CN209689616U - 一种二维三维检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种二维三维检测装置，用于检测工件，包括：投影装置，形成向工件的投影光路，用于向工件投射结构光图案，图像采集装置，形成向工件的采集光路，用于获取工件在不同光源照亮或投射所述结构光图案时的图像，所述图像采集装置与所述投影装置相对倾斜呈小于90度的角度A，照明装置，包括有光源，所述光源环绕所述采集光路设置。设置环绕采集光路的照明装置，为图像采集装置提供光源，使得既能检测二维图像又能检测三维图像，在同一个工位可以同时获得被测目标的二维和三维测量结果以便于二维图像与三维数据一一对应，在三维数据的基础上，增加了颜色信息，从而大大提升该装置的信息采集能力以及图像分析功能。
Description
技术领域
本实用新型涉及工业视觉技术领域，尤其涉及一种二维三维检测装置。
背景技术
工业视觉检测技术是集光、机、电和计算机技术为一体的智能化、可视化高新技术，特别是三维检测技术对提升产品品质，提高产品产能有重要的作用。
目前基于结构光的三维检测设备一般包括投影装置，图像采集装置和控制装置，投影装置和图像采集装置的光轴需以一定的夹角角度安装。一般采用投影装置在被测物体正上方，图像采集装置在投影一侧或两侧。由于相机在侧面，并且没有光源，所以无法获得被测物体正面二维图像,只输出三维数据.因此该***难以获得高精度的二维检测数据。
实用新型内容
鉴于上述状况，有必要提供一种二维三维检测装置，以便于二维图像与三维数据一一对应，在三维数据的基础上，增加了颜色信息，从而大大提升该装置的信息采集能力以及图像分析功能。
为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：一种二维三维检测装置，用于检测工件，包括：投影装置，形成向工件的投影光路，用于向工件投射结构光图案；图像采集装置，形成向工件的采集光路，用于获取工件在不同光源照亮或被投射所述结构光图案时的图像，所述图像采集装置与所述投影装置相对倾斜呈小于90度的角度A，照明装置，包括有光源，所述光源环绕所述图像采集装置或所述采集光路。
进一步的，所述角度A为20-45度。
进一步的，所述光源设置在垂直于所述采集光路的平面上。
进一步的，所述光源对称或阵列环绕所述采集光路。
进一步的，所述照明装置为环形或者多个条形。
进一步的，所述光源为单色光源、多色光源或组合光源的一种。
进一步的，还包括连接架和固定架，所述连接架一端连接所述图像采集装置，另一端连接所述固定架，所述固定架与所述照明装置可拆卸连接。
进一步的，还包括放置工件的检测台，所述检测台以所述投影光路和所述采集光路汇集于工件表面设置高度。
进一步的，还包括盒体和支撑架，所述投影装置和所述采集装置位于所述盒体内，所述盒体以相对于工件高度可调节方式固定在所述支撑架上。
本实用新型的有益效果在于：设置环绕图像采集装置的照明装置或采集光路，为图像采集装置提供光源，使得既能检测二维图像又能检测三维图像，在同一个工位可以同时获得被测目标的二维和三维测量结果，以便于二维图像与三维数据一一对应，在三维数据的基础上，增加了颜色信息，从而大大提升该装置的信息采集能力以及图像分析功能。
附图说明
图1是本实用新型实施例的一种二维三维检测装置的结构示意图；
图2是本实用新型实施例的一种二维三维检测装置的盒体的结构示意图。
标号说明：
10、图像采集装置；11、采集光路；20、投影装置；21、投影光路；
30、照明装置；40、连接架；50、固定架；60、盒体；61、采集孔；
62、投影孔；70、支撑架；80、检测台。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型一种二维三维检测装置进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
请参见图1，一种二维三维检测装置，用于检测工件，包括：投影装置20，形成向工件的投影光路21，用于向工件投射结构光图案；图像采集装置 10，形成向工件的采集光路11，用于获取工件在不同光源照亮或被投射所述结构光图案时的图像，图像采集装置10与投影装置20相对倾斜呈小于90度的角度A，照明装置30，包括有光源，光源环绕图像采集装置10或采集光路11。
设置环绕图像采集装置10或采集光路11的照明装置30，为图像采集装置 10提供光源，使得既能检测二维图像又能检测三维图像，在同一个工位可以同时获得被测目标的二维和三维测量结果以便于二维图像与三维数据一一对应，在三维数据的基础上，增加了颜色信息，从而大大提升该装置的信息采集能力以及图像分析功能。
一般的，图像采集装置10采用工业视觉相机；投影装置20采用集成投影仪。
一般的，照明装置30设置在图像采集装置10下方或环绕图像采集装置10。一般的，当照明装置30设置在图像采集装置10下方时，照明装置30环绕图像采集装置10。
优选的，角度A为20-45度。角度A为20-45度，角度越小，相机和投影之间的距离越近，三维测量的精度越低，角度过大，容易产生阴影。
