槽(21)设置在两边的孔槽之间。
4.根据权利要求1所述的一种测试探针卡,其特征在于，所述第二针盘(20)的厚度是探针(40)的直径的两倍。
5.根据权利要求1所述的一种测试探针卡,其特征在于，所述入针槽(11)是阵列分布的探针入口位置，入针槽(11)是圆锥结构，圆锥的底部与针槽(21)的直径相同，圆锥的顶部的直径是针槽直径的两倍。
6.根据权利要求1所述的一种测试探针卡,其特征在于，所述针槽(21)是阵列分布的探针(40)的***位置，入针槽(11)是探针(40)直径的1.5倍。
7.根据权利要求1所述的一种测试探针卡,其特征在于，所述探针(40)的下半部分为弯针(41)，弯针(41)在第二针盘(20)上折弯。
8.根据权利要求1所述的一种测试探针卡,其特征在于，所述限位盘(30)为实心薄板结构。
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|---|---|---|---|---|
| CN113466504A (zh) * | 2021-09-03 | 2021-10-01 | 绅克半导体科技(苏州)有限公司 | 测试探针、测试探针模块及测试装置 |
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2019
- 2019-07-24 CN CN201921184091.3U patent/CN210323143U/zh not_active Expired - Fee Related
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