CN208952851U - 一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及花键外圆尺寸测量检具技术领域，具体涉及一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具；解决了采用现有“V”型块测量奇数齿花键外圆尺寸时“V”型块定位不便的技术问题。本实用新型的技术解决方案是：一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具，包括“V”型块和千分表、定位块、压缩弹簧和压盖；定位块为阶梯轴，定位块的大端设置与千分表的测头外径相适配的孔，小端设置能与被测件的花键齿相适配的豁口；“V”型块的小端端部中心设置沉孔，定位块的小端穿过沉孔下部小孔后用于定位被测件最高位的花键齿，其大端置于沉孔上部大孔内；“V”型块的小端端部设置压盖，压盖中心设有通孔；压盖与定位块的大端端面之间设置压缩弹簧。

Description

一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具

技术领域

本实用新型涉及一种花键外圆尺寸测量器具，具体涉及一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具。

背景技术

由于齿数为奇数的外花键，其外圆尺寸无法采用外径千分尺测量，目前对于奇数齿花键外圆尺寸的测量主要采用三点定位测量法和“V”型相切测量法。三点定位测量法的测量精度较低，无法满足加工精度要求较高的花键轴检测。对于外圆尺寸较小，加工精度要求高的奇数齿花键外圆的检测，目前的“V”型相切法由于测量时存在“V”型块定位不便的问题，即不易将“V”型块的左右两平面调整到正好与花键轴的齿顶外圆部分相切，或即使“V”型块的左右两平面未与花键齿的齿顶外圆部分相切，测量者也难以发现该问题，从而导致测量结果严重偏离真实值。

发明内容

为了解决采用“V”型块测量奇数齿花键外圆尺寸时，存在“V”型块定位不便，而导致测量结果不准确的技术问题，本实用新型提供了一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具。

本实用新型的技术解决方案是：

一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具，包括“V”型块和千分表，其特殊之处在于：还包括定位块、压缩弹簧和压盖。

所述定位块为阶梯轴，定位块的大端设置与千分表的测头外径相适配的测头过孔，小端设置能与被测件的花键齿相适配的豁口。

所述“V”型块的小端中心设置沉孔，定位块的小端穿过沉孔下部小孔后用于定位被测件最高位的花键齿，其大端置于沉孔上部大孔内；所述“V”型块的小端设置压盖，压盖中心设有通孔，千分表(4)的测头依次穿过压盖(5)、“V”型块(1)和定位块(2)后与被测件(6)最高位的花键齿相接触；压盖与定位块的大端端面之间设置压缩弹簧。

进一步地，为了结构更简单，所述压缩弹簧的数量为一个，与定位块2同轴设置。

进一步地，为了受力更均匀，所述压缩弹簧的数量为两个，两个压缩弹簧相对于定位块的轴线对称设置。

进一步地，为了安装更方便，所述压盖通过螺钉连接在所述“V”型块上。

进一步地，为了压缩弹簧能够更好的限位，所述定位块的大端端面上设有凹槽，凹槽的直径与所述压缩弹簧的外径相适配。

本实用新型相比现有技术的有益效果是：

1、本实用新型在现有“V”型块上增设定位块、压缩弹簧和压盖，测量奇数齿花键外圆尺寸时，“V”型块可快速定位，测量效率高。

2、本实用新型中的两个压缩弹簧相对于定位块的轴线对称设置，压缩弹簧受力更均匀。

3、本实用新型中的压盖通过螺钉连接在所述“V”型块的上，安装更方便。

4、本实用新型中定位块的大端端面上设有凹槽，凹槽的直径与压缩弹簧的外径相适配，压缩弹簧能够更好的限位。

附图说明

图1是本实用新型一个实施例的结构示意图；

图2是本实施例中定位块的结构示意图；

图中附图标记为：1-“V”型块，101-沉孔上部大孔，102-沉孔下部小孔，2-定位块，201-测头过孔，202-豁口，3-压缩弹簧，4-千分表，5-压盖，6-被测件。

具体实施方式

以下结合附图及具体实施例对本实用新型做进一步的描述。

参照图1，本检具包括“V”型块1、定位块2、压缩弹簧3、千分表4和压盖5。定位块2为阶梯轴，定位块2的大端设置与千分表4的测头外径相适配的孔201，小端设置能将被测件6的花键齿嵌入的豁口202。

“V”型块1的小端中心设置沉孔，定位块2的小端穿过沉孔下部小孔102后用于定位被测件6最高位的花键齿，大端置于沉孔上部大孔101内。“V”型块1的小端端部通过螺钉连接压盖5，压盖5中心设有通孔，千分表4的测头依次穿过压盖5、“V”型块1和定位块2后与被测件6最高位的花键齿相接触；压盖5与定位块2的大端端面之间设置压缩弹簧3。

压缩弹簧3的数量可以为一个，与定位块2同轴设置；压缩弹簧3的数量也可以为两个，两个压缩弹簧3相对于定位块2的轴线对称设置；压缩弹簧3的数量还可以为两个以上的偶数个，各压缩弹簧3绕定位块2的轴线环形布置。本实施例中采用两个压缩弹簧3相对于定位块2的轴线对称设置，且为了测量更准确，两个压缩弹簧3工作状态的压力之和小于“V”型块1、千分表4和压盖5的重力之和10N。

本检具的检测过程如下：

1)将本检具安装在圆柱体校准件上，对该检具进行校准；

2)将本检具安装在被测件6需要测量的部位；定位块2先与被测件6任意一个齿的左右齿面相接触以实现定位，然后在本检具整体重力作用下除定位块2之外的其余零件向被测件6的中心移动，“V”型块1的两侧面与被测件6齿顶外圆部分相切，此时，千分表4的测头与被测件6的齿顶外圆接触；

3)读取千分表4的相对移动量；

4)通过公式1计算得到被测件6的外圆直径尺寸；

D＝D1+2*ΔX*sin(α/2)……(1)

其中，D：被测件6的外圆尺寸；

D1：校准件的直径；

ΔX：千分表的相对移动量；

α：“V”型块1两侧面的夹角；

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的保护范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (5)

1.一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具，包括“V”型块(1)和千分表(4)，其特征在于：还包括定位块(2)、压缩弹簧(3)和压盖(5)；

所述定位块(2)为阶梯轴，定位块(2)的大端设置与千分表(4)的测头外径相适配的测头过孔(201)，小端设置可嵌入被测件(6)花键齿的豁口(202)；

所述“V”型块(1)的小端中心设置沉孔，定位块(2)的小端穿过沉孔下部小孔(102)后用于定位被测件(6)最高位的花键齿，其大端置于沉孔上部大孔(101)内；所述“V”型块(1)的小端设置压盖(5)，压盖(5)中心设有通孔，千分表(4)的测头依次穿过压盖(5)、“V”型块(1)和定位块(2)后与被测件(6)最高位的花键齿相接触；压盖(5)与定位块(2)的大端端面之间设置压缩弹簧(3)。

2.根据权利要求1所述的一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具，其特征在于：所述压缩弹簧(3)的数量为一个，与定位块(2)同轴设置。

3.根据权利要求1所述的一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具，其特征在于：所述压缩弹簧(3)的数量为两个，两个压缩弹簧(3)相对于定位块(2)的轴线对称设置。

4.根据权利要求2或3所述的一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具，其特征在于：所述压盖(5)通过螺钉连接在所述“V”型块(1)上。

5.根据权利要求4所述的一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具，其特征在于：所述定位块(2)的大端端面上设有凹槽，凹槽的直径与所述压缩弹簧(3)的外径相适配。