CN206905698U - 一种一体机芯光轴校正的装置 - Google Patents

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郜向阳
宋爱萍
丘江
邓涛
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Abstract

一种一体机芯光轴校正的装置,其包括:图像采集模块、成像控制模块(107);图像采集模块包括:变焦镜片组(102)、聚焦镜片组(103)与图像传感器(104);物体(101)经过变焦镜片组(102)、聚焦镜片组(103)后成像在图像传感器(104)上;成像控制模块(107)包括:第一电机(105),第二电机(106),第一电机(105)驱动变焦镜片组(102)沿光轴移动,第二电机(106)驱动聚焦镜片组(103)沿光轴移动,从而根据光轴校正专用CHART图来获得TELE端参考点图像IMAGET、WIDE端参考点图像IMAGEW

Description

一种一体机芯光轴校正的装置
技术领域
本实用新型涉及一体机芯成像领域,涉及一种应用在一体机芯上的光轴校正的装置,应用这种装置可以校正一体机芯的光轴偏移。
背景技术
随着数字图像处理技术、图像压缩编码技术、网络通信技术、数据存储技术的快速发展,高集成度的图像传感器在图像视频领域得到广泛应用,高清晰度图像的传输和存储成为可能,人们对远距离、长时间事件监控记录应用的需求逐渐增加,网络摄像机,尤其是集成度高可进行广角到远望模式光学变倍的一体机芯的应用得到空前的发展。近年来,以一体机芯为核心的带有大变焦镜头的一体化高清监控摄像机在智能交通、平安城市、平安校园等领域得到广泛应用。
由于制造精度影响以及光学特性差异,一体机芯从WIDE端变倍到TELE端或者从TELE端变倍到WIDE端,在WIDE端所看到的图像中心位置处所对应的目标所处的实际场景位置与在TELE端所看到的图像中心位置处所对应的目标所处的实际场景位置总有偏差,这种偏差称为一体机芯光轴偏移。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种应用在一体机芯上的光轴校正的装置,应用这种装置可以精确校正出一体机芯从 TELE端(望远端)到WIDE端(广角端)的光轴偏移。
解决上述问题的技术方案是:这种一体机芯光轴校正的装置,其包括: 图像采集模块、成像控制模块(107);
图像采集模块包括:变焦镜片组(102)、聚焦镜片组(103)与图像传感器(104);物体(101)经过变焦镜片组(102)、聚焦镜片组(103) 后成像在图像传感器(104)上;
成像控制模块(107)包括:第一电机(105),第二电机(106),第一电机(105)驱动变焦镜片组(102)沿光轴移动,第二电机(106)驱动聚焦镜片组(103)沿光轴移动,从而根据光轴校正专用CHART图来获得TELE 端参考点图像IMAGET、WIDE端参考点图像IMAGEW
本装置环境设定简单易操作,计算量小,并且具有鲁棒性,可自动完成一体机芯光轴偏移的校正,极大的提高了光轴校正的速度和效率。
附图说明
为了更清楚的说明本申请实例中或现有技术中的技术方案,下面对本申请实例说明描述所需要的附图作简单的介绍。
图1为一体机芯内部结构示意图;
图2为一体机芯光轴校正环境简图。
具体实施方式
如图1所示,这种一体机芯光轴校正的装置,其包括:图像采集模块、成像控制模块(107);
图像采集模块包括:变焦镜片组(102)、聚焦镜片组(103)与图像传感器(104);物体(101)经过变焦镜片组(102)、聚焦镜片组(103) 后成像在图像传感器(104)上;
成像控制模块(107)包括:第一电机(105),第二电机(106),第一电机(105)驱动变焦镜片组(102)沿光轴移动,第二电机(106)驱动聚焦镜片组(103)沿光轴移动,从而根据光轴校正专用CHART图来获得TELE 端参考点图像IMAGET、WIDE端参考点图像IMAGEW
本装置通过第一电机(105)驱动变焦镜片组(102)沿光轴移动,第二电机(106)驱动聚焦镜片组(103)沿光轴移动,从而根据光轴校正专用 CHART图来获得TELE端参考点图像IMAGET、WIDE端参考点图像IMAGEW。环境设定简单易操作,计算量小,并且具有鲁棒性,可自动完成一体机芯光轴偏移的校正,极大的提高了光轴校正的速度和效率。
优选地,如图2所示,所述光轴校正专用CHART图,在与一体机芯摄像机镜头距离为D的位置处垂直于一体机芯镜头光轴设置,光轴校正专用CHART图包含两个特征点Pa和Pb;Pa和Pb为黑色实心圆盘,圆盘直径为光轴校正专用 CHART图长度的1/m,假设光轴校正专用CHART图的中心坐标为(0,0),Pa位于第一象限,Pb位于第三象限。光轴校正专用CHART图用来搭建校正环境。
优选地,所述镜头与摄像机的距离D通过将一体机芯的焦距调整到TELE 端,根据一体机芯所获取的图像来调整距离D。
优选地,所述TELE端为一体机芯镜头焦距最大时变焦镜片组(102)所对应的控制电机(105)所在的坐标位置。
优选地,所述WIDE端为一体机芯镜头焦距最小时变焦镜片组(102)所对应的控制电机(105)所在的坐标位置。
优选地,所述一体机芯光轴校正装置还包括图像处理模块,其配置来将 TELE端参考图像IMAGET和WIDE端参考图像IMAGEW进行处理,获取这两幅参考图像中参考特征点的坐标,并计算得出一体机芯光轴偏移坐标(Δx,Δy)。光轴校正专用CHART图用来搭建校正环境。
为了使本技术领域的人员更好的理解本实用新型,下面结合附图对本实用新型实施实例中的技术方案做进一步的说明。
搭建并配置校正环境,在与所述摄像机距离为D的位置处垂直于摄像机光轴设置光轴校正专用CHART图,图2为一体机芯光轴校正环境的简图。
光轴校正专用CHART图包含两个特征点Pa和Pb。假设光轴校正专用CHART 图的中心坐标为(0,0),Pa位于第一象限,Pb位于第三象限。Pa和Pb为黑色实心圆盘,圆盘直径为光轴校正专用CHART图长度的1/m。本实施例中,m取值为6。
如图2所示的一体机芯光轴校正环境中,所述一体机芯镜头与设置光轴校正专用CHART图的距离为D。其中D需要根据一体机芯在望远(TELE)端的实际焦距进行选择,选择的标准是,将一体机芯的焦距调整到TELE端,一体机芯所获取的图像的中心IC与光轴校正专用CHART的中心CC重合,同时需满足所述两个特征点Pa和Pb完全在一体机芯所获取的图像中,并且尽量大。本实例中,一体机芯在TELE端的焦距是152mm,D的距离选择为3.5m。
获取特征点坐标值,包括如下步骤:
移动所述变焦镜片组(102)至第一位置,所述第一位置为镜头焦距最大时变焦镜片组所对应的控制电机所在的坐标位置,即一体机芯的TELE端。标记变焦镜片组此时的坐标位置为ZT。本实例中,即为一体机芯镜头焦距为 152mm处。移动聚焦镜片组(103)至使得图像清晰度最高的位置处,标记聚焦镜片组此时的坐标位置为FT。抓取此时一体机芯所获取的图像IMAGET
移动所述变焦镜片组(102)至第二位置,所述第二位置为镜头焦距最小时变焦镜片组所对应的控制电机所在的坐标位置,即一体机芯的WIDE端。标记变焦镜片组此时的坐标位置为ZW。本实例中,即为一体机芯镜头焦距为 4.6mm处。移动聚焦镜片组(103)至使得图像清晰度最高的位置处,标记聚焦镜片组此时的坐标位置为FW。抓取此时一体机芯所获取的图像IMAGEW
以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例,并非对本实用新型作任何形式上的限制。本领域的普通技术人员应该理解,凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属本实用新型技术方案的保护范围。

