CN208476774U - 一种光学对比检测装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型属于光学检测领域,涉及一种光学对比检测装置。包括计算机、分光仪控制器和检测仪;检测仪包括检测仪外壳、光源、三角分光镜、第一反射镜、第一整形镜片、标准样品、第一滤光片、第一分光仪、第二反射镜、第二整形镜片、待测样品、第二滤光片、第二分光仪;标准样品为台阶形,调节第二微位移台的高度从而使第一路光穿过不同厚度位置的标准样品。通过不同厚度的标准样品对待测样品进行吸光度的标定,从而可以避免仪器本身造成的检测误差;设置待测样品的高度可以调节,从而可以检测不同位置处的待测样品。

Description

一种光学对比检测装置
技术领域
本实用新型属于光学检测领域,涉及一种光学检测装置,尤其涉及一种光学对比检测装置。
背景技术
吸光度(absorbance):是指光线通过溶液或某一物质前的入射光强度与该光线通过溶液或物质后的透射光强度比值的以10为底的对数(即lg(I0/I1)),其中I0为入射光强,I1为透射光强,影响它的因素有溶剂、浓度、温度等等。
吸光度检测技术已在许多领域得到了研究与运用,并展现出诸多较为突出的优点。在文物检测、毒品检测、钱币检测等领域,吸光度检测均表现出非常突出的应用前景。在法医学当前国内外有限数量研究成果的基础上,吸光度检测在法医学人体损伤检验、死亡时间推断、死亡原因判定、药毒物分析等方面都表现出良好的应用前景。
实际测定中,由于仪器中的光会经过多个器件,而不同的器件均对光造成吸收,实际使用时难以避免存在检测误差。
现有技术在检测时一般是采用先采集空白的光学***的吸光度,在检测待测样品后用待测样品的吸光度扣除空白***的吸光度再进行检测,但是这种检测方式仅是一种相对准确的方式,由于仪器的传感器等对于不同光强的敏感强度也不同,仪器还是会存在误差。
目前的分光光度计一般采用对比检测,但是其对比检测的目的一般是排除容器或者检测液体时的溶剂的影响,其并不能够获得待测样品的绝对吸光度。
实用新型内容
为了克服上述缺陷,提供一种光学对比检测装置,其特征在于包括计算机、分光仪控制器和检测仪;检测仪包括检测仪外壳、光源、三角分光镜、第一反射镜、第一整形镜片、标准样品、第一滤光片、第一分光仪、第二反射镜、第二整形镜片、待测样品、第二滤光片、第二分光仪;检测仪外壳为长方体形状并设置有容纳光源、第一整形镜片、标准样品、第一滤光片、第一分光仪、第二整形镜片、待测样品、第二滤光片、第二分光仪的凹槽;其中光源为激光光源,发射出正方形光斑;安装光源的凹槽单独设置在一个表面,安装第一分光仪的凹槽、安装第二分光仪的凹槽均设置在与光源相对的表面上;检测仪外壳内设置有从光源光出口到第一分光仪、第二分光仪光入口的光路通道;光路通道在光源一侧被三角分光镜分叉为第一光通道和第二光通道;安装第一整形镜片的凹槽、安装标准样品的凹槽、安装第一滤光片的凹槽均设置在与安装光源的凹槽相邻的一个表面上,第一光路穿透安装第一整形镜片的凹槽、安装标准样品的凹槽、安装第一滤光片的凹槽;安装第二整形镜片的凹槽、安装待测样品的凹槽、安装第二滤光片的凹槽均设置在与设置安装第一反射镜的凹槽的表面相对的表面上,第二光路穿透安装第二整形镜片的凹槽、安装待测样品的凹槽、安装第二滤光片的凹槽;
第一反射镜设置在第一光通道内,用于将光源发出的光反射到第一整形镜片,第二反射镜设置在第二光通道内,用于将光源发出的光反射到第二整形镜片;
计算机连接光源和分光仪控制器;分光仪控制器连接第一分光仪和第二分光仪;
光源发射的光经三角分光镜分成第一路光和第二路光;第一路光进入第一光通道,经第一反射镜反射后依次穿过第一整形镜片、标准样品、第一滤光片进入第一分光仪;第二路光进入第二光通道,经第二反射镜反射后依次穿过第二整形镜片、待测样品、第二滤光片进入第二分光仪;
三角分光镜底部设置有第一微位移台、标准样品底部设置有第二微位移台、待测样品底部设置有第三微位移台,微位移台调节三角分光镜、标准样品、待测样品的高度;标准样品为台阶形,调节第二微位移台的高度从而使第一路光穿过不同厚度位置的标准样品。
第一整形镜片和第二整形镜片为复眼镜片,使穿过的光能量均匀化。
第一整形镜片和第二整形镜片完全相同。
第一滤光片和第二滤光片完全相同。
第一分光仪和第二分光仪完全相同。
