CN209264737U - 全自动化学发光测定仪测试机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于化学发光测定技术领域，提供一种全自动化学发光测定仪测试机构，通过设置一传动支架，使其位于传动机架的底座上的温育组件上方，温育组件上恒温安放均设有测试池的多个试剂条，测试池内具有待测溶液，测试池周围设有遮光套，再通过设置一光电读数组件，使其与传动支架传动连接，用于套入遮光套读取待测溶液的光强，从而实现于遮光环境下自动测试待测溶液的光强的目的，达到提高测试效率的技术效果。

Description

全自动化学发光测定仪测试机构

技术领域

本实用新型属于化学发光免疫分析技术领域，尤其涉及一种全自动化学发光测定仪测试机构。

背景技术

化学发光免疫分析技术是一种将具有高灵敏度的化学发光测定技术和具有高特异性的免疫反应技术相结合的新型技术，主要用于各种抗原、半抗原、抗体、激素、酶、脂肪酸、维生素以及药物等溶液浓度的检测分析。化学发光免疫分析技术相比于继放免分析、酶免分析、荧光免疫分析以及时间分辨荧光免疫分析技术，具有集高灵敏性、高特异性、高自动化及无放射性污染等特点。

发明内容

虽然，化学发光免疫分析技术具有上述诸多优点，但是，用于测试待测溶液的项目参数的化学发光测定仪测试机构的结构复杂且测试效率较低。

综上，现有的化学发光测定仪测试机构存在结构复杂和测试效率低的技术问题。

本实用新型提供一种全自动化学发光测定仪测试机构，不仅结构简单，而且可对多个试剂条上的待测溶液进行测试操作，测试效率高。

一种全自动化学发光测定仪测试机构，包括：

传动支架，位于传动机架的底座上的温育组件上方；

所述温育组件上恒温安放均设有测试池的多个试剂条；所述测试池内具有待测溶液，且其周围设有遮光套；

光电读数组件，与所述传动支架传动连接，用于套入所述遮光套读取所述待测溶液的光强。

具体地，上述全自动化学发光测定仪测试机构，还包括具有挡光套的复位板；所述复位板位于所述光电读数组件下方，并于初始位置与所述挡光套套接。

具体地，所述光电读数组件包括：

L型板，包括横板和位于所述横板一侧的纵板；所述横板的背面与所述传动支架传动连接，所述横板的正面设有竖直导轨；

光电测试模块，与所述竖直导轨滑动连接，用于套入所述遮光套读取所述待测溶液的光强；

光耦凸轮组件，包括设置在所述纵板上的凸轮和光耦；所述凸轮用于在电机带动下驱动所述光电测试模块升降，所述光耦用于对所述光电测试模块的升降进行限位。

具体地，所述光电测试模块包括：滑块和设置在所述滑块上的摩擦轮；所述摩擦轮与所述凸轮的凸部接触而带动所述滑块在所述竖直导轨上升降。

具体地，所述光电测试模块包括：设置在所述滑块上的挡光片；所述挡光片遮挡所述光耦时，所述光耦发出限位信号至所述电机以控制所述电机带动所述凸轮转动。

具体地，所述光电测试模块包括：安装板、光闸组件以及光电倍增管组件；所述安装板的一侧固定在所述滑块上，所述光闸组件和所述光电倍增管组件安装在所述安装板上；所述光闸组件关闸时遮挡自然光进入所述光电倍增管组件的内部。

具体地，所述光闸组件包括：旋转磁铁和摆臂板；

所述摆臂板位于所述旋转磁铁下方，并与所述旋转磁铁连接，所述旋转磁铁旋转带动所述摆臂板摆动可实现关闸。

具体地，所述光电倍增管组件包括：光电倍增管、光纤以及光纤套；所述光电倍增管位于所述光纤套上方，所述光纤套的内部套接所述光纤；所述光纤和所述光纤套构成光通道；所述摆臂板摆动可遮挡自然光通过所述光通道进入所述光电倍增管。

