CN207541111U - 探针测试载具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及检测治具技术领域，尤其涉及一种探针测试载具。本实用新型将探针组件集成至载具内，无需导线连接测试，简化了连接结构，又能防止导线的缠绕载具，集成后的尺寸相对较小，使得测试结构紧凑，测试效率高，后期方便维护，由于探针组件集成至载具内，当载具设计用作通用载具时，可以作为在线式测试载具提供给不同设备使用，大大提高通用性，提高工作效率，降低成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测治具技术领域，尤其涉及一种探针测试载具。
背景技术
在现今资讯化的社会中，键盘几乎是各种电子设备不可或缺的数据输入装置，例如常见的台式电脑、笔记本电脑等，皆以键盘作为控制命令或数据输入的主要装置，键盘功能的正常与否将直接影响到输入电脑设备内的信号，因此确有必要对键盘进行测试以判断键盘功能是否正常。
现有检测键盘时采用探针导通进行测试时，是将探针直接固定在外部升降机构上，进行测试，当测试点较小时，探针伸出时易偏位，测试稳定性较差，同时多种型号键盘检测大都需要多个检测治具，治具通用性差，检测成本高。将治具与检测装置结合在一起的结构复杂，通常机构外形尺寸较大。维护难度较高，不利于企业生产。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构紧凑，测试效率高，测试效率高的探针测试载具。
为了解决上述技术问题，本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种探针测试载具，包括本体，所述本体为长方形结构，所述本体上设有多个探针组件、多个限位块以及多个定位孔，所述本体的短边上设有夹持部，所述夹持部上设有夹持孔，所述本体的长边设有多个定位凹槽，所述本体中间设置有测试工位，所述测试工位与一个待测试键盘相匹配。
所述探针组件包括探针座、导杆以及用于限制探针座位置的两挡块，所述探针座设置在安装槽内，所述安装槽的底面上设有若干个探针通孔，所述导杆穿设过探针座与安装槽底部的固定部固定连接，两挡片固设在安装槽两侧的安装座。
所述探针座包括PCB板以及探针板，所述PCB板与探针板通过螺钉固定连接，所述探针板上设置有阵列探针，所述PCB板通过与测试仪器电性连接，所述阵列探针一端与PCB板电性连接，另一端与待测试键盘的测试点接触。
所述探针板上还设有多个安装孔，所述安装孔上设置有弹簧。
所述探针板上还设有限位槽，所述安装槽底部设置有与所述限位槽配合使用限位凸起。
所述阵列探针包括多个针体，所述针体包括针身及与针身连接的针头，所述针身中部设有一定位部，所述定位部与针头之间设有连接部，所述针体后端设有顶升部。
所述针头延伸出的一端为锥形头、球形头或者平面。
所述针体的直径为0.25～1㎜。
所述针体的总体长度为5-7㎜，所述定位部的高度为0.45-0.55㎜。
所述针头延伸出的一端为锥形头，所述锥形头的锥度为89.5°～90.5°。
从上述的技术方案可以看出，本实用新型将探针组件集成至载具内，无需导线连接测试，简化了连接结构，又能防止导线的缠绕载具，集成后的尺寸相对较小，使得测试结构紧凑，测试效率高，后期方便维护，由于探针组件集成至载具内，当载具设计用作通用载具时，可以作为在线式测试载具提供给不同设备使用，大大提高通用性，提高工作效率，降低成本。
附图说明
图1是本实用新型一种探针测试载具结构示意图。
图2是本实用新型的结构示意图。
图3是本实用新型的安装槽示意图。
图4是本实用新型的探针座示意图。
图5是本实用新型的探针座剖视图1。
图6是本实用新型的探针座剖视图2。
附图标记说明：1-本体、11-夹持部、12-限位块、13-定位孔、14-探针通孔、15-限位凸起、16-挡块、2-PCB板、3-探针板、31-针体、32-安装孔、33-限位槽、
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。
参阅图1，图2，一种探针测试载具，包括本体1，所述本体1为长方形结构，所述本体1上设有多个探针组件、多个限位块12以及多个定位孔13，本实施例较优选的方案为所述本体1上设有4个探针组件、4个限位块12以及4个定位孔13，4个限位块12设置在本体1的四角处，所述本体1的短边上设有夹持部11，所述夹持部11上设有夹持孔，所述本体1的长边设有多个定位凹槽，本实施例较优选的方案为所述本体1的长边设有4个定位凹槽，4个定位凹槽两两设置在长边位置，所述本体1中间设置有测试工位，所述测试工位与一个待测试键盘相匹配。
所述探针组件包括探针座、导杆以及用于限制探针座位置的两挡块16，所述探针座设置在安装槽内，所述安装槽的底面上设有若干个探针通孔14，所述导杆穿设过探针座与安装槽底部的固定部固定连接，两挡片固设在安装槽两侧的安装座。
所述探针座包括PCB板2、探针板3，所述PCB板2与探针板3通过螺钉固定连接，所述PCB板2上设有多个触点，所述触点的数量与阵列探针相匹配，所述探针板3上设置有阵列探针，所述PCB板2通过与测试仪器电性连接，所述阵列探针一端与PCB板2电性连接，另一端与待测试键盘的测试点接触，可一次性完成多个待测试键盘的性能测试，大大提高了测试效率，降低了测试成本。
探针座在使用时，粉尘等杂物会进入到探针座内，堵塞探针头部的运动，降低探针弹力，不但降低测试的良品率，也会加速探针的腐蚀。为了无损伤的彻底清洗探针座，可将挡片直接拆下，取下探针座进行清洗，极大的减少了维护的时间。
所述探针板3上还设有多个安装孔32，所述安装孔32上设置有弹簧，本实施例较优选的方案为所述探针板3上还设有4个安装孔32。
通过弹簧与导杆的配合使用，可实现阵列探针准确伸出或缩回，并通过与探针板3连接的PCB板2与测试仪器连接，以此将测试点信号引出、放大测试点位，进而提高测试稳定性。
所述探针板3上还设有限位槽33，所述安装槽底部设置有与所述限位槽33配合使用限位凸起15，所述限位槽33与限位凸起15配合使用可起到防呆作用，避免反装探针座影响正常测试工作。
所述阵列探针包括多个针体31，所述针体31包括针身及与针身连接的针头，所述针身中部设有一定位部，所述定位部与针头之间设有连接部，所述针体31后端设有顶升部，所述探针板3上的探针孔上设置有与定位部相配合使用的固定部，所述固定部与定位部配合使用可防止探针直接穿出探针板，影响测试载具的测试效率。