检测时将标准样品和待测样品***对应的凹槽,由于待测样品的不同台阶位置处的吸光度是已知的,在检测时调节标准样品的高度,使不同光穿过不同台阶位置处的标准样品。当检测到标准样品和待测样品的吸光度相同时,就可以得知当前检测位置处的待测样品的吸光度和标准样品对应台阶处的吸光度相同。根据标准样品所在位置的吸光度对待测样品的检测位置的吸光度进行标定。之后调节待测样品的高度,从而检测待测样品不同位置处的吸光度,由于待测样品已经进行了标定,此时得到的待测样品不同位置处的吸光度为校准后的吸光度。
本实用新型的有益效果为:
通过不同厚度的标准样品对待测样品进行吸光度的标定,从而可以避免仪器本身造成的检测误差;设置待测样品的高度可以调节,从而可以检测不同位置处的待测样品。
附图说明
图1为本发明的整体结构示意图;
图2为本发明的检测仪的结构示意图。
具体实施方式
一种光学对比检测装置,其特征在于包括计算机(1)、分光仪控制器(2)和检测仪(3);检测仪(3)包括检测仪外壳(301)、光源(302)、三角分光镜(303)、第一反射镜(304)、第一整形镜片(305)、标准样品(306)、第一滤光片(307)、第一分光仪(308)、第二反射镜(309)、第二整形镜片(310)、待测样品(311)、第二滤光片(312)、第二分光仪(313);检测仪外壳(301)为长方体形状并设置有容纳光源(302)、第一整形镜片(305)、标准样品(306)、第一滤光片(307)、第一分光仪(308)、第二整形镜片(310)、待测样品(311)、第二滤光片(312)、第二分光仪(313)的凹槽;其中光源(302)为激光光源(302),发射出正方形光斑;安装光源(302)的凹槽单独设置在一个表面,安装第一分光仪(308)的凹槽、安装第二分光仪(313)的凹槽均设置在与光源(302)相对的表面上;检测仪外壳(301)内设置有从光源(302)光出口到第一分光仪(308)、第二分光仪(313)光入口的光路通道;光路通道在光源(302)一侧被三角分光镜(303)分叉为第一光通道和第二光通道;安装第一整形镜片(305)的凹槽、安装标准样品(306)的凹槽、安装第一滤光片(307)的凹槽均设置在与安装光源(302)的凹槽相邻的一个表面上,第一光路穿透安装第一整形镜片(305)的凹槽、安装标准样品(306)的凹槽、安装第一滤光片(307)的凹槽;安装第二整形镜片(310)的凹槽、安装待测样品(311)的凹槽、安装第二滤光片(312)的凹槽均设置在与设置安装第一反射镜(304)的凹槽的表面相对的表面上,第二光路穿透安装第二整形镜片(310)的凹槽、安装待测样品(311)的凹槽、安装第二滤光片(312)的凹槽;
第一反射镜(304)设置在第一光通道内,用于将光源(302)发出的光反射到第一整形镜片(305),第二反射镜(309)设置在第二光通道内,用于将光源(302)发出的光反射到第二整形镜片(310);
计算机(1)连接光源(302)和分光仪控制器(2);分光仪控制器(2)连接第一分光仪(308)和第二分光仪(313);
光源(302)发射的光经三角分光镜(303)分成第一路光和第二路光;第一路光进入第一光通道,经第一反射镜(304)反射后依次穿过第一整形镜片(305)、标准样品(306)、第一滤光片(307)进入第一分光仪(308);第二路光进入第二光通道,经第二反射镜(309)反射后依次穿过第二整形镜片(310)、待测样品(311)、第二滤光片(312)进入第二分光仪(313);
三角分光镜(303)底部设置有第一微位移台(314)、标准样品(306)底部设置有第二微位移台(315)、待测样品(311)底部设置有第三微位移台(316),微位移台调节三角分光镜(303)、标准样品(306)、待测样品(311)的高度;标准样品(306)为台阶形,调节第二微位移台的高度从而使第一路光穿过不同厚度位置的标准样品(306)。
第一整形镜片(305)和第二整形镜片(310)为复眼镜片,使穿过的光能量均匀化。
第一整形镜片(305)和第二整形镜片(310)完全相同。
第一滤光片(307)和第二滤光片(312)完全相同。
第一分光仪(308)和第二分光仪(313)完全相同。
