CN209248512U - 多通道flash芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种多通道flash芯片测试装置，包括电源接口、MCU主控模块、至少一个芯片专用夹具和LCD显示模块，所述电源接口、至少一个芯片专用夹具、LCD显示模块分别与MCU主控模块相连接；电源接口选用带有USB通讯芯片的电源接口；多个芯片专用夹具与MCU主控模块可以实现多路flash芯片同时测试；设置EEPROM模块与MCU主控模块连接，可以实现测试数据的存储；设置切换按钮可以实现对多路测试的切换查看。本实用新型的多通道flash芯片测试装置，设计合理，可靠性高，可以提高测试效率并输出具体寿命报告数据。

Description

多通道flash芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种多通道flash芯片测试装置。

背景技术

公开号为CN203026141U的中国实用新型专利公开了一种用于测试的 flash 板，它包括板体和阵列在板体上 flash 芯片，以及设置在板体边缘并连接所述 flash 芯片以用于与上 位机连接的接口，接***有用于选择 flash 芯片的针脚，该方案用于进行flash 的测试。

公开号为CN106653097A的中国发明专利申请提供了一种FLASH芯片的测试***，它包括主控服务器、老化柜和测试控制板，将测试板***测试插口；主控服务器将测试指令下发到测试控制板，测试控制板根据测试指令再下发控制测试板，控制测试板对待测试FLASH进行功能测试；主控服务器控制老化柜的温控***，控制老化柜温度曲线控制老化柜的温度；采集测试过程的测试数据并将该数据反馈给到主控服务器，同时将待测试FLASH的各个电气参数数据反馈给到主控服务器，主控服务器根据反馈的数据对待测试FLASH进行自动筛选和标识。该方案减少测试过程中对FLASH测试的移动，提高FLASH测试效率。

公开号为CN208172174U的中国实用新型专利公开的Flash芯片测试***包括了计算机和连接计算机的测试机，测试机设置多个测试头，每个测试头接有一个探针台，每个探针台设有一个用于电连接被测芯片的探针卡，测试机利用多个测试头对放在探针卡上的被测芯片同时进行测试。

在设计研发过程中，对于外置flash芯片的使用相对频繁，但是芯片存储寿命上，只是厂家提供的一个值，不能做出具体的评估。但是在芯片评估质量的时候，寿命测试是一个相对重要的参数。而市面上购买到的flash读写芯片，只是具有写入数据和读取数据的功能，不具备在各种速度下寿命的验证功能，为了能够具体的分析芯片、得到一个可比的参数值，设计一块针对flash芯片的自动测试装置是相当必要的。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种多通道flash芯片测试装置，可以对多个外置flash芯片同时测试写入寿命，并根据写入速度的快慢，得出芯片寿命；同时，针对每一块flash芯片，分别在LCD上显示对应的寿命数据，也可以通过电脑下载数据报告。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案。

本实用新型的多通道flash芯片测试装置，包括电源接口，还包括MCU主控模块、芯片专用夹具和LCD显示模块，所述电源接口、芯片专用夹具、LCD显示模块分别与MCU主控模块相连接。

优选的是，所述电源接口采用带有USB通讯芯片的电源接口。

在上述任一技术方案中优选的是，所述MCU主控模块采用RN8213/8215型控制芯片及配套电路。

在上述任一技术方案中优选的是，所述多通道flash芯片测试装置包括至少一个用于夹持flash芯片的芯片专用夹具。

在上述任一技术方案中优选的是，所述多通道flash芯片测试装置包括6个芯片专用夹具，6个芯片专用夹具分别连接RN8213/8215型控制芯片。

在上述任一技术方案中优选的是，6个flash芯片分别设置于6个芯片专用夹具，所述6个芯片专用夹具分别连接RN8213/8215型控制芯片，所述RN8213/8215型控制芯片实现6路flash芯片同时测试。

