CN208239583U - 一种有源光模块的老化测试装置及*** - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种有源光模块的老化测试装置及***，所述有源光模块的老化测试装置包括：底板、轨道组件、光探测器和加电插座，所述轨道组件和加电插座分别设置于所述底板上，所述光探测器通过所述轨道组件设置于所述加电插座的上方。本实用新型能够对有源光模块的老化板直接进行自动的老化测试，直接探测到有源光模块的光功率值大小，使得测试数据更加真实有效，便于老化后的分析和筛选；并且通过轨道组件、加电插座和支撑组件之间的相互配合，使得定位位置和高度位置更加精准，不会压坏VCSEL垂直腔面发射二极管阵列及其绑定金线；本实用新型能够有效提高生产和测试效率，很好地满足了工业化生产的需要。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种有源光模块的老化测试装置，尤其涉及一种包括了该有源光模块的老化测试装置的老化测试***。
背景技术
有源光模块中，多模光模块(单路/多路)在完成芯片贴装和金线绑定后，需要完成光发射芯片和高温加电老化流程，光发射芯片经过老化，其光电特性会趋于平稳，利于光信号稳定传输。
其中，如图4和图5所示，并行多模光模块包括PCBA支撑件1000，该PCBA支撑件1000贴装有VCSEL垂直腔面发射二极管阵列1010、PD光电二极管阵列1020、激光器驱动器芯片1040和放大器芯片1030；这种贴装有VCSEL垂直腔面发射二极管阵列1010的PCBA支撑件1000，芯片长度小于1mm，不便于在裸芯片状态下实现此工艺流程，因此在来料前不便于加电老化，即VCSEL垂直腔面发射二极管阵列1010需在贴装和金线绑定后，才便于加电老化，那么，如何实现自动化的老化测试就成为了提高其生产效率的关键之一。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是需要提供一种能够实现自动的老化测试，进而达到提高产品精度和生产效率等目的的有源光模块的老化测试装置，并进一步提供包括了该有源光模块的老化测试装置的老化测试***。
对此，本实用新型提供一种有源光模块的老化测试装置，包括：底板、轨道组件、光探测器和加电插座，所述轨道组件和加电插座分别设置于所述底板上，所述光探测器通过所述轨道组件设置于所述加电插座的上方。
本实用新型的进一步改进在于，所述轨道组件包括X轴轨道、Y轴轨道和Z轴轨道，所述Z轴轨道通过X轴轨道与所述Y轴轨道滑动连接。
本实用新型的进一步改进在于，所述光探测器设置于所述Z轴轨道的下端。
本实用新型的进一步改进在于，所述Z轴轨道通过第一滑动组件与所述X轴轨道相连接。
本实用新型的进一步改进在于，所述X轴轨道通过第二滑动组件与所述Y轴轨道相连接。
本实用新型的进一步改进在于，所述Y轴轨道设置于所述底板的一侧，所述底板的另一侧设置有滑动导柱；所述X轴轨道的一端与所述Y轴轨道滑动连接，所述X轴轨道的另一端套设于所述滑动导柱上。
本实用新型的进一步改进在于，所述底板上对称设置有用于固定有源光模块的老化板的支撑组件。
本实用新型的进一步改进在于，所述支撑组件上设置有插槽。
本实用新型的进一步改进在于，所述光探测器的两侧设置有光感应器。
本实用新型还提供一种有源光模块的老化测试***，包括了如上所述的有源光模块的老化测试装置。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：能够对有源光模块的老化板直接进行自动的老化测试，直接探测到有源光模块的光功率值大小，使得测试数据更加真实有效，便于老化后的分析和筛选；并且通过轨道组件、加电插座和支撑组件之间的相互配合，使得定位位置和高度位置更加精准，不会压坏VCSEL垂直腔面发射二极管阵列及其绑定金线；本实用新型能够有效提高生产和测试效率，提高产能，在不造成裸芯片状态下的污染和损伤的基础上解决了产量问题，很好地满足了工业化生产的需要。
附图说明
图1是本实用新型一种实施例的结构示意图；
图2是本实用新型一种实施例的***结构示意图；
图3是本实用新型一种实施例的立体结构示意图；
图4是本实用新型一种实施例的PCBA支撑件的结构示意图；
图5是图4中A的放大结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图，对本实用新型的较优的实施例作进一步的详细说明。
如图1至图3所示，本例提供一种有源光模块的老化测试装置，包括：底板2000、轨道组件、光探测器2040和加电插座2060，所述轨道组件和加电插座2060分别设置于所述底板2000上，所述光探测器2040通过所述轨道组件设置于所述加电插座2060的上方。本例所述光探测器2040的两侧优选设置有光感应器，用于实现对有源光模块的探测和感应。
如图1至图3所示，本例所述轨道组件包括X轴轨道2020、Y轴轨道2010和Z轴轨道2030，所述Z轴轨道2030通过X轴轨道2020与所述Y轴轨道2010滑动连接。优选的，所述光探测器2040设置于所述Z轴轨道2030的下端；所述Z轴轨道2030通过第一滑动组件2070与所述X轴轨道2020相连接；所述X轴轨道2020通过第二滑动组件2080与所述Y轴轨道2010相连接。