检测时将标准样品和待测样品***对应的凹槽,由于待测样品的不同台阶位置处的吸光度是已知的,在检测时调节标准样品的高度,使不同光穿过不同台阶位置处的标准样品。当检测到标准样品和待测样品的吸光度相同时,就可以得知当前检测位置处的待测样品的吸光度和标准样品对应台阶处的吸光度相同。根据标准样品所在位置的吸光度对待测样品的检测位置的吸光度进行标定。之后调节待测样品的高度,从而检测待测样品不同位置处的吸光度,由于待测样品已经进行了标定,此时得到的待测样品不同位置处的吸光度为校准后的吸光度。
以上所述,本实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中的部分技术特征进行等同替换;而这些修改或替换,并不使相应技术方案脱离本实用新型实施例技术方案的精神和范围,因此本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种光学对比检测装置,其特征在于包括计算机(1)、分光仪控制器(2)和检测仪(3);检测仪(3)包括检测仪外壳(301)、光源(302)、三角分光镜(303)、第一反射镜(304)、第一整形镜片(305)、标准样品(306)、第一滤光片(307)、第一分光仪(308)、第二反射镜(309)、第二整形镜片(310)、待测样品(311)、第二滤光片(312)、第二分光仪(313);检测仪外壳(301)为长方体形状并设置有容纳光源(302)、第一整形镜片(305)、标准样品(306)、第一滤光片(307)、第一分光仪(308)、第二整形镜片(310)、待测样品(311)、第二滤光片(312)、第二分光仪(313)的凹槽;其中光源(302)为激光光源(302),发射出正方形光斑;安装光源(302)的凹槽单独设置在一个表面,安装第一分光仪(308)的凹槽、安装第二分光仪(313)的凹槽均设置在与光源(302)相对的表面上;检测仪外壳(301)内设置有从光源(302)光出口到第一分光仪(308)、第二分光仪(313)光入口的光路通道;光路通道在光源(302)一侧被三角分光镜(303)分叉为第一光通道和第二光通道;安装第一整形镜片(305)的凹槽、安装标准样品(306)的凹槽、安装第一滤光片(307)的凹槽均设置在与安装光源(302)的凹槽相邻的一个表面上,第一光路穿透安装第一整形镜片(305)的凹槽、安装标准样品(306)的凹槽、安装第一滤光片(307)的凹槽;安装第二整形镜片(310)的凹槽、安装待测样品(311)的凹槽、安装第二滤光片(312)的凹槽均设置在与设置安装第一反射镜(304)的凹槽的表面相对的表面上,第二光路穿透安装第二整形镜片(310)的凹槽、安装待测样品(311)的凹槽、安装第二滤光片(312)的凹槽;
第一反射镜(304)设置在第一光通道内,用于将光源(302)发出的光反射到第一整形镜片(305),第二反射镜(309)设置在第二光通道内,用于将光源(302)发出的光反射到第二整形镜片(310);
计算机(1)连接光源(302)和分光仪控制器(2);分光仪控制器(2)连接第一分光仪(308)和第二分光仪(313);
光源(302)发射的光经三角分光镜(303)分成第一路光和第二路光;第一路光进入第一光通道,经第一反射镜(304)反射后依次穿过第一整形镜片(305)、标准样品(306)、第一滤光片(307)进入第一分光仪(308);第二路光进入第二光通道,经第二反射镜(309)反射后依次穿过第二整形镜片(310)、待测样品(311)、第二滤光片(312)进入第二分光仪(313);
三角分光镜(303)底部设置有第一微位移台(314)、标准样品(306)底部设置有第二微位移台(315)、待测样品(311)底部设置有第三微位移台(316),微位移台调节三角分光镜(303)、标准样品(306)、待测样品(311)的高度;标准样品(306)为台阶形,调节第二微位移台的高度从而使第一路光穿过不同厚度位置的标准样品(306)。
2.根据权利要求1所述的光学对比检测装置,其特征在于第一整形镜片(305)和第二整形镜片(310)为复眼镜片,使穿过的光能量均匀化。
3.根据权利要求1所述的光学对比检测装置,其特征在于第一整形镜片(305)和第二整形镜片(310)完全相同。
4.根据权利要求1所述的光学对比检测装置,其特征在于第一滤光片(307)和第二滤光片(312)完全相同。
5.根据权利要求1所述的光学对比检测装置,其特征在于第一分光仪(308)和第二分光仪(313)完全相同。
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