CN208238902U - 一种高精度实验室用万分之一天平 - Google Patents

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张艳平
吕敬
孙强
蒙国明
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TIANJIN NANKAI HECHENG S&T CO Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种高精度实验室用万分之一天平,包括底座和第一连接杆,所述底座的上方设置有放置层,且放置层的中部设置有放置盘,所述放置盘下方设置有电磁传感器,所述底座的左侧设置有数据显示装置,所述第一连接杆的上方设置有第二连接杆,且第二连接杆的中部固定有固定板,所述固定板的上方安装有风机,且风机的下方连接有吸尘罩,并且风机的上方与集尘瓶相连接,所述放置盘的下方安装有阻尼减震器。该高精度实验室用万分之一天平,设置有风机,能够通过吸尘罩,将放置盘表面残留的固体颗粒或粉吸到集尘瓶中,进而避免固体颗粒或粉末影响到该天平的称量,进而提高了该装置的精确度。

Description

一种高精度实验室用万分之一天平
技术领域
本实用新型涉及万分之一天平技术领域,具体为一种高精度实验室用万分之一天平。
背景技术
万分之一天平所称的物体不能超过天平最大载重量的物体,用于实验室,教学,工业以及特殊行业等各种应用领域,万分之一天平一般采用应变式传感器、电容式传感器、电磁平衡式传感器,而电磁平衡传感器的电子天平,其特点是称量准确可靠、显示快速清晰并且具有自动检测***、简便的自动校准装置以及超载保护等装置。
对于目前市场上实验室用万分之一天平来说,还是存在很大的一部分问题,就比如天平使用的精度不是很高,导致称出的数据会有偏差,同时在实验室中称量时,会出现固体颗粒或粉末状的残留,影响到天平的称量数据的问题,因此我们提出一种高精度实验室用万分之一天平,以便解决上述中所存在的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种高精度实验室用万分之一天平,以解决上述背景技术所提出天平使用的精度不是很高,导致称出的数据会有偏差,同时在实验室中称量时,会出现固体颗粒或粉末状的残留,影响到天平的称量数据的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种高精度实验室用万分之一天平,包括底座和第一连接杆,所述底座的上方设置有放置层,且放置层的中部设置有放置盘,所述放置盘下方设置有电磁传感器,所述底座的左侧设置有数据显示装置,所述第一连接杆的上方设置有第二连接杆,且第二连接杆的中部固定有固定板,所述固定板的上方安装有风机,且风机的下方连接有吸尘罩,并且风机的上方与集尘瓶相连接,所述放置盘的下方安装有阻尼减震器。
优选的,所述放置盘的上方呈弧形结构,且放置盘的中心点与电磁传感器的中心点在同一水平线上。
优选的,所述第一连接杆在第二连接杆的内部,且第二连接杆与第一连接杆构成伸缩结构,并且第一连接杆与底座为一体结构。
优选的,所述固定板呈“X”形结构,且固定板与第二连接杆的连接方式为焊接,并且固定板与第二连接杆相互垂直。
优选的,所述吸尘罩的面积大于放置盘的面积,且吸尘罩下落的最低点与放置盘的最高点的距离为0.5cm。
优选的,所述阻尼减震器设置有两个,且2个阻尼减震器关于放置盘的中轴线对称。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该高精度实验室用万分之一天平,设置有风机,能够通过吸尘罩,将放置盘表面残留的固体颗粒或粉吸到集尘瓶中,进而避免固体颗粒或粉末影响到该天平的称量,进而提高了该装置的精确度,设置有阻尼减震器,能够有效的减轻放置盘上方称量品掉落到放置盘上产生的震动,进而避免震动影响该装置称量的精确度,设置有第一连接杆和第二连接杆,能够方便带动吸尘罩向下吸尘,提高该装置除去固体颗粒和粉末的效果,使该天平更加方便人们的使用。
附图说明
图1为本实用新型正视结构示意图;
图2为本实用新型吸尘罩仰视结构示意图;
图3为本实用新型图1中A处放大结构示意图;
图4为本实用新型电磁传感器工作流程结构示意图。