优选的，光源设置在垂直于采集光路11的平面上。
光源设置在垂直于采集光路11的平面上，使得光照平衡均匀，成像清晰。
请参见图1，照明装置30包括安装座，光源嵌于安装座内。
优选的，光源对称或阵列环绕采集光路11。
光源对称或阵列环绕采集光路11，使得光照均匀，使得成像清晰。
优选的，照明装置30为环形或者多个条形。
照明装置30为环形或者多个条形，方便对称或者阵列设置光源，方便安装。
优选的，光源为单色光源、多色光源或组合光源的一种。
可以根据需要更换光源，满足更多的需求。
请参见图1，还包括连接架40和固定架50，连接架40一端连接图像采集装置10，另一端连接固定架50，固定架50与照明装置30可拆卸连接。
设置连接架40和固定架50，方便安装和固定图像采集装置10和照明装置 30，方便更好照明装置30。
请参见图1，还包括放置工件的检测台80，检测台80以投影光路21和采集光路11汇集于工件表面设置高度。
设置检测台80，使得规格相同的工件能够更快速的检测。
进一步的，还包括盒体60和支撑架70，投影装置20和采集装置位于盒体 60内，盒体60以相对于工件高度可调节方式固定在支撑架70上。
设置盒体60和支撑架70，外形美观，方便调节高度，满足不同规格的工件的测试。
请参见图2，优选的，盒体60具有供采集光路11通过的采集孔61和供投影光路21通过的投影孔62，采集孔61和投影孔62连通，方便根据需要调节角度A；照明装置30设置在采集孔61内，方便照明。
综上，本实用新型提供的一种二维三维检测装置，设置环绕图像采集装置或采集光路的照明装置，为图像采集装置提供光源，使得既能检测二维图像又能检测三维图像，在同一个工位可以同时获得被测目标的二维和三维测量结果以便于二维图像与三维数据一一对应，在三维数据的基础上，增加了颜色信息，从而大大提升该装置的信息采集能力以及图像分析功能。优化了图像采集装置的固定和安装结构，设置了连接架和固定架。设置了盒体和支撑架，外形美观，可以调节高度。优化了照明装置的设置方式，使得光照平衡均匀，成像清晰。
以上，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (9)
1.一种二维三维检测装置，用于检测工件，其特征在于，包括：
投影装置，形成向工件的投影光路，用于向工件投射结构光图案，
图像采集装置，形成向工件的采集光路，用于获取工件在不同光源照亮或被投射所述结构光图案时的图像，所述图像采集装置与所述投影装置相对倾斜呈小于90度的角度A，
照明装置，包括有光源，所述光源环绕所述图像采集装置或所述采集光路。
2.根据权利要求1所述的一种二维三维检测装置，其特征在于：所述角度A为20-45度。
3.根据权利要求1所述的一种二维三维检测装置，其特征在于：所述光源设置在垂直于所述采集光路的平面上。
4.根据权利要求1所述的一种二维三维检测装置，其特征在于：所述光源对称或阵列环绕所述采集光路。
5.根据权利要求1所述的一种二维三维检测装置，其特征在于：所述照明装置为环形或者多个条形。
6.根据权利要求1所述的一种二维三维检测装置，其特征在于：所述光源为单色光源、多色光源或组合光源的一种。
7.根据权利要求1所述的一种二维三维检测装置，其特征在于：还包括连接架和固定架，所述连接架一端连接所述图像采集装置，另一端连接所述固定架，所述固定架与所述照明装置可拆卸连接。
8.根据权利要求1所述的一种二维三维检测装置，其特征在于：还包括放置工件的检测台，所述检测台以所述投影光路和所述采集光路汇集于工件表面设置高度。
9.根据权利要求1所述的一种二维三维检测装置，其特征在于：还包括盒体和支撑架，所述投影装置和所述采集装置位于所述盒体内，所述盒体以相对于工件高度可调节方式固定在所述支撑架上。
Priority Applications (1)
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| CN201920416185.2U CN209689616U (zh) | 2019-03-29 | 2019-03-29 | 一种二维三维检测装置 |
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113252685A (zh) * | 2021-04-30 | 2021-08-13 | 博众精工科技股份有限公司 | 一种芯片检测机 |
| CN113916156A (zh) * | 2021-12-13 | 2022-01-11 | 英特维科技(深圳)有限公司 | 一种高速高精度三维检测***及方法 |
| CN114280075A (zh) * | 2021-12-28 | 2022-04-05 | 无锡维度机器视觉产业技术研究院有限公司 | 一种管类零件表面缺陷在线视觉检测***及检测方法 |
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