CN207986161U - 电子元件测试设备及其移动校准机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种移动校准机构，该移动校准机构，包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置、用于吸取电子元件的吸取装置、用于控制所述吸取装置工作状态的控制装置和用于安装吸取装置的安装板，校准装置位于吸取装置下方，包括设置有若干校准腔的校准块和用于驱动校准块前后移动的驱动源。本实用新型还公开一种电子元件测试设备，该电子元件测试设备包括前述的移动校准装置。本实用新型简化了电子元件的校准工序，节约了校准时间，提高了工作效率。

Description

电子元件测试设备及其移动校准机构

技术领域

本实用新型涉及电子元件测试设备领域，特别涉及一种移动校准机构及其电子元件测试设备。

背景技术

随着工业水平的进步和人们生活水平的提高，集成电路的应用越来越广泛，同时为了满足对集成电路的生产，电子元件测试设备的应用也越来广泛。

现有的电子元件测试设备通过吸取装置把电子元件从原料盘放置到治具上的。由于原料盘的容置腔与电子元件之间具有较大的间隙，而治具又对电子元件的摆放方向要求较高，因此在吸取装置吸取电子元件的过程中，需要对电子元件的方向进行校准。现有技术中，通过在原料盘与治具之间设置校准装置，吸取装置从原料盘吸取电子元件后，将其放置到校准装置中进行校准，再吸取校准后的电子元件运动至治具上方，然后释放电子元件，将其放置到治具中。这种方式需要吸取装置执行多次上升、下降动作，耗时较多，工作效率不高。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种移动校准机构，旨在解决现有技术中，吸取装置执行多次上升、下降动作，耗时较多，工作效率不高的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出一种移动校准机构，该移动校准机构包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置、用于吸取电子元件的吸取装置、用于控制所述吸取装置工作状态的控制装置和用于安装所述吸取装置的安装板，所述校准装置位于所述吸取装置下方，包括设置有若干校准腔的校准块和用于驱动所述校准块前后移动的驱动源。

优选地，所述校准腔设置为喇叭型且贯通所述校准块。

优选地，所述吸取装置包括吸嘴、驱动所述吸嘴上下移动的第一驱动件以及驱动所述吸嘴和第一驱动件左右移动的第二驱动件。

优选地，所述吸嘴为多个且并排设置，所述校准腔与所述吸嘴对应设置。

优选地，所述安装板竖向设置，其一面设置有用于对所述吸取装置进行导向的竖向导槽，另一面设置有与外部导轨相连的第一横向导槽。

优选地，所述安装板上设置有用于对所述校准装置前后移动进行限位的限位件。

本实用新型进一步提出一种电子元件测试设备，该电子元件测试设备包括用于放置电子元件的原料盘、设置在所述原料盘一侧的治具和移动校准装置，该移动校准机构包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置、用于吸取电子元件的吸取装置和用于控制所述吸取装置工作状态的控制装置，所述校准装置位于所述吸取装置下方，包括设置有若干校准腔的校准块和用于驱动所述校准块前后移动的驱动源。

优选地，所述安装板竖向设置，其一面设置有用于对所述吸取装置进行导向的竖向导槽，另一面设置有与外部导轨相连的第一横向导槽，所述电子元件测试设备还包括设置在所述原料盘上方、与所述吸取装置连接的横向导轨。

本实用新型提供的移动校准机构，通过设置驱动源和校准块，利用吸取装置吸取电子元件的过程，驱动源同时驱动校准块移动到相应位置，吸取装置下行即可完成对电子元件的外形进行校准并将电子元件放置到治具上。相对现有技术而言，本实用新型简化了电子元件的校准工序，节约了校准时间，提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型一实施例中移动校准机构的整体结构示意图；

图2为本实用新型图1中A部的局部放大图。

附图标号说明：

具体实施方式

下面将详细描述本实用新型的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提出一种移动校准机构，参照图1和图2所示，该移动校准机构包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置100、用于吸取电子元件的吸取装置200、用于控制所述吸取装置200工作状态的控制装置300和用于安装吸取装置200的安装板400。校准装置100位于吸取装置200下方，包括设置有若干校准腔111的校准块110和用于驱动校准块110前后移动的驱动源(图未示出)。

本实用新型实施例中，校准块110与驱动源位可拆卸式连接，这样有利于需要校准不同电子元件时更换不同的校准块110。校准块110上设置有校准腔111，校准腔111根据所要安装的电子元件来确定大小和形状，校准腔111可以为一个，也可以为多个。驱动源用于驱动校准块110前后移动，驱动源可以为气缸，还可以为电机螺杆结构。本实用新型实施例中，校准腔111可以为通孔，也可以设置为盲孔，当为盲孔时，当控制装置300控制吸取装置200从原料盘500上吸取电子元件并移动到校准装置100的上方时，驱动源会驱动校准块110前后移动、并使校准腔111位于吸取装置200的正下方。同时，吸取装置200向下移动至校准腔111内校准电子元件。上述动作同时进行，这样更有利于节约时间，提升工作效率。当校准工序完成后，吸取装置200吸取电子元件上升移出校准腔111，驱动源驱动校准块110回退至原点，同时吸取装置200下行，将电子元件安装在治具600上。

