CN208568834U - 一种pcb板测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及PCB板电测试技术领域，尤其是指一种PCB板测试治具，包括针盘治具和用于支撑针盘治具的支撑底座，所述针盘治具包括设置于支撑底座的针盘底板、设置于针盘底板的针盘组件、设置于针盘组件上方的面板以及贯穿针盘底板、针盘组件与面板的测试探针，测试探针用于抵触外界的PCB板，所述针盘组件设置有用于将面板架设于针盘组件上方的面板支撑柱。本治具的测试探针在穿设过程中无需经过多块间隙设置的载板，从而有效地免探针穿针盘弯曲的问题发生，进而使本实用新型实现穿针效率高、穿针效果好以及测试精度高。

Description

一种PCB板测试治具

技术领域

本实用新型涉及PCB板电测试技术领域，尤其是指一种PCB板测试治具。

背景技术

随着人们生活水平的提高，电子产品日益进入人们的日常生活中；电路板在手机、笔记本、PDA等消费性电子产品中的使用极为广泛，电路板因制程较复杂，且工艺要求较高，容易出现电路板线路、功能等不良，若不良品组装到产品中，将严重影响该产品功能；随着电子产品都在向小型轻便化方向发展，一些焊盘较小的PCB板需要采用直径较小的探针来测试。可是，现有技术中探针治具的结构在探针穿针盘时，由于针盘的每块板之间为间隙设置，直径较小的探针穿设完上一块板至下一板之间的间隙时很容易发生弯曲，从而导致穿探针失败。该问题的缺陷十分明显，亟需一种解决方案。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足提供一种结构简单紧凑，便于直径较小的测试探针穿设，且可确保测试探针能够顺利穿过针盘而不发生弯曲的PCB板测试治具。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

本实用新型提供的一种PCB板测试治具，包括针盘治具和用于支撑针盘治具的支撑底座，所述针盘治具包括设置于支撑底座的针盘底板、设置于针盘底板的针盘组件、设置于针盘组件上方的面板以及贯穿针盘底板、针盘组件与面板的测试探针，测试探针用于抵触外界的PCB板，所述针盘组件设置有用于将面板架设于针盘组件上方的面板支撑柱。

其中的，所述针盘组件包括由下而上依次叠放设置的第一载板、第二载板和第三载板，所述第一载板叠放设置于针盘底板。

进一步的，所述第一载板和第三载板的厚度均为3.0mm。

进一步的，所述第二载板的厚度为1.5mm。

进一步的，所述针盘底板、第一载板、第二载板和第三载板经由连接件可拆卸地连接。

其中的，所述面板靠近针盘组件的一侧设置有导针板，测试探针贯穿导针板。

其中的，所述支撑底座设置有用于对面板提供辅助支撑的辅助支撑组件。

进一步的，所述辅助支撑组件包括用于承托面板的承托板和设置于支撑底座的承托支柱，所述承托支柱的一端与支撑底座连接，所述承托支柱的另一端与承托板连接。

其中的，所述支撑底座包括支撑底板和设置于支撑底板的底板支撑柱，所述底板支撑柱的一端与支撑底板可拆卸连接，底板支撑柱的另一端与针盘底板可拆卸连。

本实用新型的有益效果：

本实用新型提供的一种PCB板测试治具，通过将面板架设于针盘组件上方的设置，可确保直径较小的探针先穿过面板，然后直接将测试探针直接穿设在针盘组件上；面板用于保护测试探针以及便于测试探针顶部的出针，针盘组件用于固定测试探针的底部，由此使测试探针的底部和顶部均得到可靠的支撑；同时，本治具的测试探针在穿设过程中无需经过多块间隙设置的载板，从而有效地免探针穿针盘弯曲的问题发生，进而使本实用新型实现穿针效率高、穿针效果好以及测试精度高。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

附图标记说明

11-针盘底板；12-针盘组件；13-面板；131-导针板；14-测试探针；15-面板支撑柱；121-第一载板；122-第二载板；123-第三载板；124-连接件；2-支撑底座；21-支撑底板；22-底板支撑柱；3-辅助支撑组件；31-承托板；32-承托支柱。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。

如图1所示，本实用新型提供的一种PCB板测试治具，包括针盘治具和用于支撑针盘治具的支撑底座2，所述针盘治具包括设置于支撑底座2的针盘底板11、设置于针盘底板11的针盘组件12、设置于针盘组件12上方的面板13以及贯穿针盘底板11、针盘组件12与面板13的测试探针14，测试探针14用于抵触外界的PCB板，所述针盘组件12设置有用于将面板13架设于针盘组件12上方的面板支撑柱15。

