CN208188201U - 基于光标签的多参数比对装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种基于光标签的多参数比对装置，属于频率稳定度测量技术领域，包括集中处理器、第一分频器、测量部件、第一信号处理器、第二信号处理器、第二分频器、计数组件和存储器，所述第一分频器的输出和集中处理器连接；所述第一信号处理器的输出分别和所述第一分频器的第一输入端、所述测量部件相连接；所述第二信号处理器的输出和所述测量部件相连接；所述第二分频器的输出和所述第二信号处理器连接；所述计数组件分别和所述第一信号处理器、所述第二信号处理器相连接；所述存储器分别和所述集中处理器、所述计数组件相连接。本实用新型达到了在保持现有测量方法特性的基础上，能够提高测量的精度和增大测量频率的范围的技术效果。

Description

基于光标签的多参数比对装置

技术领域

本实用新型属于频率稳定度测量技术领域，特别涉及一种基于光标签的多参数比对装置。

背景技术

精密时间不仅在基础研究领域有重要的作用，如地球自转变化等地球动力学研究、相对论研究和人造卫星动力学测地等；而且在应用研究、国防和国民经济建设中也有普遍的应用，如航空航天、电力传输和科学计量等。频率稳定度则是衡量一台时钟信号源输出频率信号稳定性的重要指标。

对于频率测量的装置而言，常用的数字频率测量是在给定的采样时间(即闸门时间)内，通过测量被测信号的脉冲个数，来进行换算，继而得出被测信号的频率。但这样测量的精度取决于闸门时间和被测信号频率，当被测信号的频率较低时，或者闸门时间取得较小时，将会使测量结果产生较大误差。

综上所述，在现有的技术中，存在着无法在保持现有测量方法特性的基础上，提高测量的精度和增大测量频率的范围。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是在保持现有测量方法特性的基础上，无法提高测量的精度和增大测量频率的范围。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种基于光标签的多参数比对装置，所述装置包括集中处理器，通过所述集中处理器对第一信号和第二信号进行控制与数据处理；第一分频器，所述第一分频器的输出和所述集中处理器连接，且通过所述第一分频器对所述第一信号进行DDS分频处理；测量部件，通过所述测量部件判断所述第一信号上升沿与所述第二信号上升沿具体的时间差值是否达到模块固有最小分辨率的测量精度，以通过所述集中处理器使相应的计数器进行工作；第一信号处理器，所述第一信号处理器的输出分别和所述第一分频器的第一输入端、所述测量部件相连接，且通过所述第一信号处理器处理所述第一信号；第二信号处理器，所述第二信号处理器的输出和所述测量部件相连接，且通过所述第二信号处理器处理所述第二信号；第二分频器，所述第二分频器的输出和所述第二信号处理器连接，且通过所述第二分频器对所述第二信号进行DDS分频处理；计数组件，所述计数组件分别和所述第一信号处理器、所述第二信号处理器相连接，且通过所述计数组件接收所述第一信号处理器和所述第二信号处理器的输出，以对所述第二信号和所述第一信号的相位差在测量部件固有的最小分辨率的测量精度下相差最小时，对所述第二信号和所述第一信号进行计数；存储器，所述存储器分别和所述集中处理器、所述计数组件相连接，且通过所述存储器进行计数的锁存。

进一步地，所述第二分频器包括第一芯片，通过所述第一芯片对所述第二信号进行1/100分频处理，经所述第一芯片得到的1/100分频率信号后，输送至所述计数组件进行粗频率测量。

进一步地，所述第二分频器包括集成电路部件，通过所述集成电路部件读取所述存储器对所述计数组件取样的数值后，记录下此时的频率数值，乘以100后便得到所述第二信号的粗频率值F。

