CN206248105U - 用于爆轰实验的新型铜箔电探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于爆轰实验的新型铜箔电探针,它从下至上依次包括基材、铜箔和保护膜;所述铜箔与基材之间用透明胶粘接,基材上以基材中心线为轴左右对称设有两个铜箔,两个铜箔的外侧均设有镀锡的焊盘,铜箔之间的极间距离为0.2~0.3mm;所述保护膜设在铜箔上方并漏出焊盘,保护膜与铜箔之间通过透明胶粘接;所述基材的长度大于两个铜箔的长度与极间距离的总和,所述基材的宽度大于铜箔的宽度。本实用新型的用于爆轰实验的新型铜箔电探针在爆轰实验中作为独立成品可直接使用,使用便捷;并且其铜箔电探针不易磨损、铜箔的极间距离精度较高、铜箔探针抗干扰能力强。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子学测试领域,具体涉及一种用于爆轰实验的新型铜箔电探针。
背景技术
利用电探针测量爆轰波阵面、冲击波阵面或运动物体表面到达预定位置的时间,是爆轰实验中常用的测试手段之一。
在爆轰实验中使用的传统铜箔探针需要采取手工制作的方式生产,制作流程比较繁杂,手工制作不确定因素多:如操作不好对探针底部造成磨损;电极间距离太近空气击穿会造成漏电或前端放电;铜箔裁剪不均端面有毛刺、绝缘胶纸不均匀强度不够会造成提前导通;导线焊点屏蔽不好起爆高压会产生干扰信号,从而导致不能完整获得可靠实验数据。
本发明目的就是为了解决手工制作及绝缘胶纸带来的弊端,采用柔性电路板技术(这里的柔性电路板技术是否是指铜箔电探针的制备技术,针对爆轰实验设计一种使用便捷、测试可靠性高的新型铜箔电探针。
实用新型内容
[要解决的技术问题]
本实用新型的目的是解决上述现有技术问题,提出一种用于爆轰实验的新型铜箔电探针。
[技术方案]
为了达到上述的技术效果,本实用新型采取以下技术方案:
一种用于爆轰实验的新型铜箔电探针,它从下至上依次包括基材、铜箔和保护膜;所述铜箔与基材之间用透明胶粘接,基材上以基材中心线为轴左右对称设有两个铜箔,两个铜箔的外侧均设有镀锡的焊盘,铜箔之间的极间距离为0.2~0.3mm;所述保护膜设在铜箔上方并露出焊盘,保护膜与铜箔之间通过透明胶粘接;所述基材的长度大于两个铜箔的长度与极间距离的总和,所述基材的宽度大于铜箔的宽度。
本实用新型更近一步的技术方案,所述铜箔的厚度为0.02mm。
本实用新型更近一步的技术方案,所述铜箔电探针的厚度控制为0.1~0.2mm。
本实用新型更近一步的技术方案,所述基材是由聚酰亚胺或聚酯薄膜制备而成。
本实用新型更近一步的技术方案,所述透明胶是由环氧树脂或聚乙烯材料制备而成。
本实用新型更近一步的技术方案,所述保护膜由聚酰亚胺材料制备而成。
下面将详细解释本实用新型。
柔性电路板是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性,绝佳的可挠性印刷电路板,具有配线密度高、重量轻、厚度薄、弯折性好的特点。基材的目的就是作为一种底板,将铜箔等物固定附着在上面;因此本实用新型对基材材质的要求是:耐磨、耐热、附着性好、绝缘、柔性。本申请是以柔性电路技术作为主要技术手段,以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材,在基材上依次覆盖铜箔和保护膜;并且基材与铜箔之间、铜箔与保护膜之间填充透明胶使其粘接。本实用新型使用的透明胶是由环氧树脂或聚乙烯材料制备而成,其作用就是将基材、铜箔和保护膜之间粘接在一起。所述铜箔有两个,两个铜箔之间的极间距离设为0.2~0.3mm,铜箔之间填充透明胶。该距离太短易引发漏电或前端放电现象,太长易引发时间测试延时误差。并且本实用新型使用的保护膜为聚酰亚胺材料制成的绝缘膜,其强度较高,降低了绝缘膜摩擦受损的概率。铜箔的厚度直接影响爆轰实验的测试精度和装配的可靠精度,在保证这两个要素的前提下尽量选择薄一点的,本发明选择的铜箔厚度为0.02mm,该厚度得到的实验数据可靠性最好。控制铜箔电探针的厚度其主要目的依旧是控制铜箔的厚度,铜箔电探针过薄的话强度可能不够会导致磨损、漏电、断路;过厚会导致降低测试精度。铜箔上的焊盘裸露在保护膜外,因此需要进行镀锡处理,镀锡的目的即为防止氧化。
本实用新型使用的铜箔端面光滑,避免起爆高压引发的探针端面毛刺尖端击穿放电现象,提高铜箔探针抗干扰能力。
本实用新型与现有技术相比,具有以下的有益效果:
本实用新型的用于爆轰实验的新型铜箔电探针在爆轰实验中作为独立成品可直接使用,使用便捷;并且其铜箔电探针不易磨损、铜箔的极间距离精度较高、铜箔探针抗干扰能力强。
附图说明
图1为本实用新型用于爆轰实验的新型铜箔电探针的结构示意图;
图2为本实用新型用于爆轰实验的新型铜箔电探针的俯视图结构示意图;
图3为本实用新型用于爆轰实验的新型铜箔电探针的使用状态图1;
图4为本实用新型用于爆轰实验的新型铜箔电探针的的使用状态图2。
具体实施方式
下面结合本实用新型的实施例对本实用新型作进一步的阐述和说明。
实施例:
一种如图1和图2所示的用于爆轰实验的新型铜箔电探针,它从下至上依次包括基材1、铜箔3和保护膜4;所述铜箔与基材之间用透明胶2粘接,基材上以基材中心线为轴左右对称设有两个铜箔,两个铜箔的外侧均设有镀锡的焊盘5,铜箔之间的极间距离n为0.2~0.3mm;所述保护膜设在铜箔上方并露出焊盘,保护膜与铜箔之间通过透明胶粘接;所述基材的长度大于两个铜箔的长度与极间距离的总和,所述基材的宽度大于铜箔的宽度。
所述铜箔的厚度为0.02mm。
根据***的尺寸确定铜箔电探针的长度和宽度;所述铜箔电探针的厚度h控制为0.1~0.2mm。
本实施例的另一个实施方案,所述基材是由聚酰亚胺或聚酯薄膜制备而成。本实用新型采用了柔性电路板技术,利用该基材制成的一种具有高度可靠性,绝佳的可挠性印刷电路板,具有配线密度高、重量轻、厚度薄、弯折性好的特点。
本实施例的另一个实施方案,所述透明胶是由环氧树脂或聚乙烯材料制备而成。
本实施例的另一个实施方案,所述保护膜是由聚酰亚胺材料制备而成。
本实施例的用于爆轰实验的新型铜箔电探针的使用方法如图3所示:将铜箔电探针7贴附在***6表面上,两极间距离在***中心处,根据***的尺寸确定铜箔电探针的长度d和宽度k。两个焊盘接线至检测仪器上,IC-脉冲形成电路。
利用该新型铜箔电探针进行如图4所示的爆轰试验,该测试装置包括底座10,底座上安装有圆筒9,该圆筒内径为Φ25mm,壁厚2.5mm,长300mm,材料为无氧铜TU1;圆筒内安装有试验***样品,试验***样品为JOB-9003***柱由6段Φ25mm×30mm的药柱11拼接而成,试验***上安装有主***,主***顶部安装有***8。本爆轰试验用铜箔电探极7测量***的爆轰波传播时间,使用两个铜箔电探针,第一个铜箔电探针安装在***柱与主***之间,第二个铜箔电探针安装在圆筒底部进行测试。
分析爆轰实验的测试结果,新型铜箔电探针没有漏电和前端放电现象,也避免了因极间距离问题而引发的时间测试延时误差;铜箔端面光滑,起爆高压后无放电现象,铜箔探针抗干扰能力强。
尽管这里参照本实用新型的解释性实施例对本实用新型进行了描述,上述实施例仅为本实用新型较佳的实施方式,本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制,应该理解,本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式,这些修改和实施方式将落在本申请公开的原则范围和精神之内。
Claims (6)
1.一种用于爆轰实验的新型铜箔电探针,其特征在于它从下至上依次包括基材、铜箔和保护膜;所述铜箔与基材之间用透明胶粘接,基材上以基材中心线为轴左右对称设有两个铜箔,两个铜箔的外侧均设有镀锡的焊盘,铜箔之间的极间距离为0.2~0.3mm;所述保护膜设在铜箔上方并露出焊盘,保护膜与铜箔之间通过透明胶粘接;所述基材的长度大于两个铜箔的长度与极间距离的总和,所述基材的宽度大于铜箔的宽度。
2.根据权利要求1所述的用于爆轰实验的新型铜箔电探针,其特征在于所述铜箔的厚度为0.02mm。
3.根据权利要求1所述的用于爆轰实验的新型铜箔电探针,其特征在于所述铜箔电探针的厚度控制为0.1~0.2mm。
4.根据权利要求1所述的用于爆轰实验的新型铜箔电探针,其特征在于所述基材是由聚酰亚胺或聚酯薄膜制备而成。
5.根据权利要求1所述的用于爆轰实验的新型铜箔电探针,其特征在于所述透明胶是由环氧树脂或聚乙烯材料制备而成。
6.根据权利要求1所述的用于爆轰实验的新型铜箔电探针,其特征在于所述保护膜是由聚酰亚胺材料制备而成。
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CN201621242303.5U CN206248105U (zh) | 2016-11-14 | 2016-11-14 | 用于爆轰实验的新型铜箔电探针 |
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CN201621242303.5U CN206248105U (zh) | 2016-11-14 | 2016-11-14 | 用于爆轰实验的新型铜箔电探针 |
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CN201621242303.5U Active CN206248105U (zh) | 2016-11-14 | 2016-11-14 | 用于爆轰实验的新型铜箔电探针 |
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CN (1) | CN206248105U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114236285A (zh) * | 2021-12-14 | 2022-03-25 | 中国工程物理研究院流体物理研究所 | 一种爆轰实验电测动态自检测试***及其测试方法 |
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2016
- 2016-11-14 CN CN201621242303.5U patent/CN206248105U/zh active Active
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