在实际应用中，通过将面板13架设于针盘组件12上方的设置，可确保直径较小的探针先穿过面板13，然后将测试探针14直接穿设在针盘组件12上；面板13用于保护测试探针14以及便于测试探针14顶部的出针，针盘组件12用于固定测试探针14的底部，由此使测试探针14的底部和顶部均得到可靠的支撑；同时，本治具的测试探针14在穿设过程中无需经过多块间隙设置的载板，从而有效地免探针穿针盘弯曲的问题发生，进而使本实用新型实现穿针效率高、穿针效果好以及测试精度高。本实用新型通过该结构的优化，本治具能够穿设直径为0.05mm至0.07mm的测试探针14，由此解决焊盘直径在0.15mm以下并且具有双线四线的PCB板难以测试的问题。

在本技术方案中，所述针盘组件12包括由下而上依次叠放设置的第一载板121、第二载板122和第三载板123，所述第一载板121叠放设置于针盘底板11。具体地，所述第一载板121和第三载板123的厚度均为3.0mm。所述第二载板122的厚度为1.5mm。第一载板121和第三载板123的作用是将测试探针14的下部能够得到良好的固定，第二载板122的作用是防止测试探针14在穿过第一载板121和第三载板123之间时发生弯曲。该针盘组件12的结构设计，可以稳固测试探针14的底部，并且使测试探针14的穿设更加容易，结构设计科学合理，实用性强。

在本技术方案中，所述针盘底板11、第一载板121、第二载板122和第三载板123经由连接件124可拆卸地连接。具体地，所述连接件124为螺丝，针盘底板11、第一载板121、第二载板122和第三载板123通过螺丝螺接在一起。采用螺丝连接，以便于针盘组件12的拆卸维护。

在本技术方案中，所述面板13靠近针盘组件12的一侧设置有导针板131，测试探针14贯穿导针板131。具体地，导针板131的数量为两块。导针板131对测试探针14起到导向，辅助固定和使测试探针14能够顺畅插设的作用，进而提高对测试探针14顶部的巩固，防止测试探针14的变形，从而提高本实用新型的测试精度。

在本技术方案中，所述支撑底座2设置有用于对面板13提供辅助支撑的辅助支撑组件3。具体地，所述辅助支撑组件3包括用于承托面板13的承托板31和设置于支撑底座2的承托支柱32，所述承托支柱32的一端与支撑底座2连接，所述承托支柱32的另一端与承托板31连接。在实际应用中，承托面板13能够增大面板13的受力面积，以减少面板13对PCB板的承受力，进而减少面板13对测试探针14的压力，从而有效地确保测试探针14在使用过程中也不会轻易地发生弯曲变形，大大地提高本实用新型的测试稳定性。

在本技术方案中，所述支撑底座2包括支撑底板21和设置于支撑底板21的底板支撑柱22，所述底板支撑柱22的一端与支撑底板21可拆卸连接，底板支撑柱22的另一端与针盘底板11可拆卸连接。支撑底座2可以更换不同高度的底板支撑柱22，以实现对针盘组件12的高度进行调节。

以上所述，仅是本实用新型较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型以较佳实施例公开如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当利用上述揭示的技术内容作出些许变更或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型技术是指对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (8)

1.一种PCB板测试治具，其特征在于：包括针盘治具和用于支撑针盘治具的支撑底座，所述针盘治具包括设置于支撑底座的针盘底板、设置于针盘底板的针盘组件、设置于针盘组件上方的面板以及贯穿针盘底板、针盘组件与面板的测试探针，测试探针用于抵触外界的PCB板，所述针盘组件设置有用于将面板架设于针盘组件上方的面板支撑柱；所述支撑底座设置有用于对面板提供辅助支撑的辅助支撑组件。

2.根据权利要求1所述的一种PCB板测试治具，其特征在于：所述针盘组件包括由下而上依次叠放设置的第一载板、第二载板和第三载板，所述第一载板叠放设置于针盘底板。

3.根据权利要求2所述的一种PCB板测试治具，其特征在于：所述第一载板和第三载板的厚度均为3.0mm。

4.根据权利要求2所述的一种PCB板测试治具，其特征在于：所述第二载板的厚度为1.5mm。

5.根据权利要求2所述的一种PCB板测试治具，其特征在于：所述针盘底板、第一载板、第二载板和第三载板经由连接件可拆卸地连接。

6.根据权利要求1所述的一种PCB板测试治具，其特征在于：所述面板靠近针盘组件的一侧设置有导针板，测试探针贯穿导针板。

7.根据权利要求1所述的一种PCB板测试治具，其特征在于：所述辅助支撑组件包括用于承托面板的承托板和设置于支撑底座的承托支柱，所述承托支柱的一端与支撑底座连接，所述承托支柱的另一端与承托板连接。

8.根据权利要求1所述的一种PCB板测试治具，其特征在于：所述支撑底座包括支撑底板和设置于支撑底板的底板支撑柱，所述底板支撑柱的一端与支撑底板可拆卸连接，底板支撑柱的另一端与针盘底板可拆卸连接。