进一步地，所述第二分频器包括第三信号处理器；第二芯片，所述第二信号的另一路经过所述第三信号处理器后，被输送至所述第二芯片的第二输入端，以作为所述第二芯片工作时的参考时钟；且经所述第二芯片后得到1MHz的频率信号，将所得的频率信号再送至滤波器后得到1MHz频率信号进行输出。

进一步地，所述计数组件包括第一走时计数元件，通过所述第一走时计数元件对所述第二信号的1/100分频信号进行计数。

进一步地，所述计数组件包括第二走时计数元件，通过所述第二走时计数元件对所述第二信号进行分频后稳定准确的第二信号进行计数。

进一步地，所述计数组件包括第三走时计数元件，通过所述第三走时计数元件对所述第一信号进行计数。

进一步地，所述装置包括电脑，所述电脑和所述集中处理器连接。

有益效果：

本实用新型提供一种基于光标签的多参数比对装置，通过将第一信号处理器的输出分别和第一分频器的第一输入端、测量部件相互连接，以通过第一信号处理器来处理第一信号；第二信号处理器的输出和测量部件相互连接，以通过第二信号处理器来处理第二信号；第一分频器的输出和集中处理器连接，以通过第一分频器对第一信号进行DDS分频处理；第二分频器的输出和第二信号处理器连接，以通过第二分频器对第二信号进行DDS分频处理。同时，将计数组件分别和第一信号处理器、第二信号处理器相互连接，并且通过计数组件接收第一信号处理器和第二信号处理器的输出，以对第二信号和第一信号的相位差在测量部件固有的最小分辨率测量精度下相差最小时，对第二信号和第一信号进行计数。再将存储器分别和集中处理器、计数组件相互连接，并且通过存储器进行计数的锁存；通过测量部件来判断第一信号上升沿与第二信号上升沿具体的时间差值是否达到模块固有最小分辨率测量精度，以通过集中处理器使相应的计数器进行工作；然后通过集中处理器来对第一信号和第二信号进行控制与数据处理。从而达到在保持现有测量方法特性的基础上，能够提高测量的精度和增大测量频率的范围的技术效果。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种基于光标签的多参数比对装置的结构示意图；

其中，100—第一信号处理器，200—第二信号处理器，300—第一分频器，400—第二分频器，500—计数组件，600—存储器，700—测量部件，800—集中处理器，900—电脑。

具体实施方式

本实用新型公开了一种基于光标签的多参数比对装置，通过将第一信号处理器100的输出分别和第一分频器300的第一输入端、测量部件700相互连接，以通过第一信号处理器100来处理第一信号；第二信号处理器200的输出和测量部件700相互连接，以通过第二信号处理器200来处理第二信号；第一分频器300的输出和集中处理器800连接，以通过第一分频器300对第一信号进行DDS分频处理；第二分频器400的输出和第二信号处理器200连接，以通过第二分频器400对第二信号进行DDS分频处理。同时，将计数组件500分别和第一信号处理器100、第二信号处理器200相互连接，并且通过计数组件500接收第一信号处理器100和第二信号处理器200的输出，以对第二信号和第一信号的相位差在测量部件700固有的最小分辨率测量精度下相差最小时，对第二信号和第一信号进行计数。再将存储器600分别和集中处理器800、计数组件500相互连接，并且通过存储器600进行计数的锁存；通过测量部件700来判断第一信号上升沿与第二信号上升沿具体的时间差值是否达到模块固有最小分辨率测量精度，以通过集中处理器800使相应的计数器进行工作；然后通过集中处理器800来对第一信号和第二信号进行控制与数据处理。从而达到在保持现有测量方法特性的基础上，能够提高测量的精度和增大测量频率的范围的技术效果。

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围；其中本实施中所涉及的“和/或”关键词，表示和、或两种情况，换句话说，本实用新型实施例所提及的A和/或B，表示了A和B、A或B两种情况，描述了A与B所存在的三种状态，如A和/或B，表示：只包括A不包括B；只包括B不包括A；包括A与B。

