CN207336573U - 一种用于屏功能测试的主板转接电路及测试装置 - Google Patents

一种用于屏功能测试的主板转接电路及测试装置 Download PDF

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杨志娟
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Abstract

本实用新型涉及测试技术领域,特别涉及一种用于屏功能测试的主板转接电路及测试装置。用于屏功能测试的主板转接电路包括:第一连接器、第二连接器、开关电路和选择信号生成电路;所述第一连接器的信号连接端与所述第二连接器的信号连接端一一对应连接;所述开关电路的输入端与所述第一连接器的电源端口电连接,所述开关电路的输出端与所述第二连接器的电源端口电连接,所述开关电路的选择端与所述选择信号生成电路的输出端连接;所述第一连接器用于与主板连接,所述第二连接器用于***待测试的屏。本实用新型在于提供用于屏功能测试的主板转接电路及测试装置,使得待测试的屏与主板连接时不会因为误触了电源端口影响了主板芯片的正常工作。

Description

一种用于屏功能测试的主板转接电路及测试装置
技术领域
本实用新型涉及测试技术领域,特别涉及一种用于屏功能测试的主板转接电路及测试装置。
背景技术
随着科学技术的进步和企业分工的日益细密,专门生产某一产品的公司在出厂前都要测试其产品,对于生产屏幕的厂家来说,在出厂前需对其屏幕的显示和触摸功能进行测试。
发明人发现现有技术中至少存在如下问题:在对单个屏进行验证时,需要完成屏的显示以及触摸功能的测试,以保证屏的功能能够实现。在做该项测试时,为了快速完成大批量的屏的测试工作,用于测试屏的主板一直处于带电工作的状态,即就是一块待测试的屏完成测试后直接与测试主板分离,再直接验证下一块的待测试屏,当待测试的屏与主板的连接器连接时,会因为屏的信号线端口误碰到主板上电源线的端口导致主板电源短路,从而使主板芯片不能正常工作,增加了生产成本,如果测试主板不是一直处于带电工作的状态,则测试所用的时间会增加,导致工作效率降低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于屏功能测试的主板转接电路及测试装置,用以使得待测试的屏与主板连接时,不会因为误触了电源端口影响主板芯片的正常工作。
为解决上述技术问题,本实用新型的实施方式提供了一种用于屏功能测试的主板转接电路,包括:第一连接器、第二连接器、开关电路和选择信号生成电路;
所述第一连接器的除电源端口之外的信号连接端与所述第二连接器的除电源端口之外的信号连接端一一对应连接;
所述开关电路的输入端与所述第一连接器的电源端口电连接,所述开关电路的输出端与所述第二连接器的电源端口电连接,所述开关电路的选择端与所述选择信号生成电路的输出端连接;
所述第一连接器用于与主板连接,所述第二连接器用于***待测试的屏;
所述选择信号生成电路在所述待测试的屏***所述第二连接器后,输出用于控制所述开关电路导通的第一控制信号;所述选择信号生成电路在所述待测试的屏拔出所述第二连接器后,输出用于控制所述开关电路关断的第二控制信号。
本发明的实施方式还提供了一种用于屏功能测试的测试装置,包括本实用新型实施例所提供的用于屏功能测试的主板转接电路,还包括主板;
所述主板转接电路的第一连接器与所述主板连接。
本实用新型实施方式相对于现有技术而言,第一连接器用于与主板连接,以保证主板带电工作,以免影响工作效率,设置了开关电路主要是保证第二连接器在与待测试的屏连接的过程中不带电,并保证屏正确***第二连接器后接入电源。该实施方式有效避免了待测试屏***连接器的过程中信号端误触电源端影响主板芯片的问题,且主板电路一直处于带电工作状态,通过选择信号生成电路有效控制开关电路的导通和关断,保护了主板芯片,且保证主板芯片能正常工作且不影响工作效率,电路结构简单,易于应用。
另外,在该用于屏功能测试的主板转接电路中,所述选择信号生成电路包括:电阻元件和开关元件;
所述开关电路的选择端分别与所述电阻元件的第一连接端和所述开关元件的第一连接端连接,所述开关元件的第二连接端与所述开关电路的任一路电源输出端口连接,所述电阻元件的第二连接端接地;其中,所述开关电路中、与所述开关元件第二连接端连接开关电路的电源输出端,连接于所述第一连接器的电源端。
该实施方式中,选择信号生成电路主要是控制第二连接器的电源信号,保证第二连接器正确连接了待测试的屏之后,选择信号生成电路输出用于开关电路导通的第一控制信号,第二连接器接入电源信号,在屏从第二连接器拔出后,选择信号生成电路输出用于开关电路关断的第二控制信号,开关电路关断,能够有效避免待测试的屏的信号端误触电源端而损坏主板芯片的问题,通过设置开关元件能有效控制电源信号,同时电阻元件与开关电路的选择端连接能有效保护开关电路,避免电路中电流过大损坏开关元件。
