CN208044026U - 一种dc/ac驱动模块动态加速老化测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，包括一块测试主板以及一块以上的测试从板，所述测试主板上设置有多路输出接口，用于与各测试从板一一对应连接；各测试从板上设置有多路测试接口，用于与各待测DC/AC驱动模块连接；所述测试主板用于产生PWM信号，经测试从板发送至各待测DC/AC驱动模块进行测试；所述测试从板用于对待测DC/AC驱动模块输出的检测信号进行比较以判断各待测DC/AC驱动模块是否合格。本实用新型的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置具有结构简单、成本低、操作简便等优点。
Description
技术领域
本实用新型主要涉及电子电路测试技术领域，特指一种DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置。
背景技术
未经过动态老化的DC/AC驱动模块装在电机控制器后，在出厂测试时故障很难表现出来，装到整车运行一段时间后由于部分异常元器件老化或者遭遇电损伤，可能造成DC/AC驱动模块的功能丧失，造成控制器的高故障率。所以设计一种老化装置来对DC/AC驱动模块进行老化是必要的。但是由于一个DC/AC驱动模块有3路电压信号需要测试，大批量DC/AC驱动模块进行老化测试时，上百个DC/AC驱动模块同时测试，一次要处理几百个电压信号，如果用模数转换芯片进行采集，再用控制芯片处理完数据后再进行判断，成本非常高。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的技术问题，本实用新型提供一种结构简单、操作简便的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置。
为解决上述技术问题，本实用新型提出的技术方案为：
一种DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，包括一块测试主板以及一块以上的测试从板，所述测试主板上设置有多路输出接口，用于与各测试从板一一对应连接；各测试从板上设置有多路测试接口，用于与各待测DC/AC驱动模块连接；所述测试主板用于产生PWM信号，经测试从板发送至各待测DC/AC驱动模块进行测试；所述测试从板用于对待测DC/AC驱动模块输出的检测信号进行比较以判断各待测DC/AC驱动模块是否合格。
作为上述技术方案的进一步改进：
所述测试主板包括DSP芯片、直流电源、电源电路和主板驱动电路；所述电源电路的输入端与所述直流电源相连，用于将直流电源的电源进行转换；所述电源电路的输出端分别与所述主板驱动电路和DSP芯片相连，用于提供转换后的电源；所述主板驱动电路分别与所述DSP芯片与输出接口相连，用于将DSP芯片产生的PWM信号发送至输出接口。
所述DSP芯片经CAN收发器与PC机相连，用于对DSP芯片的程序刷写。
所述直流电源的电压为24V/12V直流电源，所述电源电路输出的电压为15V、3.3V和1.8V。
所述从板包括基准电源电路、比较电路和故障锁存电路；所述比较电路的输入端连接基准电源电路，并经测试接口与所述DC/AC驱动模块相连，用于接收所述DC/AC驱动模块的检测信号并与基准电源电路的基准电源进行比较；所述比较电路的输出端与所述故障锁存电路相连，用于将比较结果输出至故障锁存电路进行故障锁存。
所述输出接口与测试接口上均设置有故障信号灯，所述故障锁存电路与故障指示灯相连，用于在产生故障时点亮对应的故障信号灯。
所述从板还包括从板驱动电路，所述从板驱动电路分别与主板的输出接口和从板的测试接口相连，用于增加PWM信号的驱动能力。
所述从板外接有直流功率电源，所述外接直流功率电源经电源插座分别与基准电源电路、比较电路、故障锁存电路和测试接口相连。
所述测试从板的数量为5～10块。
所述测试主板的输出接口为5～10路，所述测试从板的测试接口为10～20路。与现有技术相比，本实用新型的优点在于：
本实用新型的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，采用测试主板与多块测试从板相匹配的模式，能够同时对多个DC/AC驱动模块的多路检测信号进行检测，结构简单、操作简便，成本较低。另外由于检测信号(电压信号)进行直接检测并处理，不需要模数转换等，直接并处理结果返回至主板，进一步简化了结构，提高了操作的简便性。
附图说明
图1为本实用新型的方框原理图。
图中标号表示：1、测试主板；2、直流电源；3、主板滤波电容；4、电源电路；5、DSP芯片；6、主板驱动电路；7、CAN收发器；8、PC机；9、输出接口；10、主板故障灯；11、测试从板；12、输入插座；13、从板驱动电路；14、直流功率电源；15、从板滤波电容；16、电源插座；17、基准电源电路；18、比较电路；19、故障锁存电路；20、测试接口；21、从板故障灯；22、DC/AC驱动模块。