所述针体31交错设置在探针板3上，这样探针与探针就不会相互接触，不会干扰相互之间测试信号，提高测试精度。
所述针头延伸出的一端为锥形头、球形头或者平面。
所述针体31的直径为0.25～1㎜。
所述针体31的总体长度为5-7㎜，所述定位部的高度为0.45-0.55㎜。
所述针头延伸出的一端为锥形头，所述锥形头的锥度为89.5°～90.5°，由于所述针头延伸出的一端为锥形头，探针不与弹簧设置成一体，从而使探针的生产成本降低，同时锥形头探针的电阻力小，使得探针的导电性能加强。
使用时，将待测试键盘置于测试工位上，通过探针座直接与待测试键盘相接触，在测试仪器发出的测试信号作用下完成对待测试键盘的电特性测试
本实用新型将探针组件集成至载具内，无需导线连接测试，简化了连接结构，又能防止导线的缠绕载具，集成后的尺寸相对较小，使得测试结构紧凑，测试效率高，后期方便维护，由于探针组件集成至载具内，当载具设计用作通用载具时，可以作为在线式测试载具提供给不同设备使用，大大提高通用性，提高工作效率，降低成本。
以上所述实施例仅是为充分说明本实用新型而所举的较佳的实施例，本实用新型的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本实用新型基础上所作的等同替代或变换，均在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书为准。
Claims (10)
1.一种探针测试载具，其特征在于，包括本体，所述本体为长方形结构，所述本体上设有多个探针组件、多个限位块以及多个定位孔，所述本体的短边上设有夹持部，所述夹持部上设有夹持孔，所述本体的长边设有多个定位凹槽，所述本体中间设置有测试工位，所述测试工位与一个待测试键盘相匹配。
2.如权利要求1所述的探针测试载具，其特征在于，所述探针组件包括探针座、导杆以及用于限制探针座位置的两挡块，所述探针座设置在安装槽内，所述安装槽的底面上设有若干个探针通孔，所述导杆穿设过探针座与安装槽底部的固定部固定连接，两挡片固设在安装槽两侧的安装座。
3.如权利要求2所述的探针测试载具，其特征在于，所述探针座包括PCB板以及探针板，所述PCB板与探针板通过螺钉固定连接，所述探针板上设置有阵列探针，所述PCB板通过与测试仪器电性连接，所述阵列探针一端与PCB板电性连接，另一端与待测试键盘的测试点接触。
4.如权利要求3所述的探针测试载具，其特征在于，所述探针板上还设有多个安装孔，所述安装孔上设置有弹簧。
5.如权利要求3所述的探针测试载具，其特征在于，所述探针板上还设有限位槽，所述安装槽底部设置有与所述限位槽配合使用限位凸起。
6.如权利要求3所述的探针测试载具，其特征在于，所述阵列探针包括多个针体，所述针体包括针身及与针身连接的针头，所述针身中部设有一定位部，所述定位部与针头之间设有连接部，所述针体后端设有顶升部。
7.如权利要求6所述的探针测试载具，其特征在于，所述针头延伸出的一端为锥形头、球形头或者平面。
8.如权利要求6所述的探针测试载具，其特征在于，所述针体的直径为0.25～1㎜。
9.如权利要求6所述的探针测试载具，其特征在于，所述针体的总体长度为5-7㎜，所述定位部的高度为0.45-0.55㎜。
10.如权利要求7所述的探针测试载具，其特征在于，所述针头延伸出的一端为锥形头，所述锥形头的锥度为89.5°～90.5°。
Priority Applications (1)
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| CN201721478248.4U CN207541111U (zh) | 2017-11-08 | 2017-11-08 | 探针测试载具 |
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| CN201721478248.4U CN207541111U (zh) | 2017-11-08 | 2017-11-08 | 探针测试载具 |
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN207541111U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113504468A (zh) * | 2021-09-13 | 2021-10-15 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | 一种用于按键组件的检测设备 |
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2017
- 2017-11-08 CN CN201721478248.4U patent/CN207541111U/zh active Active
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| CP02 | Change in the address of a patent holder |
Address after: 215128 No. 9, Zhufeng Road, Mudu Town, Wuzhong District, Suzhou City, Jiangsu Province Patentee after: Suzhou jieruisi Intelligent Technology Co.,Ltd. Address before: 215128 No.15, Mudu Town, Wuzhong District, Suzhou City, Jiangsu Province Patentee before: Suzhou jieruisi Intelligent Technology Co.,Ltd. |
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| CP02 | Change in the address of a patent holder |