具体地，所述摆臂板上设有导光孔；

所述导光孔与所述光纤对准时为开闸，所述摆臂板的板面遮挡所述光纤时为关闸。

具体地，所述温育组件包括：

限位座，可移动设置在所述底座上；所述限位座的上侧设有限位槽，周围设有保温棉；所述限位座内设有加热片和温敏传感器；

多个限位架，分布在所述限位槽旁以形成多个限位通道；所述多个限位通道对应卡接所述多个试剂条；所述测试池的外部对应贴合在所述限位槽内。

本实用新型提供的全自动化学发光测定仪测试机构，通过设置一传动支架，使其位于传动机架的底座上的温育组件上方，温育组件上恒温安放均设有测试池的多个试剂条，测试池内具有待测溶液，测试池周围设有遮光套，再通过设置一光电读数组件，使其与传动支架传动连接，用于套入遮光套读取待测溶液的光强，从而实现于遮光环境下自动测试待测溶液的光强的目的，达到提高测试效率的技术效果。

附图说明

图1为一实施例提供的全自动化学发光测定仪测试机构的结构示意图；

图2为一实施例提供的光电读数组件的结构示意图；

图3为一实施例提供的光电测试模块的结构示意图；

图4为一实施例提供的光闸组件的结构示意图；

图5为一实施例提供的光电倍增管组件的结构示意图；

图6为一实施例提供的温育组件的结构示意图；

图7为图1中试剂条的结构示意图；

图8为图6中限位座的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

此外，后续所描述的本实用新型不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

下面，本实用新型提出部分优选实施例以教导本领域技术人员实现。

图1为一实施例提供的全自动化学发光测定仪测试机构的结构示意图，示出了一种全自动化学发光测定仪测试机构，该全自动化学发光测定仪测试机构不仅结构简单，而且可对多个试剂条上的待测溶液进行测试操作，测试效率高。

参见图1和图7，一种全自动化学发光测定仪测试机构，包括：传动支架50和光电读数组件51。

其中，传动支架50位于温育组件2上方的一侧。温育组件2设置在传动机架1的底座10上。温育组件2恒温安放均设有测试池2103的多个试剂条21，测试池2103具有待测溶液且周围设有遮光套a。

光电读数组件51与传动支架50传动连接，用于套入遮光套a读取待测溶液的光强。

本实施例中，通过在传动机架1的底座10上的温育组件2上方的一侧设置传动支架50，再通过在传动支架50上设置与其传动连接的光电读数组件51，以用于套入遮光套a读取待测溶液的光强，从而实现自动移动光电读数组件51到测试池2103读取待测溶液的光强，实现测试待测溶液的测试项目的目的。

需要说明的是，传动支架50可以带动光电读数组件51移动至测试池2103上方，光电读数组件51可以下移套接遮光套a读取待测溶液的光强。

还需要说明的是，传动机架1的底座10上设有传送模组100，例如传送带组件，传送模组100可传送温育组件2至光电读数组件51的测试工位。

还需要说明的是，由于温育组件2恒温安放均设有测试池2103的多个试剂条21，测试池2103具有待测溶液且周围设有遮光套a，因此，光电读数组件51可以于遮光环境下对多个试剂条21上的测试池2103中的待测溶液进行测试，从而提高测试效率。

还需要说明的是，由于传动机架1的移动配合温育组件2的移动，便能共同完成控制光电读数组件51于测试工位对待测溶液进行测试，因此，简化全自动化学发光测定仪测试机构的结构，从而降低测试成本和复杂度，使得测试易于实现。