在上述任一技术方案中优选的是，所述LCD显示模块包括8位LCD显示屏及配套电路。

在上述任一技术方案中优选的是，所述8位LCD显示屏连接N8213/8215型控制芯片，N8213/8215型控制芯片将测试数据传输至8位LCD显示屏显示。

在上述任一技术方案中优选的是，所述多通道flash芯片测试装置还包括EEPROM模块。

在上述任一技术方案中优选的是，所述EEPROM模块连接RN8213/8215型控制芯片，RN8213/8215型控制芯片将测试数据传输至EEPROM模块存储。

在上述任一技术方案中优选的是，所述多通道flash芯片测试装置还包括切换按钮。

在上述任一技术方案中优选的是，所述切换按钮连接8位LCD显示屏，通过切换按钮实现测试装置多路测试的切换查看。

与现有技术相比，本实用新型的上述技术方案具有如下有益效果：

本实用新型的flash测试装置，是一种多通道flash芯片测试装置，可以实现flash芯片存储寿命的测试，提高测试效率并输出具体寿命报告数据。测试装置设计简单，装置内各功能模块布局及部件连接关系设置合理，提高了测试可靠性。测试人员只要安装flash芯片并开启测试装置，等待测试完成后，就得到具体的flash芯片寿命数据。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为按照本实用新型的多通道flash芯片测试装置的一优选实施例的测试装置结构示意图；

图2为按照本实用新型的多通道flash芯片测试装置的一优选实施例的测试装置内电路图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

为了克服flash测试在现有技术中所存在的问题，本实用新型实施例提出一种多通道flash芯片测试装置，可以对多个外置flash芯片同时测试写入寿命，并根据写入速度的快慢，得出芯片寿命；同时，针对每一块flash芯片，分别在LCD上显示对应的寿命数据，也可以通过电脑下载数据报告。

本实施例的多通道flash芯片测试装置包括电源接口、MCU主控模块、芯片专用夹具和LCD显示模块，电源接口、芯片专用夹具、LCD显示模块分别与MCU主控模块相连接。

本实施例的多通道flash芯片测试装置包括至少一个用于夹持flash芯片的芯片专用夹具。

如图1所示，本实施例的多通道flash芯片测试装置具有6个芯片专用夹具，6个芯片专用夹具分别连接MCU主控模块。

如图1所示，本实施例的多通道flash芯片测试装置，其电源接口采用带有USB通讯芯片的电源接口。

如图2所示，本实施例的多通道flash芯片测试装置，其MCU主控模块采用RN8213/8215型控制芯片及配套电路。6个芯片专用夹具分别连接RN8213/8215型控制芯片。

本实施例的多通道flash芯片测试装置，6个flash芯片分别设置于6个芯片专用夹具，6个芯片专用夹具分别连接RN8213/8215型控制芯片，RN8213/8215型控制芯片实现6路flash芯片同时测试。

本实施例的多通道flash芯片测试装置，其LCD显示模块包括8位LCD显示屏及配套电路。8位LCD显示屏连接N8213/8215型控制芯片，N8213/8215型控制芯片将测试数据传输至8位LCD显示屏显示。

如图2所示，本实施例的多通道flash芯片测试装置，采用了JHD13232型LCD显示模块。

如图2所示，本实施例的多通道flash芯片测试装置还包括EEPROM模块。EEPROM模块连接RN8213/8215型控制芯片，RN8213/8215型控制芯片将测试数据传输至EEPROM模块存储。

本实施例的多通道flash芯片测试装置还包括切换按钮。切换按钮连接8位LCD显示屏，通过切换按钮实现测试装置的多路测试结果数据的切换查看。

本实施例的多通道flash芯片测试装置涉及电子技术领域，是一款辅助原材料检测、研发选型评估的测试验证装置，根据上述硬件结构说明，该多通道flash芯片测试装置的设计合理，装置的每一部分完成其必要的工作，并最终实现flash芯片寿命测试任务；可以实现多路flash芯片的存储寿命的测试，提高测试效率并输出具体寿命报告数据。测试人员只要安装芯片并开启测试装置，等待测试完成后，就得到具体的芯片寿命数据。

