CN207409274U - 一种一体式电子引出扫描盒结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种一体式电子引出扫描盒结构，目的在于解决采用现有电子加速器对大尺寸或超大尺寸材料进行辐照时，采用扫描方式将电子束展宽到大于被辐照材料的尺寸。展宽电子束时，如果扫描偏转的角度过小，会导致扫描盒的高度较高，扫描盒体积增加，重量大幅上升的问题；如果扫描偏转的角度过大，会导致边缘电子束在隔离膜上的损失过大，隔离膜上沉积的热量大，发热严重，寿命短。本实用新型在不增加扫描盒总高度的前提下，采用多个扫描磁铁依次沿一条直线排列，共同构成一个完整的一体式电子引出扫描盒，同时，通过调节相邻的被扫描展宽子束之间的中间挡块，能得到整体均匀性满足需要的超宽电子束。

Description

一种一体式电子引出扫描盒结构

技术领域

本实用新型涉及核技术应用领域，尤其是电子束辐照加工领域，具体为一种一体式电子引出扫描盒结构。

背景技术

电子束辐照技术是利用在高压电场中加速后的电子射线照射物质，通过高能电子与物质的相互作用来电离和激励各种物质的分子，从而引发化学反应，以改善材料的性能或生成新材料。目前，电子束辐照技术已广泛应用于高分子材料、半导体材料、无机材料和金属材料的改性和研发，以及杀菌、消毒等相关技术和产品的开发，并取得了较好的技术效果。而电子加速器作为电子束辐照技术的主要设备，对于其发展具有至关重要的作用。

电子加速器用于辐照加工时，一般需要将小尺寸截面的电子束扫描展宽成长条形带状束，然后对大尺寸材料进行辐照加工。通常情况下，扫描展宽的角度在15~30度之间，角度过小，扫描盒比较高，尺寸大；角度过大，边缘电子束经过引出窗膜时，电子束损失大，膜上沉积的能量大，发热严重，寿命短。对于超大尺寸的材料，需要电子束展宽范围大，扫描盒体积会变得很大，重量也重，对应的各种成本大幅度增加。

因此，迫切需要一种新的装置，以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的发明目的在于：针对采用现有电子加速器对大尺寸或超大尺寸材料进行辐照时，采用扫描方式将电子束展宽到大于被辐照材料的尺寸。展宽电子束时，如果扫描偏转的角度过小，会导致扫描盒的高度较高，扫描盒体积增加，重量大幅上升的问题；如果扫描偏转的角度过大，会导致边缘电子束在隔离膜上的损失过大，隔离膜上沉积的热量大，发热严重，寿命短。为此，本实用新型提供一种一体式电子引出扫描盒结构。在不增加扫描盒总高度的前提下，本实用新型通过对结构的改进，实现电子束大尺寸展宽。同时，通过调节相邻扫描磁铁之间的中间挡块，能得到整体均匀性满足需要的超宽电子束。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种一体式电子引出扫描盒结构，包括扫描盒、隔离膜、n个扫描磁铁、n-1个中间挡块，所述n为自然数，且n≥2，所述扫描盒沿竖直方向的剖面整体呈矩形或整体呈梯形，或沿竖直方向的剖面整体由n个梯形依次相连而成；

所述隔离膜设置在扫描盒下方，所述扫描磁铁依次设置在扫描盒上，扫描磁铁能对电子束进行扫描展宽；所述中间挡块位于相邻两个扫描磁铁之间。

所述扫描盒沿竖直方向的剖面整体由n个梯形依次相连而成时，呈一字型排列。

所述中间挡块设置在相邻两个扫描磁铁展宽的电子束重叠区域内。

还包括与中间挡块相配合的位置调节装置。通过位置调节装置能调节中间挡块与扫描磁铁之间的相对位置。

所述中间挡块内设置有冷却装置且冷却装置能及时带走电子束沉积的热量。

针对前述问题，本实用新型提供一种一体式电子引出扫描盒结构。现有结构设计中，增加电子束展宽范围，导致扫描盒高度增加，对安装空间要求增加。如果采用增大扫描角的方式，会导致边缘电子束的发散度增加，进而导致材料辐照剂量不均匀。同时，现有结构中，扫描盒的下端设置有一层隔离膜，当角度增加后，沉积在膜上的能量也就会增大，损失也更大，进而导致材料辐照剂量不均匀。本申请在提供一种电子引出扫描盒结构的同时，提供一种一体式电子引出扫描盒结构。与传统的扫描结构不同，该结构中，扫描盒沿竖直方向的剖面整体呈矩形或整体呈梯形，或沿竖直方向的剖面整体由n个梯形依次相连而成。同时，隔离膜设置在扫描盒下方且隔离膜与扫描盒内部构成一个真空***；扫描磁铁依次设置在扫描盒上，能对电子束进行扫描展宽；中间挡块位于相邻两个扫描磁铁之间。本申请中，基于电子束扫描的工作原理，将扫描盒设置成沿竖直方向的剖面整体呈矩形或整体呈梯形，或沿竖直方向的剖面整体由n个梯形依次相连而成；同时，将隔离膜与扫描盒内部构成一个真空***。采用该方式，有效突破了扫描盒宽度和高度的制约，同时，能有效满足电子加速器对大尺寸或超大尺寸材料辐照的需求，大幅降低扫描盒高度，有效减少对厂房高度的要求，具有较好的前景。