还需要说明的是，遮光套a与光电读数组件51套接后，可以避免自然光进入光电读数组件51损坏光电读数组件51，形成无自然光进入光电读数组件51的测试环境。

进一步地，全自动化学发光测定仪测试机构还包括具有挡光套520的复位板52。复位板52位于光电读数组件51下方，并于初始位置与挡光套520套接。

需要说明的是，光电读数组件51在初始位置时，其入光口套在复位板52的挡光套520中，这样可以避免自然光进入光电读数组件51损坏光电读数组件51。

另外，光电读数组件51离开初始位置时，其内部的挡光结构可以遮挡自然光以避免自然光进入光电读数组件51。

图2为一实施例提供的光电读数组件51的结构示意图，示出了图1中光电读数组件51的一优选结构。

参见图2，光电读数组件51包括：L型板510、光电测试模块511以及光耦凸轮组件512。

其中，L型板510包括横板5100和位于横板5100一侧的纵板5101。横板5100的背面与传动支架50传动连接，横板5100的正面设有竖直导轨b。

光电测试模块511，与竖直导轨b滑动连接，用于套入遮光套a读取待测溶液的光强。光耦凸轮组件512，包括设置在纵板5101上的凸轮c和光耦d。凸轮c用于在电机带动下驱动光电测试模块511升降，光耦d用于对光电测试模块511的升降进行限位。

本实施例中，通过设置L型板510，使L型板510包横板5100和位于横板5100一侧的纵板5101，并使横板5100的背面与传动支架50传动连接，在横板5100的正面设有竖直导轨b，再通过设置与竖直导轨b滑动连接的一光电测试模块511，以用于套入遮光套a读取待测溶液的光强，再通过设置一光耦d凸轮c组件512，该光耦d凸轮c组件512包括设置在纵板5101上的凸轮c和光耦d的光耦d凸轮c组件512，凸轮c用于在电机带动下驱动光电测试模块511升降，光耦d用于对光电测试模块511的升降进行限位，从而实现精确控制光电测试模块511升降，自动测试待测溶液的测试项目的目的。

需要说明的是，凸轮c具有凸起部分，凸轮c旋转时，其凸起部分可以驱动光电测试模块511升降。在光电测试模块511升降到预设位置，光耦d可以感测到光电测试模块511的位置而触发，进而控制电机转动状态，从而实现精确控制光电测试模块511升降，达到精准套入遮光套a或挡光套520的目的。

图3为一实施例提供的光电测试模块511的结构示意图，示出了图2中光电测试模块511的一优选结构。

参见图3，光电测试模块511包括：滑块5110和设置在滑块5110上的摩擦轮5111。摩擦轮5111与凸轮c的凸部接触而带动滑块5110在竖直导轨b上升降。

本实施例中，由于摩擦轮5111固定在滑块5110上，凸轮c转动时，凸轮c的凸部接触摩擦轮5111，可以带动滑块5110在竖直导轨b上升降。

进一步地，光电测试模块511还包括：设置在滑块5110上的挡光片5112。挡光片5112遮挡光耦d时，光耦d发出限位信号至电机以控制电机带动凸轮c转动。

需要说明的是，挡光片5112遮挡光耦d时，可以触发光耦d发出限位信号至电机以控制电机带动凸轮c转动，从而可以精确控制光电测试模块511的升降行程。

进一步地，光电测试模块511还包括：安装板5113、光闸组件5114以及光电倍增管组件5115。安装板5113的一侧固定在滑块5110上，光闸组件5114和光电倍增管组件5115安装在安装板5113上。光闸组件5114关闸时遮挡自然光进入光电倍增管组件5115的内部。

需要说明的是，光闸组件5114的作用在于开闸让待测溶液的光进入光电倍增管组件5115，光电倍增管组件5115获得光后可读取其光强。另外，光闸组件5114的作用还在于关闸让待测溶液的光和自然光都不能进入光电倍增管组件5115，防止光电倍增管组件5115被自然光损坏。

图4为一实施例提供的光闸组件5114的结构示意图，示出了图3中光闸组件5114的一优选结构。

参见图4和图5，光闸组件5114包括：旋转磁铁f和摆臂板g。

摆臂板g位于旋转磁铁f下方，并与旋转磁铁f连接，旋转磁铁f旋转带动摆臂板g摆动可实现关闸。摆臂板g上设有导光孔g0。其中，导光孔g0与光纤i对准时为开闸，摆臂板g的板面遮挡光纤i时为关闸。