如图1至图3所示，本例所述Y轴轨道2010设置于所述底板2000的一侧，所述底板2000的另一侧设置有滑动导柱2090；所述X轴轨道2020的一端与所述Y轴轨道2010滑动连接，所述X轴轨道2020的另一端套设于所述滑动导柱2090上；所述滑动导柱2090通过导柱底座2100设置于所述底板2000上，进而保证其结构的牢固和可靠性。更为优选的，所述导柱底座2100上还设置有加强筋，以更进一步保证结构的牢固和可靠性。
如图2所示，本例所述底板2000上对称设置有用于固定有源光模块的老化板2050的支撑组件2110；所述支撑组件2110上设置有插槽2120，便于实现老化板2050的***和固定。
本例还提供一种有源光模块的老化测试***，包括了如上所述的有源光模块的老化测试装置；所述有源光模块的老化测试***还包括主控模块，用于控制所述有源光模块的老化测试装置的老化测试过程，并实现数据的自动记录和保存。
本例所述有源光模优选为并行多模光模块，如图4和图5所示。如图1至图3所示，本例装上多个PCBA支撑件1000的老化板2050，所述有源光模块的老化测试装置为光功率自动测试装置，其包括X轴轨道2020、Y轴轨道2010、Z轴轨道2030以及光探测器2040等。如图3所示，本例将PCBA支撑件1000批量装在老化板2050上，将老化板2050***所述有源光模块的老化测试装置，所述光探测器2040可读取到老化板2050上每个PCBA支撑件1000的光功率大小，与老化测试***配套实现数据的自动记录和保存。
如图1至图3所示，本例将贴有芯片阵列的PCBA支撑件1000表面朝上，装入老化板2050每个PCBA插槽中，再将老化板2050***所述有源光模块的老化测试装置的加电插座2060和支撑组件2110的插槽2120中，实现PCBA支撑件1000的加电和固定，然后通过所述有源光模块的老化测试装置启动老化测试，通过所述X轴轨道2020、Y轴轨道2010、Z轴轨道2030和光探测器2040之间的配合便能够自动实现每个PCBA支撑件1000的光功率读取和采集，并最后归位到安全位置，方便更换下一老化板2050，继续测试。
所述光探测器2040优选为PD探测器，其两侧安装了光感应器，当光感应器探测到PCBA支撑件1000的芯片距离所述光探测器2040达到预先设置的高度阈值时，所述光探测器2040会停止向下运动，可保证不接触到裸芯片VCSEL垂直腔面发射二极管阵列1010。
综上，本例能够对有源光模块的老化板2050直接进行自动的老化测试，直接探测到有源光模块的光功率值大小，使得测试数据更加真实有效，便于老化后的分析和筛选；并且通过轨道组件、加电插座2060和支撑组件之间的相互配合，使得定位位置和高度位置更加精准，不会压坏VCSEL垂直腔面发射二极管阵列及其绑定金线；本例能够有效提高生产和测试效率，提高产能，在不造成裸芯片状态下的污染和损伤的基础上解决了产量问题，很好地满足了工业化生产的需要。
本例操作简单，定位精确便捷，能达到提高产品精度和生产效率的目的。本例所述光探测器2040优选采用直径6mm大光敏面PD探测器。
以上所述之具体实施方式为本实用新型的较佳实施方式，并非以此限定本实用新型的具体实施范围，本实用新型的范围包括并不限于本具体实施方式，凡依照本实用新型之形状、结构所作的等效变化均在本实用新型的保护范围内。
Claims (10)
1.一种有源光模块的老化测试装置，其特征在于，包括：底板、轨道组件、光探测器和加电插座，所述轨道组件和加电插座分别设置于所述底板上，所述光探测器通过所述轨道组件设置于所述加电插座的上方。
2.根据权利要求1所述的有源光模块的老化测试装置，其特征在于，所述轨道组件包括X轴轨道、Y轴轨道和Z轴轨道，所述Z轴轨道通过X轴轨道与所述Y轴轨道滑动连接。
3.根据权利要求2所述的有源光模块的老化测试装置，其特征在于，所述光探测器设置于所述Z轴轨道的下端。
4.根据权利要求2所述的有源光模块的老化测试装置，其特征在于，所述Z轴轨道通过第一滑动组件与所述X轴轨道相连接。
5.根据权利要求2所述的有源光模块的老化测试装置，其特征在于，所述X轴轨道通过第二滑动组件与所述Y轴轨道相连接。
6.根据权利要求2所述的有源光模块的老化测试装置，其特征在于，所述Y轴轨道设置于所述底板的一侧，所述底板的另一侧设置有滑动导柱；所述X轴轨道的一端与所述Y轴轨道滑动连接，所述X轴轨道的另一端套设于所述滑动导柱上。
7.根据权利要求1至6任意一项所述的有源光模块的老化测试装置，其特征在于，所述底板上对称设置有用于固定有源光模块的老化板的支撑组件。
8.根据权利要求7所述的有源光模块的老化测试装置，其特征在于，所述支撑组件上设置有插槽。
9.根据权利要求1至6任意一项所述的有源光模块的老化测试装置，其特征在于，所述光探测器的两侧设置有光感应器。
10.一种有源光模块的老化测试***，其特征在于，包括了如权利要求1至9任意一项所述的有源光模块的老化测试装置。
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| CN114323596A (zh) * | 2022-03-04 | 2022-04-12 | 武汉普赛斯电子技术有限公司 | 一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置 |
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