探针测试载具
技术领域
本实用新型涉及检测治具技术领域,尤其涉及一种探针测试载具。
背景技术
在现今资讯化的社会中,键盘几乎是各种电子设备不可或缺的数据输入装置,例如常见的台式电脑、笔记本电脑等,皆以键盘作为控制命令或数据输入的主要装置,键盘功能的正常与否将直接影响到输入电脑设备内的信号,因此确有必要对键盘进行测试以判断键盘功能是否正常。
现有检测键盘时采用探针导通进行测试时,是将探针直接固定在外部升降机构上,进行测试,当测试点较小时,探针伸出时易偏位,测试稳定性较差,同时多种型号键盘检测大都需要多个检测治具,治具通用性差,检测成本高。将治具与检测装置结合在一起的结构复杂,通常机构外形尺寸较大。维护难度较高,不利于企业生产。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构紧凑,测试效率高,测试效率高的探针测试载具。
为了解决上述技术问题,本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种探针测试载具,包括本体,所述本体为长方形结构,所述本体上设有多个探针组件、多个限位块以及多个定位孔,所述本体的短边上设有夹持部,所述夹持部上设有夹持孔,所述本体的长边设有多个定位凹槽,所述本体中间设置有测试工位,所述测试工位与一个待测试键盘相匹配。
所述探针组件包括探针座、导杆以及用于限制探针座位置的两挡块,所述探针座设置在安装槽内,所述安装槽的底面上设有若干个探针通孔,所述导杆穿设过探针座与安装槽底部的固定部固定连接,两挡片固设在安装槽两侧的安装座。
所述探针座包括PCB板以及探针板,所述PCB板与探针板通过螺钉固定连接,所述探针板上设置有阵列探针,所述PCB板通过与测试仪器电性连接,所述阵列探针一端与PCB板电性连接,另一端与待测试键盘的测试点接触。
所述探针板上还设有多个安装孔,所述安装孔上设置有弹簧。
所述探针板上还设有限位槽,所述安装槽底部设置有与所述限位槽配合使用限位凸起。
所述阵列探针包括多个针体,所述针体包括针身及与针身连接的针头,所述针身中部设有一定位部,所述定位部与针头之间设有连接部,所述针体后端设有顶升部。
所述针头延伸出的一端为锥形头、球形头或者平面。
所述针体的直径为0.25~1㎜。
所述针体的总体长度为5-7㎜,所述定位部的高度为0.45-0.55㎜。
所述针头延伸出的一端为锥形头,所述锥形头的锥度为89.5°~90.5°。
从上述的技术方案可以看出,本实用新型将探针组件集成至载具内,无需导线连接测试,简化了连接结构,又能防止导线的缠绕载具,集成后的尺寸相对较小,使得测试结构紧凑,测试效率高,后期方便维护,由于探针组件集成至载具内,当载具设计用作通用载具时,可以作为在线式测试载具提供给不同设备使用,大大提高通用性,提高工作效率,降低成本。
附图说明
图1是本实用新型一种探针测试载具结构示意图。
图2是本实用新型的结构示意图。
图3是本实用新型的安装槽示意图。
图4是本实用新型的探针座示意图。
图5是本实用新型的探针座剖视图1。
图6是本实用新型的探针座剖视图2。
附图标记说明:1-本体、11-夹持部、12-限位块、13-定位孔、14-探针通孔、15-限位凸起、16-挡块、2-PCB板、3-探针板、31-针体、32-安装孔、33-限位槽、
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施,但所举实施例不作为对本实用新型的限定。
参阅图1,图2,一种探针测试载具,包括本体1,所述本体1为长方形结构,所述本体1上设有多个探针组件、多个限位块12以及多个定位孔13,本实施例较优选的方案为所述本体1上设有4个探针组件、4个限位块12以及4个定位孔13,4个限位块12设置在本体1的四角处,所述本体1的短边上设有夹持部11,所述夹持部11上设有夹持孔,所述本体1的长边设有多个定位凹槽,本实施例较优选的方案为所述本体1的长边设有4个定位凹槽,4个定位凹槽两两设置在长边位置,所述本体1中间设置有测试工位,所述测试工位与一个待测试键盘相匹配。
所述探针组件包括探针座、导杆以及用于限制探针座位置的两挡块16,所述探针座设置在安装槽内,所述安装槽的底面上设有若干个探针通孔14,所述导杆穿设过探针座与安装槽底部的固定部固定连接,两挡片固设在安装槽两侧的安装座。
所述探针座包括PCB板2、探针板3,所述PCB板2与探针板3通过螺钉固定连接,所述PCB板2上设有多个触点,所述触点的数量与阵列探针相匹配,所述探针板3上设置有阵列探针,所述PCB板2通过与测试仪器电性连接,所述阵列探针一端与PCB板2电性连接,另一端与待测试键盘的测试点接触,可一次性完成多个待测试键盘的性能测试,大大提高了测试效率,降低了测试成本。
探针座在使用时,粉尘等杂物会进入到探针座内,堵塞探针头部的运动,降低探针弹力,不但降低测试的良品率,也会加速探针的腐蚀。为了无损伤的彻底清洗探针座,可将挡片直接拆下,取下探针座进行清洗,极大的减少了维护的时间。
所述探针板3上还设有多个安装孔32,所述安装孔32上设置有弹簧,本实施例较优选的方案为所述探针板3上还设有4个安装孔32。
通过弹簧与导杆的配合使用,可实现阵列探针准确伸出或缩回,并通过与探针板3连接的PCB板2与测试仪器连接,以此将测试点信号引出、放大测试点位,进而提高测试稳定性。
所述探针板3上还设有限位槽33,所述安装槽底部设置有与所述限位槽33配合使用限位凸起15,所述限位槽33与限位凸起15配合使用可起到防呆作用,避免反装探针座影响正常测试工作。
所述阵列探针包括多个针体31,所述针体31包括针身及与针身连接的针头,所述针身中部设有一定位部,所述定位部与针头之间设有连接部,所述针体31后端设有顶升部,所述探针板3上的探针孔上设置有与定位部相配合使用的固定部,所述固定部与定位部配合使用可防止探针直接穿出探针板,影响测试载具的测试效率。
所述针体31交错设置在探针板3上,这样探针与探针就不会相互接触,不会干扰相互之间测试信号,提高测试精度。
所述针头延伸出的一端为锥形头、球形头或者平面。
所述针体31的直径为0.25~1㎜。
所述针体31的总体长度为5-7㎜,所述定位部的高度为0.45-0.55㎜。
所述针头延伸出的一端为锥形头,所述锥形头的锥度为89.5°~90.5°,由于所述针头延伸出的一端为锥形头,探针不与弹簧设置成一体,从而使探针的生产成本降低,同时锥形头探针的电阻力小,使得探针的导电性能加强。
使用时,将待测试键盘置于测试工位上,通过探针座直接与待测试键盘相接触,在测试仪器发出的测试信号作用下完成对待测试键盘的电特性测试
本实用新型将探针组件集成至载具内,无需导线连接测试,简化了连接结构,又能防止导线的缠绕载具,集成后的尺寸相对较小,使得测试结构紧凑,测试效率高,后期方便维护,由于探针组件集成至载具内,当载具设计用作通用载具时,可以作为在线式测试载具提供给不同设备使用,大大提高通用性,提高工作效率,降低成本。
以上所述实施例仅是为充分说明本实用新型而所举的较佳的实施例,本实用新型的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本实用新型基础上所作的等同替代或变换,均在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书为准。