CN208737307U - 单片机功能和电源电流测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型一种单片机功能和电源电流测试装置，包括直流稳压电源、测试主板、测试转接板、安装待测单片机的芯片测试座和控制计算机，芯片测试座安装在测试转接板上，测试转接板经接插件连到测试主板上，待测单片机与控制计算机连接，测试主板上设有DC‑DC数字电源、DC‑DC模拟电源、电流测试端口、矩阵键盘、控制开关、SPI总线DA转换器、显示屏和数码管，DC‑DC数字电源通过电流测试端口与待测单片机连接，矩阵键盘、控制开关、SPI总线DA转换器、显示屏和数码管与待测单片机连接，直流稳压电源与DC‑DC数字和DC‑DC模拟电源连接，DC‑DC模拟电源与SPI总线DA转换器连接。
Description
技术领域
本实用新型涉及单片机功能测试技术领域，特别是涉及一种单片机PIC16F877功能和电源电流测试装置。
背景技术
目前市场上有部分产品使用单片机PIC16F877，这种芯片功能多，管脚多且间距小，测试困难，在生产阶段都是采取试用的办法，一旦芯片有质量问题，取芯片的过程往往会损坏电路板。
实用新型内容
本实用新型针对现有技术存在的问题和不足，提供一种新型的单片机功能和电源电流测试装置。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：
本实用新型提供一种单片机功能和电源电流测试装置，其特点在于，其包括直流稳压电源、测试主板、测试转接板、用于安装待测单片机的芯片测试座和控制计算机，所述芯片测试座安装在测试转接板上，所述测试转接板经转接接插件连接到测试主板上，所述待测单片机与控制计算机通讯连接，所述测试主板上设有DC-DC数字电源、DC-DC模拟电源、电流测试端口、矩阵键盘、控制开关、SPI总线DA转换器、显示屏和数码管，所述DC-DC数字电源通过电流测试端口与待测单片机电连接，所述矩阵键盘、控制开关、SPI总线DA转换器、显示屏和数码管均与待测单片机电连接，所述直流稳压电源与DC-DC数字电源和DC-DC模拟电源电连接，所述DC-DC模拟电源与SPI总线DA转换器电连接。
较佳地，所述装置还包括壳体，所述测试主板、DC-DC数字电源、DC-DC模拟电源和SPI总线DA转换器封装在壳体内，所述测试转接板、芯片测试座、电流测试端口、矩阵键盘、控制开关、显示屏和数码管嵌设于壳体上。
较佳地，所述显示屏为LCD。
较佳地，所述芯片测试座可拆卸地安装在测试转接板上。
较佳地，所述测试主板上还设有串口通讯模块，所述待测单片机通过串口通讯模块与控制计算机通讯连接。
较佳地，所述SPI总线DA转换器的输出电压采用电压表检测。。
较佳地，所述待测单片机的工作电流采用电流表通过电流测试端口检测。
在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本实用新型各较佳实例。
本实用新型的积极进步效果在于：
本实用新型为了确保生产产品的质量，对准备进入生产线的单片机芯片进行抽样测试，确保芯片的合格率，实现芯片焊装前的无损检测，且本实用新型的测试装置具有通用性。
附图说明
图1为本实用新型较佳实施例的单片机功能和电源电流测试装置的结构原理图。
图2为本实用新型较佳实施例的单片机功能和电源电流测试装置的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。相反，本实用新型的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。
如图1和图2所示，本实施例提供了一种单片机功能和电源电流测试装置，其包括直流稳压电源1、测试主板2、测试转接板3、用于安装待测单片机4的芯片测试座5和控制计算机6，所述芯片测试座5安装在测试转接板3上，所述测试转接板3经转接接插件连接到测试主板2上。
所述测试主板2上设有DC-DC数字电源7、DC-DC模拟电源8、电流测试端口9、矩阵键盘10、控制开关11、SPI总线DA转换器13、显示屏14、数码管15和串口通讯模块16，所述DC-DC数字电源7通过电流测试端口9与待测单片机4电连接，所述矩阵键盘10、控制开关11、SPI总线DA转换器13、显示屏14和数码管15均与待测单片机4电连接，所述直流稳压电源1与DC-DC数字电源7和DC-DC模拟电源8电连接，所述DC-DC模拟电源8与SPI总线DA转换器13电连接，所述待测单片机4通过串口通讯模块16与控制计算机6通讯连接。
而且，所述装置还包括壳体18，所述测试主板2、DC-DC数字电源7、DC-DC模拟电源8和SPI总线DA转换器13封装在壳体18内，所述测试转接板3、芯片测试座5、电流测试端口9、矩阵键盘10、控制开关11、程序写入端口12、显示屏14和数码管15嵌设于壳体18上。
其中，所述显示屏14为LCD，所述芯片测试座5可拆卸地安装在测试转接板3上。