本实施例中，通过在旋转磁铁f的下方连接摆臂板g，旋转磁铁f旋转带动摆臂板g摆动可实现关闸或开闸。关闸时，摆臂板g可以让待测溶液的光和自然光都不能进入光电倍增管组件5115，防止光电倍增管组件5115被自然光损坏。开闸时，摆臂板g可以让待测溶液的光进入光电倍增管组件5115，光电倍增管组件5115获得光后可读取其光强。

图5为一实施例提供的光电倍增管组件5115的结构示意图，示出了图3中光电倍增管组件5115的一优选结构。

参见图5，光电倍增管组件5115包括：光电倍增管h、光纤i以及光纤套j。光电倍增管h位于光纤套j上方，光纤套j的内部套接光纤i，光纤i和光纤套j构成光通道。摆臂板g摆动可遮挡自然光通过光通道进入光电倍增管h。

本实施例中，通过在光纤套j上方设置光电倍增管h，并在光纤套j的内部套接光纤i，光纤i和光纤套j便可以形成让光线（包括自然光和待测溶液的光）进入光电倍增管h的光通道。由于自然光对光电倍增管h有害，因此，摆臂板g摆动遮挡自然光通过光通道进入光电倍增管h，可以保护光电倍增管h。

参见图4和图5，摆臂板g上设有导光孔g0。

其中，导光孔g0与光纤i对准时为开闸，摆臂板g的板面遮挡光纤i时为关闸。

需要说明的是，摆臂板g摆动时，存在两个状态，摆臂板g挡光状态和摆臂板g通光状态。摆臂板g具有较宽板面，板面上的导光孔g0与光纤i对准时开闸通光，板面上的其他部分与与光纤i对准时为挡光关闸状态。

图6为一实施例提供的温育组件2的结构示意图，示出了图1中温育组件2的一优选结构。

参见图1、图6、图7以及图8，温育组件2包括：限位座22和多个限位架23。

限位座22，可移动设置在底座10上。限位座22的上侧设有限位槽24，周围设有保温棉25。多个限位架23分布在限位槽24旁以形成多个限位通道26。多个限位通道26对应卡接多个试剂条21，测试池2103的外部对应贴合在限位槽24内。其中，限位座22内设置有加热片和温敏传感器，温敏传感器感测限位座22的温度以用于控制加热片加热，保温棉25可以保温以提升加热效率和减小热量散失。

本实施例中，通过在底座10上设置限位座22，并在限位座22的上侧设置限位槽24，以及在限位座22的周围设置保温棉25，再通过让多个限位架23分布在限位槽24旁以形成多个限位通道26，使多个限位通道26对应卡接多个试剂条21，并使每个试剂条21上的测试池2103的外部对应贴合在限位槽24内，从而实现精确限位试剂条21，避免试剂条21晃动，同时实现试剂条21中的溶液处于恒温存放状态。

需要说明的是，由于温育组件2需要在传动机架1的底座10上移动到指定位置，例如，移动到测试工位，因此，在整个移动过程中都需要多试剂条21进行限位。对试剂条21进行限位的目的主要在于：一方面避免试剂条21晃动而偏离放置位置，从而导致相应工位的操作无法准确针对试剂条21进行。另一方面，避免试剂条21中的溶液溅出污染温育组件2。

还需要说明的是，由于多个限位架23分布在限位槽24旁以形成多个限位通道26，使多个限位通道26对应卡接多个试剂条21，因此可以避免试剂条21因温育组件2移动而发生侧向晃动。另外，由于每个试剂条21上的测试池2103的外部对应贴合在限位槽24内，因此可以让每个试剂条21的底部均被限位槽24限位卡紧，从而避免试剂条21上下晃动。总言之，限位通道26和限位槽24的双重限位可以实现精确限位试剂条21，避免试剂条21晃动。