结合图1至2，进一步说明本实施例的多通道flash芯片测试装置的工作过程：

多通道flash芯片测试装置设置有6个芯片专用夹具，6个芯片专用夹具分别连接MCU主控模块，可以实现对6个外置flash芯片同时测试写入寿命，并根据写入速度的快慢，得出芯片寿命。同时，针对每一块芯片，分别在LCD显示模块上显示对应的寿命数据，也可以通过USB接口连接电脑下载测试数据的报告。

多通道flash芯片测试装置的电源接口带有USB通讯芯片（USB接口），可以通过PC端获取数据。MCU主控模块采用RN8213/8215型控制芯片及配套电路，主要负责对flash芯片的线路写入读取操作，判断数据正确是否，实现芯片寿命测试。RN8213/8215型控制芯片通过连接6个芯片专用夹具，同时可以对6路flash芯片进行测试。每一路都对应一个芯片专用夹具，方便flash芯片安装和取下。

测试过程中，RN8213/8215型控制芯片通过固件写入，实现数据预先设置的功能，根据USB接口设置的测试速度，对flash芯片进行固定数据的写入，并读取验证，一次完整的读写周期视为合格一次。由于同一块flash芯片，在不同的读写速度下，得到的寿命数据是完全不一样的，所以在对flash芯片进行测试前，需要配置读写速度，一般以芯片厂家提高的最高速度进行测试验证，是否可以符合标称要求，当降低速度后，其寿命会大大提高。

进行测试的同时，RN8213/8215型控制芯片将测试寿命数据实时的发送到JHD13232型LCD显示模块，并存储到EEPROM进行永久保持，供后期PC端数据导出形成报告。

多通道flash芯片测试装置具有一个8位的LCD显示屏，可以实时的显示flash芯片测试的情况，并且通过切换按钮进行多路测试结果的切换查看。当寿命数据达到极限值时，显示不再增加，并保持最大值。

本实施例的多通道的flash芯片寿命测试装置，能根据MCU主控模块预先设置的读写速度，自动的进行多通道测试芯片，并将测试结果显示在LCD显示屏上，同时存储到EEPROM中，供后续PC下载导出。本实施例的测试装置对于原材料检测、研发芯片选型等具有提高效率，分析可靠的优点，大大减少了开发过程不必要的时间浪费。

以上所述仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非是对本实用新型的范围进行限定；以上所述仅为本实用新型的具体实施方式而已，并不用于限定本实用新型的保护范围；在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通工程技术人员对本实用新型的技术方案作出的任何修改、等同替换、改进等，均应落入本实用新型的权利要求书确定的保护范围内。

Claims (12)

1.一种多通道flash芯片测试装置，包括电源接口，其特征在于：该测试装置还包括MCU主控模块、芯片专用夹具和LCD显示模块，所述电源接口、芯片专用夹具、LCD显示模块分别与MCU主控模块相连接。

2.如权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述电源接口采用带有USB通讯芯片的电源接口。

3.如权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述MCU主控模块采用RN8213/8215型控制芯片及配套电路。

4.如权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述多通道flash芯片测试装置包括至少一个用于夹持flash芯片的芯片专用夹具。

5.如权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述多通道flash芯片测试装置包括6个芯片专用夹具，6个芯片专用夹具分别连接RN8213/8215型控制芯片。

6.如权利要求5所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：6个flash芯片分别设置于6个芯片专用夹具，所述6个芯片专用夹具分别连接RN8213/8215型控制芯片，所述RN8213/8215型控制芯片实现6路flash芯片同时测试。

7.如权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述LCD显示模块包括8位LCD显示屏及配套电路。

8.如权利要求7所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述8位LCD显示屏连接N8213/8215型控制芯片，N8213/8215型控制芯片将测试数据传输至8位LCD显示屏显示。

9.如权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述多通道flash芯片测试装置还包括EEPROM模块。

10.如权利要求9所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述EEPROM模块连接RN8213/8215型控制芯片，RN8213/8215型控制芯片将测试数据传输至EEPROM模块存储。

11.如权利要求1所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述多通道flash芯片测试装置还包括切换按钮。

12.如权利要求11所述的多通道flash芯片测试装置，其特征在于：所述切换按钮连接8位LCD显示屏，通过切换按钮实现测试装置多路测试的切换查看。