另外,在该用于屏功能测试的主板转接电路中,所述第一连接器包括至少一路的电源端口,所述第二连接器包括至少一路的电源端口;其中,所述第一连接器的电源端口数量不少于所述第二连接器的电源端口数量。该实施方式中,待测试的屏与第二连接器连接,不同规格的待测试的屏所包括的电源端口的数量也可能不同,在第二连接器设置多个电源端口以适应不同规格的待测试的屏,保证待测试的屏能正确连接到第二连接器,并能通过该主板转接电路连接到主板进行正常的测试工作。
另外,在该用于屏功能测试的主板转接电路中,所述待测试的屏正确***所述第二连接器后,所述开关元件闭合,所述开关电路的选择端输入高电平信号,所述开关电路导通;
所述待测试的屏拔出所述第二连接器后,所述开关元件关断,所述开关电路的选择端输入低电平,所述开关电路断开。
另外,在该用于屏功能测试的主板转接电路中,所述开关电路包括多路开关;每一路所述开关的控制端均与所述开关电路的选择端连接;任意一路所述多路开关控制所述开关电路的一路相对应的输入端和输出端的通断;
当所述开关电路的选择端为高电平则所述多路开关闭合,当所述开关电路的选择端为低电平则所述多路开关关断。
该实施方式中,待测试的屏有不止一端的电源端口,则每个电源端口均连接到主板,需配合第一连接器和第二连接器的电源端口数量,则开关电路有不止一路的开关,能保证待测试的屏的电源端口均能准确接入该测试主板转接电路中。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明,这些示例性说明并不构成对实施例的限定,附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件,除非有特别申明,附图中的图不构成比例限制。
图1是本实用新型中第一实施方式中用于屏功能测试的主板转接电路;
图2a是本实用新型中第一实施方式中开关电路的具体实施电路图;
图2b是本实用新型中第一实施方式中一个具体的开关电路连接图;
图3是本实用新型中第一实施方式中一个具体的开关电路连接图;
图4是本实用新型中第一实施方式中一个具体的开关电路连接图;
图5是本实用新型中第二实施方式中用于屏功能测试的主板转接电路;
图6是本实用新型中第三实施方式中用于屏功能测试的测试装置。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型的各实施方式进行详细的阐述。然而,本领域的普通技术人员可以理解,在本实用新型各实施方式中,为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是,即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改,也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。
本实用新型的第一实施方式涉及一种用于屏功能测试的主板转接电路。如图1所示,包括:第一连接器101、第二连接器102、开关电路103(图中SEL表示开关电路的选择端)和选择信号生成电路104。需要说明的是,图1中所示的开关电路的输入端的数量和输出端的数量仅是示意,并不表示开关电路的输入端的具体数量为3个,也不表示输出端的具体数量为3个,开关电路的输入端的数量可以为任意数,输入端与输出端的数量相同。
其中,第一连接器101的除电源端口之外的信号连接端与第二连接器102的除电源端口之外的信号连接端一一对应连接;开关电路103的输入端与第一连接器的电源端口电连接,开关电路103的输出端与第二连接器102的电源端口电连接,开关电路103的选择端与选择信号生成电路104的输出端连接;第一连接器101用于与主板连接,第二连接器102用于***待测试的屏;选择信号生成电路104在待测试的屏***第二连接器102后,输出用于控制所述开关电路103导通的第一控制信号;选择信号生成电路104在待测试的屏拔出所述第二连接器102后,输出用于控制开关电路103关断的第二控制信号。
具体的,第一连接器101包括至少一路的电源端口,第二连接器102包括至少一路的电源端口;其中,第一连接器101的电源端口数量不少于第二连接器102的电源端口数量。在一个具体的实现中,第一连接器101与主板连接,第二连接器102与待测试的屏连接,待测试的屏有不止一路的电源端口,则第一连接器101和第二连接器102都有不止一路的电源端口,才能配合待测试的屏的电源端口数量对屏进行测试。
具体的,开关电路103的输入端包括至少一路的电源输入端,开关电路103的输出端包括至少一路的电源输出端;其中,开关电路103的电源输出端口数量不少于第二连接器102的电源端口数量。在一个具体实现中,保证待测试的屏的电源端均能准确接入电路中,则在开关电路103的电源输出端设置端口数量不少于第二连接器102的电源端口数量。