同时，本实用新型实施例中，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本实用新型实施例中所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明目的，并不是旨在限制本实用新型。

请参见图1，图1是本实用新型实施例提供的一种基于光标签的多参数比对装置的结构示意图。本实用新型提供一种基于光标签的多参数比对装置，所述基于光标签的多参数比对装置包括第一信号处理器100、第二信号处理器200、第一分频器300、第二分频器400、计数组件500、存储器600、测量部件700和集中处理器800。现分别对第一信号处理器100、第二信号处理器200、第一分频器300、第二分频器400、计数组件500、存储器600、测量部件700和集中处理器800进行以下详细说明：

对于第一信号处理器100而言：

所述第一信号处理器100的输出可以分别和第一分频器300的第一输入端、测量部件700相连接，并且通过第一信号处理器100来处理第一信号。

具体而言，第一信号处理器100可以是指第一隔离放大器；第一信号可以是指参考时钟信号；第一分频器300可以是指DDS分频单元，第一输入端可以是指外时钟输入端；测量部件700可以是指精密时间间隔测量单元。即第一隔离放大器用以对参考时钟信号的处理；其输出连接到DDS分频单元的外时钟输入端、精密时间间隔测量单元及走时计数单元。

在时域频率信号稳定度测量中，参考用频率源信号通常采用10MHz时钟信号作为标准参考输入，并且参考源信号的频率输出可看作为一个较稳定的时钟源，通过对稳定的参考源时钟信号作数字合成分频技术，可以得到标准的周期采样时钟信号。对于被测信号来说，为拓宽整个测量装置的应用测量范围，满足高频信号测量的需求，在保证被测信号源固有稳定度不受影响的前提下，实用新型中引入了现行比较成熟的DDS芯片及技术，它是根据奈奎斯特取样，从连续信号的相位出发将信号取样、量化、编码，形成一个正弦函数表，存在EPROM中。合成时，通过改变相位累加器的频率控制字，来改变相位增量，相位增量不同将导致一周内的取样点数的不同。因角频率在取样频率不变的情况下，通过改变相位累加器的频率控制字，将这种变化的相位/幅值量化成数字信号，通过D/A变换及低通滤波器即可得到人们需要的综合信号。因为其良好的输入输出信噪比，被测信号通过DDS处理之后，可得到稳定度与原被测信号相当且频率较低的信号。由于方案中是将较高频率的原被测信号分频转化为较低频率的被测信号，在DDS芯片使用上没有采用其内部的PLL倍频模块功能，故在DDS输出端可以获得更佳的信噪比输出。且对于那些准确度不高的被测频率信号(如10.123456789MHz)，经过DDS的分频后，可以得到非常精确的周期信号(如1.000000000MHz)。

为提高整个测量的精度，在“等精度测量”方法的基础上，引入精密时间测量模块，当周期采样时钟信号开始/结束触发沿到来时，并不是立刻对被测信号及参考信号开始/结束计数，而是在精密时间测量模块本身固有的最小测量精度下先判断两路信号的相位关系，使被测信号和参考信号的上升沿尽量重合。当被测信号与参考信号的上升沿时间差为ns量级时，传统的测量脉冲宽度的脉冲计数法已不再适用。这是因为要测的脉冲越窄，所需要的时钟频率就愈高，对芯片的性能要求也越高。本实用新型装置中引入了TDC-GP₁模块。

对于第二信号处理器200而言:

所述第二信号处理器200的输出可以和测量部件700相连接，并且通过第二信号处理器200来处理第二信号。

具体而言，第二信号处理器200可以是指第二隔离放大器；第二信号可以是指被测频率信号。即第二隔离放大器用以对被测频率信号的处理；其输出连接至精密时间间隔测量单元及走时计数单元。