将待测单片机4（PIC16F877）安装到芯片测试座5上，控制计算机6将编写的程序使用程序烧写器19通过程序写入端口12烧录至PIC16F877单片机中。在PIC16F877单片机功能测试装置上，控制开关11由3个自锁按键组成。在测试时，使用控制开关11输入操作指令实现测试功能切换，根据PIC16F877单片机的真值表，设计向量，对PIC16F877单片机的逻辑功能进行测试，测试后在显示屏14和/或数码管15上显示功能测试结果。在电源电流测试时，使用电流表17，测试芯片工作时消耗的电源电流，以评估其工作是否正常。
本方案针对热像仪用主系列单片机PIC16F877的主要功能测试开展工作，通过本方案实施，实现单片机PIC16F877以下功能验证： I/O功能、双串口功能、A/D功能、MEMORY功能，同时测量其工作电流。
I/O功能的测试可以通过矩阵键盘10进行测试。串口功能通过调用待测单片机内部的串口与控制计算机6通信进行测试，AD模数转换通过模拟电压输入21并调用待测单片机4内部的10位AD进行测试，MEMORY功能通过调用待测单片机内部SPI总线单元与外部SPI总线DA转换器13通信进行测试，测试结果通过显示屏12和数码管13进行显示，同时外部SPI总线DA转换器13的转换结果通过电压表20进行测试。
电源电流测试时，使用电流表17，通过电流测试端口9测试待测单片机4工作时消耗的电源电流，以评估其工作是否正常。
单片机型号的更换通过不同的测试转接板实现。为了实现平台的通用性，测试主板与测试转接板相连的地方采用两个64芯接插件，共128个管脚，可以兼容大多数单片机。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同限定。
Claims (7)
1.一种单片机功能和电源电流测试装置，其特征在于，其包括直流稳压电源、测试主板、测试转接板、用于安装待测单片机的芯片测试座和控制计算机，所述芯片测试座安装在测试转接板上，所述测试转接板经转接接插件连接到测试主板上，所述待测单片机与控制计算机通讯连接，所述测试主板上设有DC-DC数字电源、DC-DC模拟电源、电流测试端口、矩阵键盘、控制开关、SPI总线DA转换器、显示屏和数码管，所述DC-DC数字电源通过电流测试端口与待测单片机电连接，所述矩阵键盘、控制开关、SPI总线DA转换器、显示屏和数码管均与待测单片机电连接，所述直流稳压电源与DC-DC数字电源和DC-DC模拟电源电连接，所述DC-DC模拟电源与SPI总线DA转换器电连接。
2.根据权利要求1所述的单片机功能和电源电流测试装置，其特征在于，所述装置还包括壳体，所述测试主板、DC-DC数字电源、DC-DC模拟电源和SPI总线DA转换器封装在壳体内，所述测试转接板、芯片测试座、电流测试端口、矩阵键盘、控制开关、显示屏和数码管嵌设于壳体上。
3.根据权利要求1所述的单片机功能和电源电流测试装置，其特征在于，所述显示屏为LCD。
4.根据权利要求1所述的单片机功能和电源电流测试装置，其特征在于，所述芯片测试座可拆卸地安装在测试转接板上。
5.根据权利要求1所述的单片机功能和电源电流测试装置，其特征在于，所述测试主板上还设有串口通讯模块，所述待测单片机通过串口通讯模块与控制计算机通讯连接。
6.根据权利要求1所述的单片机功能和电源电流测试装置，其特征在于，所述SPI总线DA转换器的输出电压采用电压表检测。
7.根据权利要求1所述的单片机功能和电源电流测试装置，其特征在于，所述待测单片机的工作电流采用电流表通过电流测试端口检测。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201821675441.1U CN208737307U (zh) | 2018-10-16 | 2018-10-16 | 单片机功能和电源电流测试装置 |
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Publications (1)
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| CN208737307U true CN208737307U (zh) | 2019-04-12 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108983760A (zh) * | 2018-10-16 | 2018-12-11 | 昆明北方红外技术股份有限公司 | 单片机功能和电源电流测试装置 |
| CN111913471A (zh) * | 2020-07-21 | 2020-11-10 | 北京京瀚禹电子工程技术有限公司 | 测试装置 |
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2018
- 2018-10-16 CN CN201821675441.1U patent/CN208737307U/zh active Active
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