CN208013069U - 一种太赫兹反射式测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种太赫兹反射式测量装置,包括外壳,其还包括第一支架和第二支架,所述第一支架和第二支架之间夹角小于10度,其中,被测物置于所述述第一支架和第二支架交点处;所述第一支架上依次设置有第一聚焦透镜、第一准直透镜和光电导发射天线模块,所述第二支架上依次设置有第二准直透镜、第二聚焦透镜和光电导接收天线模块;所述光电导发射天线模块发射的太赫兹波经第一准直透镜准直并经所述第一聚焦透镜聚焦后发射至被测物,所述被测物将所述太赫兹波反射至第二准直透镜准直并经所述第二聚焦透镜聚焦后发射至所述光电导接收天线模块。与传统设计方式相比较,具有使用方便,节省物料成本的优点,广泛应用于光学测距领域。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量领域,具体为太赫兹反射式测量装置。
背景技术
目前,太赫兹反射谱测量多在光学平台上安装五维调节架,并在调节架中固定固定透镜组、光电导天线以及被测物,每次都需要调节调节架以在接收端获得太赫兹光谱,使用不方便,且测试结果重复性不高。
综上,该技术有必要进行改进。
实用新型内容
为了解决上述技术问题,本实用新型的目的是提供一种太赫兹反射式测量装置。
本实用新型所采用的技术方案是:
本实用新型提供一种太赫兹反射式测量装置,包括外壳,其还包括第一支架和第二支架,所述第一支架和第二支架之间夹角小于10度,其中,被测物置于所述第一支架和第二支架交点处;所述第一支架上依次设置有第一聚焦透镜、第一准直透镜和光电导发射天线模块,所述第二支架上依次设置有第二准直透镜、第二聚焦透镜和光电导接收天线模块;所述光电导发射天线模块发射的太赫兹波经第一准直透镜准直并经所述第一聚焦透镜聚焦后发射至被测物,所述被测物将所述太赫兹波反射至第二准直透镜准直并经所述第二聚焦透镜聚焦后发射至所述光电导接收天线模块。
作为该技术方案的改进,所述被测物位于所述第一聚焦透镜的焦点处。
作为该技术方案的改进,所述光电导发射天线模块置于所述第一准直透镜的焦点处。
作为该技术方案的改进,所述光电导发射天线模块包括光电导发射天线和光电导发射天线固定座,所述光电导发射天线固定至所述光电导发射天线固定座上。
进一步地,所述光电导接收天线模块包括光电导接收天线和光电导接收天线固定座,所述光电导接收天线固定至所述光电导接收天线固定座上。
进一步地,所述光电导发射天线和光电导接收天线均为光纤耦合光电导天线。
进一步地,所述第一支架和第二支架用于放置被测物的一侧均采用圆弧形端面。
进一步地,所述第一准直透镜和第二准直透镜均为TPX平凸透镜。
进一步地,所述第一聚焦透镜和第二聚焦透镜均为TPX平凸透镜。
本实用新型的有益效果是:本实用新型提供的应用于太赫兹反射光谱测量的装置,采用透镜组对太赫兹波进行准直聚焦,避免了使用较重的离轴抛物镜,使用轻便;通过结构件固定透镜组、光电导天线及被测物的相对位置,方便测量。与传统设计方式相比较,具有使用方便,节省物料成本的优点。
附图说明
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明:
图1是本实用新型一实施例的示意图。
具体实施方式
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
参照图1,本实用新型提供一种太赫兹反射式测量装置,包括外壳1,其还包括第一支架4和第二支架3,所述第一支架4和第二支架3之间夹角小于10度,其中,被测物12置于所述第一支架4和第二支架3交点处;所述第一支架4上依次设置有第一聚焦透镜5、第一准直透镜2和光电导发射天线模块,所述第二支架3上依次设置有第二准直透镜6、第二聚焦透镜7和光电导接收天线模块;所述光电导发射天线模块发射的太赫兹波经第一准直透镜2准直并经所述第一聚焦透镜5聚焦后发射至被测物12,所述被测物12将所述太赫兹波反射至第二准直透镜6准直并经所述第二聚焦透镜7聚焦后发射至所述光电导接收天线模块。
作为该技术方案的改进,所述被测物12位于所述第一聚焦透镜5的焦点处。
作为该技术方案的改进,所述光电导发射天线模块置于所述第一准直透镜2的焦点处。
作为该技术方案的改进,所述光电导发射天线模块包括光电导发射天线8和光电导发射天线固定座9,所述光电导发射天线8固定至所述光电导发射天线固定座9上。
进一步地,所述光电导接收天线模块包括光电导接收天线10和光电导接收天线固定座11,所述光电导接收天线10固定至所述光电导接收天线固定座11上。
进一步地,所述光电导发射天线8和光电导接收天线10均为光纤耦合光电导天线。
进一步地,所述第一支架4和第二支架3用于放置被测物12的一侧均采用圆弧形端面。
进一步地,所述第一准直透镜2和第二准直透镜6均为TPX平凸透镜,焦距为50mm。
进一步地,所述第一聚焦透镜5和第二聚焦透镜7均为TPX平凸透镜,焦距为150mm。