具体实施方式
以下结合说明书附图和具体实施例对本实用新型作进一步描述。
如图1所示，本实施例的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，具体包括一块测试主板1以及一块以上的测试从板11，测试主板1上设置有多路输出接口9，用于与各测试从板11一一对应连接；各测试从板11上设置有多路测试接口20，用于与各待测DC/AC驱动模块22连接；测试主板1用于产生PWM信号，经测试从板11发送至各待测DC/AC驱动模块22进行测试；测试从板11用于对待测DC/AC驱动模块22输出的检测信号进行比较以判断各待测DC/AC驱动模块22是否合格。本实用新型的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，采用测试主板1与多块测试从板11相匹配的模式，能够同时对多个DC/AC驱动模块22的多路检测信号进行同时检测，结构简单、操作简便，成本较低。
具体地，其中测试主板1包括：直流电源2、电源电路4(如电源调制芯片LM5175)、主板滤波电容3、控制核心TMS320F2808(DSP芯片5)、主板驱动电路6(如驱动芯片MCU14504)、CAN收发器7、输出接口9(图1中主板输出插座Xi(i＝1,2,3,...,8))和主板故障灯10(图1中LEDi(i＝1,2,3,...,8))；
其中测试主板1的直流电源2为外部24V/12V电源，输出端接主板滤波电容3和电源电路4。电源电路4输入端接24V/12V直流电源2，电源电路4将24V/12V转换为15V、3.3V和1.8V，其中输出端3.3V和1.8V接DSP芯片5，15V接主板驱动电路6，电源电路4的地输出给测试从板11，与测试从板11共地。其中电源电路4主要为测试主板1提供电源，同时给测试从板11提供一个公共的地。
其中DSP芯片5，供电部分输入信号接电源电路4，输出部分接驱动芯片MCU14504，为整个测试装置提供6路PWM信号。其中主板驱动电路6的电源部分接电源电路4，信号输入端接DSP芯片5输出端，输出端接主板输出插座Xi(i＝1,2,3,...,8)。其中CAN收发器7接DSP芯片5和所属PC机8，实现DSP芯片5程序刷写。主板输出插座接主板驱动电路6的输出端、电源电路4的模块地、测试从板11故障信号、DSP芯片5(复位信号)，实现测试主板1与测试从板11之间的信号传递。其中主板故障灯10接主板输出插座，其中主板故障灯LEDi(i＝1,2,3,...,8)实际上接的是测试从板11送上来的故障信号。
测试从板i(i＝1,2,3,...,8)包括：从板i信号输入插座12(图1中S1)、从板i电源插座16、测试接口20(如从板输出插座X1i(i＝1,2,3,...,16))、从板驱动电路13、基准电源电路17、电压比较电路18、故障锁存电路19、从板故障灯21(见图1中LED1i(i＝1,2,3,...,16))。信号输入插座12的输入信号S1输入端接主板输出插座Xi(测试从板11与主板输出插座一一对应)和故障锁存电路19输出端；S1输出端接从板驱动电路13。电源插座16输入端外接直流功率电源14，电源插座16输入端并联有从板滤波电容15，输出端接基准电源电路17、从板驱动电路13、比较电路18和从板输出插座，为测试从板11和DC/AC驱动模块22提供电源。从板输出插座输入端接从板驱动电路13输出端和电源插座16，输出端接DC/AC驱动模块22。从板驱动电路13输入端接从板输入插座12S1，输出端接从板输出插座。基准电源电路17输入端接电源插座16，输出端接比较电路18输入端。比较电路18输入端接从板输出插座、从板电源插座16和所属基准电源电路17，输出端接故障锁存电路19。故障锁存电路19输入端接电压比较电路18的输出信号，输出端接从板故障灯21和从板输入插座12，实现故障的锁存和上报。从板故障灯LED1i(i＝1,2,3,...,16)分别接对应从板输出插座和所属故障锁存电路19。
其中DC/AC驱动模块22包括一个6合1封装IGBT和驱动板，具有6路PWM信号输入口，2个NTC的输入口、2路电流传感器输出信号和若干地信号。
测试具体原理如下：
(1)测试主板1上直流电源2引进12/24V电源，经电源电路4转换为15V，1.8V、3.3V和5V；其中15V给主板驱动电路6使用，1.8V和3.3V给DSP芯片5使用，5V给对应的CAN收发器7使用；
(2)测试主板1上DSP芯片5产生6路PWM信号，在6路信号的输出端加一个驱动电路6增强6路PWM的驱动能力；
(3)测试主板1将地信号、6路PWM信号、复位信号和故障信号这几个信号发送到主板输出插座Xi(i＝1,2,3,...,8)；各主板输出插座接对应测试从板11，在主板输出插座边上接一个主板故障灯10再下拉到地。如果某一路主板输出插座对应测试从板11出现故障，则该主板输出插座对应的主板故障灯10点亮(故障信号为从板比较电路18输出信号，故障时输出高信号)，可以迅速定位故障从板；