对于参考频率信号f₀的处理：参考频率信号f₀可以经过隔离放大器1后被送至DDS₁的外时钟输入端，作为DDS₁工作外部参考时钟，同时DDS₁的外部通讯端口连接至处理器，用以接受来自处理器的控制字命令及双向的数据传输。实际选用的DDS₁芯片内部有2个48位频率控制寄存器(F₀、F₁)，对于本装置参考频率信号f₀为10MHz，当不使用DDS₁内部PLL倍频功能时，48位的频率控制寄存器F₀全填充1时，DDS₁会有10MHz频率信号输出，因此为得到标准的周期采样时间信号T(如1秒、10秒)，需要对DDS₁中频率控制寄存器F₀设置相应的分频数值。具体计算的方法是：D＝(2⁴⁸×f)/f₀。其中，D为所需要计算的具体分频数值，f₀为参考信号频率，本装置中f₀为10MHz，f为所需要分频的采样时间信号频率，对于f为1Hz(1秒)及0.1Hz(10秒)的情况，分频数值D应为2⁴⁸×10^-7或2⁴⁸×10^-8。具体的采样时间T是用户根据实际采样过程中的需要而通过PC端软件设置的，而分频数值是处理器通过RS232串行接口与PC端通讯得到用户设置的采样时间T后，运用上述D＝(2⁴⁸×f)/f₀公式计算得到。处理器根据DDS₁相应的串行通讯时序，将分频数值D写入DDS₁相应缓存器后，得到最终的DDS₁端周期采样时间信号T输出。

对于第一分频器300而言：

所述第一分频器300的输出可以和集中处理器800连接，并且通过第一分频器300对第一信号进行DDS分频处理。

具体而言，第一分频器300可以是指参考时钟信号的DDS分频单元；集中处理器800可以是指处理器。即参考时钟信号的DDS分频单元用以对参考时钟信号的DDS分频处理；其输出连接到处理器。

对于被测频率信号fx的处理：被测频率信号f_x可以经过隔离放大器后分别送至两路DDS处理模块。当被测信号频率为上百兆甚至几百兆赫兹时，考虑到走时计数器对被测频率范围的限制，在本实用新型中设计其中一路DDS₂模块对被测频率信号进行1/100分频处理。被测信号经隔离放大器后直接送入DDS₂的外部时钟输入端，作为DDS₂工作时的参考时钟。DDS₂的外部通讯端口连接至单片机，单片机根据上述D＝(2⁴⁸×f)/f₀得到的2⁴⁸×10^-2分频数值通过串行通讯时序写入DDS₂缓存区，经DDS₂得到的1/100分频率信号后，送至走时计数器1进行粗频率测量，单片机读取锁存器对走时计数器取样的数值后，记录下此时的频率数值，乘以100后便可得到被测信号的粗频率值F。另一路经过隔离放大器的被测信号被送至DDS₃的外部时钟输入端，作为DDS₃工作时的参考时钟。同时DDS₃的外部通讯端口连接至单片机，单片机根据D＝(2⁴⁸×f)/f₀计算得到与DDS₃通讯用的分频数值(2⁴⁸×f)/F。其中F为通过走时计数器计数、单片机运算得到的被测信号的粗频率值，f取1MHz，并通过串行通讯时序将所得的具体分频数值写入DDS₃缓存区，经DDS₃后得到1MHz的频率信号，将所得的频率信号再送至低通滤波模块后得到最终的1MHz频率信号输出。

对于第二分频器400而言：

所述第二分频器400的输出可以和第二信号处理器200连接，并且通过第二分频器400对第二信号进行DDS分频处理。

所述第二分频器400可以包括第一芯片、集成电路部件、第三信号处理器和第二芯片。通过第一芯片对第二信号进行1/100分频处理，经第一芯片得到的1/100分频率信号后，输送至计数组件500进行粗频率测量；通过集成电路部件读取存储器600对计数组件500取样的数值后，记录下此时的频率数值，乘以100后便得到第二信号的粗频率值F；第二信号的另一路经过第三信号处理器后，被输送至第二芯片的第二输入端，以作为第二芯片工作时的参考时钟；并且经第二芯片后得到1MHz的频率信号，将所得的频率信号再送至滤波器后得到1MHz频率信号进行输出。