本实用新型针对现有太赫兹反射测量头使用不方便的缺陷进行改进。使用该设计,可以方便测量,提高测试结果的重复性及准确性,并降低物料成本。本实用新型旨在提供一种结构简单、易于制造的光学测距装置。
该光学测距装置包括:一个光电导发射天线,一个使光发射器所发出的光准直并聚焦的成像***,一个接收反射光并使其汇聚的接收成像***,一个固定光电导发射天线、光电导接收天线、发射光成像透镜***、接收成像***,以及确定被测距离的固定架。其简化了光学测距装置的内部结构,降低了制造难度,有利于实现该光学测距装置的批量制造。
参照图1所示,是本实用新型的太赫兹反射光谱的一种具体实施方式。本具体实施方式的太赫兹反射光谱装置包括外壳1,还包括:一个光电导发射天线8,一个光电导发射天线固定座9,光电导发射天线8通过螺丝固定在光电导发射天线固定座9上,光电导发射天线固定座9通过螺丝固定在第一支架4上,第一准直透镜2、第一聚焦透镜5和第二准直透镜6、第二聚焦透镜7分别通过胶水粘在第一支架4和第二支架3上。第一支架4和第二支架3的左端端面正好位于太赫兹波焦点及光电导发射天线8和光电导接收天线10交叉处,使被测物12每次反射的太赫兹波都能被光电导接收天线10接收,且与样品形状无关。光电接收天线固定座11用于将光电导接收天线10固定于第二支架3上,光电导接收天线10通过螺丝固定在光电导接收天线固定座11上,光电导接收天线固定座11通过螺丝固定在第二支架3上。
光电导发射天线8发射的太赫兹波经第一准直透镜2准直,被第一聚焦透镜5聚焦于被测物12。经被测物12反射的太赫兹波经第二准直透镜6准直,通过第二聚焦透镜7聚焦于光电导接收天线10上。
其中光电导发射天线8和光电导接收天线10均为光纤耦合光电导天线,以方便测量头随意移动。
第一支架4和第二支架3作为固定架,其材料为透明亚克力材料,重量轻,硬度高,方便观察。其中,第一支架4和第二支架3的左端端面为圆弧形,使被测物12测试时不易滑动。
第一准直透镜2、第二准直透镜6、第一聚焦透镜5、第二聚焦透镜7均使用TPX材料,重量轻,太赫兹波透过率高,易于制造。
作为一具体实施例,光电导发射天线8与光电导接收天线10之间的夹角可为8°;光电导发射天线8与光电导接收天线10右端端面分别与固定架左端端面距离为180mm。
本实用新型提供的应用于太赫兹反射光谱测量的装置,采用透镜组对太赫兹波进行准直聚焦,避免了使用较重的离轴抛物镜,使用轻便;通过结构件固定透镜组、光电导天线及被测物的相对位置,方便测量。与传统设计方式相比较,具有使用方便,节省物料成本的优点。
以上是对本实用新型的较佳实施进行了具体说明,但本发明创造并不限于所述实施例,熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可做作出种种的等同变形或替换,这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
Claims (9)
1.一种太赫兹反射式测量装置,包括外壳,其特征在于,其还包括第一支架和第二支架,所述第一支架和第二支架之间夹角小于10度,其中,被测物置于所述第一支架和第二支架交点处;所述第一支架上依次设置有第一聚焦透镜、第一准直透镜和光电导发射天线模块,所述第二支架上依次设置有第二准直透镜、第二聚焦透镜和光电导接收天线模块;所述光电导发射天线模块发射的太赫兹波经第一准直透镜准直并经所述第一聚焦透镜聚焦后发射至被测物,所述被测物将所述太赫兹波反射至第二准直透镜准直并经所述第二聚焦透镜聚焦后发射至所述光电导接收天线模块。
2.根据权利要求1所述的太赫兹反射式测量装置,其特征在于:所述被测物位于所述第一聚焦透镜的焦点处。
3.根据权利要求2所述的太赫兹反射式测量装置,其特征在于:所述光电导发射天线模块置于所述第一准直透镜的焦点处。
4.根据权利要求1至3任一项所述的太赫兹反射式测量装置,其特征在于:所述光电导发射天线模块包括光电导发射天线和光电导发射天线固定座,所述光电导发射天线固定至所述光电导发射天线固定座上。
5.根据权利要求4所述的太赫兹反射式测量装置,其特征在于:所述光电导接收天线模块包括光电导接收天线和光电导接收天线固定座,所述光电导接收天线固定至所述光电导接收天线固定座上。
6.根据权利要求5所述的太赫兹反射式测量装置,其特征在于:所述光电导发射天线和光电导接收天线均为光纤耦合光电导天线。
7.根据权利要求6所述的太赫兹反射式测量装置,其特征在于:所述第一支架和第二支架用于放置被测物的一侧均采用圆弧形端面。
8.根据权利要求1或7所述的太赫兹反射式测量装置,其特征在于:所述第一准直透镜和第二准直透镜均为TPX平凸透镜。
9.根据权利要求1或7所述的太赫兹反射式测量装置,其特征在于:所述第一聚焦透镜和第二聚焦透镜均为TPX平凸透镜。
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