相对于现有技术而言,本实施方式中,第一连接器连接于主板上,第二连接器用于与待测试的屏连接,当待测试的屏正确***第二连接器后选择信号生成电路输出第一控制信号,开关电路根据第一控制信号进入导通状态。将待测试的屏***第二连接器的过程中,开关电路处于关断状态,若待测试的屏信号端误触了电源端不会影响主板芯片的正常工作,在实际中,为了保证工作效率,主板一直处于带电工作的状态中,从而避免了不断的关断和导通主板电路影响工作效率的问题。本实施方式中,设置开关电路不会影响主板的带电工作状态,选择信号生成电路控制开关电路的导通和关断,即避免了不断的导通和关断主板电路影响测试工作的问题,也避免了待测试的屏在***第二连接器时的误触导致的主板芯片损坏的问题,且本实施方式电路结构简单,易于应用。
基于第一实施方式的一个具体实现中,开关电路103包括多路开关;每一路开关的控制端均与开关电路103的选择端连接;任意一路多路开关控制开关电路103的一路相对应的输入端和输出端的通断;当开关电路103的选择端为高电平则多路开关闭合,当开关电路103的选择端为低电平则多路开关关断。
具体的,开关电路103为模拟开关电路或数字开关电路,则开关元件为三极管、门电路等;
在一个具体的实现中,开关电路103为多路的模拟开关电路,开关元件为二极管、三极管、场效应管等,如图2a所示,图中开关元件为模拟开关物理元件,可以为二极管、三极管或场效应管,在一个实现中,以场效应管为例,如图2b所示,连接关系中栅极和源极之间加正相电压,选择信号生成电路的高电平信号输入开关电路中,则开关元件导通,第一连接器和第二连接器之间连接导通。此处仅为举例说明,实际中不限于本实施例中的模拟开关元件。
在一个具体的实现中,开关电路103为数字开关电路,如图3所示,开关元件为与门开关元件,当选择信号生成电路发出高电平的控制信号时,则与门处于导通状态,此处仅为举例说明,实际中不限于与门作为数字开关电路的开关元件,只要是符合条件的数字开关元件均可作为开关元件应用于电路中。
在一个具体的实现中,开关元件为单刀单掷开关元件,如图4中,控制信号作用于各开关元件,控制其导通和关断,图中仅为示意说明具体的连接关系以实际为准。此处仅为举例说明,实际中不限于此开关元件。
本实用新型的第二实施方式涉及一种用于屏功能测试的主板转接电路。第二实施方式与第一实施方式大致相同,主要区别之处在于:在第一实施方式中,选择信号生成电路104以电路模块的形式表示。而在本实用新型第二实施方式中,给出了一种具体的选择信号生成电路104。此外,本领域技术人员可以理解,选择信号生成电路104的功能。
该实施方式电路连接如图5所示,包括:第一连接器101、第二连接器102、开关电路103且各电路器件的连接关系不变,其中,选择信号生成电路104包括:电阻元件R和开关元件S1;
开关电路103的选择端SEL(图中SEL表示开关电路的选择端)分别与电阻元件R的第一连接端和开关元件S1的第一连接端连接,开关元件S1的第二连接端与开关电路103的任一路电源输出端口连接,电阻元件R的第二连接端接地;
其中,开关电路103中、与开关元件S1第二连接端连接的为开关电路103的电源输出端,开关元件S1第二连接端连接于第一连接器101的电源端。
具体的,在如图5中的连接的电路中,当待测试的屏正确***到第二连接器后,闭合开关元件S1,选择信号生成电路输出高电平,开关电路103导通,可对待测试的屏进行功能测试;当待测试的屏没有连接到第二连接器时,断开开关元件S1,选择信号生成电路输出低电平,开关电路103关断,此时不进行测试工作。
在一个具体的实施方式中,开关元件S1包括手动开关元件或自动开关元件。具体的,手动开关可以是单刀单掷的开关元件,自动开关元件为二极管等可根据高低电平的变化控制导通和关断的元件。此处仅为举例说明,不限于上述实施方式提到的开关元件。
本实用新型第三实施方式涉及一种用于屏功能测试的测试装置,如图6所示,包含:上述实施方式提到的用于屏功能测试的主板转接电路601和主板602。
其中,主板转接电路的第一连接器与主板连接。
在一个具体的实施方式中,第一连接器101与主板602上的连接器相同,第二连接器102与待测试的屏上的连接器相同,用于***测试主板,在进行屏功能的测试时,选择信号生成电路输出高电平,开关电路闭合,屏可进行正常的测试,该实施方式中,在屏未正确连接到测试主板时,开关电路处于关断状态,第二连接器的电源端口上不带电,避免了待测试屏的信号端误触测试主板电源端发生的芯片损坏问题,满足设计要求。
本实施方式为与第一或第二实施方式相对应的***实施例,本实施方式可与第一或第二实施方式互相配合实施。第一或第二实施方式中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效,为了减少重复,这里不再赘述。相应地,本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第一或第二实施方式中。
本领域的普通技术人员可以理解,上述各实施方式是实现本实用新型的具体实施例,而在实际应用中,可以在形式上和细节上对其作各种改变,而不偏离本实用新型的精神和范围。