具体而言，第二分频器400可以是指被测频率信号的DDS分频单元。即被测频率信号的DDS分频单元用以对被测频率信号的DDS分频处理，其输出连接到第二隔离放大器。

第一芯片可以是指DDS2模块；第二芯片可以是指DDS₃模块；滤波器可以是指低通滤波模块。即被测频率信号的DDS分频单元包括DDS₂模块：对被测频率信号进行1/100分频处理，经DDS₂得到的1/100分频率信号后，送至走时计数器1进行粗频率测量，单片机读取锁存器1对走时计数器1取样的数值后，记录下此时的频率数值，乘以100后便可得到被测信号的粗频率值F；DDS₃模块：另一路经过隔离放大器的被测信号被送至DDS₃的外部时钟输入端，作为DDS₃工作时的参考时钟，经DDS₃后得到1MHz的频率信号，将所得的频率信号再送至低通滤波模块后得到最终的1MHz频率信号输出。

对于计数组件500而言：

所述计数组件500分别和第一信号处理器100、第二信号处理器200相连接，并且通过计数组件500接收第一信号处理器100和第二信号处理器200的输出，以对第二信号和第一信号的相位差在测量部件700固有的最小分辨率的测量精度下相差最小时，对第二信号和第一信号进行计数。

所述计数组件500还可以包括第一走时计数元件、第二走时计数元件和第三走时计数元件。通过第一走时计数元件对第二信号的1/100分频信号进行计数；通过第二走时计数元件对第二信号进行分频后稳定准确的第二信号进行计数；通过第三走时计数元件对第一信号进行计数。

具体而言，计数组件500可以是指走时计数单元。即走时计数单元可以接收第一隔离放大器和第二隔离放大器的输出，用以对被测频率信号与参考时钟信号相位差在精密时间测量模块本身固有的最小分辩率测量精度下相差最小时，对被测频率信号及参考时钟信号进行计数。

第一走时计数元件可以是指第一走时计数器；第二走时计数元件可以是指第二走时计数器；第三走时计数元件可以是指第三走时计数器。即走时计数单元可以包括第一走时计数器，第一走时计数器用以对被测频率信号的1/100分频信号进行计数；第二走时计数器用于对被测频率信号分频后的稳定准确的被测信号进行计数；第三走时计数器用以对参考时钟信号进行计数。

对于存储器600而言：

所述存储器600分别和所述集中处理器800、所述计数组件500相连接，且通过所述存储器600进行计数的锁存。

具体而言，存储器600可以是指锁存器单元，集中处理器800可以是指处理器。即锁存器单元可以用于计数的锁存；连接处理器、走时计数单元。

对于被测频率信号的测量，被测频率信号经过DDS分频单元处理后得到的1MHz频率信号与10MHz参考时钟信号分别送至精密时间间隔测量模块，具体的是送至相应时间处理芯片的STOP₁与START引脚端。处理器依据参考时钟信号经DDS分频单元处理后得到的周期采样时间信号T的上升沿使能精密时间间隔测量模块对STOP₁与START两路频率信号进行相位测量，并将测量结果传送给处理器处理，根据精密时间间隔测量模块的最小分辨率测量精密来判断一组STOP₁与START频率信号的上升沿是否达到最小的时间差，即被测信号与参考时钟信号此时时间差Δt₁、Δt₂最小，随后处理器停止精密时间间隔模块的测量工作，并使能两个走时计数器开始计数工作。当处理器检测到周期采样时间信号T的下降沿到来时，又一次使能精密时间间隔测量模块对STOP₁与START两路频率信号进行相位测量，当判断两路信号此时刻的时间差Δt₁、Δt₂最小时，处理器停止精密时间间隔测量模块的测量工作，并使能两个锁存器分别对两个走时计数器的计数值进行锁存，同时通过处理器使两个走时计数器清零后并使能新一轮的采样计数。