Claims (6)

1.一种一体机芯光轴校正的装置,其特征在于:其包括:图像采集模块、成像控制模块(107);
图像采集模块包括:变焦镜片组(102)、聚焦镜片组(103)与图像传感器(104);物体(101)经过变焦镜片组(102)、聚焦镜片组(103)后成像在图像传感器(104)上;
成像控制模块(107)包括:第一电机(105),第二电机(106),第一电机(105)驱动变焦镜片组(102)沿光轴移动,第二电机(106)驱动聚焦镜片组(103)沿光轴移动,从而根据光轴校正专用CHART图来获得TELE端参考点图像IMAGET、WIDE端参考点图像IMAGEW
2.根据权利要求1所述的一体机芯光轴校正的装置,其还包括:所述光轴校正专用CHART图,在与一体机芯摄像机镜头距离为D的位置处垂直于一体机芯镜头光轴设置,光轴校正专用CHART图包含两个特征点Pa和Pb;Pa和Pb为黑色实心圆盘,圆盘直径为光轴校正专用CHART图长度的1/m,假设光轴校正专用CHART图的中心坐标为(0,0),Pa位于第一象限,Pb位于第三象限。
3.根据权利要求2所述的一体机芯光轴校正的装置,其特征在于:所述镜头与摄像机的距离D通过将一体机芯的焦距调整到TELE端,根据一体机芯所获取的图像来调整距离D。
4.根据权利要求3所述的一体机芯光轴校正的装置,其特征在于:所述TELE端为一体机芯镜头焦距最大时变焦镜片组(102)所对应的控制电机(105)所在的坐标位置。
5.根据权利要求4所述的一体机芯光轴校正的装置,其特征在于:所述WIDE端为一体机芯镜头焦距最小时变焦镜片组(102)所对应的控制电机(105)所在的坐标位置。
6.根据权利要求5所述的一体机芯光轴校正的装置,其特征在于:所述一体机芯光轴校正装置还包括图像处理模块,其配置来将TELE端参考图像IMAGET和WIDE端参考图像IMAGEW进行处理,获取这两幅参考图像中参考特征点的坐标,并计算得出一体机芯光轴偏移坐标(Δx,Δy)。
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