Claims (8)

1.一种用于屏功能测试的主板转接电路,其特征在于,包括:第一连接器、第二连接器、开关电路和选择信号生成电路;
所述第一连接器的除电源端口之外的信号连接端与所述第二连接器的除电源端口之外的信号连接端一一对应连接;
所述开关电路的输入端与所述第一连接器的电源端口电连接,所述开关电路的输出端与所述第二连接器的电源端口电连接,所述开关电路的选择端与所述选择信号生成电路的输出端连接;
所述第一连接器用于与主板连接,所述第二连接器用于***待测试的屏;
所述选择信号生成电路在所述待测试的屏***所述第二连接器后,输出用于控制所述开关电路导通的第一控制信号;所述选择信号生成电路在所述待测试的屏拔出所述第二连接器后,输出用于控制所述开关电路关断的第二控制信号。
2.根据权利要求1所述的用于屏功能测试的主板转接电路,其特征在于,所述选择信号生成电路包括:电阻元件和开关元件;
所述开关电路的选择端分别与所述电阻元件的第一连接端和所述开关元件的第一连接端连接,所述开关元件的第二连接端与所述开关电路的任一路电源输出端口连接,所述电阻元件的第二连接端接地;
其中,所述开关电路中、与所述开关元件第二连接端连接开关电路的电源输出端,连接于所述第一连接器的电源端。
3.根据权利要求1所述的用于屏功能测试的主板转接电路,其特征在于,所述第一连接器包括至少一路的电源端口,所述第二连接器包括至少一路的电源端口;
其中,所述第一连接器的电源端口数量不少于所述第二连接器的电源端口数量。
4.根据权利要求2所述的用于屏功能测试的主板转接电路,其特征在于,所述待测试的屏正确***所述第二连接器后,所述开关元件闭合,所述开关电路的选择端输入高电平信号,所述开关电路导通;
所述待测试的屏拔出所述第二连接器后,所述开关元件关断,所述开关电路的选择端输入低电平,所述开关电路断开。
5.根据权利要求1至4任一项所述的用于屏功能测试的主板转接电路,其特征在于,所述开关电路的输入端包括至少一路的电源输入端,所述开关电路的输出端包括至少一路的电源输出端;
其中,所述开关电路的电源输出端口数量不少于所述第二连接器的电源端口数量。
6.根据权利要求5所述的用于屏功能测试的主板转接电路,其特征在于,所述开关电路包括多路开关;
每一路所述开关的控制端均与所述开关电路的选择端连接;
任意一路所述多路开关控制所述开关电路的一路相对应的输入端和输出端的通断;
当所述开关电路的选择端为高电平则所述多路开关闭合,当所述开关电路的选择端为低电平则所述多路开关关断。
7.根据权利要求1所述的用于屏功能测试的主板转接电路,其特征在于,所述开关元件包括手动开关元件或自动开关元件。
8.一种用于屏功能测试的测试装置,其特征在于,包括权利要求1至7所述的用于屏功能测试的主板转接电路,还包括主板;
所述主板转接电路的第一连接器与所述主板连接。
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