CN207148277U - 光耦ctr测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种光耦CTR测试装置，包括：第一可调电压源、第二可调电压源、第一电压表、第二电压表、第三电压表、第一电阻、第二电阻。第一可调电压源与第一电阻串联形成第一串联结构，第一串联结构用于与光耦的输入端连接。第二可调电压源与第二电阻串联形成第二串联结构，第二串联结构用于与光耦的输出端连接。第一电压表跨接于第一电阻两端。第二电压表跨接于第二电阻两端。第三电压表用于与光耦的输出端连接。本实用新型的光耦CTR测试装置可以达到较高的精度，并且成本较现有技术大幅降低。
Description
技术领域
本实用新型涉及光耦CTR(Current Transfer Ratio，电流传输比)测试领域，特别涉及一种光耦CTR测试装置。
背景技术
随着电子产品的快速发展普及，客户对产品质量期望值越来越高，生产厂家也针对物料来料开始执行更专业的测试手段以保障产品质量。针对光耦物料，电流传输比CTR值是重要的参数指标。电流传输比CTR为光耦的输出电流IC与输入电流IF的比值，即，CTR＝IC/IF。现有技术中，通常采用专业测试设备检测光耦的CTR，但该设备成本很高。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术中，检测光耦CTR的专业设备的成本高的缺陷，提供一种低成本的、简单易行的光耦CTR测试装置。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题：一种光耦CTR测试装置，所述光耦CTR测试装置包括：第一可调电压源、第二可调电压源、第一电压表、第二电压表、第三电压表、第一电阻、第二电阻；
所述第一可调电压源与所述第一电阻串联形成第一串联结构，所述第一串联结构用于与光耦的输入端连接；
所述第二可调电压源与所述第二电阻串联形成第二串联结构，所述第二串联结构用于与所述光耦的输出端连接；
所述第一电压表跨接于所述第一电阻两端，用于测量所述第一电阻两端的电压；
所述第二电压表跨接于所述第二电阻两端，用于测量所述第二电阻两端的电压；
所述第三电压表用于与所述光耦的输出端连接。
较佳地，所述光耦CTR测试装置还包含固定板，所述第一可调电压源、第二可调电压源、第一电压表、第二电压表、第三电压表、第一电阻、第二电阻均安装于所述固定板上。
较佳地，所述光耦CTR测试装置还包含光耦连接器卡槽，用于固定所述光耦，所述光耦连接器卡槽包含一对输入引脚、一对输出引脚，所述一对输入引脚与所述第一串联结构电连接，所述一对输出引脚与所述第二串联结构电连接，当所述光耦固定于所述光耦连接器卡槽时，所述光耦的输入端与所述一对输入引脚电连接，所述光耦的输出端与所述一对输出引脚电连接。
较佳地，所述第一电阻和第二电阻的精度为1％。
较佳地，所述第一电阻的电阻值为200Ω，所述第二电阻的电阻值为100Ω。
较佳地，所述第一电阻和第二电阻均为可调电阻。
本实用新型的积极进步效果在于：本实用新型的光耦CTR测试装置可以达到较高的精度，并且成本较现有技术大幅降低。
附图说明
图1为本实用新型一较佳实施例的光耦CTR测试装置的示意图。
具体实施方式
下面举一较佳实施例，并结合附图来更清楚完整地说明本实用新型。
本实施例的光耦CTR测试装置，如图1所示，包含第一可调电压源Vin、第二可调电压源Vout、第一电压表V1、第二电压表V2、第三电压表V3、第一电阻R1、第二电阻R2。
第一可调电压源Vin与第一电阻R1串联形成第一串联结构，该第一串联结构用于与光耦OC的输入端连接。具体地，在测试光耦OC的CTR的过程中，如图1所示，第一可调电压源Vin的正极与第一电阻R1的一端连接，第一可调电压源Vin的负极与光耦OC的阴极Cat连接，第一电阻R1的另一端与光耦OC的阳极A连接。当然，本领域技术人员能够理解，第一可调电压源Vin与第一电阻R1的串联方式，并不仅限于图1所示。
第二可调电压源Vout与第二电阻R2串联形成第二串联结构，该第二串联结构与光耦OC的输出端连接。具体地，在测试光耦OC的CTR的过程中，如图1所示，第二可调电压源Vout的正极与第二电阻R2的一端连接，第二可调电压源Vout的负极与光耦OC的发射极E连接，第二电阻R2的另一端与光耦OC的集电极Col连接。当然，本领域技术人员能够理解，第二可调电压源Vout与第二电阻R2的串联方式，并不仅限于图1所示。
第一电压表V1跨接于第一电阻R1两端，用于测量第一电阻R1两端的电压。第二电压表V2跨接于第二电阻R2两端，用于测量第二电阻R2两端的电压。第三电压表V3用于与光耦的输出端连接。具体地，在测试光耦OC的CTR的过程中，第三电压表V3的一端(正极)与光耦OC的集电极Col连接，另一端(负极)与光耦OC的发射极E连接，用于测量集电极Col与发射极E之间的电压。
较佳地，本实施例的光耦CTR测试装置还包含固定板，第一可调电压源Vin、第二可调电压源Vout、第一电压表V1、第二电压表V2、第三电压表V3、第一电阻R1、第二电阻R2均安装于该固定板上。所有部件安装于固定板上，提高了该光耦CTR测试装置的便携性，使用方便。
进一步地，本实施例的光耦CTR测试装置还包含光耦连接器卡槽，用于固定光耦OC，光耦连接器卡槽包含一对输入引脚、一对输出引脚，所述一对输入引脚与所述第一串联结构电连接，所述一对输出引脚与所述第二串联结构电连接，当光耦OC固定于所述光耦连接器卡槽时，光耦OC的输入端与所述一对输入引脚电连接，光耦OC的输出端与所述一对输出引脚电连接。光耦OC可以方便地在光耦连接器卡槽上***和拔出，便于在对不同的光耦器件进行测试时，进行光耦器件的更换，提高测试效率。
作为一种较佳的实施例，为提高测试精度，第一电阻R1、第二电阻R2均选用精度为1％的电阻元件。
在测试过程中，为有效控制测试电路中的电流在合理的电流范围内，防止光耦OC等元件、器件因电流过大而烧毁，第一电阻R1的电阻值为200Ω，第二电阻R2的电阻值为100Ω。