(4)测试从板11上设计一个输入插座12与主板输出插座对接，接收步骤(3)中的对应信号；
(5)其中每个测试从板11上有16个从板输出插座，均分别接一个DC/AC驱动模块22。由于每一个DC/AC驱动模块22上需要电流0.4A，16个DC/AC驱动模块22上共需要电流6.4A，即一个测试从板11需要提供6.4A，而测试主板1要接N个测试从板11(N≥8)，则汇集到测试主板1的电流大于50A，对于板级器件或线束来说无法承受如此大功率，所以每个测试从板11均设计一个电源插座16，由单独的直流功率电源14供电，但是该直流功率电源14的地和测试主板1的地要连接在一起，该直流功率电源14输出15V；
(6)每个DC/AC驱动模块22分别有如下信号：6路PWM输入、1路NTC、2路电流传感器产生的电压信号、15V电源信号和使能信号，各端口分别通过一个插头与从板输出插座对接；使能信号在测试从板11直接接到地，使能一直有效；
(7)测试从板11从测试主板1接收过来的6路PWM信号再此经过一个从板驱动电路13，送给DC/AC驱动模块22；
(8)基准电源电路17产生一路高精度5V电源，整个电源再用精密电阻分压，得到比较电路18基准比较电压；
(9)DC/AC驱动模块22上有一路NTC(2个接口)和两路电流传感器产生的电压信号。对于NTC，根据动态老化测试温度，查找NTC的温度/电阻曲线，找到NTC在测试点附近的电阻值，然后用一个精密电阻与NTC电阻进行分压；在老化测试温度点范围内NTC分得的电压最大值为UNTCMax，最小为值UNTCMin；步骤(8)中的基准电源电路17通过精密电阻分压得到UNTCMax和UNTCMin，将UNTC、UNTCMax和UNTCMin送给比较电路18(如比较器LM2903)的两路，如果UNTC不在UNTCMin和UNTCMax之间，则认定为NTC有问题，通过故障锁存电路19(如芯片CD4044)将故障信号锁存，同时在测试从板11与该块DC/AC驱动模块22对接的输出插座处点亮一个从板故障灯21(LED灯)。该锁存的高电平同时会送给测试主板1，点亮对应主板故障灯10。按下测试主板1上的复位信号后，可以清楚该故障信号。通过以上方法，DC/AC驱动模块22的6个PWM信号通道，1个NTC和2个电流传感器信号都可以得到老化测试，且整个装置可同时老化128个DC/AC驱动模块22。如对于电流传感器产生的模拟信号，根据数据手册和实际测量找到一个合理的静态输出电压范围，分别将2个电流传感器的静态输出电压送给比较器LM2903，如果传感器输出的电压不在规定的范围之内，则认为该电流传感器有故障，将该故障锁存，同时在该DC/AC驱动模块22与对应从板输出插座处点亮一个从板故障灯21。
(10)如果整个测试过程无故障灯点亮，则DC/AC驱动模块22通过测试。
虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围的情况下，都可利用上述揭示的技术内容对本实用新型技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均应落在本实用新型技术方案保护的范围内。
Claims (10)
1.一种DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，包括一块测试主板(1)以及一块以上的测试从板(11)，所述测试主板(1)上设置有多路输出接口(9)，用于与各测试从板(11)一一对应连接；各测试从板(11)上设置有多路测试接口(20)，用于与各待测DC/AC驱动模块(22)连接；所述测试主板(1)用于产生PWM信号，经测试从板(11)发送至各待测DC/AC驱动模块(22)进行测试；所述测试从板(11)用于对待测DC/AC驱动模块(22)输出的检测信号进行比较以判断各待测DC/AC驱动模块(22)是否合格。
2.根据权利要求1所述的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，所述测试主板(1)包括DSP芯片(5)、直流电源(2)、电源电路(4)和主板驱动电路(6)；所述电源电路(4)的输入端与所述直流电源(2)相连，用于将直流电源(2)的电源进行转换；所述电源电路(4)的输出端分别与所述主板驱动电路(6)和DSP芯片(5)相连，用于提供转换后的电源；所述主板驱动电路(6)分别与所述DSP芯片(5)与输出接口(9)相连，用于将DSP芯片(5)产生的PWM信号发送至输出接口(9)。
3.根据权利要求2所述的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，所述DSP芯片(5)经CAN收发器(7)与PC机(8)相连，用于对DSP芯片(5)的程序刷写。