还需要说明的是，由于试剂条21中的溶液需要恒温保存，才能确保所需化学参数值处于特定范围内，因此，限位座22的周围设有保温棉25，限位座22内设置有加热片和温敏传感器，温敏传感器感测限位座22的温度以用于控制加热片加热，保温棉25可以保温以提升加热效率和减小热量散失，可以让限位座22上的试剂条21保持恒温。

本实用新型提供的全自动化学发光测定仪测试机构，通过设置一传动支架，使其位于传动机架的底座上的温育组件上方，温育组件上恒温安放均设有测试池的多个试剂条，测试池内具有待测溶液，测试池周围设有遮光套，再通过设置一光电读数组件，使其与传动支架传动连接，用于套入遮光套读取待测溶液的光强，从而实现于遮光环境下自动测试待测溶液的光强的目的，达到提高测试效率的技术效果。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，包括：

传动支架，位于传动机架的底座上的温育组件上方；

所述温育组件上恒温安放均设有测试池的多个试剂条；所述测试池内具有待测溶液，且其周围设有遮光套；

光电读数组件，与所述传动支架传动连接，用于套入所述遮光套读取所述待测溶液的光强。

2.如权利要求1所述的全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，还包括具有挡光套的复位板；所述复位板位于所述光电读数组件下方，并于初始位置与所述挡光套套接。

3.如权利要求2所述的全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，所述光电读数组件包括：

L型板，包括横板和位于所述横板一侧的纵板；所述横板的背面与所述传动支架传动连接，所述横板的正面设有竖直导轨；

光电测试模块，与所述竖直导轨滑动连接，用于套入所述遮光套读取所述待测溶液的光强；

光耦凸轮组件，包括设置在所述纵板上的凸轮和光耦；所述凸轮用于在电机带动下驱动所述光电测试模块升降，所述光耦用于对所述光电测试模块的升降进行限位。

4.如权利要求3所述的全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，所述光电测试模块包括：滑块和设置在所述滑块上的摩擦轮；

所述摩擦轮与所述凸轮的凸部接触而带动所述滑块在所述竖直导轨上升降。

5.如权利要求4所述的全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，所述光电测试模块包括：设置在所述滑块上的挡光片；

所述挡光片遮挡所述光耦时，所述光耦发出限位信号至所述电机以控制所述电机带动所述凸轮转动。

6.如权利要求4所述的全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，所述光电测试模块包括：安装板、光闸组件以及光电倍增管组件；

所述安装板的一侧固定在所述滑块上，所述光闸组件和所述光电倍增管组件安装在所述安装板上；所述光闸组件关闸时遮挡自然光进入所述光电倍增管组件的内部。

7.如权利要求6所述的全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，所述光闸组件包括：旋转磁铁和摆臂板；

所述摆臂板位于所述旋转磁铁下方，并与所述旋转磁铁连接，所述旋转磁铁旋转带动所述摆臂板摆动可实现关闸。

8.如权利要求7所述的全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，所述光电倍增管组件包括：光电倍增管、光纤以及光纤套；

所述光电倍增管位于所述光纤套上方，所述光纤套的内部套接所述光纤；所述光纤和所述光纤套构成光通道；

所述摆臂板摆动可遮挡自然光通过所述光通道进入所述光电倍增管。

9.如权利要求8所述的全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，所述摆臂板上设有导光孔；

所述导光孔与所述光纤对准时为开闸，所述摆臂板的板面遮挡所述光纤时为关闸。

10.如权利要求1-9任一项所述的全自动化学发光测定仪测试机构，其特征在于，所述温育组件包括：

限位座，可移动设置在所述底座上；所述限位座的上侧设有限位槽，周围设有保温棉；所述限位座内设有加热片和温敏传感器；

多个限位架，分布在所述限位槽旁以形成多个限位通道；所述多个限位通道对应卡接所述多个试剂条；所述测试池的外部对应贴合在所述限位槽内。