为了提高本实施例的光耦CTR测试装置的灵活性和适用性，第一电阻R1、第二电阻R2均选用可调电阻。
使用本实施例的光耦CTR测试装置测试光耦的CTR的过程如下：将待测光耦与本实施例的光耦CTR测试装置连接，例如，将待测光耦按照正确的方向***光耦连接器卡槽，因为光耦连接器卡槽的对应引脚(一对输入引脚、一对输出引脚)已经分别与第一串联结构、第二串联结构的对应端连接，所以，当待测光耦按照正确的方向***光耦连接器卡槽，即与本实施例的光耦CTR测试装置形成如图1所示的正确的测试电路。
开启第一可调电压源Vin和第一电压表V1，调节第一可调电压源Vin的输出电压值，同时观察第一电压表V1显示的第一电阻R1两端的电压值U1。当电压值U1等于IF*R1时，停止调节第一可调电压源Vin，并保持。其中IF为光耦OC的输入电流值，该输入电流值IF可参照光耦OC的厂家规格书获得。
然后，开启第二可调电压源Vout和第三电压表V3。调节第二可调电压源Vout的输出电压值，同时观察第三电压表V3检测的光耦OC的集电极Col与发射极E之间的电压值U3。当电压值U3等于额定电压VCE时，停止调节第一可调电压源Vout，并保持。其中额定电压VCE可参照光耦OC的厂家规格书获得。
然后，记录第二电压表V2此时显示的第二电阻R2两端的电压值U2。根据公式I2＝U2/R2计算此时流经第二电阻R2的电流值I2，该电流值I2即为光耦OC的输出电流IC。
最后，根据公式CTR＝IC/IF即可计算出光耦OC的电流传输比CTR值，并据此对光耦OC的质量作出评估。
在测试光耦OC的CTR的过程中，在调节电压值U1至IF*R1的过程中，可以采用如上述调节第一可调电压源Vin的方式。当第一电阻R1为可调电阻时，也可以采用固定第一可调电压源Vin的输出电压，而调节第一电阻R1的电阻值的方式。类似地，调节电压值U3至额定电压VCE的过程，可以采用固定第二可调电压源Vout的输出电压值，而调节第二电阻R2(第二电阻R2为可调电阻时)的电阻值的方式。因此，提高了本实施例的光耦CTR测试装置的灵活性和适用性。
综上所述，本实用新型的光耦CTR测试装置可以达到较高的精度，并且成本较现有技术大幅降低。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这些仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
Claims (6)
1.一种光耦CTR测试装置，其特征在于，所述光耦CTR测试装置包括：第一可调电压源、第二可调电压源、第一电压表、第二电压表、第三电压表、第一电阻、第二电阻；
所述第一可调电压源与所述第一电阻串联形成第一串联结构，所述第一串联结构用于与光耦的输入端连接；
所述第二可调电压源与所述第二电阻串联形成第二串联结构，所述第二串联结构用于与所述光耦的输出端连接；
所述第一电压表跨接于所述第一电阻两端，用于测量所述第一电阻两端的电压；
所述第二电压表跨接于所述第二电阻两端，用于测量所述第二电阻两端的电压；
所述第三电压表用于与所述光耦的输出端连接。
2.如权利要求1所述的光耦CTR测试装置，其特征在于，所述光耦CTR测试装置还包含固定板，所述第一可调电压源、第二可调电压源、第一电压表、第二电压表、第三电压表、第一电阻、第二电阻均安装于所述固定板上。
3.如权利要求1或2所述的光耦CTR测试装置，其特征在于，所述光耦CTR测试装置还包含光耦连接器卡槽，用于固定所述光耦，所述光耦连接器卡槽包含一对输入引脚、一对输出引脚，所述一对输入引脚与所述第一串联结构电连接，所述一对输出引脚与所述第二串联结构电连接，当所述光耦固定于所述光耦连接器卡槽时，所述光耦的输入端与所述一对输入引脚电连接，所述光耦的输出端与所述一对输出引脚电连接。
4.如权利要求1所述的光耦CTR测试装置，其特征在于，所述第一电阻和第二电阻的精度为1％。
5.如权利要求1所述的光耦CTR测试装置，其特征在于，所述第一电阻的电阻值为200Ω，所述第二电阻的电阻值为100Ω。
6.如权利要求1所述的光耦CTR测试装置，其特征在于，所述第一电阻和第二电阻均为可调电阻。
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| CN201721166701.8U CN207148277U (zh) | 2017-09-12 | 2017-09-12 | 光耦ctr测试装置 |
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| CN201721166701.8U CN207148277U (zh) | 2017-09-12 | 2017-09-12 | 光耦ctr测试装置 |
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| CN207148277U true CN207148277U (zh) | 2018-03-27 |
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN207148277U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113064043A (zh) * | 2021-03-26 | 2021-07-02 | 深圳群芯微电子有限责任公司 | 一种光耦测试方法及*** |
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2017
- 2017-09-12 CN CN201721166701.8U patent/CN207148277U/zh active Active
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