4.根据权利要求2所述的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，所述直流电源(2)的电压为24V/12V直流电源(2)，所述电源电路(4)输出的电压为15V、3.3V和1.8V。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，所述测试从板(11)包括基准电源电路(17)、比较电路(18)和故障锁存电路(19)；所述比较电路(18)的输入端连接基准电源电路(17)，并经测试接口(20)与所述DC/AC驱动模块(22)相连，用于接收所述DC/AC驱动模块(22)的检测信号并与基准电源电路(17)的基准电源进行比较；所述比较电路(18)的输出端与所述故障锁存电路(19)相连，用于将比较结果输出至故障锁存电路(19)进行故障锁存。
6.根据权利要求5所述的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，所述输出接口(9)与测试接口(20)上均设置有故障信号灯，所述故障锁存电路(19)与故障指示灯相连，用于在产生故障时点亮对应的故障信号灯。
7.根据权利要求5所述的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，所述测试从板(11)还包括从板驱动电路(13)，所述从板驱动电路(13)分别与测试主板(1)的输出接口(9)和测试从板(11)的测试接口(20)相连，用于增加PWM信号的驱动能力。
8.根据权利要求5所述的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，所述测试从板(11)外接有直流功率电源(14)，所述外接直流功率电源(14)经电源插座(16)分别与基准电源电路(17)、比较电路(18)、故障锁存电路(19)和测试接口(20)相连。
9.根据权利要求1至4中任意一项所述的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，所述测试从板(11)的数量为5～10块。
10.根据权利要求1至4中任意一项所述的DC/AC驱动模块动态加速老化测试装置，其特征在于，所述测试主板(1)的输出接口(9)为5～10路，所述测试从板(11)的测试接口(20)为10～20路。
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| CN201820584579.4U CN208044026U (zh) | 2018-04-23 | 2018-04-23 | 一种dc/ac驱动模块动态加速老化测试装置 |
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| CN109471422A (zh) * | 2018-11-13 | 2019-03-15 | 重庆佰节成测控技术有限公司 | 一种老化工装控制***及其检测方法 |
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2018
- 2018-04-23 CN CN201820584579.4U patent/CN208044026U/zh active Active
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| CN109471422B (zh) * | 2018-11-13 | 2021-07-13 | 重庆佰节成测控技术有限公司 | 一种老化工装控制***及其检测方法 |
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Legal Events
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Address after: Fifty-seven, Zhuzhou Province, China National hi tech Development Zone, Hunan, Li Yu Industrial Park, district 412007 Patentee after: Zhongche Times Electric Vehicle Co., Ltd. Address before: Fifty-seven, Zhuzhou Province, China National hi tech Development Zone, Hunan, Li Yu Industrial Park, district 412007 Patentee before: Hunan Zhongche times electric Limited by Share Ltd |
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