对于测量部件700而言：

通过所述测量部件700可以判断第一信号上升沿与第二信号上升沿具体的时间差值是否达到模块固有最小分辨率的测量精度，以通过集中处理器800使相应的计数器进行工作。

具体而言，精密时间间隔测量单元可以判断此时刻一组参考时钟信号上升沿与被测信号上升沿具体的时间差值是否达到模块固有最小分辨率测量精度，从而通过处理器使能相应的计数器进行工作。

在完整的一个采样周期T内，两个锁存器所保存的两个走时计数器的读数值N₁、N₂传递给处理器，处理器通过RS232串行接口将测量结果N₁、N₂传递到PC机端，PC端软件依据公式f_x＝f₀×N₁N₂得到相应的被测信号实时频率值y1、y2……yi(i＝1、2、3……n-1，n为正整数)。同时在PC端利用Visual Basic编程环境及DirectX图形处理技术将测量结果及实时的被测信号测量曲线显示在屏幕上。被测信号频率稳定度的计算结果是根据阿仑方差或者哈达玛方差得到的。需要说明的是，将测量得到的实时频率值运用阿仑方差或者哈达玛方差具体的计算频率稳定度时，需要在结果中除以被测信号实时频率的平均值的计算方法是将n个采样周期T内的被测信号的频率值做加法平均。

对于集中处理器800而言：

通过集中处理器800可以对第一信号和第二信号进行控制与数据处理。为了对测量的结果进行显示，本实用新型提供一种基于光标签的多参数比对装置还可以包括电脑900，所述电脑900和集中处理器800相互连接。

具体而言，处理器可以用于信号的控制和数据处理。电脑900可以是指PC机。本实用新型提供一种基于光标签的多参数比对装置中精密时间间隔测量模块采用TDC-GP₁模块，它是利用信号通过逻辑门电路的绝对传输时间提出了一种新的时间间隔测量方法，START信号和STOP信号之间的时间间隔由非门的个数来决定，而非门的传输时间可以由集成电路工艺精确地确定。在选用的TDC-GP₁模块内，通过其判断此时刻一组参考时钟信号(START)上升沿与被测信号(STOP₁)上升沿具体的时间差值是否达到最小分辨率测量精度内，即参考时钟信号与被测信号此时刻相位差最小时，从而通过处理器使能相应的计数器进行工作，最终使在整个采样周期范围内的被测信号和参考信号的计数器读数尽可能准确，以提高整个频率稳定度测量的精度；继而通过在PC端利用Visual Basic编程环境及DirectX图形处理技术将测量结果及实时的被测信号测量曲线显示在屏幕上。从而使本实用新型提供一种基于光标签的多参数比对装置可以满足工程任务对时域信号频率稳定度测量的要求。在“等精度测量”的基础上进一步提高测量精度，弥补“等精度测量”带来的误差。它可广泛应用于时域频率信号源的频率稳定度测量，如晶体振荡器、程控交换机信号源、原子频标等。

本实用新型提供一种基于光标签的多参数比对装置，通过将第一信号处理器100的输出分别和第一分频器300的第一输入端、测量部件700相互连接，以通过第一信号处理器100来处理第一信号；第二信号处理器200的输出和测量部件700相互连接，以通过第二信号处理器200来处理第二信号；第一分频器300的输出和集中处理器800连接，以通过第一分频器300对第一信号进行DDS分频处理；第二分频器400的输出和第二信号处理器200连接，以通过第二分频器400对第二信号进行DDS分频处理。同时，将计数组件500分别和第一信号处理器100、第二信号处理器200相互连接，并且通过计数组件500接收第一信号处理器100和第二信号处理器200的输出，以对第二信号和第一信号的相位差在测量部件700固有的最小分辨率测量精度下相差最小时，对第二信号和第一信号进行计数。再将存储器600分别和集中处理器800、计数组件500相互连接，并且通过存储器600进行计数的锁存；通过测量部件700来判断第一信号上升沿与第二信号上升沿具体的时间差值是否达到模块固有最小分辨率测量精度，以通过集中处理器800使相应的计数器进行工作；然后通过集中处理器800来对第一信号和第二信号进行控制与数据处理。从而达到在保持现有测量方法特性的基础上，能够提高测量的精度和增大测量频率的范围的技术效果。