图中:1、底座;2、放置层;3、放置盘;4、电磁传感器;5、数据显示装置;6、第一连接杆;7、第二连接杆;8、固定板;9、风机;10、吸尘罩;11、集尘瓶;12、阻尼减震器。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4,本实用新型提供一种技术方案:一种高精度实验室用万分之一天平,包括底座1、放置层2、放置盘3、电磁传感器4、数据显示装置5、第一连接杆6、第二连接杆7、固定板8、风机9、吸尘罩10、集尘瓶11和阻尼减震器12,底座1的上方设置有放置层2,且放置层2的中部设置有放置盘3,放置盘3的上方呈弧形结构,且放置盘3的中心点与电磁传感器4(其型号为KY-HHD-100KIC4)的中心点在同一水平线上,方便称量,放置盘3下方设置有电磁传感器4(其型号为KY-HHD-100KIC4),底座1的左侧设置有数据显示装置5,第一连接杆6的上方设置有第二连接杆7,第一连接杆6在第二连接杆7的内部,且第二连接杆7与第一连接杆6构成伸缩结构,并且第一连接杆6与底座1为一体结构,方便带动吸尘罩10的伸缩,第二连接杆7的中部固定有固定板8,固定板8呈“X”形结构,且固定板8与第二连接杆7的连接方式为焊接,并且固定板8与第二连接杆7相互垂直,固定板8的上方安装有风机9,且风机9的下方连接有吸尘罩10,并且风机9的上方与集尘瓶11相连接,吸尘罩10的面积大于放置盘3的面积,且吸尘罩10下落的最低点与放置盘3的最高点的距离为0.5cm,方便清除放置盘3上残留的固体颗粒或粉末,提高该天平称量的精确度,放置盘3的下方安装有阻尼减震器12,阻尼减震器12设置有两个,且2个阻尼减震器12关于放置盘3的中轴线对称,有效的减轻物品称量时产生的震动,提高该天平的精度。
工作原理:首先,在使用时,将该天平搬运到需要使用的地方,再向下挤压第二连接杆7,使第二连接杆7在第一连接杆6内收缩向下运动,进而使固定板8下方的吸尘罩10位于放置盘3的上方,再打开风机9,使风机9通过吸尘罩10将放置盘3表面残留的固体颗粒或粉末吸收到集尘瓶11中,进而避免放置盘3表面残留的固体颗粒或粉末影响到称量的精确度,吸收清理结束后,将吸尘罩10拉回原位置,再将需要称量的物品放到放置盘3中,进而方便该物品的称量,使电磁传感器4(其型号为KY-HHD-100KIC4)通过信号处理模块将接收到的信号转化为数据通过数据显示装置5显示,进而得出称量结果,在称量时,阻尼减震器12能够有效的减轻物品掉落到放置盘3上产生的震动,进而避免震动影响到物品称量的精确度,固定板8能够有效的支撑风机9,进而方便了吸尘罩10的上下运动,这就是该高精度实验室用万分之一天平的使用过程,本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种高精度实验室用万分之一天平,包括底座(1)和第一连接杆(6),其特征在于:所述底座(1)的上方设置有放置层(2),且放置层(2)的中部设置有放置盘(3),所述放置盘(3)下方设置有电磁传感器(4),所述底座(1)的左侧设置有数据显示装置(5),所述第一连接杆(6)的上方设置有第二连接杆(7),且第二连接杆(7)的中部固定有固定板(8),所述固定板(8)的上方安装有风机(9),且风机(9)的下方连接有吸尘罩(10),并且风机(9)的上方与集尘瓶(11)相连接,所述放置盘(3)的下方安装有阻尼减震器(12)。
2.根据权利要求1所述的一种高精度实验室用万分之一天平,其特征在于:所述放置盘(3)的上方呈弧形结构,且放置盘(3)的中心点与电磁传感器(4)的中心点在同一水平线上。
3.根据权利要求1所述的一种高精度实验室用万分之一天平,其特征在于:所述第一连接杆(6)在第二连接杆(7)的内部,且第二连接杆(7)与第一连接杆(6)构成伸缩结构,并且第一连接杆(6)与底座(1)为一体结构。
4.根据权利要求1所述的一种高精度实验室用万分之一天平,其特征在于:所述固定板(8)呈“X”形结构,且固定板(8)与第二连接杆(7)的连接方式为焊接,并且固定板(8)与第二连接杆(7)相互垂直。
5.根据权利要求1所述的一种高精度实验室用万分之一天平,其特征在于:所述吸尘罩(10)的面积大于放置盘(3)的面积,且吸尘罩(10)下落的最低点与放置盘(3)的最高点的距离为0.5cm。
6.根据权利要求1所述的一种高精度实验室用万分之一天平,其特征在于:所述阻尼减震器(12)设置有两个,且2个阻尼减震器(12)关于放置盘(3)的中轴线对称。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110426107A (zh) * 2019-09-09 2019-11-08 苏州钮曼精密机电科技有限公司 一种称重装置及称重***

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