更具体地，当有n个扫描磁铁时，该结构包括扫描盒1、扫描盒2、……扫描盒n，扫描磁铁1、扫描磁铁2、……扫描磁铁n，隔离膜1、隔离膜2、……隔离膜n，并辅以电子束1、电子束2、……电子束n。电子束1、电子束2、……电子束n，分别在扫描盒1、扫描盒2、……扫描盒n中被扫描磁铁1、扫描磁铁2、……扫描磁铁n均匀展宽，并引出到空气中，对被辐照物进行辐照。而本申请在被辐照物表面相互交叉重叠区，依次设置中间挡块1、中间挡块2……中间挡块n-1，调节中间挡块1，中间挡块2……中间挡块n-1的位置，调整吸收交叉区域电子束的数量，从而在被辐照物表面形成均匀的照射，进而使被辐照物吸收剂量的均匀性满足要求。

进一步，扫描盒沿竖直方向的剖面整体由n个梯形依次相连而成时，呈一字型排列。采用该方式，有利于简化整体的结构，对于降低成本具有重要的意义。

进一步，中间挡块设置在相邻两个扫描磁铁的电子束重叠区域内。本申请中，通过调整中间挡块的上下左右位置，精细调节阻挡吸收的交叉区域电子束的数量，在被辐照物表面形成均匀的照射，使被辐照物吸收剂量的均匀性满足要求。

进一步，中间挡块内设置有冷却装置。电子束照射在中间挡块上时，中间挡块的温度会快速升高，为此，本申请设置相应的冷却装置，以实现对中间挡块的降温。

与现有技术相比，本申请基于电子束的辐照原理，突破扫描盒传统设计结构的缺陷，采用全新的扫描盒结构设计，有效解决了采用现有电子加速器对大尺寸或超大尺寸材料进行辐照时，若扫描展宽的角度过小，则会导致扫描盒的高度较高，扫描盒体积增加，重量大幅上升，而扫描展宽的角度过大，则会导致边缘电子束损失增大的问题。同时，本申请能够有效降低设备加工难度，降低生产成本，具有较好的工业应用价值。本实用新型构思巧妙，设计合理，结构简单，成本低，具有较好的应用前景和较高的应用价值。

附图说明

图1为本实用新型中的结构示意图一。

图2为图1的俯视图。

图3为扫描盒呈梯形的结构示意图。

图4为扫描盒呈矩形的结构示意图。

图中标记：1为扫描盒，2为扫描磁铁，3为中间挡块，4为隔离膜。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型作详细的说明。

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

实施例1

本实施例的一体式电子引出扫描盒结构包括扫描盒、隔离膜、n个扫描磁铁、n-1个中间挡块。本实施例中，扫描盒沿竖直方向的剖面整体由n个梯形依次相连而成，并呈一字型排列。n为自然数，且n≥2。隔离膜设置在扫描盒下方，扫描磁铁依次设置在扫描盒上，对电子束进行扫描展宽，中间挡块位于相邻两个扫描磁铁之间，且位于电子束重叠区域内。

作为优选，本实施例中，中间挡块内设置有冷却装置。

本实施例中，通过对结构的改进设计，使得新的结构有效突破了扫描盒宽度和高度的制约，同时，能有效满足电子加速器对大尺寸或超大尺寸材料辐照的需求，大幅降低扫描盒高度，有效减少对厂房高度的要求，具有较好的前景。

作为一种变形，如图3、图4所示，本实施例将扫描盒设置成沿竖直方向的剖面整体呈梯形或整体呈矩形。采用该方式，有利于简化扫描盒外形的加工要求，有效降低生产、制造成本。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种一体式电子引出扫描盒结构，其特征在于，包括扫描盒、隔离膜、n个扫描磁铁、n-1个中间挡块，所述n为自然数，且n≥2，所述扫描盒沿竖直方向的剖面整体呈矩形或整体呈梯形，或沿竖直方向的剖面整体由n个梯形依次相连而成；

所述隔离膜设置在扫描盒下方；所述扫描磁铁依次设置在扫描盒上，能对电子束进行扫描展宽；所述中间挡块位于相邻两个扫描磁铁之间。

2.根据权利要求1所述一体式电子引出扫描盒结构，其特征在于，所述扫描盒沿竖直方向的剖面整体由n个梯形依次相连而成时，呈一字型排列。

3.根据权利要求2所述一体式电子引出扫描盒结构，其特征在于，所述中间挡块设置在相邻两个扫描磁铁展宽的电子束重叠区域内。

4.根据权利要求1-3任一项所述一体式电子引出扫描盒结构，其特征在于，还包括与中间挡块相配合的位置调节装置。

5.根据权利要求1所述一体式电子引出扫描盒结构，其特征在于，所述中间挡块内设置有冷却装置且冷却装置能及时带走电子束沉积的热量。