最后所应说明的是，以上具体实施方式仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照实例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (8)

1.一种基于光标签的多参数比对装置，其特征在于，所述装置包括：

集中处理器，通过所述集中处理器对第一信号和第二信号进行控制与数据处理；

第一分频器，所述第一分频器的输出和所述集中处理器连接，且通过所述第一分频器对所述第一信号进行DDS分频处理；

测量部件，通过所述测量部件判断所述第一信号上升沿与所述第二信号上升沿具体的时间差值是否达到模块固有最小分辨率的测量精度，以通过所述集中处理器使相应的计数器进行工作；

第一信号处理器，所述第一信号处理器的输出分别和所述第一分频器的第一输入端、所述测量部件相连接，且通过所述第一信号处理器处理所述第一信号；

第二信号处理器，所述第二信号处理器的输出和所述测量部件相连接，且通过所述第二信号处理器处理所述第二信号；

第二分频器，所述第二分频器的输出和所述第二信号处理器连接，且通过所述第二分频器对所述第二信号进行DDS分频处理；

计数组件，所述计数组件分别和所述第一信号处理器、所述第二信号处理器相连接，且通过所述计数组件接收所述第一信号处理器和所述第二信号处理器的输出，以对所述第二信号和所述第一信号的相位差在测量部件固有的最小分辨率的测量精度下相差最小时，对所述第二信号和所述第一信号进行计数；

存储器，所述存储器分别和所述集中处理器、所述计数组件相连接，且通过所述存储器进行计数的锁存。

2.如权利要求1所述的一种基于光标签的多参数比对装置，其特征在于，所述第二分频器包括：

第一芯片，通过所述第一芯片对所述第二信号进行1/100分频处理，经所述第一芯片得到的1/100分频率信号后，输送至所述计数组件进行粗频率测量。

3.如权利要求2所述的一种基于光标签的多参数比对装置，其特征在于，所述第二分频器包括：

集成电路部件，通过所述集成电路部件读取所述存储器对所述计数组件取样的数值后，记录下此时的频率数值，乘以100后便得到所述第二信号的粗频率值F。

4.如权利要求3所述的一种基于光标签的多参数比对装置，其特征在于，所述第二分频器包括：

第三信号处理器；

第二芯片，所述第二信号的另一路经过所述第三信号处理器后，被输送至所述第二芯片的第二输入端，以作为所述第二芯片工作时的参考时钟；且经所述第二芯片后得到1MHz的频率信号，将所得的频率信号再送至滤波器后得到1MHz频率信号进行输出。

5.如权利要求4所述的一种基于光标签的多参数比对装置，其特征在于，所述计数组件包括：

第一走时计数元件，通过所述第一走时计数元件对所述第二信号的1/100分频信号进行计数。

6.如权利要求5所述的一种基于光标签的多参数比对装置，其特征在于，所述计数组件包括：

第二走时计数元件，通过所述第二走时计数元件对所述第二信号进行分频后稳定准确的第二信号进行计数。

7.如权利要求6所述的一种基于光标签的多参数比对装置，其特征在于，所述计数组件包括：

第三走时计数元件，通过所述第三走时计数元件对所述第一信号进行计数。

8.如权利要求7所述的一种基于光标签的多参数比对装置，其特征在于，所述装置包括：

电脑，所述电脑和所述集中处理器连接。