本实用新型实施例通过设置驱动源和校准块110前后移动，同时利用吸取装置200的移动来完成对电子元件的校准工作，简化了校准工序，提高了工作效率。

在一较佳实施例中，校准腔111设置为喇叭型且贯通校准块110。校准腔111设置为上部宽、下部窄的喇叭形，校准腔111的下部的大小为电子元件的大小，治具600设置在校准腔111的下方。吸取装置200吸取电子元件从校准腔111上部运动至下部的过程中，通过电子元件与校准腔111侧壁的接触，以此来调整电子元件的位置。本实用新型实施例通过设置喇叭形的校准腔111，更有利于通过校准腔111调整电子元件的位置，同时，可以将校准腔111设置为通孔，电子元件完成校准后，吸取装置200可以直接从校准腔111的底部移出，使电子元件安装在放置在校准腔111下方的治具600上，这样更加简化了校准工序，进一步提高了工作效率。

在一较佳实施例中，吸取装置200包括吸嘴210、驱动吸嘴210上下移动的第一驱动件(图未示出)以及驱动吸嘴210和第一驱动件左右移动的第二驱动件(图未示出)。第一驱动件与吸嘴210为可拆卸式连接，用于驱动吸嘴210上下移动，可拆卸式连接有利于更换不同种类的吸嘴210。第二驱动件设置在安装板400上、并与第一驱动件连接，用于驱动第一驱动件左右移动。第一驱动件和第二驱动件可以是气缸，还可以是电机。本实用新型实施例通过设置第一驱动件和第二驱动件来驱动吸嘴210移动，有利于吸嘴210吸取电子元件，同时也有利于吸嘴210穿过校准腔111，完成电子元件的安装。

在一较佳实施例中，吸嘴210为多个且并排设置，校准腔111与吸嘴210对应设置。吸嘴210可以根据原料盘500上电子元件的放置方向进行排列设置，便于同时吸取多个电子元件，校准腔111对应吸嘴210的数量设置，便于同时校准吸嘴210吸取的多个电子元件。本实用新型实施例中通过设置多组吸嘴210和校准腔111，同时吸取、校准和安装多个电子元件，节约了时间，提高了工作效率。

在一较佳实施例中，安装板400竖向设置，其一面设置有用于对吸取装置200进行导向的竖向导槽420，另一面设置有与外部导轨相连的横向导槽(图未示出)。吸取装置200安装在竖向导槽420内，吸取装置200通过在竖向导槽420内的上下滑动以此来移动，当然，安装板400上设置有驱动吸取装置200移动的动力源。安装板400的另一面设置有横向导槽，用于与外部驱动装置连接，以此驱动安装板400左右移动。本实用新型实施例通过设置竖向导槽420和横向导槽，有利于控制吸取装置200在多个方向上的移动，更加便于吸取、校准和安装电子元件。

在一较佳实施例中，所述安装板400上设置有用于对校准装置100前后移动进行限位的限位件410。限位件410包括限位块411和限位螺栓412，限位块411设置在校准块110上，安装板400上预设有安装限位螺栓412的安装块，限位块411与限位螺栓412位于同一个方向上，通过转动限位螺栓412，以此来控制校准块110移动的距离。安装块上还可以设置紧固螺栓，紧固螺栓在限位螺栓412的径向方向上与限位螺栓412抵接，防止限位螺栓412在工作时移动。本实用新型实施例通过设置限位件410，可以控制校准块110的移动距离，拓展了限位机构的应用。

本实用新型进一步提出一种电子元件测试设备，该电子元件测试设备包括上述实施例中的移动校准机构，该电子元件测试设备的具体结构参照上述实施例，由于本电子元件测试设备采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

在一较佳实施例中，电子元件测试设备还包括设置在所述原料盘500上方、与所述吸取装置200连接的横向导轨700。安装板400上的横向导槽与导轨700连接，导轨700用于驱动安装板400左右移动。导轨700的可以是滑动导轨，也可以是皮带轮导轨。本实用新型实施例通过设置导轨700驱动安装板400左右移动，更加的有利于控制安装板400的移动距离，提高吸取装置200吸取电子元件的位置精度。

以上的仅为本实用新型的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本实用新型保护的范围，凡是在与本实用新型一个整体的构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型保护的范围内。

Claims (8)

1.一种移动校准机构，包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置、用于吸取电子元件的吸取装置、用于控制所述吸取装置工作状态的控制装置和用于安装所述吸取装置的安装板，其特征在于，所述校准装置位于所述吸取装置下方，包括设置有若干校准腔的校准块和用于驱动所述校准块前后移动的驱动源。

2.如权利要求1所述的移动校准机构，其特征在于，所述校准腔设置为喇叭型且贯通所述校准块。

3.如权利要求2所述的移动校准机构，其特征在于，所述吸取装置包括吸嘴、驱动所述吸嘴上下移动的第一驱动件以及驱动所述吸嘴和第一驱动件左右移动的第二驱动件。

4.如权利要求3所述的移动校准机构，其特征在于，所述吸嘴为多个且并排设置，所述校准腔与所述吸嘴对应设置。

5.如权利要求4所述的移动校准机构，其特征在于，所述安装板竖向设置，其一面设置有用于对所述吸取装置进行导向的竖向导槽，另一面设置有与外部导轨相连的第一横向导槽。

6.如权利要求5所述的移动校准机构，其特征在于，所述安装板上设置有用于对所述校准装置前后移动进行限位的限位件。

7.一种电子元件测试设备，其特征在于，包括用于放置电子元件的原料盘、设置在所述原料盘一侧的治具和如权利要求1至6中任一项所述的移动校准机构。

8.如权利要求7所述的电子元件测试设备，其特征在在于，所述移动校准机构为权利要求5所述的移动校准机构，所述电子元件测试设备还包括设置在所述原料盘上方、与所述吸取装置连接的横向导轨。